「sample surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an analysis method and an analyzer for calculating the composition and thickness of each layer in a sample by neither adjusting the sample, where a multilayer thin film is formed on the surface, nor using multilayer thin-film standard samples, even if the same element is include in a plurality of layers.例文帳に追加

多層薄膜が表面に形成された試料に対して、試料調整を行わず、同一元素が複数の層に含まれていても多層薄膜標準試料を用いず、試料の各層の組成と膜厚を算出する分析方法および装置を提供すること。 - 特許庁

The probe for the ultrasonic imaging device is a probe 12 which is immersed in water 11 being a liquid medium in which a sample is arranged and moved so as to scan the measuring surface of the sample and a rectification means such as a vane member 13 or the like for rectifying water is provided around the probe 12.例文帳に追加

この超音波映像装置用探触子は、試料が配置された液体媒質である水１１に浸かり、試料の測定表面を走査するように移動する探触子１２であって、当該探触子１２の周囲に水を整流する羽板部材１１等の整流手段を備える。 - 特許庁

To perform high-speed measurement with an inexpensive and simple device constitution, concerning a measuring device for sample analysis such as a surface plasmon sensor for measuring an intensity change of reflected light from the interface between a thin film layer to be in contact with a sample and a dielectric member relative to various incident angles.例文帳に追加

種々の入射角度に対し、試料が接触させられる薄膜層と誘電体部材との界面からの反射光の強度変化測定する表面プラズモンセンサー等の試料分析用測定装置において、低コストの単純な装置構成による高速の測定を行う。 - 特許庁

The signal from the signal X-ray detecting device 5 that is obtained by irradiating the scanning electron beam on a sample is selected by a selector 11c in the total period of Y-direction scanning so that it may be taken in the period when the electron beam is scanned on the sample surface in a constant speed.例文帳に追加

走査されている電子ビームを試料に照射して得られる信号Ｘ線検出装置５からの信号は、Ｙ方向走査の全期間で、かつ、電子ビームが試料表面上で等速的に走査されている期間だけ取り込むように、選別器１１ｃで選別される。 - 特許庁

In such manner, image data based upon the attribute data can be displayed in color since the generation efficiency is calculated and the attribute data is produced on the basis of this, and not only a surface shape of the sample, but the constituents of the sample can be visually specified also.例文帳に追加

このように、本発明では、２次電子の発生効率を演算し、これに基づいて属性データを生成していることから、属性データに基づいて像データをカラー表示することが可能となり、試料の表面形状のみならず、視覚的に試料の構成物質を特定することが可能となる。 - 特許庁

The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.例文帳に追加

半導体試料の主面上に電極１０を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極１０に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１４で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁

In the domain observation method for the ferroelectric, different optical spectrums are respectively generated in domains having different polarization directions at an angle of 180° by applying an electric field to a ferroelectric sample 1, the optical spectrum is measured at each point on a surface of the ferroelectric sample 1, the polarization direction is identified at each point and a domain structure of the ferroelectric sample is visualized.例文帳に追加

強誘電体のドメイン観察方法において、強誘電体試料１に電場を印加することにより、１８０度分極方向の異なるドメインに、各々異なった光学スペクトルを生成させ、前記強誘電体試料１表面の各点における光学スペクトルを測定し、前記各点における分極方向を特定し、前記強誘電体試料のドメイン構造を可視化する。 - 特許庁

This trace liquid atomization device A comprises an ultrasonic vibrator 12, a porous member 13 arranged on the surface of the ultrasonic vibrator 12, a liquid sample supply pipe 23 whose one end is arranged between the ultrasonic vibrator 12 and the porous member 13, and a trace liquid sample continuous supply device 24 connected to the other end of the liquid sample supply pipe 23.例文帳に追加

本発明の微量液体霧化装置Ａは、超音波振動子１２と、前記超音波振動子１２の表面に配置された多孔性部材１３と、前記超音波振動子１２及び多孔性部材１３の間に一端が配置された液体試料供給管２３と、該液体試料供給管２３の他端に接続された微量液体試料連続供給装置２４とからなる。 - 特許庁

When a sheet-shaped sales promotion object 8 is mounted to the surface of a broad sample 1 installed in a sample display unit Aa of a vending machine A, notched sections 8b, 8a formed at right and left lower edges of the sales promotion object 8 are locked to locking portions 3b, 3a at right and left tops of an overhanging portion 3 corresponding to a projecting printed pattern printed on a sample 2.例文帳に追加

自動販売機Ａの見本陳列部Ａａに設置される幅広型見本１の表面にシート状の販売促進体８を取り付ける際に、販売促進体８の左右下縁部に形成された切欠き部８ａ，８ｂを、見本体２に印刷された山形の印刷パターンと対応する張出し部３の左右山頂部の係止部３ａ，３ｂに係止して取り付ける。 - 特許庁

