「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(51ページ目) - Weblio英語例文検索

The automatic analyzer is provided with cooling water holding sections 6b holding cooling water for cooling the reaction vessels 7 and positioned adjacent to each of the reaction vessels of the cuvette wheel 6, and a dispensation device supplying the cooling water to the cooling water holding sections by the time the liquid sample is agitated by the surface acoustic wave elements 18.例文帳に追加

自動分析装置は、反応容器７を冷却する冷却水を保持する冷却水保持部６ｂがキュベットホイール６の各反応容器に隣接する位置に形成され、表面弾性波素子１８による液体試料の撹拌までに冷却水保持部へ冷却水を供給する分注装置を備えている。 - 特許庁

Also, under the conditions that a spattering speed becomes 3.6 nm/min in the case of spattering of SiO_2 as a standard sample by the X ray photoelectron spectroscopy using an argon beam, the spattering of the wire surface reveals that the average oxygen density is 20 atomic % or below when detected during the spattering time between 6 minutes and twelve minutes.例文帳に追加

また、アルゴンビームを使用したＸ線光電子分光法により、標準試料としてのＳｉＯ_２をスパッタリングした場合にスパッタリング速度が３．６ｎｍ／分となる条件で、ワイヤ表面をスパッタリングしたときに、スパッタリング時間が６分から１２分までに検出された酸素の濃度の平均値が２０原子％以下である。 - 特許庁

To provide an unequally divided montage face analysis method by surface analysis equipment so that an efficient analysis measurement can be made by collectively measuring a part without a height difference, and performing measurement while thinly dividing only a part with a height difference for a sample with the height difference for only a specific part within the analysis range.例文帳に追加

分析範囲のうち特定部分だけに高低差がある試料に対して、高低差がない部分は一括して測定し、高低差がある部分だけ細密に分割して測定し、効率のよい分析測定が行えるようにした表面分析機器による非等分割モンタージュ面分析法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the inner wall of the spray opening is subjected to a surface roughening process in order to improve its water repellency, thereby preventing the droplet of the spray sample, which is formed on the inner wall of the spray opening, from getting large.例文帳に追加

噴霧口３１の内壁を、助燃ガスの噴出方向に沿って変化させた形状とし助燃ガスが滞留する場所を無くして噴霧試料の凝集を防ぐとともに、さらに、噴霧口内壁を粗面化処理を行うことで撥水性を高めて、噴霧口内壁に発生した噴霧試料の液滴が大きく成長することを防ぐ。 - 特許庁

This optical microscope is provided with an objective lens 2 forming a 1st real image by enlarging the image of a sample, a light amplification means whose photoelectric surface is arranged at a position where the 1st real image is formed and an ocular 3 enlarging a 2nd real image optically amplified and outputted from the light amplification means as a virtual image.例文帳に追加

光学顕微鏡において、標本を拡大して第１の実像を結像させる対物レンズと、第１の実像の結像位置に光電面が配置された光増幅手段と、この光増幅手段から出力される光増幅された第２の実像を虚像として拡大する接眼レンズとを設ける。 - 特許庁

Thereafter, the micro-contact angle using the mixed liquid of the polyhydric alcohol and water is converted into a normal contact angle at the time of measurement using a usual amount (1 ml or larger), by employing a prepared linear regression curve and the surface state of the measuring sample 10 is evaluated, on the basis of this result.例文帳に追加

その後、予め用意した直線回帰式を用いて、多価アルコールと水との混合液を用いた極小接触角を、通常量（１マイクロリットル以上）の水を用いて測定したときの通常接触角に変換し、その結果に基づいて測定試料１０の表面状態を評価する。 - 特許庁

The method also includes a step for forming a cluster by grouping adjacent neurons corresponding to each of the same sample in the learned self-organized map, and a step for classifying each cluster into one corresponding to a prescribed surface state having flaws, nicks, exfoliation or the like and a different one, and generating the determination data map.例文帳に追加

さらに、前記学習した自己組織化マップにおいて同じ前記サンプルのそれぞれに対応し隣接するニューロンをグループ化してクラスタにするステップと、前記クラスタのそれぞれを傷、打痕、剥離など所定の表面状態に対応するものとそうでないものとに分類して判定データマップを生成するステップと、を含む。 - 特許庁

