「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method of preparing, an analytical sample from which detailed information on a defective portion, in particular, a defective portion positioned in the vicinity of the surface of a semiconductor substrate, among the defective portion generated in a semiconductor device, can be obtained.例文帳に追加

半導体装置において発生した不良個所のうち、特に半導体基板の表面近傍に位置する不良箇所について、この部分の詳細な情報を得ることができる試料を作製する分析用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

A light-receiving unit 37 is rotated about a normal line (vertical axis) to the surface of a sample 24 by means of a pulse motor 31 and, in addition, is rotated in the forward and backward directions about around a prescribed horizontal axis in Fig. 1 by means of a pulse motor 34.例文帳に追加

受光ユニット３７は、パルスモータ３１の駆動により、試料２４の試料面法線（鉛直軸）を中心に回転され、且つ、パルスモータ３４の駆動により、所定の水平軸を中心に図１において前後方向に回転される。 - 特許庁

A micro-fluid disk is disclosed which includes not only (a) a symmetric axis vertical to the surface of a disk but also (b) an internal adapting region located at a radius distance that is smaller than the draw-out port and further, and includes the microchannel structure (I) which includes the MS port and the sample draw-in port (I).例文帳に追加

(ａ）ディスクの面に垂直な対称軸、（ｂ）引出しポートよりも短い半径距離のところに内部適用領域を含み、ＭＳポートおよび試料引入れポート（Ｉ）を含むマイクロチャンネル構造（Ｉ）を含むマイクロ流体ディスクを開示する。 - 特許庁

In the probe 14, when information detection laser light 19 is focused onto the tip, plasmon resonance occurs on the surface of the metal film coat 30, and near-field light 31 is generated from the tip, and the sample 31 is irradiated with the near-field light 31.例文帳に追加

プローブ１４において、情報検出レーザ光１９を先端にフォーカスさせると、金属膜コート３０の表面でプラズモン共鳴を起こし、先端から近接場光３１が発生し、近接場光３１が試料に照射される。 - 特許庁

A plurality of lens barrels 32, arranged in parallel in this electron beam apparatus, comprise the electron gun chamber 1 for emitting a plurality of electron beams from a plurality of projections of cathodes 3 and electron optical systems Y for forming the images of the plurality of electron beams on the surface of a sample.例文帳に追加

該電子線装置では、カソード３の複数の突起から複数の電子ビームを放出する電子銃部１と該複数の電子ビームを試料の面上に結像させる電子光学系Ｙとを有する鏡筒３２が複数並設される。 - 特許庁

In this stain resistance testing method and a stain resistance testing machine, a staining substance is bonded to the surface of a sample by repeating dripping of a definite amount of a staining substance-containing liquid from an upper constant position and rinsing of the staining substance-containing liquid to evaluate dust.例文帳に追加

本発明の耐汚染性試験方法及び装置は、汚染物質含有液を上部の定位置から一定量の滴下と水洗を繰り返すことで試料表面に汚染物質を付着させるとした塵埃について評価する。 - 特許庁

The resist and the single-crystal semiconductor layer can also be grounded together with the foundation semiconductor layer through a grounding terminal by fixing the SOI substrate under the state on a sample table having the grounding terminal on a surface by using an electrostatic attraction method.例文帳に追加

この状態のＳＯＩ基板を、表面に接地端子を備えた試料台に静電吸着法を用いて固定することで、接地端子を介して下地半導体層とともにレジストおよび単結晶半導体層も接地することが可能となる。 - 特許庁

The method for measuring protease activity includes a process for contacting the sample comprising at least one species of protease substrate, a hard membrane agent and two or more species of protease inhibitors with a membrane formed on the surface of a support.例文帳に追加

プロテアーゼ活性の測定方法であって、少なくとも１種のプロテアーゼ基質、硬膜剤、及び２種以上のプロテアーゼ・インヒビターを含み支持体表面に形成された薄膜に対して、プロテアーゼを含む試料を接触させる工程を含む方法。 - 特許庁

