「system under test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁

intended to test a new system under operating conditions and to familiarize the operators with the system 例文帳に追加

動作条件下で新しいシステムを試験し、オペレーターをシステムに慣れさせることを目的とする - 日本語WordNet

Then, a system under test 110 executes a failure processing in accordance with the error bit.例文帳に追加

試験対象システム１１０はエラービットに従って障害処理を実行する。 - 特許庁

The reticle 1 is placed at the front focusing point of an optical system 2 which is under the test.例文帳に追加

レチクルには、複数の位置に計測パターン１ａ、１ｂが形成されている。 - 特許庁

This test system has many test channels, applies a test pattern to the device pins of a device under test(DUT) via the test channels, and verifies the response output of the DUT.例文帳に追加

本テストシステムは多数のテストチャンネルを有し、そのテストチャンネルを経由して被試験デバイス（ＤＵＴ）のデバイスピンにテストパターンを印加して、そのＤＵＴの応答出力を検証する。 - 特許庁

The present invention improves a tester simulation system for simulating a test of a device under test on the basis of a test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

Consequently, test of a multi-system portable terminal, system automatic identification of the portable terminal, connection test between terminals of different systems, test under interference with other system, self-diagnosis and remote test can be carried out.例文帳に追加

これによって、マルチシステム携帯端末の試験、携帯端末のシステム自動識別、異なるシステムの端末間における接続試験、他のシステムの干渉下における試験、自己診断およびリモート試験が可能となる。 - 特許庁

The system under test 110 also executes the failure processing for the delayed interruption.例文帳に追加

また、試験対象システム１１０は遅延した割込みに対して障害処理を実行する。 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING MEASUREMENT DATA OF DEVICE UNDER TEST, PROGRAM, AND MEASUREMENT DATA ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - 特許庁

By shining ultraviolet light (58) along the system under test (50), the fluorescent trace (54)is illuminated.例文帳に追加

システム（５０）に沿って紫外線（５８）を当てることにより、蛍光トレース（５４）が照らされる。 - 特許庁

total cost of the system under test (SUT) divided by the number of WIPS performed during the shopping interval 例文帳に追加

テスト対象システム（SUT）の総コスト割ることの、買い物時間内に実行されるWIPS数 - コンピューター用語辞典

This method 100 is used for diagnosing faults of a system under test (SUT) tested by a system test and having a plurality of components.例文帳に追加

システム試験によって試験され、複数のコンポーネントを備えている試験対象システム（ＳＵＴ）における故障を診断するための方法１００。 - 特許庁

To provide a test system capable of efficiently performing a plurality of tests for a plurality of devices under test in parallel simultaneously.例文帳に追加

複数の試験対象装置に対する複数の試験を、同時並行的に効率よく行える試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a test system for improving the stability in test quality by self-compensating the noise superimposed on a voltage applied to a device under test.例文帳に追加

半導体試験装置及びテストシステムに関し、被試験デバイスに印加する電圧に重畳されるノイズを自己補償して試験品質の安定性を向上する。 - 特許庁

To provide a heating test device and a heating test method of an exhaust system member where the atmosphere of the test could be made more similar to the atmosphere under the condition that the exhaust member is mounted on an engine.例文帳に追加

試験雰囲気をより機関搭載状態に近づけることのできる排気系部材の加熱試験装置及び加熱試験方法を提供することにある。 - 特許庁

To perform a clinical test under a system control and to make necessary information available anywhere and anytime, thereby providing a total management system for the clinical test.例文帳に追加

臨床試験をシステム管理下でおこない、必要な情報を必要なときに、場所を問わず、時間を問わず利用可能とし、臨床試験のトータル管理システムを提供すること。 - 特許庁

In the method, a smoke generating machine (1) produces a supply of smoke (30) to be delivered to the system under test (50).例文帳に追加

煙生成機（１）はテスト中のシステム（５０）に送出される煙（３０）の供給を生成する。 - 特許庁

The flicker noise test system has a guarded signal path and an unguarded signal path selectively connectable to respective terminals of a device under test.例文帳に追加

