「test variable」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

VARIABLE PITCH TEST FIXTURE AND PITCH CONVERSION FIXTURE USING WIRE PROBE例文帳に追加

ワイヤプローブを用いたピッチ可変検査治具及びピッチ変換治具 - 特許庁

VARIABLE DELAY CIRCUIT, ITS SETTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE例文帳に追加

可変遅延回路、その設定方法及び半導体試験装置 - 特許庁

VARIABLE TEST DEVICE FOR UNDERGROUND BURYING PIPE-LINE CONTINUITY INSPECTION AND COMPOSITE CABLE FOR TEST DEVICE例文帳に追加

地中埋設管路導通点検用可変型試験装置および試験装 置用複合型ケーブル - 特許庁

A bias voltage is applied to the test piece 7 from a variable power source 11.例文帳に追加

可変電源１１から試料７にバイアス電圧を印加する。 - 特許庁

A variable inductor VL and a variable resistor VR are serially connected to serve as a dummy load for an inverter circuit under test.例文帳に追加

可変インダクタＶＬと可変抵抗器ＶＲは直列に接続され、供試インバータ回路の擬似負荷となる。 - 特許庁

DEVICE FOR STORING VARIABLE VALUE TO PROVIDE CONTEXT FOR TEST RESULT TO BE FORMATTED例文帳に追加

フォーマットする試験結果の文脈を提供する変数値を格納する装置 - 特許庁

Whether a test command from a test command output device has been received or not is confirmed in a variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

変動パターンコマンド受信待ち処理にて、テストコマンド出力装置からのテストコマンドを受信したか否か確認する。 - 特許庁

The test code generator prepares the test code from the test code model information by replacing each variable part in the test code model information for a value of an item in agreement with the variable part in a design information object.例文帳に追加

実施形態のテストコード生成装置は、テストコード雛形情報内の各々の変数部分を設計情報オブジェクト内で当該変数部分に一致する項目の値に置換することにより、テストコード雛形情報からテストコードを生成する。 - 特許庁

A test case generation part 7 creates a test case from an obtainable value of an input variable of the function of the test target and an obtainable value of the output variable of the stub function output by the stub function output value generation part 6.例文帳に追加

テストケース生成部７は、試験対象の関数の入力変数の取り得る値と、スタブ関数出力値生成部６が出力したスタブ関数の出力変数の取り得る値とからテストケースの作成を行う。 - 特許庁

IMPEDANCE MATCHING DEVICE AND TEST APPARATUS OF VARIABLE IMPEDANCE ELEMENT FOR THE IMPEDANCE MATCHING DEVICE例文帳に追加

インピーダンス整合装置及びインピーダンス整合装置用可変インピーダンス素子の検査装置 - 特許庁

The indication variable of the troubled resource sets the test condition for the resource of the indication variable defined to be reread.例文帳に追加

この際、不良リソースの指示変数は、読み替えるべく定義された指示変数のリソースに対して試験条件の設定を行う。 - 特許庁

A specification model is executed by substituting a predetermined test result for input variable of the specification model, and the mounting model is executed by substituting a test result for input variable of the mounting model.例文帳に追加

仕様モデルの入力変数に所定の試験値を代入することで仕様モデルを実行し、実装モデルの入力変数に試験値を代入することで実装モデルを実行する。 - 特許庁

this variable will contains an error message, if check fail string $name Name of the package to test 例文帳に追加

チェックに失敗した場合に、この変数にエラーメッセージが含まれます。 string$name 調べるパッケージの名前。 - PEAR

Test recording is performed with fixed laser power Pn as a fixed test recording step (F205) in first to x-th test areas performing the test recording by successively changing the power from the first to the x-th laser powers as a variable recording step (F207).例文帳に追加

可変テスト記録ステップ（Ｆ２０７）として第１から第ｘのレーザパワーに逐次変化させてテスト記録を行う第１から第ｘのテストエリアに、固定テスト記録ステップ（Ｆ２０５）として固定のレーザパワーＰｎでテスト記録を行う。 - 特許庁

To perform a running test for correlating designated speed to output vehicle speed from a variable-speed device, in a narrow course and in a short test time.例文帳に追加

指示速度と無段変速装置からの出力車速とを対応させるための走行テストを、狭小なコースで、かつ、テスト時間も短くて済むようにする。 - 特許庁

In accordance with a result from the convergence test, the material density on the node as the design variable is updated (6).例文帳に追加

収束判定の結果に応じて設計変数である節点における材料密度を更新する（６）。 - 特許庁

To shorten the time required for an analog characteristic test of a variable delay circuit or a digital/analog conversion circuit.例文帳に追加

可変遅延回路やデジタルアナログ変換回路のアナログ特性のテストに要する時間を短縮する。 - 特許庁

this variable will contains an error message, if check fail string $name Name of the extension to test 例文帳に追加