In this separator for a sealed lead-acid battery formed of a tiny glass fiber mat having an average fiber diameter not larger than 1.5 μm, a porous coating of lead powder-impermeable and electrolyte ion-permeable silica particles is formed on one surface of the tiny glass fiber mat, and the short circuiting time thereof is not smaller than 150% (standard sample comparison).例文帳に追加

平均繊維径が１．５μｍ以下の微細ガラス繊維マットからなる密閉型鉛蓄電池用セパレータであって、前記微細ガラス繊維マットの片面に鉛粉非透過性で電解液イオン透過性のシリカ粒子の多孔質皮膜が形成され、短絡時間が１５０％以上（標準試料対比）である。 - 特許庁

In the substrate for fluorescence X-ray analysis used in the fluorescence X-ray analysis of a liquid drop sample, a metal silicon part and a hydrophilic part of which the hydrophilicity is higher than that of the metal silicon part are provided on at least the single surface of the substrate.例文帳に追加

本発明は、液滴試料の蛍光X線分析に用いられる蛍光X線分析用基板及び蛍光において、前記基板の少なくとも片面には、金属シリコン部分と、前記金属シリコン部分より親水性が高い親水性部分とが設けられていることを特徴とする蛍光X線分析用基板である。 - 特許庁

An ultrasonic transmitter 31 formed by enclosing a liquid medium 37 by two polymer films 32, 33 is provided on a part of the water tank 13 for storing the water 16, and measurement is performed by pressing the polymer film 32 positioned on the outside of the ultrasonic transmitter 31 onto a measuring surface of the sample 23 arranged on the outside of the water tank 13.例文帳に追加

水１６を収容する水槽１３の一部に、液体媒質３７を２枚の高分子膜３２，３３で封じて成る超音波伝播器３１を備え、水槽１３の外側に配置される試料２３の測定面に超音波伝播器３１で外側に位置する高分子膜３２を押し付けて測定を行う。 - 特許庁

When the solution sample 2 held inside a vessel 3 with an open mouth is evapolated by a microwave heating 10 to have its solvent removed, a dielectric substance such as water having a high permittivity is brought into contact with at least a part of the external surface of the vessel to be also heated with the microwave.例文帳に追加

開口容器３の内部に保持された溶液試料２をマイクロ波１０加熱して該溶液試料の溶媒を蒸発させて除去する際に、前記開口容器外面の少なくとも一部に水等の誘電率の高い誘電体を接触させ、当該誘電体を同時にマイクロ波加熱する。 - 特許庁

To provide a secondary ion mass spectrometry capable of specifying the position of a compound film/substrate interface by measuring the concentration and the distribution of a trace element highly sensitively and highly quantitatively, and specifying the position of a compound film/substrate interface, concerning material having information of an elemental composition of the polar surface of a sample and an interface such as the compound film/substrate or the like.例文帳に追加

本発明は、試料の極表面の元素組成の情報や化合物膜／基板のような界面を有する材料において、微量元素の濃度および分布を高感度でかつ高定量的に測定し、化合物膜／基板界面の位置を特定することが可能である二次イオン質量分析(SIMS)法を提供する。 - 特許庁

A defect detecting means 2 detects a defect on the surface of a sample at a predetermined inspection sensitivity, a false defect specifying means 4 specifies a false defect from defect information acquired by the defect detection, and a non-inspected region setting means 5 sets the detection part of the specified false defect in a non-inspected region.例文帳に追加

欠陥検出手段２は、所定の検査感度で試料表面の欠陥検出を行い、擬似欠陥特定手段４は、欠陥検出により得られた欠陥情報から擬似欠陥を特定し、非検査領域設定手段５は、特定した擬似欠陥の検出箇所を非検査領域に設定する。 - 特許庁

Items to be provided include the scaffold having a base material comprised of ceramics and metallic particles fixed on its surface, a production method of the scaffold, a cultivation method of a cell and a tissue using the scaffold, and a screening method of a substance which can be combined with the cell; a method of collecting a specific cell from a sample.例文帳に追加