For the silicon in the melting process, the silicon melting advances to a depth; whereas, for the silicon in its solidifying process, reflection of the vertical vibration to the surface of the sample 42 can strongly promote (111) crystal orientation.例文帳に追加

溶融過程のシリコンに対しては深部に亘ってシリコンの溶融を進行させ、凝固過程のシリコンに対しては試料４２表面に垂直な方向への揺動が反映することにより（１１１）結晶配向性を強く促進させることができる。 - 特許庁

X rays 10 enter the surface of a sample 12 at an incident angle α for measuring intensity in diffracted X rays 14, the incident angle α is changed for obtaining a change in the intensity in the diffracted X rays 14, and a measurement rocking curve is obtained.例文帳に追加

試料１２の表面に対して入射角αでＸ線１０を入射して回折Ｘ線１４の強度を測定し，入射角αを変化させて回折Ｘ線１４の強度の変化を求めて，測定ロッキングカーブを得る。 - 特許庁

To provide fluorescence-based methods for detecting analytes in a sample, wherein, the fluorescence background in the methods is significantly lower than in conventional methods, and to provide methods of attaching nucleic acids to a metallic or metalloid surface.例文帳に追加

従来の方法に比較してシグナルのバックグラウンドが有意に低下した、試料中の分析対象を検出するための蛍光に基づく方法であり、核酸を金属または半金属表面に効率的に結合させる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling the probe in a scanning probe microscope that properly controls the twisted condition of the probe that is caused from a reaction force, applied from the inclination portion of unevenness on the surface of a sample to the top end of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸の傾斜部から探針先端に加わる反力に起因して生じる探針の捩れ状態を適切に制御して計測データの誤差を低減する走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

On the other hand, the surface of the sample W is irradiated with the light from a laser light source 12 emitted simultaneously with the source 13 through the optical system so as to be focused thereon and the reflected light thereof is made incident on a photodiode 51 and the color CCD 53.例文帳に追加

一方、光源１３と同時に照射されるレーザ光源１２からの光を光学系を通して試料Ｗの表面に焦点を結ぶように照射するとともに、その反射光をフォトダイオード５１及びカラーＣＣＤ５３に入射させる。 - 特許庁

A method for manufacturing an evaluation sample piece for evaluating cell invasive properties into a madreporic body includes cultivating cells 55 on a surface 54a of a base sheet 54, subsequently arranging the surface 54a having cultivated cells 55 in contact with a surface 13a of a madreporic body 13, and allows the cells 55 to invade into the madreporic body 13.例文帳に追加

多孔体中への細胞侵入性の評価を行うための評価試料片の作製方法であって、基板シート５４の一面５４ａに細胞５５を培養してから、基板シート５４を、細胞５５を培養させた面５４ａを多孔体１３の一面１３ａに接触させて配置して、多孔体１３中に細胞５５を侵入させる評価試料片の作製方法を用いることによって前記課題を解決できる。 - 特許庁

The immunosensor system includes an immunosensor for a blood sample that generates a signal based on a sandwich structure between a first immobilized antibody to a target analyte, the target analyte and a labeled antibody, wherein the sensor surface of the immunosensor contains a second immobilized antibody covered by at least a portion of the sensor surface that forms an immunocomplex with an endogenous or exogenous protein that exists in the sample and that is not the target analyte.例文帳に追加

免疫センサシステムは、標的分析対象物質に対する第１固相化抗体、前記標的分析対象物質、標識抗体の間のサンドイッチ構造に基づいて信号を発生する、血液試料の免疫センサを含んで構成され、前記免疫センサのセンサ表面が、前記標的分析対象物質ではないが試料に存在する内因性又外因性タンパク質間に免疫複合体を生成する、前記センサ表面の少なくとも一部に被覆される第２固相化抗体を含む、ことを特徴とする。 - 特許庁

An image processing device reconstitutes pixels on a pixel line determined beforehand among pixel lines reconstituting a plurality of developed image data from the plurality of image data from the camera 5, generates the developed image data corresponding to the cylindrical surface, and detects and inspects an abnormal part on the cylindrical surface of the cylindrical body inspection sample from the generated developed image data.例文帳に追加

