「scanning pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A discrimination pattern 8 shows the order of the scanning lines 2.例文帳に追加

識別パターン８は、走査線２の順番を示す。 - 特許庁

PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁

The scanning signal generating circuit 6 generates scanning signals for drawing each rectangular pattern.例文帳に追加

走査信号発生回路は、各矩形パターンを描くための走査信号を発生する。 - 特許庁

The second scanning test pattern corresponds to the identified label.例文帳に追加

第２のスキャンテストパターンは、識別されたラベルに対応する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法 - 特許庁

SPECIFIC PATTERN DETECTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の特定パターン検出方法 - 特許庁

The pattern drawing device draws a pattern by exposure scanning in a plurality of times in a main scanning direction.例文帳に追加

パターン描画装置では、主走査方向への複数回の露光走査によってパターンの描画が行われる。 - 特許庁

The first scanning pattern is fit for stationary reading and the second scanning pattern is fit for hand-held reading.例文帳に追加

第一の走査パターンは定置式読取に、第二の走査パターンは手持ち式読取に適した走査パターンである。 - 特許庁

PATTERN DRAWING DEVICE GENERATING CONTROL SIGNAL FOR BEAM SCANNING例文帳に追加

ビーム走査の制御信号を生成するパターン描画装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PROVIDING SCANNING PATTERN TO ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスにスキャンパターンを提供する方法および装置 - 特許庁

This scheme permits the input signal scanning pattern to change into "a scanning pattern for outputting output lines N by N lines in the second mainly scanning direction".例文帳に追加

この構成により、入力画像の走査パターンは、『第２主走査方向の出力ラインをＮ本ずつ出力する走査パターン』に変更される。 - 特許庁

The data of the first scanning region in the data of the scanning region is scanned while collated with the pattern group of a pattern memory part 7 by a pattern confirmation part 5.例文帳に追加

その走査領域のデータの内、最初の走査領域のデータをパターン認識部５でパターンメモリ部７のパターン群と照合しながら走査する。 - 特許庁

PARTIAL EXTENDED SCANNING METHOD REDUCING QUANTITY OF DELAY TEST PATTERN例文帳に追加

遅延テストパターンの量を削減する部分的拡張スキャン方法 - 特許庁

PATTERN MATCHING DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EMPLOYING IT例文帳に追加

パターンマッチング装置及びそれを用いた走査型電子顕微鏡 - 特許庁

The signals CTL become active corresponding to the elements in which the first scanning pattern group and a second scanning pattern group are different.例文帳に追加

反転制御信号ＣＴＬは、第１走査パターン群と第２走査パターン群とが相違する要素に対応してアクティブとなる。 - 特許庁

The processing unit selects an optimum scanning pattern according to the comparison and the autofocus is operated by the selected scanning pattern.例文帳に追加

処理ユニットではこの比較により、最適な走査パターンを選択し、オートフォーカス動作は選択された走査パターンにより実行される。 - 特許庁

To provide an intelligent fixing device for converting a single line scanning pattern radiated by a handheld scanner into an omnidirectional scanning pattern comprising a plurality of intersecting scanning lines.例文帳に追加

手持ち式スキャナが放射した単一直線走査パターンを交差する複数の走査線からなる全方向性走査パターンへ変換する知能型固定装置を提供する。 - 特許庁

The static image transmitter, where one image pattern is configured with a prescribed number of scanning lines, transmits data by scanning one image pattern, while interleaving scanning lines at a prescribed interval.例文帳に追加

所定の走査線で一画面を構成する静止画像伝送装置において、所定の間隔で走査線を間引きつつ一画面を走査してデータ伝送を行う。 - 特許庁

To reduce or eliminate a moire pattern, especially in the high-speed scanning direction.例文帳に追加

特に高速走査方向のモアレパターンを低減または除去する。 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING MOIRE INTERFERENCE PATTERN IN SCANNING OF HALFTONE IMAGE例文帳に追加

ハーフトーン画像の走査におけるモアレ干渉パターンの低減方法 - 特許庁

PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD, AND SCANNING TRANSMISSION CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡 - 特許庁

As a result, the scanning speed becomes higher in a suitable mask pattern.例文帳に追加

その結果、スキャン速度は、適切なマスクパターンにおいてより速くなる。 - 特許庁

The first light line of the interference pattern is utilized as a scanning beam.例文帳に追加

この干渉縞の最初の明線を走査ビームとして使用する。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR LINE-AND-SPACE PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査電子顕微鏡を用いたライン・アンド・スペースパターンの測定方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法 - 特許庁

A scanning angle determining unit 40 figures out a scanning angle variation pattern matching the measured time intervals, and figures out from the pattern a scanning angle matching the phase of a laser drive signal.例文帳に追加