被試験装置の各端子にそれぞれ選択的に接続しうる保護された信号経路及び保護されていない信号経路を有している。 - 特許庁

To provide test chamber system for maintaining the sealing performance of decompression space on which the device under test is mounted to accurately control air pressure of the decompression space.例文帳に追加

試験チャンバ装置において、被試験装置を設置する減圧空間の密閉性を維持し、減圧空間の正確な気圧制御を行う。 - 特許庁

This system includes a load lock chamber 400 arranged near the first side part of the test chamber 500, and a probe storing assembly 200 arranged under the test chamber 500.例文帳に追加

テストチャンバ５００の第１の側部の近傍に配置されたロードロックチャンバ４００と、テストチャンバ５００の下方に配置されたプローブ収納アセンブリ２００を含む。 - 特許庁

To provide a power supply current measuring unit arranged on a semiconductor test system and capable of accurately measuring the power supply current of a device under test at a high speed.例文帳に追加

半導体試験システムに備えられ、被試験デバイスの電源電流を高速でかつ正確に測定できる電源電流測定ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system that does not affect the accuracy of measurement under execution while shortening the switching period of a test program.例文帳に追加

試験プログラムの切り替え時間の短縮化を達成しつつ、実行中の測定精度に影響を及ぼさない半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

To automate a level switch operation test in a plant under operation to enhance reliability for an instrumentation system.例文帳に追加

運転中プラントのレベルスイッチ動作試験の自動化を図り、計測系統の信頼性を向上させることにある。 - 特許庁

The test finishing signal for each pin unit is selected under a condition specified by the system controller, and the selected test finishing signal is supplied to the system controller and the other pin unit.例文帳に追加

各ピンユニットのテスト終了信号は、システムコントローラにより指定された条件により選択され、その選択されたテスト終了信号は、システムコントローラ及び他のピンユニットに供給される。 - 特許庁

To perform a clinical test under a system control, and to make necessary information available anywhere and anytime, thereby providing a total management system for the clinical test.例文帳に追加

臨床臨床試験をシステム管理下でおこない、必要な情報を必要なときに、場所を問わず、時間を問わず利用可能とし、臨床試験のトータル管理システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system which stabilizes a contact condition of contact points between the device under test and a performance board.例文帳に追加

被試験デバイスとパフォーマンスボードとの接点の接触状態を安定させる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.例文帳に追加

テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁

To provide a compact electron beam test system capable of saving a clean room space, and positioning a flat panel display surely under an electron beam test device.例文帳に追加

クリーンルームの空間を節約することができ、フラットパネルディスプレイを電子ビームテスト装置の下方に確実に位置させることができるコンパクトな電子ビームテストシステムを提供する。 - 特許庁

A test simulate part operates a device test program 112 to be debugged under the operating system of a general computer, and constitutes a pseudo semiconductor testing device.例文帳に追加

テスタシミュレート部は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成するものである。 - 特許庁

A testing system is provided, wherein a template for performing an image comparison uses the image as the template image which is obtained by photographing the state of the object under test, before being attached to its right place, and the object under test is compared with it initially.例文帳に追加

本発明の検査装置では、画像比較を行うテンプレートを被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像にし、最初に披見物との比較を行うこととした。 - 特許庁

To evaluate an integrated circuit, without requiring external hardware under system environment or test environment.例文帳に追加

システム環境下又は試験環境下において、外部ハードウエアを利用する必要を生じることなく集積回路の評価を実施する。 - 特許庁

Once he became the shinshi (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test) at Daigaku-ryo (Bureau of Education under the ritsuryo system), he consecutively held positions of Kurodo (Chamberlain), Zusho Gon no suke (book officer), and civil government officer. 例文帳に追加

大学寮において進士となったのち、蔵人、図書権助と、文官系官吏の履歴を重ねている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The vehicle test system 1 includes the environmental test room 2 where a performance test of a vehicle M is performed under a predetermined environment, and the sealed measurement room (SHED 3) where a transpiration gas measurement test is performed for measuring the transpiration gas emitted from the vehicle M.例文帳に追加

車両試験システム１は、所定の環境下における車両Ｍの性能試験が行われる環境試験室２と、車両Ｍから蒸散される蒸散ガスを測定する蒸散ガス測定試験が行われる密閉測定室（ＳＨＥＤ３）とを備えている。 - 特許庁