画像処理装置は、カメラ５からの複数の画像データから複数の展開画像データを再構成する画素ラインの中で予め定められる画素ラインの画素を再構成して円筒面に対応する展開画像データを生成し、生成した展開画像データから円筒体被検査試料の円筒面の異常部を検出し検査する。 - 特許庁

The microchip 1 comprises: a substrate 30; a flow channel 23 which is formed inside the substrate 30 and whose outlet is made up as an aperture 9c; and an analysis section 10 which includes a portion of a flat surface of the substrate 30 and where an object liquid to be measured spills out of the aperture 9c and remains on the flat surface of the substrate 30 as an analysis sample.例文帳に追加

マイクロチップ１は、基板３０と、基板３０の内部に形成された流路２３と、基板３０の平坦な表面の一部からなり、流路２３の出口が開口９ｃとして形成され、その開口９ｃから溢れ出た測定対象液が基板３０の平坦な表面にとどまって分析試料となる分析部１０とを備えている。 - 特許庁

The etching device for etching a sample placed in the etching chamber in a vacuum vessel by using plasma includes a member disposed on the inside of the etching chamber, and a coating formed by spraying a predetermined material and faces the plasma while covering the surface of the member wherein the surface is sealed using the same material.例文帳に追加

真空容器内部の処理室内に配置された試料をプラズマを用いてエッチング処理するエッチング処理装置であって、前記処理室の内側に配置された部材と、所定の材料が溶射されて形成され前記部材の表面を覆って前記プラズマに面する被膜であって、その表面が前記材料と同じ材料を用いて封孔された被膜を備えた。 - 特許庁

The plasma processing method includes: product etching (step S1: processing of a sample including Ti material); thereafter carbon system deposition discharge for depositing a carbon system film on a Ti reaction product deposited on the surface of the processing chamber (step S2); and thereafter chlorine electric discharge for removing the carbon system film abd the Ti deposited on the surface of the processing chamber (step S3).例文帳に追加

製品エッチング（工程Ｓ１：Ｔｉ材料を含む試料の処理）後に、処理室表面に堆積するＴｉ反応生成物に対してカーボン系膜を堆積させるカーボン系堆積放電（工程Ｓ２）と、その後に処理室表面に堆積するカーボン系膜とＴｉを除去する塩素系放電（工程Ｓ３）とを含むプラズマの処理方法とする。 - 特許庁

Equal pressure is applied to the back of a quartz vibrator substrate by a gas hermetically sealing line LB, with respect to the change in the pressure applied to the surface of the quartz vibrator 13 by the sample solution driven by the liquid feed pump 21 and the pressures applied to the surface and back of the quartz vibrator substrate are made to reach equilibrium, to eliminate generation of strains in the substrate.例文帳に追加

送液ポンプ２１で駆動される試料溶液によって水晶振動子１３の表面に加えられる圧力変化に対して、気体密封ラインＬＢにより同等の圧力を水晶振動子基板の裏面に加え、水晶振動子基板の表裏面に加えられる圧力を平衡させてその歪み発生を無くす。 - 特許庁

By matching a cross-sectional image of the reference piece Q with the cross-sectional image of the reference surface, it is possible to correct image deviations of even the sample P having a complicated solid shape but no reference surface S and satisfactorily perform shapes evaluation.例文帳に追加

Ｘ線ＣＴスキャナ装置の回転テーブル２１１の内部に平面視形状が直角三角形の基準片Ｑを埋設し、この基準片Ｑの断面画像を基準面の断面画像とすることにより基準面Ｓを有しない複雑な立体形状の試料Ｐに対しても画像ずれの補正を可能にし、形状評価を好適に行えるようにした。 - 特許庁

The microarray chip is parallel to the surface of a substrate, and is manufactured by generating ionized plasma 22 by irradiating a space having a specific distance from the surface of the substrate 10 with a laser beam 21, forming an arranged electric field generating part 11 having a positive or negative polarity using the ionized plasma, and arranging fine spots of a sample solution.例文帳に追加