セラミックスからなる基材とその表面に固定化された金属粒子とを有するスキャフォールド；該スキャフォールドの作製方法；該スキャフォールドを用いた細胞および組織の培養方法；細胞に結合し得る物質のスクリーニング方法；試料から特定の細胞を回収する方法等を提供する。 - 特許庁

At each measuring point of a revolver 7, the detection data of the photodetector 15 about each measuring point of a surface of the sample 10 and the detection data of the photodetector 19 thereabout are acquired.例文帳に追加

そして、レボルバ７の各測定位置において、試料１０の表面の各測定点についての光検出器１５の検出データと光検出器１９の検出データを取得し、予め設定された閾値以上の光検出器１９の検出データがあった場合には、それを、光検出器１５の対応する検出データに置き換える。 - 特許庁

In this gas-liquid distribution type gas sample collecting tube, the bulking agent containing silica gel having a hydrocarbon molecule chain preferably such as chemically bonded triacontyl group, on its surface, is stored in a container, and a gas component such as a trace amount of gas component contained in an environment is able to be easily collected/eliminated.例文帳に追加

表面に、好ましくは化学結合したトリアコンチル基などの炭化水素分子鎖を有するシリカゲルを含む充填剤を容器内に収容してなる、環境中に含まれる微量気体成分などの気体成分を容易に捕集・脱離することの可能な気液分配型気試料捕集管。 - 特許庁

In a data processing method for obtaining average value by using a surface analyzing apparatus, measuring the same region of a sample at least twice and accumulating the measurement data, the values of the measurement data are compiled in the order of the magnitude, the predetermined number of the measurement data are accumulated from the median, and the average value is obtained.例文帳に追加

表面分析装置を用いて試料の同一領域を少なくとも２回測定して測定データを積算して平均値を得るデータ処理方法において、測定データを値の大小順に集計し、中央値から所定数の測定データを積算して平均値を得ることを特徴とする。 - 特許庁

In this performance testing device 10, a fixing frame 12 and a guide frame 13 are erected vertically and oppositely in parallel at a prescribed interval on a horizontal base plate 11, and a clamp means 14 of one of upper and lower face plates 5a, 5b of the sample piece 1 is installed on an internal surface upper part of the fixing frame 12.例文帳に追加

性能試験装置１０は、水平なベースプレート１１上に、所定の間隔を隔てて固定フレーム１２とガイドフレーム１３とが平行で、かつ相対向して鉛直に立設され、固定フレーム１２の内壁面上部には、供試体１の上下面板５ａ，５ｂの一方のクランプ手段１４が設けてある。 - 特許庁

The film has a shrinkage ratio in both the longitudinal direction and the transverse direction of at least 10% when a sample cut into a square shape of 10 cm×10 cm is immersed in a warm water of 85°C for 10 sec and then taken out and is coated with an amphoteric surfactant at least on one surface thereof.例文帳に追加

フィルムを１０ｃｍ×１０ｃｍの正方形状に切り出した試料を８５℃の温水中に１０秒浸漬して引き上げたときの長手方向と幅方向の熱収縮率が共に１０％以上でかつ少なくともフィルム片面に両性型界面活性剤を塗布した事を特徴とする。 - 特許庁

Herein, a gaseous decomposition is accelerated at a temperature lower than the liquefying temperature of hydrofluoric acid when the thin film or natural oxidation film on the surface of the wafer is decomposed and a sample stage on which the wafer is held in a vacuum state is subsequently heated to accelerate the separation of residue for lowering the analytical precision of a very small amount of impurities (1b).例文帳に追加

ここで、ウエハ表面の薄膜または自然酸化膜を分解する際に、フッ酸が液化する温度以下の温度で気相分解を促進した後、減圧状態でウエハを保持している試料ステージを加熱し、微量不純物の分析精度を低下させる残渣の脱離を促進する（１ｂ）。 - 特許庁

More specifically, the present invention is a cantilever; the biosensor for PKA detection containing protein kinase inhibitor (PKI) peptide to be fixed to a surface of the cantilever; and the kit comprising a sample to be detected, the biosensor for PKA detection, and a determination means for diagnosing increases in PKA activities and diseases related to them.例文帳に追加