走査角度判定部４０は、計測された時間間隔に対応する走査角度変化パターンを求め、そのパターンからレーザー駆動信号の位相に対応する走査角度を求める。 - 特許庁

A scanning range in the main scanning direction is restricted, and there is drawn a partial pattern which is a part of the exposure patterns by carrying out a divisional scanning of an exposure region.例文帳に追加

主走査方向の走査範囲は限られており、露光領域を分割走査して露光パターンの一部である部分パターンを描画する。 - 特許庁

To provide an optical pattern reader which is adaptive to plural systems for scanning an optical pattern.例文帳に追加

光学パターンを走査する複数の方式に対応することができる光学パターン読取装置の提供。 - 特許庁

Then the test pattern is inputted from a scanning-in signal SI to perform the scanning test of the combination circuit 200.例文帳に追加

その後、スキャンイン信号ＳＩからテストパターンを入力し、組み合せ回路２００のスキャンテストを実行する。 - 特許庁

Especially, the scanning pattern at normal time is defined as a standard image, the standard image and a monitoring image are compared and the change of the scanning pattern is detected.例文帳に追加

特に定常時における走査パターンを標準画像とし、この標準画像と監視画像とを比較してその走査パターンの変化を検出する。 - 特許庁

To generate signal electrode voltages based on a plurality of scanning pattern groups.例文帳に追加

複数の走査パターン群に基づいて信号電極電圧を生成する。 - 特許庁

PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁

The probing region and the scanning pattern are set, corresponding to the probe result up to the last time, and thereby scanning patterns such as the scanning period, the scanning direction or the like and the scanning region can be set properly.例文帳に追加

また、前回までの探査結果に応じて探査領域及び走査パターンを設定するようになっていることで、走査周期や走査方向等の走査パターンや走査領域の設定を適正に行うことができる。 - 特許庁

A composite scanning pattern 12 for an ultrasonic image formation includes a linear scanning patten 14 and one or more sector scanning patterns 16 and 18.例文帳に追加

超音波画像形成のための複合走査パターン１２は、１つの直線走査パターン１４と１つ以上のセクタ走査パターン１６，１８とを含むものである。 - 特許庁

To form a pattern having high accuracy and excellent visibility without producing a boundary line in the pattern by scanning.例文帳に追加

走査によってパターン内部に境界ラインを生じさせず、精度が高く視認性の優れたパターンを形成する。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置 - 特許庁

MST DEVICE, PATTERN FORMING APPARATUS, SCANNING LITHOGRAPHY, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

移動体装置、パターン形成装置、走査型露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

The gate pattern is electrically connected with the scanning line and has a opening inside.例文帳に追加

ゲートパターンは走査線と電気的に接続し、内部に開口部を備えている。 - 特許庁

An upper layer pattern and a lower layer pattern are subjected to pattern matching between SEM (Scanning Electron Microscope) images, to thereby generate an upper layer correlation map and a lower layer correlation map.例文帳に追加

上層パターンと下層パターンをそれぞれSEM画像の間でパターン・マッチングを行ない、上層相関マップと下層相関マップを生成する。 - 特許庁

To provide a mask scanning lithography method by which a pattern can be formed with high dimensional accuracy without relying upon the kind of a character pattern nor other patterns existing in the periphery of the character pattern.例文帳に追加

キャラクタパターンの種類やキャラクタパターンの周辺に位置する他のパターンに依存することなく、高精度な寸法のパターンを形成する。 - 特許庁

To suppress displacement of a pattern in each scanning, the pattern drawn with a light beam, on drawing the pattern on a substrate by scanning the substrate with a light beam more than once, and thereby, to improve the accuracy of drawing.例文帳に追加

光ビームによる基板の走査を複数回行って、基板にパターンを描画する際に、光ビームにより描画されるパターンの走査毎のずれを抑制して、描画精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a pattern formation member, which can inspect a pattern in a shorter period of time compared to a single-beam scanning method and a single-tip scanning method, and to provide a pattern formation member.例文帳に追加

単一ビームや単針を走査する方法と比べて短時間にパターンを検査することができるパターン形成部材の検査方法及び装置、並びにパターン形成部材を提供する。 - 特許庁

The inputted image of a pattern to be inspected is compared with the image of a non-defective pattern to detect the incompatible area, and the horizontal scanning directional and vertical scanning directional continuity of the pattern is also detected.例文帳に追加

入力された検査対象パターンの画像を良品パターンの画像と比較して不一致領域を検出すると共に、水平走査方向及び垂直走査方向のパターンの連続性を検出する。 - 特許庁

The first dielectric layer covers the scanning line and gate pattern and fills up the opening.例文帳に追加

第一誘電体層は走査線とゲートパターンを被覆し、開口部を充填する。 - 特許庁