「temperature evaluation」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

LIFETIME EVALUATION DEVICE OF HIGH TEMPERATURE APPARATUS, AND LIFETIME EVALUATION METHOD OF HIGH TEMPERATURE APPARATUS例文帳に追加

高温機器の寿命評価装置および高温機器の寿命評価方法 - 特許庁

TEMPERATURE EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEMPERATURE EVALUATION SYSTEM例文帳に追加

半導体装置の温度評価方法、半導体装置および温度評価システム - 特許庁

TEMPERATURE DISTRIBUTION EVALUATION METHOD FOR MAGNETIC MATERIAL例文帳に追加

磁性材料の温度分布評価方法 - 特許庁

LIFETIME EVALUATION DEVICE OF HIGH TEMPERATURE APPARATUS, LIFETIME EVALUATION METHOD AND PROGRAM OF HIGH TEMPERATURE APPARATUS例文帳に追加

高温機器の寿命評価装置、高温機器の寿命評価方法およびプログラム - 特許庁

EVALUATION APPARATUS FOR REACTION OF HIGH TEMPERATURE ACID-GAS SOLIDIFICATION MATERIAL例文帳に追加

高温酸性ガス固定化材の反応評価装置 - 特許庁

To provide a temperature evaluation device capable of evaluating temperature efficiently, and to provide vehicle-mounted information equipment including the temperature evaluation device, and a method of evaluating temperature.例文帳に追加

効率的に温度評価を行うことができる温度評価装置、その装置を備えた車載情報機器及び温度評価方法を提供する。 - 特許庁

QUALITY EVALUATION METHOD OF HEAT BARRIER COATING MATERIAL OF HIGH-TEMPERATURE COMPONENT例文帳に追加

高温部品の遮熱コーティング材の品質評価法 - 特許庁

LITHIUM SECONDARY BATTERY AND ITS LOW-TEMPERATURE CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD例文帳に追加

リチウム二次電池及びその低温特性評価方法 - 特許庁

The evaluation function/control target temperature calculation part 78 obtains an evaluation function J=x×y and a formation temperature to maximize the evaluation function J and outputs the temperature as a control target temperature in a control part 82.例文帳に追加

評価関数・制御目標温度演算部７８は、評価関数Ｊ＝ｘ・ｙを求めるとともに、評価関数Ｊが最大となる生成温度を求めて制御部８２に制御目標温度として出力する。 - 特許庁

The proper temperature setting part 332 sets a proper temperature by using comfort evaluation.例文帳に追加

適正温度設定部３３２は、快適性評価を用いて適正温度を設定する。 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF ELECTROCHEMICAL STABILITY OF SALT MELTING AT ROOM TEMPERATURE例文帳に追加

常温溶融塩の電気化学的安定性の評価方法 - 特許庁

THERMAL BARRIER COATING MEMBER, EVALUATION METHOD THEREFOR, AND HIGH TEMPERATURE THERMAL EQUIPMENT例文帳に追加

遮熱コーティング部材、その評価方法および高温熱機器 - 特許庁

TEMPERATURE DISTRIBUTION EVALUATION METHOD, SIMULATION DEVICE, AND SIMULATION PROGRAM例文帳に追加

温度分布評価方法並びにシミュレーション装置及びシミュレーションプログラム - 特許庁

A temperature evaluation value of the furnace interior is obtained from both measurement data.例文帳に追加

双方の計測データから、当該炉内の温度評価値を得る。 - 特許庁

To provide a technique for shortening evaluation time of high temperature storage reliability without raising treatment temperature.例文帳に追加

高温保管信頼性の評価時間を、処理温度を上げずに短くする手法を提供する。 - 特許庁

Next, temperature is measured by the temperature sensor (S4) and the cooling medium temperature of a temperature controller is calculated so as to minimize the evaluation function (S5).例文帳に追加

次いで各温度センサで温度を計測し（Ｓ４）、評価関数が最小となるように各温調機の冷媒温度を算出する（Ｓ５）。 - 特許庁

The temperature controller starts operating depending on the transmitted evaluation data, and the temperature controller is evaluated.例文帳に追加

温度コントローラは、送信された評価用データで動作を開始し、温度コントローラの評価を実行する。 - 特許庁

In the evaluation of a measured value determined by two temperature feelers, the temperature control unit 7 is controlled by the control/evaluation unit so that the temperature of the detector 4 is kept constant.例文帳に追加

２つの温度フィーラによって求められた測定値の評価では、調温ユニット７は、検出器４の温度が一定維持されるように、制御・評価ユニットによって制御される。 - 特許庁

Evaluation tests can be carried out by simulating the actual temperature conditions, to thereby improve the accuracy of the evaluation test.例文帳に追加