The charged particle beam device comprises a first element ion beam optical system device performing first FIB processing for forming a sample piece from a sample, a second element ion beam optical system device performing second FIB processing for removing a damage layer formed on the surface of a sample piece, and a first element detector which detects a first element existing in the damage layer.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置は、試料から試料片を形成する第１のＦＩＢ加工を行う第１の元素イオンビーム光学系装置と、試料片の表面に形成されたダメージ層を除去する第２のＦＩＢ加工を行う第２の元素イオンビーム光学系装置と、ダメージ層に存在する第１の元素を検出するための第１の元素検出器と、を有する。 - 特許庁

The cell main body for measuring the acoustic performance of a liquid sample comprises the first and the second end plates of mutually opposite practically flat plates, the cell main body provided with at least 1 cavity for sample for accepting a sample to be measured; and the first and the second electric sound converting wafers each of which is provided with principal surface.例文帳に追加

本発明は、互いに対向した実質的に平坦な第１並びに第２の端面と有し、かつ測定されるサンプルを受け入れるための少なくとも１つのサンプル用のキャビティを形成しているセル本体と、第１並びに第２の主面を各々が有する第１並びに第２の電気音響変換ウェハとを備えている、流体のサンプルの音響特性を測定するためのセルに関する。 - 特許庁

The magnetic structure analyzer is composed of a spin polarized ion producing part for producing spin polarized ions, a spin polarized ion beam line for throwing the spin polarized ions from the spin polarized ion producing part on the surface of the sample by desired energy, a vacuum tank for holding the sample and the measuring instrument positioned in the vacuum tank to measure the spin polarized ions scattered by the irradiation of the sample.例文帳に追加

スピン偏極イオンを発生させるスピン偏極イオン発生部と、前記スピン偏極イオン発生部からのスピン偏極イオンを所望のエネルギーで試料表面に入射させるスピン偏極イオンビームラインと、試料を保持する真空槽と、前記真空槽内に位置して、前記試料に照射されて散乱したスピン偏極イオンを計測する計測器よりなる。 - 特許庁

On the sample wafer, a plurality of annular polished regions are formed that have been polished with a plurality of polishing tools from the central region to the outer periphery on the surface of a wafer to be polished.例文帳に追加

サンプルウエーハは、ウエーハの被研磨面に中心領域から外周に亘って複数の研磨工具によってそれぞれ研磨された複数の環状の研磨領域が形成されている。 - 特許庁

To provide a probe scanning apparatus capable of settling the heat shrinkage of a thick pipe part, an inner cylinder and viscous matter early enough to start the measurement of the surface of a sample in its early stages.例文帳に追加

太管部、中筒、および粘性体等の熱収縮を早期に落ち着かせて、早期に試料表面の測定を開始できるプローブ走査装置を提供することにある。 - 特許庁

An illumination part 7 is arranged so that a striped pattern parallel to the cylindrical body axis is reflected on an imaged image acquired by imaging a cylindrical surface normal part of the cylindrical body inspection sample 1 by a camera 5.例文帳に追加

照明部７は、円筒体被検査試料１の円筒面正常部をカメラ５により撮像した撮像画像に円筒体軸に平行となる縞模様が写るように配置される。 - 特許庁

A silver thin film (thickness 50 nm) 2 and an SiO_2 film (thickness 10 nm) 7 are deposited in order on one side surface of a slide glass 1 by ion beam sputtering deposition, so that a supporting substrate for sample solution is formed.例文帳に追加

スライドガラス１の片面に、イオンビームスパッタ堆積法により銀薄膜（厚さ５０ｎｍ）２とＳｉＯ_２膜（厚さ１０ｎｍ）７を順に堆積したものを試料溶液の支持基板とする。 - 特許庁

To measure an electrical impedance along the surface rugged shape by bringing a distance between a sample and a probe close to a level common to an atomic force microscope or bringing them into contact with each other.例文帳に追加

試料・探針間の距離を原子間力顕微鏡で一般的なレベルまで接近あるいは接触させて、表面凹凸に沿った電気インピーダンスの測定を可能とする。 - 特許庁

To provide an ATR mapping measuring device measuring a superior ATR spectrum under a prescribed pressure without affected by the quality (degree of hardness/softness) and the recesses/projections on the surface of a measuring sample.例文帳に追加

測定試料の材質（硬軟の程度）や表面の凹凸に影響されずに、一定の圧力で良好なＡＴＲスペクトルが測定できるＡＴＲマッピング測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface acoustic wave element capable of being utilized in the regulation of a temperature by measuring the temperature of a liquid sample without apprehending contamination, and to provide a stirring device and an analyzer.例文帳に追加

