| 例文 |
scanning patternの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 836件
The mask selecting section 19 extracts a mask pattern from the mask registration memory 17 according to the scanning position of a printing head, and outputs it to a print data creating section 18.例文帳に追加
マスク選択部19は、印刷ヘッドの走査位置に応じてマスク登録用メモリ17からマスクパターンを取り出し、印字データ生成部18に出力する。 - 特許庁
As one of a plurality of mask patterns complementing with each other, a mask pattern having a different pixel thinning ratio in the sub scanning direction of a recording image is used.例文帳に追加
互いに補完し合う複数のマスクパターンの1つとして、画素の間引き率が記録画像の副走査方向において異なるマスクパターンを用いる。 - 特許庁
Then, a specific label, related to the defect scan test pattern is identified by the ATE 114, and (i) the second scanning test pattern is provided to the BIST hardwares 102, 104, (ii) and captures the raw response data, in the diagnostic mode.例文帳に追加
次に、ATE(114)により、欠陥スキャンテストパターンと関連した固有ラベルを識別し、診断テストモードで、i)第2のスキャンテストパターンをBISTハードウェア(102,104)に提供し、ii)生応答データを捕捉する。 - 特許庁
Consequently, the dimensions of the measuring pattern 11 can be measured precisely, since the two sides 11a, 11a of the measuring pattern 11 are always set so as to form 90° with respect to the scanning direction of the electron beam.例文帳に追加
これにより、寸法測定パターン11の2辺11a,11aが常に電子線スキャン方向に対して90°とすることができるため、寸法測定パターン11の正確な寸法を測定することができる。 - 特許庁
After the circuit pattern A at the first layer is formed, one head part 100b, for example, is shifted in a stage-moving direction, to start the scanning of the carriage 100, when laminating the circuit pattern at the second layer on top of that.例文帳に追加
1層目の回路パターンAを形成したのち、その上に2層目の回路パターンを積層する際には、例えば一方のヘッド部100bをステージ移動方向にずらせてキャリッジ100の走査を開始する。 - 特許庁
A pattern generating means 20 puts plural dots in one group and generates a gradational image T0 wherein a pattern having dots of maximum density and minimum density combined is repeated uniformly in a horizontal and a vertical scanning direction.例文帳に追加
パターン作成手段20では、複数ドットを1グループとし、最大濃度と最小濃度のドットを組み合わせたパターンを主走査方向及び副走査方向に均一に繰り返した階調画像T0を作成する。 - 特許庁
On the side of the tip part 22 which comes into contact with a recording medium, a groove part 22C which is almost as wide as the vertical width of the code pattern is provided along the scanning direction where an opening 22A for taking in an image of the code pattern is present.例文帳に追加
また、先端部22の記録媒体への接触側において、コードパターンの上下幅相当の溝部22Cを、コードパターンの画像取り込み用の開口22Aが存在する位置に、走査方向に沿って設ける。 - 特許庁
To compensate, in a three-dimensional shape measuring apparatus which projects a light pattern onto an object by scanning a light beam with a vibrating mirror, for variations attributable to the environmental conditions of the projected light pattern among other factors.例文帳に追加
振動ミラーにより光ビームを走査することで対象物上に光のパターンを投影する三次元形状計測装置において、投影する光のパターンの環境条件等による変化を補償する。 - 特許庁
Moreover, the same color as the needless pattern of the certificate can be dropped out by scanning while emitting the same color from the LCD, then data acquisition of the certificate can be possible in a state in which the needless pattern is erased.例文帳に追加
また、証書の不要図柄と同じ色をLCDから発光しながらスキャンすることでドロップアウトさせることができ、不要図柄を消去した状態で証書のデータを取得することが可能となる。 - 特許庁
To provide a printer capable of coping with the case in which a gradation vector is horizontal or vertical to a scanning line, easily generating a gradation pattern, and printing the gradation pattern at a high speed.例文帳に追加
本発明は、グラデーション・ベクトルが走査線に対して水平、又は垂直の場合にも対応でき、グラデーションパターンの生成を容易に行い、グラデーションパターンの印刷を高速に行う印刷装置を提供するものである。 - 特許庁