本発明のマイクロアレイチップは、基板面に対して平行で、かつ、基板１０の表面から一定距離の空間にレーザ光２１を照射して電離プラズマ２２を発生させ、この電離プラズマを用いて正負いずれかの極性を有する配列状の電界発生部１１を形成し、試料溶液の微小スポットを配列させることにより製造する。 - 特許庁

The apparatus has a housing with an aperture, a lancing member with a lancet placed and held in the housing, a means for actuating the lancing member to displace the lancet to form an incision in an area of skin to provide physiological sample, and a means for determining whether or not a sufficient amount of the physiological sample is present at the surface of the skin.例文帳に追加

本発明の装置は、開口を有するハウジングと、ハウジング内に配置され中に保持されたランセットを有する切開部材と、ランセットを移動させ皮膚の領域に切開部分を形成し生理学的なサンプルを提供するために前記切開部材を作動させるための手段と、皮膚の表面に十分な量の前記生理学的なサンプルが存在するかどうかを決定するための手段とを含む。 - 特許庁

In a charged particle spectroscope for applying energy rays for excitation to a sample to be analyzed for excitation, observing charged particles being emitted from an area near the surface of the sample 1 due to the excitation by an observation system 30 with a spectroscope 3 for obtaining an energy spectrum, and analyzing elements based on information regarding the peak of the energy spectrum, the spectrum sensitivity of the observation system 30 is measured.例文帳に追加

分析対象となる試料１に励起用エネルギー線を照射して励起し、この励起により試料１の表面近傍から放出される荷電粒子を、分光器３を有する観測系３０により観測してエネルギースペクトルを求め、このエネルギースペクトルのピークに関する情報に基づいて元素分析を行う荷電粒子分光装置について、観測系３０のスペクトル感度を測定する。 - 特許庁

The micro ruggedness value measurement device for measuring depth or height of sample by scanning its surface is provided with an in-lens reflective electron detecting means for shape measurement which receives only reflected electrons within a given angle region from those passing inside an object lens based on incident electrons irradiating the sample and converts them into electric signals.例文帳に追加

被観察対象の表面を走査して試料の深さ若しくは高さを測定する微細凹凸量測定装置において、試料に照射した入射電子に基づいて対物レンズの内側を通過する反射電子の中で、所定角度領域内の反射電子のみを受けて電気信号に変換する形状計測用インレンズ型の反射電子検出手段を備える、微細凹凸量測定装置。 - 特許庁

To provide a suscepter apparatus in which thermal conductivity characteristic between the apparatus and a plate type sample does not change to a large extent, particle is not generated, adhesion of particle to the rear surface of the plate type sample can be prevented, static electricity attracting force does not change, and isolation property after application of voltage does not change even when the susceptor apparatus is used as an static electricity chuck.例文帳に追加

サセプタ装置と板状試料との間の熱伝導特性が大きく変化することがなく、パーティクルの発生も少なく、板状試料の裏面へのパーティクルの付着を防止することが可能であり、さらに、サセプタ装置を静電チャックとして用いた場合においても、静電吸着力が変動したり、電圧印加中止後の離脱性が変化することもないサセプタ装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method for analyzing the depth direction element distribution of a sample consists of a process subjecting the surface of a sample to precise cross-sectional processing by converged ion beam 2', a process for measuring fine particles 3 generated from the cross section 17 obtained by the precise cross-sectional processing and a process for processing the measured value as a function of the depth direction scanning position of the converged ion beam.例文帳に追加

収束イオンビーム（２’）により試料表面を精密断面加工する工程と、前記精密断面加工により得られた断面（１７）から発生する微粒子（３）を測定する工程と、前記測定によって得た値を前記収束イオンビームの深さ方向走査位置の関数として処理する工程と、を具備することを特徴とする、試料の深さ方向元素分布分析を行う方法。 - 特許庁

In the sample base used for the infrared microspectrometry, a plurality of recessed sections 4 are formed on a plate-like matter 1; and in the recessed sections 4, the area of an aperture section 4a is made larger than that of the bottom surface 4b.例文帳に追加

