「test area」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SERVO AREA TEST METHOD OF MAGNETIC RECORDING MEDIUM AND TEST DEVICE例文帳に追加

磁気記録媒体のサーボ領域検査方法および検査装置 - 特許庁

The record test carry out means carries out the record test to a prescribed record test area.例文帳に追加

記録テスト実行手段は、所定の記録テスト領域に対して記録テストを行う。 - 特許庁

To easily determine the density nonuniformity in a test area and a false positive outside the test area, and to accurately analyze a test target material.例文帳に追加

テスト領域の濃度ムラやテスト領域外の擬陽性を容易に判別し精度良く被検物質の分析を行う。 - 特許庁

This test pattern is composed of a test pattern area 10 with the following constitution, and a separation area 20.例文帳に追加

テストパターンを、以下の構成を有するテストパターン領域１０と、区切り領域２０で構成する。 - 特許庁

This test pattern is composed of a test pattern area 10 with the following constitution, and a solid area 20.例文帳に追加

テストパターンを、以下の構成を有するテストパターン領域１０と、ベタ塗り領域２０で構成する。 - 特許庁

A test zone specification part 14 of a test environment setting device 1 specifies a test zone including a cluster area in the range of a moving device for test 2 and an adjacent cluster area.例文帳に追加

試験環境設定装置１の試験ゾーン特定部１４が、試験用移動機２の在圏クラスタエリアと隣接クラスタエリアとを含む試験ゾーンを特定する。 - 特許庁

A printed wiring board 1 is provided with a pair of test lands 9 and 11 constituted of a large area test land 5 and a small area test land 6.例文帳に追加

本発明のプリント配線板１は、大面積テストランド５と小面積テストランド６とよりなるテストランド対９、１１を有する。 - 特許庁

The system region includes a test recording area, a recording control information area, and a user data read-in area.例文帳に追加

システム領域は、テスト記録エリアと記録制御情報エリアとユーザデータリードインエリアとを含む。 - 特許庁

The Ministry will first test its project in the Kanto area. 例文帳に追加

同省は，まず関東地方でその事業を試行する。 - 浜島書店 Catch a Wave

The test device includes an inlet area and a piercing member.例文帳に追加

試験装置は、入口領域と穿刺部材とを含む。 - 特許庁

The particles of the test piece C and test piece D are scale-like and the specific surface area becomes very much larger than that of the test piece A and test piece B.例文帳に追加

試料Ｃと試料Ｄの粒子は、鱗片状であり、比表面積は、試料Ａや試料Ｂよりも非常に大きくなる。 - 特許庁

The record test result storage means records the result of the record test when carrying out the record test in a prescribed record test result storage area.例文帳に追加

記録テスト結果記憶手段は、記録テストを行った際の記録テスト結果を所定の記録テスト結果記憶領域に記録する。 - 特許庁

A test pattern image composed of a plurality of pieces of test patch data different in line area ratio is formed.例文帳に追加

ライン面積率が異なる複数のテストパッチデータよりなるテストパターン像を形成する。 - 特許庁

The siloxane concentration measurement section 30 measures siloxane concentration in a test area of the test room 20.例文帳に追加

シロキサン濃度計測部３０は、テスト室２０のテストエリア内のシロキサン濃度を計測する。 - 特許庁

To minimize the capacity of a test area and to record test patterns taking crosstalks into consideration.例文帳に追加

テストエリアの容量を最小限にとどめ、クロストークを考慮したテストパターンを記録する。 - 特許庁

TEST DEVICE FOR COMMUNICATION AREA OF DSRC ROAD SIDE RADIO EQUIPMENT例文帳に追加

ＤＳＲＣ路側無線機の通信領域の試験装置 - 特許庁

To reduce the chip area of a test circuit of a PLL circuit.例文帳に追加

ＰＬＬ回路のテスト回路のチップ面積を小さくする。 - 特許庁

A test pattern area where a test pattern is formed is set on an intermediate transfer belt 4, and a reference area is set in an area where a test pattern is not formed.例文帳に追加

中間転写ベルト４上に、試験パターンが形成される試験パターン領域が設定されるとともに、試験パターンが形成されない領域において、基準領域が設定される。 - 特許庁

And this optical disk drive writes the information about the test writing area in the test writing control area provided to control the test writing area.例文帳に追加