When printing a dye surface of the ink ribbon, pseudo dot pattern data having a pseud dot pattern arrangement comprising one or more pixels in a main scanning direction of the thermal head 419 are inserted just before the gray scale value dot data.例文帳に追加
インクリボンの染料面の印刷時に、階調値のドットデータ直前に、サーマルヘッド419の主走査方向に1画素以上のパターンを構成する擬似ドットパターン配列を有する擬似ドットパターンデータを挿入する。 - 特許庁
To automatically image a desired evaluation point (EP) on a sample, and automatically measure a circuit pattern formed at the evaluation points, in the dimension measurement of a circuit pattern using a scanning electron microscope (SEM).例文帳に追加
走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた回路パターンの寸法計測において、試料上の任意の評価ポイント(EP)を自動で撮像し,評価ポイントに形成された回路パターンを自動で計測することを可能にする。 - 特許庁
To provide a system and a method that can be used to substantially reduce or eliminate the slipping of a pattern generator to a stage system that controls the position of the pattern generator during a scanning exposure process.例文帳に追加
スキャニング露光プロセスの間にパターンジェネレータの位置を制御する、ステージシステムに対するパターンジェネレータの滑りを実質的に低減又は排除するために使用されることができるシステム及び方法を提供する。 - 特許庁
A defect-scan test pattern is identified in the production mode, (i) by providing the first scanning test pattern to the BIST hardwares 102, 104 from an ATE 114, and (ii) by comparing the response signature with a predicted response signature.例文帳に追加
生産テストモードで、ATE(114)から、i)第1のスキャンテストパターンをBISTハードウェア(102,104)に提供し、ii)応答シグネチャと予想応答シグネチャとを比較して、欠陥スキャンテストパターンを識別する。 - 特許庁
The effect that the electric potential of a scanning line 1 affects the black matrix layer 11 of a color filter-side substrate 1 is reduced by forming a common signal line 3 or a shielding pattern 6 having the electric potential of a signal line 2 on the scanning line 1.例文帳に追加
走査線1上に共通信号線3または信号線2の電位を持つシールドパターン6を形成することによって、走査線1の電位がカラーフィルタ側基板1のブラックマトリックス層11へ影響するのを低減する。 - 特許庁
A path division section 104 divides input image data into image data for each of a plurality of times of scanning by using a mask pattern which is formed from the gap of scanning position of a light beam from each light emitting element of a recording means.例文帳に追加
パス分割処理部104は、記録手段の各発光素子の光ビームの走査位置のずれ量に基づき作成されたマスクパターンを使用して、入力された画像データを複数回走査の各走査用の画像データに分割する。 - 特許庁
A printer processor outputs two test prints 61 recording a test pattern, formed on eight parallel straight lines 62a-65b in the main scanning direction and the sub-scanning direction of an exposure part on two photosensitive materials different in length.例文帳に追加
プリンタプロセッサは、露光部の主走査方向及び副走査方向に対して平行な8本の直線62a〜65bで形成されるテストパターンを長さの異なる2枚の感光材料に記録した2枚のテストプリント61を出力する。 - 特許庁
A test pattern whereby a shift amount of an ink hitting position between back-and-forth scans at each position in the main scanning direction of a printing paper P can be obtained is formed for the entire width of the main scanning direction in a printing region on the printing paper P.例文帳に追加
プリントペーパPの主走査方向各位置における往復走査間のインク着弾位置のずれ量が得られるテストパターンを、プリントペーパP上のプリント領域における主走査方向の全幅に亘って作成する。 - 特許庁
At that time, an ejection pattern of the ink during the movement of the ejection nozzle with respect to each of the main scanning direction X and the sub-scanning direction Y is controlled corresponding to the inclination of the object 9 with respect to the position of the ejection head 50.例文帳に追加
この際、吐出ヘッド50の位置に対応する印刷対象物9の傾斜に応じて、主走査方向X及び副走査方向Yのそれぞれに対する吐出ノズルの移動過程でのインクの吐出パターンを制御する。 - 特許庁
The tip part 22 of the code reader which is moved manually in contact with the code pattern is provided with two projection pieces 22B for tilt prevention, projecting in the scanning direction, on each side of the external surface in the scanning direction.例文帳に追加