より詳しく、本発明はカンチレバー及び、前記カンチレバー表面に固定されるプロテインキナーゼ抑制剤（ＰＫＩ）ペプチドを含むＰＫＡ検出用バイオセンサー及び、対象試料、前記ＰＫＡ検出用バイオセンサー及び定量手段を有するＰＫＡ活性増加と関する疾病の診断用キットに関するものである。 - 特許庁

The method capable of irradiating semiconductor wafers with ten times of electron beams in conventional irradiation time by irradiating two or more laminated semiconductor wafers with electron beams from the surface side of the uppermost semiconductor wafer or the rear face of the lowermost semiconductor wafer, and improving a dose distribution characteristic in the depth direction of a sample to be irradiated, is obtained.例文帳に追加

二枚以上の半導体ウェハを重ねて最上段の表側または最下段の裏面から，或る強度以上のエネルギーで電子線照射を行うことによって，照射される試料の深さ方向の線量分布特性を改良し従来の時間で１０倍の照射が可能な工法を創案した。 - 特許庁

An amorphous silicon layer 4 is formed on the silicon base 1 exposed by eliminating a metal silicide film 3 formed on a sample surface, and a film thickness of the amorphous silicon layer 4 is determined to approximately flatten the unevenness on the interface of the metal silicide film 3 and the silicon base 1.例文帳に追加

試料表面に形成された金属シリサイド膜３を除去することにより露出したシリコン基板１上にアモルファスシリコン層４が形成されるとともに、このアモルファスシリコン層４の膜厚は、金属シリサイド膜３とシリコン基板１との界面に生じた凹凸が略平坦になるように設定される。 - 特許庁

In the method for mounting a sample on the slide glass 2 by using the slide glass 2 and a cover glass 3 in the mounting method for samples, an insert 1 having a plurality of notches is pinched between the slide glass 2 and the cover glass 3, the samples are allowed to flow to the notches by surface tension, and the samples are placed on the slide glass 2.例文帳に追加

スライドグラスおよびカバーグラスを用いてスライドグラス上に試料を載せる方法において、該スライドグラスと該カバーグラスの間に、複数の切欠きを有するインサートを挟み込み、その切欠きに試料を表面張力により流し込み、試料をスライドグラス上に載せることを特徴とする試料の搭載方法。 - 特許庁

The standard sample is produced by steps of: forming an ion implantation layer 2 by ion-implanting In or Ga to a silicon substrate 1; and forming a redistribution layer 4 by accumulating ion-implanted In or Ga in a neighborhood of the surface of the silicon substrate 1 by irradiating the silicon substrate 1 with an oxygen ion 3.例文帳に追加

本標準試料は、シリコン基板１にＩｎ又はＧａをイオン注入してイオン注入層２を形成する工程と、シリコン基板１に酸素イオン３を照射して、イオン注入された前記Ｉｎ又はＧａをシリコン基板１の表面近傍に集積させて再分布層４を形成する工程とを有することで製造される。 - 特許庁

In this analysis method of protein aggregation for analyzing a sample including a protein and/or its aggregate by eletrochemical measurement, a protein including an eletrochemically active amino acid residue is used as the protein, and eletrochemical measurement is performed in the state where the protein and/or its aggregate is in contact with an electrode surface.例文帳に追加

タンパク質及び／又はその凝集体を含む試料を電気化学測定により分析するタンパク質凝集の分析方法であって、タンパク質として電気化学的に活性なアミノ酸残基を含むタンパク質を用いるとともに、タンパク質及び／又はその凝集体を電極表面に接触させた状態で電気化学測定を行う。 - 特許庁

To accurately analyze a constituent by reducing stray light in the light reception of scattered light as much as possible and at the same time by efficiently condensing dim Raman scattered light in a Raman spectroscopy for analyzing the constituent on a sample surface by a horizontal resolution of at least diffraction limit by utilizing the Raman scattered light due to near-field light.例文帳に追加