また光ディスク装置において、前記試し書き領域を管理するために設けた試し書き管理領域に前記試し書き領域に関する情報を記録する光ディスク装置とする。 - 特許庁

Data to be recorded in a data area is stored in a memory 108 while test writing for a test writing area of an optical disk is performed, recording of data for the data area and test writing for the test writing area are performed alternately.例文帳に追加

光ディスクの試し書き領域へ試し書きが行われている間にメモリ１０８にデータ領域へ記録するデータを記憶させ、データ領域へのデータの記録と試し書き領域への試し書きとを交互に行うことを特徴とする。 - 特許庁

A test area discrimination unit 1006 determines a text area in the decoded image data.例文帳に追加

テキスト領域判別部１００６は、復号した画像データ中のテキスト領域の判定する。 - 特許庁

The area of the large area test land 5 is made larger than the area of a large area metallic foil 2 to be used for a normal printed wiring board, and the area of the small area test land 6 is made smaller than the area of the small area metallic foil 2 to be used for the normal printed wiring board.例文帳に追加

大面積テストランド５は通常のプリント配線板に使用される大面積金属箔２の面積よりも大きく、小面積テストランド６の面積は、通常のプリント配線板に使用される小面積金属箔２の面積よりも小さい。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test time of a refresh test of redundancy area is shortened.例文帳に追加

リダンダンシーエリアのリフレッシュテストのテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The test piece is adjusted to the area size required for performing tests on the plurality of test items.例文帳に追加

試験片は複数の試験項目の実施に必要な面積サイズに調製したものを使用する。 - 特許庁

To provide a test apparatus with a small floor area to be required.例文帳に追加

必要床面積が少なくて済む検査装置を提供する。 - 特許庁

Binarization data wherein projection data are divided in a test subject area and an air area (S21), and expansion operation is executed to pixels of the test subject area adjacent to the air area (S22).例文帳に追加

投影データを被検体領域と空気領域とで分割される２値化データを作成し(S21)、空気領域と隣接する被検体領域の画素に対して膨張操作を行う(S22)。 - 特許庁

The test handler provides the test handler, having a method opening an insert which is arranged at the other part of area, by making a test tray moved after opening the insert which is arranged at one part of area of the test tray.例文帳に追加

テストトレイの一部面積に配列されたインサートを開放した後、テストトレイを移動させて他の一部面積に配列されたインサートを開放する方式を有するテストハンドラーを提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a structure for passing supersonic working fluid capable of safely performing a test in a lower temperature area than an actual operating temperature area.例文帳に追加

実際の動作温度域よりも低い温度域で安全に試験できる超音速作動流体が通過する構造体の試験方法および試験装置を提供すること。 - 特許庁

A power calibration area composed of a test area for test writing and a count area for recording the used state of the test area is provided in the disk inner peripheral position of an optical disk, and information is recorded while calibrating laser power.例文帳に追加

光ディスクのディスク内周側位置に、試し書きを行うテストエリアと当該テストエリアの使用状況を記録するカウントエリアとから構成されるパワーキャリブレーションエリアを設け、レーザパワーの校正を行いながら情報を記録する。 - 特許庁

In S13, test writing data transfer to the free area is instructed.例文帳に追加

Ｓ１３で空き領域に対する試し書きデータ転送を指示する。 - 特許庁

It was due to the following reasons that this area was selected for the test track section 例文帳に追加

ここが試験地域に選ばれた理由は以下の通りである。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The area of a test pad 54 is reduced to the bonding pad 53.例文帳に追加

ボンディングパッド５３に対してテストパッド５４の面積を小さくする。 - 特許庁

To record data in a recordable counter area to indicate that recording is conducted in the test area of a trial writing area.例文帳に追加

試し書き領域のテスト領域に記録されたことを示すために記録されるカウント領域にデータを記録する。 - 特許庁

To provide an optical disk device capable of surely erasing test write data recorded in a test area.例文帳に追加

テストエリアに記録された試し書きデータを確実に消去することができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit that executes a memory test during operation of a computer system and without providing an area exclusive for a memory test.例文帳に追加