チェックに失敗した場合に、この変数にエラーメッセージが含まれます。 string$name 調べる拡張モジュールの名前。 - PEAR

To provide a software automatic test system which can perform automatic test even about software composed of image data including variable image data and with which artificial mistakes are reduced and a test time is shortened.例文帳に追加

可変イメージデータを含むイメージデータからなるソフトウエアについても自動テストを行うことができ、かつ、人為的なミスを削減し、テスト時間を短縮するようにしたソフトウエア自動テストシステムを提供する。 - 特許庁

The loading device 30 includes a loading shaft 31 falling by a weight 33 to load the piston 15 with test force and a test force variable mechanism continuously altering the test force by the same weight 33, and the test force variable mechanism includes a power point altering mechanism 35 for continuously altering the position of a power point 34 on which the weight 33 acts.例文帳に追加

負荷装置３０は、錘３３により下降し、ピストン１５に試験力を負荷する負荷軸３１と、同一の錘３３による試験力を連続的に変更する試験力可変機構とを有し、試験力可変機構は、錘３３が作用する力点３４の位置を連続的に変更する力点変更機構３５を有する。 - 特許庁

(2) A variable thickness spacer 11 in which the thickness is made thicker in curing the adhesive, and the thickness is made thinner in the leakage test is used.例文帳に追加

（２）接着剤硬化時は厚さが厚くなり、リークテスト時は厚さが薄くなる可変厚セパレータ１１。 - 特許庁

The system 110 includes the probe 112 separated from a test object 114 by a variable distance d 116.例文帳に追加

システム（１１０）は可変距離ｄ（１１６）によって検査対象（１１４）から離間されたプローブ（１１２）を含む。 - 特許庁

To provide a capacitor circuit equipped with a test circuit that can reduce a test time without capacitance test, when an abnormal connection is found, a variable capacitance circuit which uses the capacitor circuit, a resonance circuit which uses the variable capacitance circuit, and a testing method for the capacitor circuit.例文帳に追加

接続不良を見つけた場合は、容量検査を行わないようにして検査時間を短縮させることができる検査回路を備えたコンデンサ回路、そのコンデンサ回路を使用した可変容量回路、その可変容量回路を使用した発振回路及びコンデンサ回路の検査方法を得る。 - 特許庁

A fixation portion 3 to fix a test piece 5 and a loading portion 4 that can press the test piece 5 with a variable load are arranged 500 mm apart.例文帳に追加

試験片５を固定するための固定部３と、荷重を変化させて試験片５を押し付けることが可能な荷重部４とを５００ｍｍの間隔で配置した。 - 特許庁

To provide a withstand voltage test method of power equipment dispensing with test equipment comprising a large-scale exclusive test power source or the like, capable of applying a variable voltage over a rated voltage, and having high defect detection accuracy.例文帳に追加

大規模な専用の試験電源等からなる試験設備が不要で、定格電圧以上の可変電圧を印加することができる欠陥検出精度が高い電力設備の耐電圧試験方法を提供する。 - 特許庁

The test piece 5 is then fixed with the fixation portion 3, and a variable load is applied to the test piece 5 with the loading portion 4, so as to measure a space L1 between a bottom part of the test piece 5 and a substrate 1.例文帳に追加

更に、固定部３により試験片５を固定すると共に、荷重部４により異なる荷重を試験片５に作用させて、試験片５の下部と基盤１との間の間隔Ｌ１を測定するようにした。 - 特許庁

For each input variable of the mounting model, the structure of the read processing and write processing performed since the test value is substituted for the input variable until the result value is substituted for the output variable is analyzed.例文帳に追加

また、実装モデルの入力変数ごとに、入力変数に試験値が代入されてから出力変数に結果の値が代入されるまでの間に行われた読出し処理および書込み処理の構造を解析する。 - 特許庁

For each input variable of the specification model, the structure of the read processing and write processing performed since the test value is substituted for the input variable until the result value is substituted for output variable is analyzed.例文帳に追加

また、仕様モデルの入力変数ごとに、入力変数に試験値が代入されてから出力変数に結果の値が代入されるまでの間に行われた読出し処理および書込み処理の構造を解析する。 - 特許庁

When the test process is terminated, the value of the display control process flag is changed to the value corresponding to the variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

テスト処理を終了すると、表示制御プロセスフラグの値を変動パターンコマンド受信待ち処理に応じた値とする。 - 特許庁

The low jitter clock has variable frequency and is programmed to control other test functions, such as the generation of arbitrary waveforms.例文帳に追加

低ジッタ・クロックは、可変周波数を有し、任意波形発生のような、他の検査機能を制御するようにプログラムされる。 - 特許庁

The analogue switch 411 selecting a voltage applied to the variable resistor VR1 in a game machine operation time is switched so as to select a strength test signal when a test switching signal (low active) from a trial shooting test device reaches a low level.例文帳に追加

アナログスイッチ４１１は、遊技機稼働時には可変抵抗器ＶＲ１にかかる電圧を選択し、試射試験装置からの試験切替信号（ローアクティブ）がローレベルになると強度試験信号を選択するように切り替えられる。 - 特許庁