The system has multiple paths in the synchronization circuitry that allows responses from several devices under test (DUT) to be synchronized with each other, and the test can be executed simultaneously.例文帳に追加

上記のシステムは、同期回路内に多数の経路を有し、同期回路によって、いくつかの被検査デバイスＤＵＴからの応答が互いに同期し、検査が同時に実行されるようになる。 - 特許庁

The system automatically generates the test code, and is capable of exercising components of the middleware remotely developed by using information on the components usable for an application under test.例文帳に追加

システムは、自動的にテストコードを生成し、アプリケーションアンダーテストに利用可能なこれらのコンポーネントに関する情報を使用してリモートに展開されたミドルウエアのコンポーネントをエクササイズ出来る。 - 特許庁

To provide a test device capable of performing a comparative treatment test under different operating conditions by the same treatment system, and dealing with a plurality of different treatment systems by a simple change in a small activated sludge test machine.例文帳に追加

小規模の活性汚泥テスト機において、同じ処理方式で運転条件が異なる比較処理テストが可能な装置であり、且つ異なる複数の処理方式に、簡単な変更で対応可能であるテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wavefront aberration measuring apparatus and a wavefront aberration measuring method which can measure the wavefront aberration of an optical system under test with high precision by checking the state of the interference fringes of photographed image data before performing image processing for calculating the wavefront aberration of the optical system under test.例文帳に追加

被検光学系の波面収差の算出のための画像処理を実施する前に、撮像した画像データの干渉縞の状態をチェックすることによって、高精度に被検光学系の波面収差を測定することができる波面収差測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The measurement system connects a control means 8 disposed in a measurement/control chamber to a product under test disposed at a remote place via a communications network 11c.例文帳に追加

計測システムは、通信ネット１１ｃを介して遠隔地に設けた供試体と計測・制御室内に設けた制御手段８とを接続する。 - 特許庁

For example, the system 10 includes a response analyzer 530 for receiving data corresponding to a response to the light signal of the device under test.例文帳に追加

例えば、発明システム１０は、被測定物の光信号に対する応答に対応するデータを受信する応答解析器５３０を含む。 - 特許庁

To provide a system for gene test capable of simultaneously conducting the detection of a nucleic acid and a temperature measurement for putting the temperature of a reaction solution under control.例文帳に追加

核酸の検出と反応溶液の温度を制御するための温度測定とを同時に行える遺伝子検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a screen transition test analyzing and transition system by which test analysis of screen transition of a web application using framework is correctly performed under environment where no application logic is prepared.例文帳に追加

フレームワークを用いたウェブアプリケーションの画面遷移を、アプリケーションロジックが用意されていない環境で、正しく試験分析することのできるウェブアプリケーションの画面遷移試験分析装置遷移装置を提供する。 - 特許庁

To provide a thermal inspection system and method including an external flow covering a componenet under test in order to construct proper film cooling and an aerodynamical power dispersion.例文帳に追加

適切なフィルム冷却及び空力分散を構築するために供試の構成要素を覆う外部流を含む熱検査システム及び方法を提供すること。 - 特許庁

The picosecond imaging circuit analysis (PICA)/high current source system includes a step for applying a pulse from a high current pulse source to a device under test (DUT).例文帳に追加

ピコ秒イメージ化回路解析（ＰＩＣＡ）／高電流源システムは、高電流パルス源から被試験デバイス（ＤＵＴ）にパルスを加えるステップを含む。 - 特許庁

To provide method and system for planarizing of semiconductor contactor, attaining flatter relation, with regard to probe card assembly, and more specifically, between contacting element and device under test on the probe card assembly.例文帳に追加

プローブカードアセンブリに関し、より具体的には、プローブカードアセンブリ上の接触要素と被試験デバイスとの間で、より平坦な関係を達成する。 - 特許庁

To provide a wavefront aberration measuring device capable of measuring the wavefront aberration of an optical system under test by a relatively simple constitution without using an interferometry.例文帳に追加

干渉法を用いることなく、比較的簡素な構成にしたがって被検光学系の波面収差を計測することのできる波面収差計測装置。 - 特許庁