メモリテスト専用領域を設けずに、かつ、コンピュータシステム稼働中にメモリテストを実行することが可能なメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

The first test pad is set in the test pad arranging layer in the searched unoccupied area by the first test pad setting means 13.例文帳に追加

そして、第１テストパッド設定手段１３により、探索した空き領域におけるテストパッド配置層に第１テストパッドが設定される。 - 特許庁

Steps of (1) moving to a test writing area, (2) recording test data into the test writing area, (3) moving to a head position of an area into which the test data are recorded, (4) reproducing the test data, and (5) determining appropriate power, are performed in parallel for two optical pickup units respectively.例文帳に追加

（１）試し書き領域への移動、（２）試し書き領域へのテスト用データの記録、（３）テスト用データが記録された領域の先頭位置への移動、（４）テスト用データの再生、（５）適切なパワーの決定、が２つの光ピックアップ装置について、それぞれ並行して行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device taking may chip numbers capable of parallel test simultaneously during a wafer test while suppressing the area increase of chips being a test object.例文帳に追加

試験対象となるチップの面積増加を抑制しつつ、ウェハテスト時において同時に並列試験可能なチップ数を多くとれる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

In order to test programmable routing resources completely in a self test area, an exhaustive test pattern is applied to a wire group under test which is reconfigured repeatedly.例文帳に追加

自己試験区域内でプログラム可能経路指定資源を完全に試験するために網羅的なテスト・パターンが繰り返し再構成される試験中のワイヤ群に適用される。 - 特許庁

Upon completing test of programmable routing resources in one self test area, an FPGA 10 is reconfigured such that a part of work area during normal system operation becomes a following self test area and at least a part of first self test area is replaced by that part of the work area.例文帳に追加

最初の自己試験区域の１つでのプログラム可能経路指定資源の試験の完了後、ＦＰＧＡ１０は、通常システム動作中の作業区域の一部が後続の自己試験区域になり、また、最初の自己試験区域の少なくとも一部が作業区域のその部分と置き換えられるように再構成される。 - 特許庁

This radar is constituted so that a test forbidden area is recorded in a test forbidden map information circuit 85 based on a test forbidden map production instruction from the outside, and that the test forbidden area is compared and collated with detection at the search time, to thereby perform management of the test beam.例文帳に追加

外部からの検定禁止マップ作成指示をもとに、検定禁止エリアを検定禁止マップ情報回路８５に記録し、この検定禁止エリアと捜索時の検出とを比較照合して検定ビームのマネージメントを行うように構成した。 - 特許庁

On a layer immediately below the electrode pad 4, a wiring layer 123 is not formed in an area immediately below a test probe area TPA, and the wiring layer 123 is formed in an area except the test probe area TPA.例文帳に追加

電極パッド４の直下層では、テストプローブエリアＴＰＡの直下領域には配線層１２３が配設されておらず、テストプローブエリアＴＰＡ以外の領域に配線層１２３が形成される。 - 特許庁

A control unit 51 has a test marking means, and a test marking step for performing the test marking on a preset test marking area is performed before the formal marking in an official marking area on an object 2 to be printed.例文帳に追加

制御部５１は、テストマーキング手段を備えており、印字対象物２上の正式マーキング領域への正式マーキングの前に、予め設定したテストマーキング領域へのテストマーキングを行うテストマーキングステップが実行される。 - 特許庁

This test system performing a test in a user program has: a user program execution part executing the user program including a test execution instruction; a test program storage part previously provided with a test program storage area rewritably storing the test program read and executed according to the test execution instruction; and a test program input part inputting the test program and storing it in the test program storage area.例文帳に追加

本発明におけるテストシステムは、ユーザープログラムのテストを行うテストシステムであって、テスト実行命令を含むユーザープログラムを実行するユーザープログラム実行部と、テスト実行命令に応じて読み出され実行されるテストプログラムを書き換え可能に格納するテストプログラム格納領域を予め設けたテストプログラム記憶部と、テストプログラムを入力しテストプログラム格納領域に格納するテストプログラム入力部を備えたテストシステムである。 - 特許庁

To improve a failure detection rate per unit area of a test circuit.例文帳に追加

テスト回路の単位面積当たりの故障検出率を向上させる。 - 特許庁