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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test data analysisに関連した英語例文

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test data analysisの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 71



例文

INDEPENDENCE TEST DEVICE, DATA ANALYSIS DEVICE, AND INDEPENDENCE TEST PROGRAM例文帳に追加

独立性検定装置、データ解析装置、及び独立性検定プログラム - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAS PROGRAM FOR DATA ANALYSIS OF CLINICAL TEST例文帳に追加

臨床試験のデータ解析用SASプログラムの作成方法 - 特許庁

RESPIRATION FUNCTION TEST APPARATUS AND RESPIRATION RATE DATA ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加

呼吸機能検査装置及び呼吸流量データ解析プログラム - 特許庁

The storage unit also comprises a test and adjustment result analysis program to perform analysis of resultant data of the test and adjustment of the radio device.例文帳に追加

また、無線機の前記試験・調整の結果のデータの分析を行う試験調整結果分析プログラムを備える。 - 特許庁

例文

METHOD FOR ANALYZING MEASUREMENT DATA OF DEVICE UNDER TEST, PROGRAM, AND MEASUREMENT DATA ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - 特許庁


例文

A test result analysis section 6 creates test result data D10, indicating a test result of the performance test executed by the test execution section 8 and notifies the scenario editor section 2 of the test result data D10.例文帳に追加

試験結果解析部6は、試験実行部8によって実行された動作試験の試験結果を示す試験結果データD10を作成し、この試験結果データD10をシナリオエディタ部2に通知する。 - 特許庁

The ground data used for the analysis on the whole and the analysis in detail are used for analysis by converting the results of boring test and the GIS data to be used for the analysis into the data usable for analysis by the three-dimensional model by translation software.例文帳に追加

全体解析および詳細解析に用いる地盤データは、ボーリング試験の結果やGISデータを、翻訳ソフトにより3次元モデルによる解析に使用可能なデータに変換して解析を行う。 - 特許庁

The photoelectric signal is transmitted to a data processor in which a test or a result analysis is performed.例文帳に追加

光電信号は、データ処理装置へ送られて、試験や結果分析が行われる。 - 特許庁

CLINICAL TEST DATA ANALYSIS SUPPORT APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

臨床検査データ解析支援装置、臨床検査データ解析支援方法及びそのプログラム - 特許庁

例文

To provide a device for generating dynamic stream for network analysis which transmits data stream in order to test and analyze a communication network, a communication system and traffic analysis.例文帳に追加

通信ネットワーク、通信システム、およびトラフィック解析を試験及び解析するためにデータストリームを送信すること。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor test device which can improve efficiency in online data analysis processing.例文帳に追加

オンラインデータ解析処理の効率を向上することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A data memory and an analysis part are installed in a test auxiliary device arranged near a test circuit board, and two memory areas are constituted in the data memory, and, while digital test data are stored in one memory area, reading-out for analysis of the digital test data stored beforehand can be executed in the other memory area.例文帳に追加

テスト回路基板の近傍に配置されたテスト補助装置に、データメモリと解析部を設け、データメモリに2つのメモリ区域を構成して、一方のメモリ区域でデジタル試験データの記憶が行われるときに、他方のメモリ区域ですでに記憶されたデジタル試験データの解析のための読み出しを行うようにする。 - 特許庁

The ID of a product is used as a key, the process characteristic quantity data, a test data and a failure data are combined, and data for analysis that are generated by deleting invalid data in a data filter 10c is analyzed through data mining by an analysis part 10d to create a model.例文帳に追加

製品のIDをキーに、プロセス特徴量データと検査データ並びに故障データを結合し、データフィルター部10cにて不正データを削除して生成した解析用データを、解析部10dにてデータマイニングにより解析しモデルを作成する。 - 特許庁

To provide test equipment and test method for obtaining measured data that allow a sensor unit (1) to recognize error for calibration of analysis unit connected with the sensor unit by using sensor-related data allocation, for example, cable, stored data, that is, data allocation.例文帳に追加