コンタミネーションの心配なく液体試料の温度を測定して温度調節に利用することが可能な表面弾性波素子、攪拌装置及び分析装置を提供すること。 - 特許庁

This lunar surface probe 800 is provided with: a traveling part 801; a vehicle body 802; a sensor pole 803 visual sensor 804, an arm 805 for sampling; a sample storing part 806; and an antenna 807.例文帳に追加

月面探索機８００は、走行部８０１、車体８０２、センサーポール８０３視覚センサ８０４、試料採取用のアーム８０５、試料収納部８０６、およびアンテナ８０７を備えている。 - 特許庁

To provide a vacuum sucker and its manufacturing method in which the vacuum sucker can be manufactured easily with high yield and the circumferential edge of a sample can be corrected to have a highly accurate surface.例文帳に追加

試料の周縁部を高精度な表面に矯正できると共に、製造が容易で歩留りが良い真空吸着器及びその製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

An optical element is processed by a sample tool manufactured in accordance with an optical element target shape of the lens, etc., and its spherical surface shape is precisely measured with a shape measuring instrument.例文帳に追加

レンズ等の光学素子目標形状に基づいて製作されたサンプル工具によって光学素子を加工し、その球面形状を形状測定器によって精密に測定する。 - 特許庁

To form uniform self organization film on a thin-film layer that is formed on the bottom surface of a container that retains the sample of a measurement chip used for a measuring apparatus that utilizes total reflection attenuation.例文帳に追加

全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップの試料を保する容器底面に形成された薄膜層上に均一な自己組織化膜を形成する。 - 特許庁

To prevent chips caused at slicing from adhering again to a cutting plane in a slicing device repeating slicing of the surface of a sample and taking in data on the cutting plane in succession.例文帳に追加

試料の表層部分のスライスを繰り返しながら、順次、切断面のデータを取り込むスライサ装置において、スライスによって発生した切り屑が切断面に再付着することを防止する。 - 特許庁

Then, a point light source image which is an observation image of the sample 101 is picked up by being imaged on an imaging surface of an imaging device 140 through an imaging lens 131 and the objective lens 133.例文帳に追加

そして、この試料１０１の観察像である点光源像が結像レンズ１３１および対物レンズ１３３を介して撮像装置１４０の撮像面に結像されて撮像される。 - 特許庁

To optimize the number of scanning times (integration times) in image integration process by grasping beforehand an extent of charging on the surface of a sample by irradiation of a primary electron beams.例文帳に追加

一次電子線の照射による試料表面における帯電の程度を予め把握することにより、画像積算処理における走査回数（積算回数）の最適化を図る。 - 特許庁

The reflection angle of the mirror 31 is adjusted not to allow optical paths to be coincident before/after the reflection, so that the laser light is reflected at a position different from the preceding time on the sample surface 11.例文帳に追加

鏡３１の反射角度は反射の前後で光路が一致しないように調整されてあり、レーザ光は試料面１１上の前回とは異なる位置で反射する。 - 特許庁

To provide a probe having a small end radius of curvature, capable of measuring a sample surface having unevenness having a high aspect, expecting high durability, and capable of being manufactured at a low cost, and its manufacturing method.例文帳に追加

先端曲率半径が小さく、高アスペクトな凹凸を有する試料表面の測定が可能であり、耐久性が高く、且つ低コストなプローブとその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma doping method excellent in a uniformity of an impurity concentration introduced on the surface of a sample and providing a fast processing speed than conventional method, and to provide a device.例文帳に追加

試料表面に導入される不純物濃度の均一性に優れたプラズマドーピング方法や、従来よりも早い処理速度を実現できるプラズマドーピング方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The projection optics system 216 is of two-staged structure, by which the surface of the sample 219 is irradiated at a right angle with electrons reflected from a mask 217 which is face down.例文帳に追加

また、投影光学系２１６を２段構成にすることによって、下方向に向けたマスク２１７から得られる反射電子を試料２１９面に垂直に照射することが可能になる。 - 特許庁

With the sample platform for the scanning electron microscope, a method is adopted to drop, dry and fix slurries by setting a patterned indented surface at a position where the slurries are to be dropped.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の試料台において、懸濁液を滴下する位置の表面に凹凸形状を設けることにより、懸濁液をその上から滴下し乾燥，固定する手法を用いる。 - 特許庁

For example, a light receiving surface of a TV camera for photographing the electron beam diffraction image is directly and indirectly rotated by operating in linking with the crystal arrangement direction of the sample of the scanning transmission image.例文帳に追加

例えば、走査透過像の試料の結晶配列方向に連動して、電子線回折像を撮影するＴＶカメラの受光面を直接あるいは間接的に回転させる。 - 特許庁

A contrast agent layer 52 is pasted on the specific location of the surface 56 of the sample 4 by interaction of the particle beam 50 and/or the light beam 47 with the contrast agent precursor 51.例文帳に追加