コードパターンに接触し手動走査されるコードリーダの先端部22に、該コードリーダの走査方向における外側面両側に、走査方向に向かって突出する傾き防止用突条片22Bを片側に2個づつ設ける。 - 特許庁
In case of a recording pattern where dots to be recorded are consecutive in the scanning direction, a recording data generating means generates first recording data by decimating a part of the recording data of an image to be formed with second liquid such that the number of consecutive dots becomes not larger than a predetermined number in the scanning direction according to an ejection pattern formed by dividing the recording pattern.例文帳に追加
記録すべきドットが走査方向に連続する記録パターンの場合、記録パターンを分割して作成した吐出パターンに従い、第2の液体によって形成すべき画像の記録データに対し、前記走査方向における連続ドット数が所定数以下となるように前記記録データの一部を間引いて第1の記録データを生成する記録データ生成手段を有する。 - 特許庁
The test pattern defines a measuring direction to incline against at least one of main scanning direction and sub-scanning direction of the print head of a printer when shift of print position is measured, and includes a pattern being printed such that a specified distance corresponding to the shift of print position can be measured.例文帳に追加
このテストパターンは、例えば、プリンタの印刷ヘッドの主走査方向および副走査方向の少なくとも一方に対して斜め方向になるように、印刷位置のずれを測定する際の測定方向を規定するとともに、印刷位置のずれに対応した所定の距離を測定可能に印刷されるパターンを含んでいる。 - 特許庁
The pattern matching method and apparatus for carrying out pattern matching between design data and the image taken by a scanning electron microscope converts the design data into a bitmap, and carries out the matching between the bitmapped design data and the image taken by a scanning electron microscope.例文帳に追加
本発明は、設計データと走査型電子顕微鏡にて取得される画像との間でパターンマッチングを行うパターンマッチング方法及び装置であって、設計データをビットマップに変換して、当該ビットマップ化された設計データと、走査型電子顕微鏡によって取得された画像とのマッチングを行うことを特徴とする。 - 特許庁
Moreover, the scanning line driving circuit 2000 and a data line driving circuit 9300 perform respectively the driving of scanning lines and data lines based on the same selection voltage by transferring information (pattern data signals PD0, PD1, a carrier signal, a field identification signal and the like) of a selection voltage pattern to be used each other.例文帳に追加
さらに、走査線駆動回路2200とデータ線駆動回路9300とは互いに、使用する選択電圧パターンの情報(パターンデータ信号PD0,PD1、キャリー信号、フィールド識別信号など)の授受を行い、それぞれ、同じ選択電圧パターンに基づく走査線およびデータ線の駆動を行う。 - 特許庁
In a printer device 10, a pattern region 30 for detecting a deviation in the sub-scanning direction is formed on the surface of a photoreceptor drum 140, a light quantity sensor 174 detects the reflected light quantity when a laser beam scans the pattern region 30, and the deviation in the sub-scanning direction is detected based on the detected reflected light quantity.例文帳に追加
プリンタ装置10は、感光体ドラム140表面に副走査方向ずれ量を検知するためのパターン領域30を形成し、レーザビームがこのパターン領域30を走査した場合の反射光量を光量センサ174で検知し、検知された反射光量に基づいて、副走査方向ずれ量を検知する。 - 特許庁
The image reader is provided with a detection pattern for detecting a home position of the travel object disposed in the home position of a reading auxiliary scanning direction in a part or a whole part in a reading main scanning direction and a detection means detecting the position of the travel object from the electric signal which optically reads the detection pattern.例文帳に追加
本発明の画像読取装置は、読取主走査方向のある一部もしくは全部に読取副走査方向のホームポジション位置に設けられた、走行体のホームポジションを検出するための検出パターンと、検出パターンを光学的に読み取った電気信号から走行体の位置を検出する検出手段とを有する。 - 特許庁
When transferring a mask pattern to a photoresist film applied on a wafer principal surface, after transferring on an off-condition of under dose or defocus or both, a defective inspection is carried out through a process which inspects a transferred pattern to the photoresist film with a scanning electron microscope (SEM) for a voltage potential controlling type visual inspection.例文帳に追加