試料表面の成分解析を近接場光によるラマン散乱光を利用して回折限界以下の水平分解能で行うラマン分光方法において、散乱光を受光する際の迷光を極力低減しながら、微弱光であるラマン散乱光を効率よく集光することにより、より精密な成分解析を可能とする。 - 特許庁

In the laser scanning type microscope equipped with the optical system for observation and the optical system for luminous stimulus, the optical system for observation includes a scanning means for scanning a sample surface with a spot obtained by condensing exciting light, and the optical system for luminous stimulus irradiates wide field with stimulating light.例文帳に追加

本発明の上記課題は、観察用光学系と光刺激用光学系を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記観察用光学系は励起光を集光させたスポットを試料面で走査する走査手段を備え、前記光刺激用光学系は刺激光をワイドフィールド照射することを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。 - 特許庁

The compound containing the thiol group or sulfide group in the sample is adsorbed/immobilized/enriched on an electrode surface to be followed by reductive elimination, a current therein or a time integration value i.e. an elimination electric quantity therein, and a potential in the elimination are measured to identify and detect a chemical species of the compound, and the concentration thereof is found further in addition thereto.例文帳に追加

試料内のチオール基あるいはスルフィド基含有化合物を電極表面上に吸着・固定・濃縮し、これを還元的に脱離させ、その電流値、あるいはその時間積分値すなわち脱離電気量、及び脱離時の電位を計測することにより、上記化合物の化学種を識別、検出し、かつその濃度を求める。 - 特許庁

This sheet comprises a resin film 12 to be stuck to a leaf 32 by a pressure sensitive adhesive 18, cobalt chloride paper 16 that is disposed on the surface of the pressure sensitive adhesive 18 of the resin film 12 and has cobalt chloride adsorbed, and a color sample 24 that is printed on the resin film 12 near the cobalt chloride paper 16 and colors the cobalt chloride paper 16 by cobalt chloride.例文帳に追加

粘着剤１８により葉３２に貼付される樹脂フィルム１２と、樹脂フィルム１２の粘着剤１８の面に設けられ塩化コバルトを吸着させた塩化コバルト紙１６と、塩化コバルト紙１６近傍の樹脂フィルム１２に印刷されているとともに、塩化コバルトにより塩化コバルト紙１６が呈色する色の色見本２４を備える。 - 特許庁

This information processor 100 is provided with the first and second underlayer reflection light component calculation parts 104, 111, an internal diffusion reflection light component calculation parts 106, an internal direct reflection light component calculation parts 108, and a surface reflection light component calculation parts 109, for calculating respective components of the reflected light in the first sample pursuant to a model expression.例文帳に追加

情報処理装置１００は、第１のサンプルにおける反射光の各成分をモデル式により算出する第１及び第２下層反射光成分算出部１０４・１１１、内部拡散反射光成分算出部１０６、内部直接反射光成分算出部１０８、表面反射光成分算出部１０９を備えている。 - 特許庁

A sample liquid containing the test substance is made to contact with a working electrode having a probe substance directly or indirectly, specifically bondable to the test substance on the surface under coexistence of a sensitizing dye, the test substance is made to directly or indirectly, specifically bond to the probe substance, and the sensitizing dye is made to be fixed to the working electrode by the bonding.例文帳に追加

増感色素の共存下、被検物質を含む試料液を、この被検物質と直接または間接的に特異的に結合可能なプローブ物質を表面に備えた作用電極に接触させて、プローブ物質に被検物質を直接または間接的に特異的に結合させ、この結合により増感色素を作用電極に固定させる。 - 特許庁

In the plasma treatment apparatus for independently performing the formation of plasma and the control of the incident energy of ions to a sample, the surface comprising an earthed conductive metal and coming into contact with plasma in the plasma treatment chamber is coated with a plasma- resistant polymeric material 22 becoming t/kε<300 in the relation between a specific dielectric constant kε and thickness t (μm).例文帳に追加

プラズマ生成と試料へのイオンの入射エネルギ制御とを独立に行うプラズマ処理装置において、アースに接地された導電体の金属でなりプラズマ処理室８内でプラズマと接触する面を、比誘電率ｋεと厚さｔ（μｍ）との関係がｔ／ｋε＜３００となる耐プラズマ性高分子材料２２で被覆する。 - 特許庁