顕微赤外分光測定に使用する顕微赤外分光測定用試料台において、板状物質１が多数の凹み形状部分４を有し、これらの凹み形状部分４の開口部４ａの面積をこれらの底面４ｂの面積よりも大きくした。 - 特許庁

The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4.例文帳に追加

試料片８をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第１平面５ｓの表面にある分析対象面１２を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面４の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。 - 特許庁

To provide a probe control method of a scanning probe microscope capable of measuring an irregular shape or the like of the sample surface by a step-in method relative to a measuring point determined beforehand, heightening throughput of measurement, and reducing breakage or damage caused by collision of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状等を予め決められた測定点についてステップイン方式で測定し、測定のスループプットを高め、探針の衝突による破損・ダメージを減少できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

With this arrangement, when the CNT probe, due to distortion or slipping, collides with the sample surface, destruction and deformation of the tip part of the base probe and tip part of the joined part can be prevented to provide the CNT cantilever having high durability for a scanning probe microscope.例文帳に追加

このような構成により、ＣＮＴ探針の撓みや滑りによる試料表面との衝突時にベース探針先端部と接合部先端部の破壊や変形が防止でき、高い耐久性を持った走査型プローブ顕微鏡用ＣＮＴカンチレバーを提供できる。 - 特許庁

When light is entered upon the interface between the silver thin film 2 and the SiO_2 film 7 at an incident angle of 59-60°, surface plasmon resonance is excited at the interface and thus an evanescent field is reinforced, so that fluorescence is generated efficiently from the fluorescence molecules 5 contained in the sample solution 3.例文帳に追加

銀薄膜２とＳｉＯ_２膜７の界面に５９〜６０°の入射角で光を入射させると、その界面で表面プラズモン共鳴が励起されてエバネセント場が増強され、試料溶液３中の蛍光分子５からの効率よく蛍光が発生する。 - 特許庁

In the measurement of moisture content in the rubber using the the infrared moisture meter, sample rubber is pressed against the smooth surface of an infrared transmission transparent plate where at least an emission section is smooth, and at the same time is irradiated with infrared rays via the transparent plate.例文帳に追加

赤外線水分計を用いてゴムの水分含有率を測定するに際し、少なくとも出射部が平滑である赤外線透過透明板の、該平滑面に対して試料ゴムを押圧しながら、前記透明板を介して試料ゴムに赤外線を照射する。 - 特許庁

To provide a method by which the center of a non-radiative recombination of ZnO such as the surface state, the dislocation and other non-radioactive recombination center of ZnO is passivated to improve and increase the radiation efficiency of a ZnO sample.例文帳に追加

表面状態、転位及び他の非放射性再結合中心などのＺｎＯの非放射再結合中心が不動態化されることを可能にし、結果的にあらゆるＺｎＯ試料の放射効率及び効率が増加されることを可能にする方法を提供する。 - 特許庁

The measuring device 200 moves spectrophotometers 203 and 204 according to the measuring condition, vertically radiating light from a light source 201 to a sample surface 205 made of a monochrome color material layer of an area ratio of 100%, and measures the spectral characteristic value of each measuring point.例文帳に追加

測定装置２００は測定条件に応じて分光光度計２０３、２０４を移動させ、面積率１００％の単色カラー色材層からなるサンプル面２０５に垂直に光源２０１から光を照射させ、各測定点の分光特性値を測定する。 - 特許庁

There is provided an improved nozzle interior surface geometry that produces the simplest flow path for applying necessary hydrodynamic force to accelerate and perhaps orient a sample into a proper direction for analyzing and efficient sorting purposes.例文帳に追加

分析および効率的な選別の目的のために、サンプルを適切な方向に加速し、そしておそらく配向するための必要な流体力学的力を付与するための最も単純なフロー経路を生成する改良されたノズル内部表面幾何を提供される。 - 特許庁

A microscope for magnifying a sample image by an optical system provided in a body 2 is provided on the back-face when a surface opposed to an observer faces forward during use, and is equipped with a grip 3 located above a center of gravity of the body.例文帳に追加