To provide a test circuit for a variable delay element in which even a micro variation of delay time can be measured accurately and GO/NO GO test for a variable delay element can be carried out accurately in a short time.例文帳に追加

可変遅延素子の遅延時間変化量が非常に小くても、微小な遅延時間変化量を精度良く測定でき、可変遅延素子の良否判定を短時間に精度良く実施することが可能となる可変遅延素子のテスト回路を提供する。 - 特許庁

The variable delay circuit 20 changes the time of the master clock to the slave for adjusting the starting points of test cycles of the master and the slave to integer multiples of the test cycle.例文帳に追加

この可変遅延回路２０は、マスタクロックをスレイブに伝達するまでの時間を変化させ、マスタの試験周期開始時間とスレイブのそれとを試験周期の整数倍になるよう調整する。 - 特許庁

In a test response pattern 104, when the logical value of a bit position (i) is 0, it is replaced with a logical variable di, and when the logical value of a bit position (j) is 1, it is replaced with a logical variable/dj.例文帳に追加

テスト応答パターン１０４において、ビット位置ｉの論理値が０であれば論理変数ｄｉで置換し、ビット位置ｊの論理値が１であれば論理変数／ｄｊで置換する。 - 特許庁

The correction part 54 forms, when the number of specific test man-hour is two or more, information showing a relation between independent variable and slave variable for a correction function.例文帳に追加

信頼度成長曲線補正部５４は、特定テスト工数の数が２個以上の場合、矯正関数についての独立変数と従属変数との関係を表す情報を作成する。 - 特許庁

A delay amount of the delay time variable delay adjusting circuit 102 is set so that a test signal may be normally transmitted and received.例文帳に追加

テスト信号が正常に送受信されるように遅延時間可変遅延調整回路１０２の遅延量が設定される。 - 特許庁

To provide a pseudo road surface generation device capable of performing a test effective in control using as a variable the time during actual running of an infinite crawler automotive vehicle.例文帳に追加

現実の無限履帯式自走車両の走行時の時間を変数とする制御の現実に有効な試験を行う。 - 特許庁

To provide an impedance matching device having a test function for testing whether or not the mechanical part of a variable impedance element is normal.例文帳に追加

可変インピーダンス素子の機構部が正常であるか否かを検査する機能を備えたインピーダンス整合装置を提供する。 - 特許庁

A clock signal supplied to the test latch is a variable clock signal, capable of skewing selectively the clock signal.例文帳に追加

テスト・ラッチに供給されるクロック信号は、クロック信号を選択的にスキューさせることができる可変のクロック信号である。 - 特許庁

An instruction execution part 121 selects an input variable combination 193, and executes a test object program 191 step by step.例文帳に追加

命令実行部１２１は入力変数値組み合わせ１９３を選択し、試験対象プログラム１９１を一ステップずつ実行する。 - 特許庁

Furthermore, it mounts a variable logic circuit 120 (FPGA) capable of composing desired logics so as to construct analog test circuits in the FPGA 120.例文帳に追加

さらに、任意の論理を構成可能なＦＰＧＡ（１２０）を搭載して、このＦＰＧＡ内にアナログテスト回路を構築するようにした。 - 特許庁

An output variable delay circuit 12 regulates the skew among test signals corresponding to the signal pins of the semiconductor device 30.例文帳に追加

出力可変遅延回路１２は、半導体装置３０の信号ピンに対応するテスト信号の各信号間のスキューを調整する。 - 特許庁

A reception signal which was received by an antenna and then went through a variable attenuator 310 is combined with the test signal from a test signal generation unit 510 by a directional coupler 320 and output to the reception circuit 330.例文帳に追加

アンテナで受信された後に可変減衰器310を通った受信信号とテスト信号発生部510からのテスト信号とを方向性結合器320により合成して、受信回路330に出力する。 - 特許庁

To provide a variable speed three-point bending impact testing device having a small-sized simple structure, capable of performing a test from a static breaking test up to an impact test at high displacement speed of 20 m/s by one testing machine, and detecting a load behavior, a displacement behavior or the like in a test piece breaking process.例文帳に追加

１台の試験機で静的破壊試験から２０ｍ／ｓといった高変位速度での衝撃試験までを行うことができるとともに、試験片破壊過程における荷重挙動、変位挙動などの検出が可能な、小型かつシンプルな構造の可変速三点曲げ衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

In a memory tester of an embodiment, a linear arithmetic register 1 and an interleave arithmetic register 2 store a linear arithmetic variable L and an interleave arithmetic variable I described in the same test program, individually.例文帳に追加

実施形態のメモリテスタは、リニア演算レジスタ１、インターリーブ演算レジスタ２が、同一のテストプログラム中に記述されたリニア用演算変数Ｌ、インターリーブ用演算変数Ｉを個々に格納する。 - 特許庁