ウエハ主面上に塗布されたフォトレジスト膜にマスクパターンを転写する際、アンダードーズあるいはデフォーカスまたはその両方の、オフコンディション条件で転写をした後、フォトレジスト膜に転写されたパターンを電位制御型外観検査用走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM)で検査する工程を経て欠陥検査する。 - 特許庁
Meanwhile, as the periphery of the pattern projecting apparatus 3 is about 45 mm, two adjacent exposure regions 4 from two adjacent pattern projecting apparatuses 3 can be joined by scanning the mask substrate 1 with a plurality of pattern projecting apparatuses 3 overlapping with each other.例文帳に追加
一方、パターン投影装置3の外周は約45mmになっているため、マスク基板1を、パターン投影装置3が複数台程度重なるようにスキャンさせることによって、隣接した2台のパターン投影装置3からの隣接した2本の露光領域4をつなげることが可能になる。 - 特許庁
As a pattern 153FF for position detection for detecting a color shift of the main scanning direction, a first pattern 153FF(1) for the rough adjustment of a relatively small included angle and a second pattern 153FF(2) for the fine adjustment of a relatively large included angle are formed.例文帳に追加
主走査方向の色ずれ検出のための位置検出用パターン153FFとして、相対的に挟角が小さい粗調整用の第1のパターン153FF(1)と、相対的に挟角が大きい微調整用の第2のパターン153FF(2)とを形成するようにした。 - 特許庁
To prevent read error as much as possible by preventing the code reader from slanting to the scanning direction of a manual scan on a code pattern, and further to easily position the code reader at the code pattern and to prevent the code pattern from soiling.例文帳に追加
コードリーダによるコードパターンの手動走査にあたって、コードリーダの走査方向に対する傾きを防止して、読み取りエラーを極力防止し、更に、コードリーダのコードパターンに対する位置合わせが容易に行なえるようにすると共に、コードパターンに対する汚損を極力防止できるようにすること。 - 特許庁
When pattern areas having different suitable transfer conditions, e.g. a critical layer area and a noncritical layer area, are formed on the mask along the synchronous moving direction (scanning direction), transfer conditions of a pattern are altered depending on the suitable transfer conditions of each pattern area.例文帳に追加
このため、例えばマスク上に同期移動方向(走査方向)に沿ってクリティカルレイヤ領域、ノンクリティカルレイヤ領域などのように、好適転写条件が異なるパターン領域が形成されている場合に、パターン領域毎の好適転写条件に応じて、パターンの転写条件が変更される。 - 特許庁
A stripe-like first transmissive pattern image PA1 can be formed in an image area of a liquid crystal display panel 31 in each line of a scanning electrode and a second transmissive pattern image PA2 in which the bright-dark patterns of the first transmissive pattern image PA1 are replaced can be also formed.例文帳に追加
液晶表示パネル31の画像領域には、走査電極のライン単位でストライプ状の第1の透過パターン像PA1を形成することができ、第1の透過パターン像PA1の明暗パターンを入れ替えた第2の透過パターン像PA2を形成することもできる。 - 特許庁
An initial pattern image IPP, consisting of a first linear pattern image IPP1 in parallel with the main scanning direction on the surface of an image carrier and a second pattern image IPP2, whose position in a subscanning direction is shifted stepwise is formed, and is read by a detection sensor 232.例文帳に追加
像担持体の表面に主走査方向に平行な直線状の第1パターン画像IPP1と、副走査方向の位置を階段状に変位させた第2パターン画像IPP2と、からなる初期パターン画像IPPを形成し、これを検出センサ232により読み取る。 - 特許庁
The pattern forming apparatus 100 carries out steps of: scanning a base material 303 with a CCD camera 302 to acquire the image data or the like of the pattern in the preceding step (step 502); and subjecting the image data to image processing to acquire the measurement data relating to the position of the pattern in the preceding step (step 503).例文帳に追加
パターン形成装置100は、CCDカメラ302により基材303上を走査し、前工程パターンの画像データ等を取得し(ステップ502)、画像データについて画像処理を行い、前工程パターンの位置に関する測定データを取得する(ステップ503)。 - 特許庁
In a scanning probe microscope, such as a scanning tunnel microscope, one part of the layer 4 is selectively etched away by scanning the surface of the layer 4 with a probe 5 to make the layer 3 partially exposed, and a strain distribution to respond to the shape of the pattern of the layer 4 is formed on the surface of a sample.例文帳に追加