実際の温度条件を模擬して評価試験を行うことができ、評価試験の精度を向上させることができる。 - 特許庁

Then, the evaluation values Y is compared with the evaluation value Y' and when the evaluation values Y is better than the evaluation values Y', a judgement if the design values table X is to be renewed or not is made based on a difference δ of both the evaluation values and a temperature parameter.例文帳に追加

そして，評価値Ｙと評価値Ｙ’とを比較し，評価値Ｙ’よりも評価値Ｙの方が良好の場合には，両評価値の差分δと温度パラメータとを基に設計値テーブルＸを更新するか否かを判断する。 - 特許庁

TEMPERATURE DISTRIBUTION MEASURING DEVICE, FUEL CELL SYSTEM, AND FUEL CELL EVALUATION DEVICE例文帳に追加

温度分布測定装置、燃料電池システム、ならびに燃料電池評価装置 - 特許庁

HIGH TEMPERATURE CORROSIVENESS EVALUATION METHOD OF METALLIC MATERIAL AND PROJECTION USED FOR THE METHOD例文帳に追加

金属材料の高温腐食性評価方法と該方法に用いる突起物 - 特許庁

A temperature setting section 10 increases a target temperature to the progress of deterioration of pixels, based on the evaluation value.例文帳に追加

温度設定部(10)はその評価値に基づき、画素の劣化の進行に合わせ目標温度を上昇させる。 - 特許庁

Consequently, even if the temperature of the mask or of a wafer is lowered by vacuum evaluation, the temperature recovers nearly to a standard temperature, and consequently the temperature change of the mask or the wafer is hardly generated.例文帳に追加

このため、真空排気の際に温度低下が起こっても、マスクやウェハの温度は標準温度程度にもどるので、マスクやウェハの温度変化が発生しにくい。 - 特許庁

Further, the control part 130 displays the results (each of the measurement values, image data, evaluation level) of the birefringence evaluation processing for each set temperature in the monitor 140 associating with each temperature.例文帳に追加

そして、制御部１３０は、各設定温度毎の複屈折評価処理の結果（各測定値、画像データ、評価レベル）を各温度に対応させてモニタ１４０に表示する。 - 特許庁

The thermal environment evaluation index is a mean radiant temperature and a heat island potential.例文帳に追加

また、熱環境評価指標は、平均放射温度およびヒートアイランドポテンシャルである。 - 特許庁

To provide a lifetime evaluation device of a high temperature apparatus and a lifetime evaluation method of the high temperature apparatus capable of performing highly accurate lifetime evaluation by measuring a temperature of a prescribed portion of an actual machine, and by performing damage evaluation based on results of thermal conduction analysis and thermal stress analysis using the measured temperature.例文帳に追加

実機における所定部分の温度を実測し、その実測された温度を用いた熱伝導解析および熱応力解析の結果に基づいて損傷評価を行い、高精度な寿命評価を行うことができる高温機器の寿命評価装置および高温機器の寿命評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To realize a wafer collective reliability evaluation device and evaluation method capable of performing a reliability evaluation test with respect to the wafer collectively in a short period of evaluation time and under broad-ranging and precise temperature conditions.例文帳に追加

評価時間が短く、幅広い且つ正確な温度条件においてウエハ一括で信頼性評価試験を行うことができるウエハ一括信頼性評価装置及び評価方法を実現できるようにする。 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR HIGH TEMPERATURE EMBRITTLEMENT OF CONTINUOUSLY CAST SLAB AND CONTINUOUS CASTING METHOD FOR STEEL例文帳に追加

連続鋳造鋳片の高温脆化評価方法及び鋼の連続鋳造方法 - 特許庁

The evaluation circuit part 9 is provided with a control circuit 8b and a temperature sensing circuit 14.例文帳に追加

評価回路部９は、制御回路８ｂと温度感知回路１４から構成されている。 - 特許庁

To provide an evaluation method of a temperature responsive cell culture substrate covered with a temperature responsive polymer whose hydration force changes in a temperature range of 0-80°C.例文帳に追加

０〜８０℃の温度範囲で水和力が変化する温度応答性ポリマーを被覆した温度応答性細胞培養基材の評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a wafer level reliability evaluation element capable of maintaining the inside of an evaluation element in uniform and accurate temperature conditions in a short time.例文帳に追加

短時間に、評価素子内を均一且つ正確な温度条件に保つことができるウエハレベル信頼性評価素子を提供する。 - 特許庁

The object 22 consists of an evaluation chart 24 that is selected depending on the evaluation item, an optical filter 26 such as an ND filter that covers the evaluation chart 24, and a color temperature conversion filter.例文帳に追加