本体２に設けた光学系によって標本の像を拡大して観察する顕微鏡は、使用の際に観察者と対向する面を正面とするときの背面側に設けられ、本体の重心よりも上方に位置する取っ手３を備えている。 - 特許庁

The defect inspecting apparatus, which has a plurality of constituent units and inspects defects on the surface of a sample, is provided with both a monitoring means for monitoring time-dependent changes and failures of some of or all of the constituent units and a means for notifying the user of results of the monitoring.例文帳に追加

複数の構成ユニットを有し試料面上の欠陥を検査する欠陥検査装置において、一部または全部の構成ユニットの経時変化や故障をモニタリングするモニタリングする手段とモニタリングした結果をユーザに通知する手段を備える。 - 特許庁

To provide a highly reliable method for optically evaluating a sample to be measured and a device therefor with a large amount of information by simultaneously obtaining both information on the angle dependence and the wavelength dependence of surface plasmon resonance in an attenuated total reflectance method.例文帳に追加

全反射減衰法において、表面プラズモン共鳴の角度依存性と波長依存性の両方の情報を同時に得ることにより、情報量が多く、かつ信頼性の高い測定試料の光学的評価方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

A single laser beam, emitted from argon ion laser 6, is adjusted in a plane of polarization, and the irradiation light 1 condensed by a condensing lens 10 is allowed to be incident on the surface of the sample 3 at an incident angle which minimizes reflected light and generating only scattered light.例文帳に追加

アルゴンイオンレーザー６から射出させた単一レーザー光を、偏光面調整させ、ついで集光レンズ１０で集光させた照射光１を、反射光を最小限に抑え、散乱光のみを発生させる入射角度で、試料３表面に照射させる。 - 特許庁

A measurement area 0201 including a minute analysis point 0200 in an insulative film 0203 on a sample surface and a reference area 0202 positioned in the vicinity of the measurement area 0201 and composed and constructed equally to the measurement area 0201 excepting exclusion of the minute analysis point 0200 are irradiated by X-rays alternately.例文帳に追加

試料表面の絶縁膜0203中にある、微小分析点0200を含む測定領域0201と、測定領域0201の近傍にあって微小分析点0200を含まないこと以外は組成、構造が測定領域0201に等しい参照領域0202にX線を交互に照射する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope suitably adapted to the study of the observation of the lattice of lines of magnetic induction or an electron state in a magnetic flux inlusive of the study of a nanoscale non-uniform superconductive state and the observation of the uneven image on the surface of a sample, and its using method.例文帳に追加

ナノ・スケール不均一超伝導状態の研究を始めとして、磁束線格子の観測や磁束内電子状態の研究、さらには試料表面の凹凸像の観測に適用して好適な走査プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an imitated sample in which a film is stuck to a surface of a molding, wherein wrinkles are prevented from still existing on the stuck film, and peeling strength between the film and the molding is enhanced to prevent the film from peeling.例文帳に追加

成形体の表面にフィルムを貼着する擬似サンプルの製造方法にあって、貼着後のフィルムにシワが残るのを防止し、かつ、フィルムと成形体との剥離強度を高めて該フィルムの剥離を防ぐことができる擬似サンプルの製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a high-performance image, by solving the problems wherein a conventional image obtained by measuring the energy distribution of annihilation gamma-rays or the positron lifetime distribution does not provide stable information on sample surface and contains noise.例文帳に追加

従来の消滅ガンマ線のエネルギー分布又は陽電子寿命分布を測定して得られる画像では、試料表面の安定した情報が得られない問題や、ノイズが入ってしまうという問題があるので、高性能の画像を取得することを目的とする。 - 特許庁

The x-ray detector 28 is an imaging plate 28 shaped as a cylinder and having a surface area larger than the sample 11, and the imaging plate 28 is α-rotated about the center axis X0 of the cylindrical shape in coordination with scanning movement F of the linear x-rays.例文帳に追加

Ｘ線検出器２８は試料１１よりも大きい面積を有する円筒形状のイメージングプレート２８であり、線状のＸ線の走査移動Ｆに関連させてイメージングプレート２８を円筒形状の中心軸Ｘ０を中心としてα回転させる。 - 特許庁