When a zero gas is made to flow for cleaning after a sample gas is measured, the sensor temperature control part 24 and the ultrasonic oscillator control part 32 are controlled by a cleaning operation control part 28, the oxide semiconductor sensor is oscillated by the ultrasonic oscillator and is heated by a heater to accelerate restoration for an oxide semiconductor surface.例文帳に追加

サンプルガスを測定した後、センサセル１８に乾燥ゼロガスを流すクリーニング時に、クリーニング動作制御部２８により、センサ温度制御部２４及び超音波振動子制御部３２を制御し、酸化物半導体センサを超音波超音波振動子により振動させ、さらにヒータにより加熱し、酸化物半導体表面の回復を早める。 - 特許庁

To provide a nonlinear dielectric microscope developed for usage of ultrahigh-sensitivity range sensing of vertical direction by using of the phenomenon based on an evidence where, when a gap is prepared between a probe and a sample surface, large variation of nonlinear dielectric signal by changing a minute gap can be predicted from theoretical analysis.例文帳に追加

本発明の課題は、探針と試料表面に空隙を設けた場合、微小な空隙の変化で非線形誘電率信号が大きく変化することが理論解析により予測されることに基き、この現象を利用して超高感度な垂直方向距離センシングに用いる非線形誘電率顕微鏡を開発し、提供することにある。 - 特許庁

General-purpose magnesium alloy (Mg-Al-Zn-Mn based alloy) subjected to extrusion-molding beforehand is heated to a prescribed sample surface temperature (490 to 566°C), is then subjected to rolling, particularly, subjected to rolling performed at an angle different from the extrusion direction for one or more passes, and is subsequently annealed to produce an easily formable magnesium alloy sheet material.例文帳に追加

予め押出し加工を施した汎用マグネシウム合金（Ｍｇ−Ａｌ−Ｚｎ−Ｍｎ系合金）を、所定の試料表面温度（４９０〜５６６℃）に加熱した上で、圧延を行い、特に、押出し方向とは異なる角度で行う圧延を１パス以上行い、その後に、焼鈍を行うことにより易成形性マグネシウム合金板材を作製する。 - 特許庁

The method includes the steps of applying a DC magnetic field to a measurement object sample; repeatedly applying an AC magnetic field to demagnetize, while sequentially weakening a strength of the AC magnetic field; measuring a magnetic field distribution on a surface of the sintered tool, and obtaining a residual stress distribution of the sintered tool by converting the magnetic field distribution into the residual stress distribution.例文帳に追加

被測定試料に直流磁界を加えた後、交流磁界の強度を逐次弱めながら反復して交流磁界を加える消磁操作を実施し、その後前記焼結工具表面の磁界分布を測定して、前記磁界分布を残留応力分布に変換することにより前記燒結工具の残留応力分布を求める。 - 特許庁

A sample preparation method for the charged particle device includes a step of forming fine irregularities on the surface of a substrate, a step of dripping on the substrate colloid metal or metal fine particles dispersed in an ionic liquid, and a step of removing the solution dripped on the substrate.例文帳に追加

本発明では、荷電粒子線装置の試料作成方法であって、基板表面に微細な凹凸を形成するステップと、前記基板にコロイド金属又はイオン液体に分散した金属微粒子を滴下するステップと、前記基板に滴下した溶液を除去するステップと、を有することを特徴とする試料作成方法を提供する。 - 特許庁

To automatically select an oscillation circuit according to piezoelectric sensors when the piezoelectric sensors of mutually different types are mounted to a connection terminal in a device that sucks an object to be sensed by forming a suction layer on the surface of a piezoelectric vibrator and senses the object to be sensed in a sample fluid according to a change in an oscillation frequency.例文帳に追加

圧電振動子の表面に吸着層を形成して感知対象物を吸着し、発振周波数の変化に応じて試料流体中の感知対象物を感知する装置において、互いに異なる種別の圧電センサを接続端子に装着したときに、その圧電センサに応じた発振回路を自動で選択すること。 - 特許庁