走査型プローブ顕微鏡、例えば走査型トンネル顕微鏡において、プローブ5でGaAs層4の表面を走査することによりGaAs層4を選択的にエッチング除去してInGaAs層3を部分的に露出させ、試料表面にGaAs層4のパターン形状に応じた歪分布を形成する。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus capable of accurately forming a registration correcting pattern by reducing the difference between a plurality of beams for scanning an image carrier or eliminating the difference between the lengths (writing widths) of the scanning lines of the respective beams on the image carrier during one scanning to accurately perform the correction of registration.例文帳に追加
像担持体上を走査する複数ビーム間の走査位置の差を小さくするまたは1走査中の像担持体上での各ビームの走査線の長さ(書込み幅)の差をなくすことにより、レジストレーション補正用パターンを正しく形成し、正確なレジストレーション補正を行うことができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
Information area read while directing the longitudinal direction of lines (92) on a measuring line pattern including a plurality of lines (92) formed of dot rows corresponding to recording elements respectively to a sub-scanning direction of an image reading apparatus, and reducing the read resolution of the sub-scanning direction of the image reading apparatus as compared to the reading resolution of a main scanning direction.例文帳に追加
各記録素子に対応したドット列による複数のライン(92)を含んだ測定用ラインパターン上のライン(92)の長手方向を画像読取装置の副走査方向に向け、当該画像読取装置の副走査方向の読取解像度を主走査方向の読取解像度に比べて低解像度として読み取りを行う。 - 特許庁
To obtain three images which are to be compared in double detection through main scanning toward the same direction, and to perform main scanning in both the normal and reverse directions, in defect inspection for scanning a sample surface on which a repeated pattern where a plurality of basic patterns are repeated is formed, and comparing each image on corresponding parts of the plurality of respective basic patterns.例文帳に追加
複数の基本パターンが反復する反復パターンが形成された試料表面を走査し、複数の基本パターン相互の対応部分の画像同士を比較する欠陥検査において、ダブルデテクションで比較される3画像を同一方向に向かう主走査で取得しかつ正逆両方向において主走査を行う。 - 特許庁
Assuming the number of nozzle group is 'N' and the number of scanning times of a recording head to the same scanning region on a recording sheet is 'M', a mask pattern is set with a pixel region on the recording sheet consisting of 'M' pixels in the main scanning direction of an ink jet head 1 and 'M×N' pixels in the subscanning direction as a control unit for imaging.例文帳に追加
ノズル群の数を「N」とし、記録用紙上の同一走査領域に対する記録ヘッドの走査回数を「M」としたとき、インクジェットヘッド1の主走査方向に「M」個の画素、副走査方向に「M×N」個の画素で成る記録用紙上の画素領域を、画像形成のための制御単位としてマスクパターンを設定する。 - 特許庁
The curve amount of the image formation line in the main scanning line direction is calculated, on the basis of a mark-pattern formed in three parts different from one another in the main scanning line direction of an intermediate transfer belt 20, and color shift in a subscanning line direction is corrected, on the basis of the curve amount of the image formation line in the main scanning line direction.例文帳に追加
中間転写ベルト20の主走査線方向の互いに異なる3箇所に形成されたマークパターンに基づいて、主走査線方向の像形成ラインの曲がり量を算出し、主走査線方向の像形成ラインの曲がり量に基づき、副走査線方向の色ずれ(レジスト)補正を行う。 - 特許庁
In the electron beam-plotting technique for independently turning on and off each of a plurality of electron beams for scanning to plot a desired pattern on a sample, the deviation between a pattern that is plotted by each of the plurality of electron beams and the desired pattern to be plotted is controlled by shifting the position of pattern data that are drawn by each of the plurality of electron beams.例文帳に追加
複数の電子ビームの各々を独立にオンオフし走査して試料上に所望のパターンを描画する電子ビーム描画方法において、前記複数の電子ビームの各々が描くパターンと描画すべき前記所望のパターンとのずれを、前記複数の電子ビームの各々が描くパターンのパターンデータの位置をシフトすることにより制御する。 - 特許庁