例えば、ケーブルで、保存されたデータで、つまり、データ割当で、センサユニットと接続されている分析ユニットの較正のためにセンサユニット(1)にセンサ関連データ割当で、エラー認識を可能とすることである。 - 特許庁

Design data D101 including circuit data of a test point and information relevant to the test method attached to this test point is input, and design data having undergone code analysis by a design data code analysis section K102 in a data input section K101 is stored in a storage device 700 with a database storage section K103.例文帳に追加

テストポイントの回路データと、このテストポイントに付属するテスト手法に関連した情報を含む設計データD101を入力し、データ入力部K101における設計データコード解析部K102によるコード解析を経た設計データがデータベース格納部K103により記憶装置700に格納される。 - 特許庁

A first measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a first test signal from the test signal source 10, and a second measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a second test signal obtained by shifting the first test signal by a known frequency value.例文帳に追加

試験信号供給源10からの第1試験信号を周波数分析装置20に供給して第1測定データを測定すると共に、第1試験信号を既知の周波数だけシフトした第2試験信号を周波数分析装置20に供給して第2測定データを測定する。 - 特許庁

To provide a failure analysis system independent of a format of test data processable by a failure analysis device, capable of suppressing the number of information files used for failure analysis; and also to provide a failure analysis information processing device and a failure analysis method.例文帳に追加

故障解析装置が処理可能なテストデータのフォーマットに依存しない、且つ故障解析に使用する情報ファイル数を抑制可能な故障解析システム、故障解析情報処理装置及び故障解析方法を提供する。 - 特許庁

The analysis means analyzes test image data acquired by reading a test image, detects a reference shadow generation region from a test image region that corresponds to the test image data based on the result of analyzing the test image data, and detects reference shadow image data that corresponds to the reference shadow generation region.例文帳に追加

前記解析手段は、テスト画像の読み取りにより得られるテスト画像データを解析し、前記テスト画像データの解析結果に基づき、前記テスト画像データに対応するテスト画像領域から基準影発生領域を検出し、前記基準影発生領域に対応する基準影画像データを検出する。 - 特許庁

A test data generating part 30 in the control part 25 of the analyzing server generates learning data and evaluation data to be applied to a plurality of analysis models.例文帳に追加

分析サーバの制御部25におけるテストデータ作成部30は、複数の分析モデルに適用するための学習用データと評価用データを作成する。 - 特許庁

To provide a data analysis system capable of quickly and easily transferring data even when a testing device is away from a test data analyzer in distance.例文帳に追加

試験装置から試験データ解析装置までが距離的に離れていても、迅速かつ容易にデータ転送の可能なデータ解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide ultrasonic test equipment and a method capable of improving greatly the efficiency of an inspection work, and improving inspection accuracy and reliability, by enabling reduction of hard system noise filters and shortening of a data analysis processing time without requiring noise reduction processing from the vast amount of ultrasonic data at the data analysis processing time.例文帳に追加

ハード方式ノイズフィルタの軽減、データ解析処理時に膨大な超音波データからノイズ低減処理を行う必要がなくデータ解析処理時間の短縮化が図れる。 - 特許庁

By extracting specified traffic patterns, an analysis device can test a packet data path between elements.例文帳に追加

分析装置は、特定のトラヒックパターンを顕在化させることにより、要素間のパケットデータパスをテストすることができる。 - 特許庁

The FFT analysis test acquires sampled amplitude data from a single probe in the time domain and converts the data into the frequency domain. 例文帳に追加

このFFT分析試験は、単一のプローブから時間ドメインにおける振幅サンプル値を入手し、そのデータを周波数ドメインに変換する。 - コンピューター用語辞典

A distribution analysis subsystem (54) performs statistical analysis on the test data to identify underlying distribution (66) and to compare individual attribute types (44) with the distribution (66).例文帳に追加