The gas sampling device includes a hollow support, having on its side surface a gas vent hole for guiding a sample in the flexible gas sampling bag to the outside of the bag; a clamp having an open part in a bottom arm part for fixing the hollow support to the inside of the gas sampling bag; and a pair of sealing rubber plates for holding a bag film on the bottom-arm side of the clamp from both sides.例文帳に追加

フレキシブルサンプリングバッグ中のサンプルをバッグ外に導くためのガス通気孔を側面に有する中空支持体、該中空支持体をサンプリングバッグ中に固定するための底部アーム部に開口部を有するクランプ、及びクランプ底部アーム側のバッグフィルムを両側から挟持するための１対の密封用ゴム板を備えてなるガスサンプリングデバイス。 - 特許庁

An electron gun 1, a focusing lens 2, a deflector 4, a blanker 13, an excimer beam source 21 are provided, and a reflection mirror 23 having an electron beam passage hole 23H, and having a reflection surface 23R to reflect the excimer beam to radiate the excimer beam from an excimer beam source 21 along an electron beam passage to a sample is provided on the electron beam passage.例文帳に追加

電子銃１、集束レンズ２、偏向器４、ブランカー１３、エキシマ光源２１を備え、更に、電子ビーム通過孔２３Ｈを有し、且つ、エキシマ光源２１からのエキシマ光が電子ビーム通路に沿って試料上に照射されるようにエキシマ光を反射する反射面２３Ｒを有する反射ミラー２３を電子ビーム通路上に設ける。 - 特許庁

This constitution can prevent an inflow of outside air from the surface in the side of one end 14c of the flow cell 14 into the detector 10, as if being drawn therein by the flow of the sample solution 60, and prevent an optical detection from being obstructed by air bubbles mixed in the sealed path 14b, thus allowing a favorable measurement of the intermolecular interactions.例文帳に追加

その結果、サンプル溶液６０の流れに引き込まれるように、フローセル１４の一端１４ｃ側の表面から外部の空気が検出器１０内に流入することはなく、密閉流路１４ｂに混入した気泡により光学的検出が妨げられることがなく、分子間相互作用の測定を良好に行うことができる。 - 特許庁

Thereafter, thickness or resistance value of the unwanted film remaining at the bottom surface of the contact hole of the test object is estimated by measuring potential contrast of the secondary electron image of the test object, by radiating the electron beam to the contact hole as the test object, and then comparing the potential contrast of the standard sample 1 for test with potential contrast of the test object.例文帳に追加

その後、被検査対象のコンタクトホールへ電子線を照射して被検査対象の二次電子画像の電位コントラストを測定し、検査用標準試料１の電位コントラストと被検査対象の電位コントラストとを比較することにより、被検査対象のコンタクトホールの底面に残る不要残存膜の厚さまたは抵抗値を推定する。 - 特許庁

The external parameters from the global coordinate system GCS at the given position Q is calculated by using the transformed external parameters of the local coordinate systems LCSi of the sample points Pi, and shading or illumination at the given position Q is then performed by using the calculated surface normal N at the given position Q and the calculated external parameters at the given position Q.例文帳に追加

所定位置Ｑにおける全体座標系ＧＣＳからの外部パラメータを、サンプル点Ｐiの局所座標系ＬＣＳiの変換済み外部パラメータを使用することによって計算し、所定位置Ｑにおける計算済み表面法線Ｎと所定位置Ｑにおける計算済み外部パラメータを使用して、所定位置Ｑにおけるシェーディング又は照明を行う。 - 特許庁

This measurement device has a low-coherence surface light source 1, an irradiation optical system having the collimator lens 2, image forming interference optical system, beam division type phase modulator 5, high-voltage signal generator 6 connected to the modulator 5, objective lens 7, biological sample 8, heterodyne image detector 10, amplitude detector 11 and image monitor 12.例文帳に追加

低コヒーレンス面光源１と、コリメータレンズ２を有する照射光学系と、結像型干渉光学系と、ビーム分割型位相変調器５と、このビーム分割型位相変調器５に接続される高電圧信号発生器６と、対物レンズ７と、生体試料８と、ヘテロダイン画像検出器１０と、振幅検出器１１と、画像モニター１２とを具備する。 - 特許庁