In this pattern inspection method, the device measures dimensions of any desired pattern within scanning area, computes the statistics from the measurement result, and then determines that the dimensional measurement is one which contains, errors if the computed result exceeds a prescribed threshold and executes correction processing.例文帳に追加
走査領域内で所望のパターンの寸法を測定し、測定結果から統計量を算出し、算出結果が所定の閾値を超えた場合に、寸法測定に誤差が含まれていたものと判定して補正処理を実行する。 - 特許庁
The write-in position of the image of the image data converted into the PWM pattern with the PWM pattern generation part 306 is corrected with an image main scanning position correction part 307, and a PWM wave is generated in a PWM modulation part 308.例文帳に追加
PWMパターン生成部306でPWMパターンに変換された画像データは、画像主走査位置補正部307で画像の書き込み位置を補正され、PWM変調部308において、PWM波形を生成される。 - 特許庁
To provide a light projector which scans a light beam while controlling the intensity of the light beam and projects an accurate pattern even when the scanning angle range of a scanner varies when forming a pattern by the intensity variation of light on a face to be projected.例文帳に追加
光線の強度を制御しながら光線を走査し、光の強弱によるパターンを投影面に形成するときに、走査装置の走査角度範囲が変化しても正確なパターンを投影できる光投影装置を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid discharge apparatus which efficiently conducts forming and reading processes of a correction pattern for correcting the deviation of a dot forming position in a main scanning direction, and to provide a pattern reading method and a liquid discharge system.例文帳に追加
主走査方向のドット形成位置のズレを補正するための補正用パターンの形成処理及び読み取り処理を効率的に行う液体吐出装置、パターン読み取り方法、及び、液体吐出システムを実現することにある。 - 特許庁
While outputting dummy data to a data packing section 58, a mask processing section 60 reads out the detected pattern data from the buffer memory based on a main scanning sync signal Ls_1 for the print out image data and delivers the detected pattern data to the data packing section.例文帳に追加
マスク処理部60は、データパッキング部58へダミーデータを出力しながら、印刷出力用の画像データに対する主走査同期信号Ls_1に基づいて、バッファメモリから検出パターンデータを読み出して、データパッキング部へ出力する。 - 特許庁
A positional correction of a pixel 5 of image information is made sufficiently small for a pattern on a substrate by using a controllable minimum pitch to a beam scanning pitch 6 by a charged particle beam equipment, thereby, a position/angle shift of the pattern of the pixel 5 can be prevented.例文帳に追加
ビームのスキャンピッチ6に荷電粒子ビーム装置で制御可能な最小ピッチを用いることにより、画像情報の画素5の丸め込みを基板上のパターンに対して充分小さくして、画素5のパターン目はずれを防止する。 - 特許庁
A bar code recognition method is provided with a process 1 for scanning the bar code and extracting picture data for one line, a process 2 for dividing an extracted picture for one line at every pattern constituting a character and a process 3 for converting the divided pattern into the character.例文帳に追加
バーコードを走査して1ラインの画像データを抽出する過程1と、その1ラインの抽出画像を文字を構成するパターン毎に分割する過程2と、分割されたパターンを文字に変換する課程3とを備える。 - 特許庁
To realize a liquid discharging device which efficiently carries out a forming process and a reading process of a pattern for correction to correct a dot formation position deviation in a main scanning direction, to realize a pattern reading method, and to realize a liquid discharging system.例文帳に追加
主走査方向のドット形成位置のズレを補正するための補正用パターンの形成処理及び読み取り処理を効率的に行う液体吐出装置、パターン読み取り方法、及び、液体吐出システムを実現することにある。 - 特許庁
Then the image plane of the projecting optical system is detected by repeating slit scanning type spatial image measurement by using the pattern plate 90 while servo-controlling the optical axis direction and inclination of the pattern plate 90 by using the multi-point AF system.例文帳に追加
そして、多点AF系を用いてパターン板90の光軸方向位置及び傾斜をサーボ制御しつつパターン板90を用いてスリットスキャン方式の空間像計測を繰り返して投影光学系の像面を検出する。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|