分布解析サブシステム(54)はテストデータに対して統計解析を行って基礎をなす分布(66)を割り出し、個々の属性タイプ(44)をこの分布(66)と比較させる。 - 特許庁

In the semiconductor memory device and its repair analyzing method, address data generated by the present test is stored in other one temporary buffer by storing selectively address data by a test using two temporary buffer 4 while one temporary buffer transmits address data generated by the previous test to a data buffer 5 and performs repair analysis, and a test and repair analysis can be performed simultaneously.例文帳に追加

半導体メモリ装置及びそのリペア解析方法では、テストにより発生したアドレスデータを二つの臨時バッファ4を用いて選択的に貯蔵することにより、一つの臨時バッファが以前のテストにより発生したアドレスデータをデータバッファ5に伝送しリペア解析(repair analysis)を行う間、他の一つの臨時バッファには現在のテストにより発生したアドレスデータを貯蔵し、テストとリペア解析を同時に行うことができる。 - 特許庁

The JTAG test system includes a test data collection section 3 for collecting test data in synchronization with a clock with a TAP controller, and a JTAG analysis software processing section, and has a TAP state analysis processing section for performing TAP state analysis between the TAP controller 1 and the collection section 3.例文帳に追加

TAPコントローラとクロックに同期してテストデータ収集を行うテストデータ収集部とJTAG解析ソフトウェア処理実行部とを含むJTAGテストシステムであって、TAPコントローラとテストデータ収集部の間に、TAPステート解析をリアルタイムで実行するTAPステート解析処理部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

First, as shown in Fig. 2 (a), in a step St 11, the analysis of signal data is performed with respect to respective test patterns P_1-P_n contained in a test pattern group 150.例文帳に追加

まず、図2(a)に示すように、ステップSt11において、テストパターン群150に含まれる各テストパターンP_1〜P_nについて、信号データの解析を行なう。 - 特許庁

In addition, the control unit executes the test and adjustment result analysis program to analyze the resultant data of the test and adjustment by the radio device measuring instrument, and performs self adjustment and self analysis to check whether there is a fault or not.例文帳に追加

また、制御部は、試験調整結果分析プログラムを実行して、前記無線機測定器による試験・調整の結果のデータを分析し、自己調整及び故障の有無の自己診断を行う。 - 特許庁

To provide a test analyzing system for confirming own result data and analysis data at arbitrary necessary time by a candidate for an examination without burdening a test sponsor.例文帳に追加

試験の主催者にも負担にならず、また受験者も随時必要なときに自分の成績データ及び分析データを確認できる試験分析システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a JTAG test system which enables even a test data collection section such as a logic analyzer whose trace quantity is not so much to collect sufficient data, by converting serial data into parallel data, and is capable of shortening a final analysis time sharply, by performing a part of analysis of trace data in real time during the data collection.例文帳に追加

シリアルデータをパラレルデータに変換することによりトレース量がそれほど多くないロジックアナライザなどのテストデータ収集部でも十分なデータを収集できるようにするとともに、トレースデータの解析の一部をデータ収集中にリアルタイムで行うことにより、最終的な解析時間を大幅に短縮できるJTAGテストシステムを提供すること。 - 特許庁

Next, a result (temporary test result data) obtained by performing the bending analysis by the first displacement characteristic and the bending test result data are compared, and a first range allowing application of the first displacement characteristic is calculated (S16).例文帳に追加

次に、その第一変位特性で曲げ解析を行った結果(仮試験結果データ)と曲げ試験結果データとを比較し、第一変位特性が適用可能な第一範囲を算出する(S16)。 - 特許庁

To correctly perform error analysis, a test or the like in a system where data are transmitted over a plurality of lanes and error expansion processing is performed.例文帳に追加