粒子ビーム５０および／または光ビーム４７とコントラスト剤前駆体５１の相互作用によってコントラスト剤層５２を試料４の表面５６の特定の位置に貼付する。 - 特許庁

The landing angle is adjusted to generate the multiple beams perpendicular to the surface of sample with the multi-aligners 116, 117, on the basis of detection of a current of the multiple beams applied to the blanking aperture.例文帳に追加

ブランキング絞りに流入するマルチビームの電流の検出に基づき、マルチアライナー１１６，１１７により試料面に対してマルチビームが垂直になるようランディング角を調整する。 - 特許庁

Further, since the electrode plates 6 and 7 are provided on the outer surface of the receiving part 15, the passage or reception of the sample S is not obstructed and good measurement can be achieved.例文帳に追加

しかも、各電極６および７は、受入部１５の外面に設けられているので、試料Ｓの通過あるいは受け入れが阻害されず、良好な測定を達成することができる。 - 特許庁

To solve a problem wherein it is a limit in a conventional art that an X-ray having intensity capable of exciting a photoelectron is converged to a level of μm on a sample surface.例文帳に追加

本発明が解決しようとする問題点は、試料面において、光電子を励起できる強度のＸ線をμｍ程度に収束させるのが限界であったという点である。 - 特許庁

Serial and parallel dispensing tools that can deliver defined volumes of fluid to generate multi-element arrays of sample material on a substrate surface are further provided.例文帳に追加

更に、サブストレート表面上にサンプル材料のマルチエレメントアレーを作成するために特定容量の流体を送達することができる連続及び並行分配ツールが提供される。 - 特許庁

In this test piece manufacturing method, the water bled from the mixed sample L equally bleeds in respective directions toward the water W of the outside from the side or bottom surface of the bag body 10.例文帳に追加

この供試体作成方法によれば、混合試料Ｌから染み出した水は、袋体１０の側面又は底面から外側の水Ｗに向けて各方向に均等に染み出る。 - 特許庁

To suppress dynamic behavior while preventing drying of the surface of a sample by precisely spraying liquid in only the vicinity of an observation area without dispersing it to an objective lens and its periphery.例文帳に追加

液体を対物レンズや周辺に飛散させることなく観察範囲の近傍のみに正確に散布して試料の表面の乾燥を防止しつつ動的挙動を抑制する。 - 特許庁

To prevent the action of excessive force to a sample and to enhance measuring accuracy in the observation of a surface shape and the measurement of adsorbing power by a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による表面形状観察及び吸着力測定において、試料に対する過剰な力の作用を防止すると共に測定精度を高める。 - 特許庁

For example, the sample target 10 is constituted of a substrate 20 comprising a silica monolithic plate having a double pore structure and the Pt thin film 30 which covers the surface to be irradiated with the laser beam of the substrate 20.例文帳に追加

例えば、試料ターゲット１０を二重細孔構造を有するシリカモノリスプレートから成る基体２０と該基体のレーザー被照射面を被覆するPt薄膜３０とで構成する。 - 特許庁

Temperature rise of the sample 6 surface by irradiation of the focused charged particle beams 3 is measured by the scanning thermal microscope, and when it exceeds the prescribed temperature, processing is interrupted and is not performed until temperature drops.例文帳に追加

走査熱顕微鏡で集束荷電粒子ビーム3照射によるサンプル6表面の温度上昇測定し、所定温度を超える場合には加工を中断し、温度が下がるまで待つ。 - 特許庁

Once this relation is examined, the temperature at the minute part on the surface of the sample 4 can be determined by measuring the yield of the secondary Ga ion when analyzing the plurality of samples 4.例文帳に追加

この関係を一度調べれば、複数の試料４の分析時に、２次Gaイオンの収量を測定することで、試料４の表面の微細部位における温度を決定することができる。 - 特許庁

To optimize adjustment of a lens group for aberration correction and adjustment of thin laminar illumination light according to variation in optical path length (F×n) from a surface of a sample to a focal plane.例文帳に追加

標本の表面から焦点面までの光路長(Ｆ×ｎ)の変化に対応し、収差補正用のレンズ群の調整と薄層状の照明光の調整とを迅速に最適化する。 - 特許庁

A gas for protection membrane 18 is discharged from a gas gun for protection membrane on a surface of a tip cross-section of a capillary tube 5 having inner diameter 0.10 mm or less fixed on a sample table.例文帳に追加

試料台に固定された内径０．１０ｍｍ以下を有するキャピラリーチューブ５の先端断面の表面上に保護膜用ガス銃１３より保護膜用ガス１８を放出する。 - 特許庁