被写体２２は、評価項目に応じて選択された評価チャート２４と、評価チャート２４を覆う光学フィルタ２６、例えばＮＤフィルタ、色温度変換フィルタとから構成されている。 - 特許庁

To provide a primer evaluation method, a primer evaluation program, and a real-time PCR apparatus that enable the design of a primer having temperature resistance at a certain level.例文帳に追加

一定の温度耐性をもつプライマーを設計させ得るプライマー評価方法、プライマー評価プログラム及びリアルタイムＰＣＲ装置を提案する。 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR CREEP LIFETIME OF HIGH-TEMPERATURE MEMBER DUE TO INVERSE ANALYSIS TAKING INTO CONSIDERATION STRESS RELAXATION例文帳に追加

応力緩和を考慮した逆解析による高温部材のクリープ余寿命の評価方法 - 特許庁

After the wafer 3 has been applied with a prescribed temperature stress, it is transferred to an evaluation part 5.例文帳に追加

ウェハ３に所定の温度ストレスが印加された場合は、ウェハ３を評価部５に搬送する。 - 特許庁

The temperature evaluation is carried out for the electromagnetic transduction characteristics by irradiating the magnetic head with a laser light.例文帳に追加

また、磁気ヘッドにレーザー光を照射して電磁変換特性の温度評価を行うこと。 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR GENERATION TEMPERATURE AND GENERATION QUANTITY OF AMMONIA EMPLOYING DIFFERENTIAL THERMAL BALANCE MASS ANALYSIS例文帳に追加

示差熱天秤質量分析によるアンモニアの発生温度および発生量の評価方法 - 特許庁

Furthermore, a temperature in a vessel for evaluation is set to a range in which an upper limit temperature is lower than the phase transition temperature of liquid crystal by 10°C and a lower limit temperature is 40°C and the rates of brightness change at respective measured spots are quantitatively evaluated.例文帳に追加

さらに、評価槽内を液晶の相転移温度より１０℃低い温度を上限とし４０℃を下限とする温度に設定し、各測定点の輝度変化率を定量評価する。 - 特許庁

To provide a hygroscopicity evaluation method for a color liquid crystal panel that can make an evaluation with a shortened standing time in a high-temperature and high-humidity environmental condition.例文帳に追加

高温・高湿の環境条件下での放置時間を短縮して評価することのできるカラー液晶パネルの吸湿性評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device evaluation system and a device evaluation method allowing to inspect the durability of a device which is used in a higher temperature range than ever before.例文帳に追加

従来より高温域で用いられるデバイスの耐久性を検証することが可能なデバイス評価装置およびデバイス評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device evaluation system for verifying durability of a device used in a high temperature region from the conventional, and to provide a device evaluation method.例文帳に追加

従来より高温域で用いられるデバイスの耐久性を検証することが可能なデバイス評価装置およびデバイス評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hose evaluation test device which is capable of performing an evaluation test about pressure and temperature of a fluid that is supplied to a hose by supplying a pressurized fluid at a stable temperature into the hose.例文帳に追加

ホースの内部に安定した温度の圧力流体を供給することで、ホースに供給する流体の圧力および温度に関する評価試験が可能なホース評価試験装置を提供する。 - 特許庁

The device for compensating temperature dependence comprises a lighting unit 1, an incident slit 2, an imaging grid 3, a detector 4, a control/evaluation unit 5, a first temperature feeler 6, a temperature control unit 7, a second temperature feeler 8 for ambient temperature measurement.例文帳に追加

照明ユニット１、入射スリット２、結像格子３、検出器４および制御・評価ユニット５から成り、第１温度フィーラ６および調温ユニット７に加え周辺温度測定用の第２温度フィーラ８も装備されている。 - 特許庁

A temperature detecting circuit 103 is built in the semiconductor device 104 itself, when evaluating the temperature of the semiconductor device 104, using a thermostreamer 102, a temperature of an evaluation objective circuit 105 is detected accurately, the detection temperature is monitored all the time by an LSI tester 101, and the temperature of an evaluation objective circuit 105 is conformed thereby with a desired temperature.例文帳に追加

サーモストリーマ１０２を用いた、半導体装置１０４の温度評価を実施するに際し、その半導体装置１０４自体に温度検出回路１０３を内蔵させ、評価対象回路１０５の温度を正確に検出し、その検出温度をＬＳＩテスタ１０１にて常にモニタして、評価対象回路１０５の温度を所望の温度に一致させる。 - 特許庁