複数レーンでデータを伝送し、エラー展開処理が実行されるシステムにおいて、エラー解析や試験などを正しく行う。 - 特許庁

A test script conversion device 101 which executed the test script processing program 100 reads, when program correction of the operation object application 115 is performed, data for one line of data of the test script by a test script analysis means 110, detects data of an operation object screen when this data is a switching instruction, and executes screen structure information comparison processing.例文帳に追加

テストスクリプト処理プログラム100を実行したテストスクリプト変換装置101は、操作対象アプリケーション115のプログラム修正を行った場合に、テストスクリプト解析手段110によりテストスクリプトのデータを1行分のデータを読み込み、切替命令である場合には操作対象画面のデータを検出し画面構成情報比較処理を実行する。 - 特許庁

The method and apparatus of the present invention provides for a test stand, a plurality of X-ray test phantoms(10, 20, 30, 40, 50, 60, 70) and a computer program for data entry, analysis and storage of the test results.例文帳に追加

一般的に、本発明の方法及び装置は、テスト台と、複数のX線テスト模型(10、20、30、40、50、60、70)と、データ入力、分析、及びテスト結果の保存のためのコンピュータプログラムとを提供する。 - 特許庁

All the path-fail data of a plurality of memory circuits built in a system LSI are stored in the failure analysis memory for collecting the path-fail data in a semiconductor memory test device, and the path-fail data are read from the failure analysis memory in batch (step S22).例文帳に追加

半導体メモリのテスト装置内のパスフェイルデータ収集用不良解析メモリへ、システムLSIに内蔵された複数のメモリ回路のパスフェイルデータをすべて格納し、その不良解析メモリから一括してパスフェイルデータを読み出す(ステップS22)。 - 特許庁

To provide a protection method for a test program safely distributing the test program without depending on confidentiality and to provide a test method for LSI whose data analysis is difficult for a third party.例文帳に追加

守秘義務に頼る必要なく、安全にテストプログラムを流通させることの可能なテストプログラムの保護方法を提供すること及び第三者によるデータの解析が困難なLSIのテスト方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a means capable of performing high-precision measurement and relatively large data processing (analysis) at a high-speed by making a measurement means and an analysis means as a BOST, and reducing the test time.例文帳に追加

測定手段及び解析手段をBOST化することで高精度な測定と比較的大きなデータ処理(解析)を高速で実行でき、テスト時間の短縮を図る手段を提供する。 - 特許庁

The measured signals and obtained data can be analyzed on-line and also sent to a computer system for off-line analysis after termination of a test.例文帳に追加

測定された信号および得られたデータは、オンライン解析が可能であると共に、テスト終了後のオフライン解析のためにコンピュータシステムに送信可能である。 - 特許庁

This method and this apparatus for data analysis are configured to automatically identify a characteristic of an assembly process in accordance with components based on the test data for the components.例文帳に追加

さまざまな態様によるデータ分析のための方法および装置は、組立プロセスの特徴を、コンポーネントの試験データに基づき、コンポーネントに合わせて自動的に識別するよう構成。 - 特許庁

To provide a processing method of semiconductor chip test data which does not increase the data volume more than necessary and can easily and quickly conduct a comparative analysis of each wafer within a lot.例文帳に追加

データ容量を必要以上に大きくすることなく、またロット内の各ウェーハの比較解析が容易且つ速やかに行える半導体チップ検査データの処理方法を提供すること。 - 特許庁

In the analysis regarding the comparison of electroencephalogram frequency components in the group 2, by using the Z value which has been obtained by the analysis of the individual data as the sample to be used for the Mann-Whitney test (U test), the statistic index value (Z value) is introduced, and the quantitative evaluation is made possible.例文帳に追加

2群における脳波周波数成分の比較に関する解析では、個人データの解析で得られたZ値をマンフォイトニー検定(U検定)に用いるためのサンプルとして用いることで、統計指標値(Z値)を導入し、定量評価を可能とする。 - 特許庁

A morphemic analyzing part 15a of a classification rule preparing part 15 executes the morphemic analysis of a test data group 21 stored in a data base 3, and a frequency pattern detecting part 15b detects the combination of words repeatedly appearing in a plurality of text data as a frequency pattern from the morphemic analysis results.例文帳に追加

分類ルール作成部15内の形態素解析部15aは、データベース3に格納されたテキストデータ群21を形態素解析し、頻出パターン検出部15bは形態素解析結果から複数のテキストデータに繰り返し出現する単語の組み合わせを頻出パターンとして検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.例文帳に追加

本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁

A test process comparing part 18 compares a progress reference value determined by the test process determining part 12, with the result of the analysis outputted by the test result analyzing part 16, judges the situation of the progress, and outputs the comparison result data indicating the result of the judgment.例文帳に追加

テスト工程比較部18は、テスト工程設定部12によって設定された進捗基準値とテスト成績分析部16によって出力された分析結果とを比較して進捗状況を判断し、この判断結果を示す比較結果データを出力する。 - 特許庁

Voice data for test generated by test voice data generation part 22, echo data recorded in an echo data recording part 24 and voice data of a speaker, recorded in a transmitted voice recording part 25 are analyzed and the operation parameter used when an echo suppressor 12 of an echo component suppression part 2 suppresses echo components is adjusted according to analysis results.例文帳に追加

試験用音声データ生成部22により生成された試験用の音声データと、エコーデータ記録部24に記録されているエコーデータと、送話音声記録部25に記録されている話者の音声データとを分析し、その分析結果にしたがってエコー成分抑圧部2のエコーサプレッサ12がエコー成分を抑圧する際に使用する動作パラメータを調整する。 - 特許庁

The system continues to properly function without needing to change the route of the data item even in a failure, facilitates design, analysis and a test, and thereby enhances reliability.例文帳に追加

このシステムは、故障の場合にもデータ・アイテムのルートを変更する必要なく適切に機能し続け、設計、分析及びテストを容易にし、それにより信頼性を増す。 - 特許庁

To realize a communication simulator capable of remarkably reducing man-hour to be required for the construction of communication simulation environment, enhancing the efficiency of a communication test, altering data even in execution environment of the communication test and easily performing the analysis of a test result.例文帳に追加

通信シミュレーション環境の構築に要する工数を大幅に削減でき、通信テストの効率を向上させることができ、通信テストの実行環境でもデータの変更が可能で、しかもテスト結果の解析を容易に行うことができる通信シミュレータを実現する。 - 特許庁

ANALYSIS RESULT DISPLAYING DATA GENERATOR, METHOD AND PROGRAM, PROGRAM GENERATOR WITH TEST FUNCTION, METHOD AND PROGRAM, CONTROL OPERATION DETERMINING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM, AND CONTROL OPERATION DETERMINING SYSTEM例文帳に追加

分析結果表示用データ生成装置、方法及びプログラム、テスト機能付きプログラム生成装置、方法及びプログラム、制御動作判定装置、方法及びプログラム、並びに、制御動作判定システム - 特許庁

When finding an analyzing displacement characteristic used in bending analysis of the laminated material, a flexural elastic modulus (a first displacement characteristic) is calculated on the basis of data at an early stage of deformation, of bending test result data of the laminated material, first of all (S10).例文帳に追加

積層材料の曲げ解析で用いる解析用変位特性を求める場合は、まず、積層材料の曲げ試験結果データのうち、変形初期のデータに基づいて曲げ弾性率(第一変位特性)を算出する(S10)。 - 特許庁

例文

To provide a data analysis processing system that automatically applies statistic processing to data on the basis of a keyword from a received log file of a result of debug test of a communication terminal so as to calculate a desired statistic value and to provide its program.例文帳に追加

入力された通信端末のデバッグ試験結果のログファイルからキーワードに基づいてデータを自動的に統計処理を行い、所望の統計値を算出するデータ解析処理システム及びそのプログラムを提供すること。 - 特許庁




  
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