「test variable」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a variable delay device that enables reduction in capacity of its linearizing memory and to provide a semiconductor test device employing it.例文帳に追加

可変遅延装置が備えるリニアライズメモリの容量を低減可能とする可変遅延装置及びこれを用いる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

First and second test clock signals TST-CLK1, TST-CLK2 are generated from a common basic test clock signal TST-CLKM using a delay line 10 which a delay time is variable and a delay stage 12 of which a delay time is fixed.例文帳に追加

遅延時間が変更可能な遅延線（１０）と遅延時間が固定された遅延段（１２）とを用いて共通の基本テストクロック信号（ＴＳＴ＿ＣＬＫＭ）から第１および第２のテストクロック信号（ＴＳＴ＿ＣＬＫ１，ＴＳＴ＿ＣＬＫ２）を生成する。 - 特許庁

With respect to a lubricating oil for a diesel engine used in a slide bearing part, a test liquid having no calcium sulphate nor sludge containing it and at least two groups of test liquids with them added thereto by variable quantities, are prepared.例文帳に追加

滑り軸受け部位に使用するディーゼル機関用潤滑油について、硫酸カルシウム又はその含有スラッジの無添加試験液および変量添加した少なくとも２組の添加試験液を用意する。 - 特許庁

Under this situation, the capacitance characteristics of each of a plurality of variable capacitance diodes in a sealing body 22 are measured at a first test position T1 and a second test position T2 of a sorting and taping apparatus in a distributed manner.例文帳に追加

この状況下において、封止体２２中の複数の可変容量ダイオードの各々の容量特性を選別テーピング装置の第１の検査位置Ｔ１と第２の検査位置Ｔ２とに分散して測定する。 - 特許庁

A variable for detecting the limitation of ink-receiving performance of the recording medium in each test pattern and a threshold of the variable corresponding to the type of the detected recording medium are compared by the inkjet recorder.例文帳に追加

また、インクジェット記録装置は、それぞれのテストパターンにおける記録媒体がインクを受容する受容能力の限界を検知するための変数と、検知された記録媒体の種類に対応した変数の閾値とを比較する。 - 特許庁

The psychological test device analyzes input image data, calculates a predetermined characteristic variable, stores a plurality of comment configuration sentences configuring a comment sentence for the subject, inputs whether an image drawn in the previous test is pertinent to each of the plurality of comment configuration sentences, and prepares a discriminant with the calculated characteristic variable as a description variable and an input pertinent degree as a target variable for each of the plurality of comment configuration sentences.例文帳に追加

心理検査装置は、入力される画像データを解析し、所定の特性変量を算出し、被検者に対するコメント文を構成するコメント構成文を複数格納し、今回以前の検査で描かれた画像が複数のコメント構成文の各々に該当するか否かを入力し、複数のコメント構成文の各々について、算出される特性変量を説明変量とし、入力される該当度を目的変量として、判別式を作成する。 - 特許庁

To provide a variable delay circuit that can conduct a function test of a selector even when a delay by a logic gate is small without increasing number of components of the circuit.例文帳に追加

使用素子数を増大させることなく、論理ゲートの遅延が小さい場合でもセレクタの機能試験が行えるようにした可変遅延回路を提供する。 - 特許庁

To generate test data allowing intensive detection of trouble having high occurrence frequency, and allowing unique specification of a variable causing the trouble.例文帳に追加

発生頻度の高い不具合を重点的に検出することが可能で、不具合の原因となる変数を一意に特定することが可能なテストデータを生成する。 - 特許庁

Test voltage to be supplied to the GPS reception part 110 is changed by outputting a voltage instruction signal to a GPS variable voltage part 190.例文帳に追加

また、ＧＰＳ用可変電圧部１９０に電圧指示信号を出力することでＧＰＳ受信部１１０に供給する検査用電圧を変更する。 - 特許庁

In other words, the first to the x-th laser powers in the variable test recording step or the first to the x-th amplitude information thereof are corrected (F208).例文帳に追加

即ち可変テスト記録ステップでの第１から第ｘのレーザパワー又はその際の第１から第ｘの振幅情報を補正する（Ｆ２０８）。 - 特許庁

To measure a current by removing a malfunction during a test, while changing each level of a variable voltage and an input voltage of a circuit to be tested, and to thereby detect a failure.例文帳に追加

被テスト回路の可変電圧と入力電圧のレベルを可変して、テスト時の誤動作をなくして電流を測定し、故障を検出する。 - 特許庁

VARIABLE TYPE TEST ANVIL FOR NON-DESTRUCTIVE STRENGTH TESTING-MACHINE FOR CONCRETE OR THE LIKE, TESTING METHOD FOR NON-DESTRUCTIVE STRENGTH TESTING-MACHINE, AND TESTING METHOD FOR NON-DESTRUCTIVE STRENGTH FOR CONCRETE OR THE LIKE例文帳に追加

コンクリートなどの非破壊強度試験機用の可変型テストアンビル、非破壊強度試験機の試験方法及びコンクリートなどの非破壊強度試験方法 - 特許庁

An intermediate value of an upper limit and a lower limit of the delay time by which a correct test data pattern is obtained is set in the delay time of the variable delay elements 134, 144.例文帳に追加

正しい試験データパターンが得られた遅延時間の上限及び下限の中間値を、可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間に設定する。 - 特許庁

When operating a plurality of IC test devices cooperatively, a variable delay circuit 20 is provided between a master clock output circuit of an IC test device to be a master and an external synchronous reception circuit of a slave.例文帳に追加

複数の集積回路試験装置を協調動作させる場合において、マスタとなる集積回路試験装置のマスタクロック出力回路とスレイブにおける外部同期受信回路との間に可変遅延回路２０を設ける。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which accurately controls, in particular, a temperature in a test tank into a test temperature and to provide a compact variable fin area radiator for use in the electronic component testing device.例文帳に追加

本発明は電子部品試験装置に関し、特に試験槽内の温度を精度よく試験温度に制御する電子部品試験装置と電子部品試験装置に使用するコンパクトなフィン面積可変型ラジエーターに関するものである。 - 特許庁

After the material density is updated, the calculation for the stress-strain matrix, the finite element analysis, the sensitivity analysis, the convergence test and update for the design variable are iterated (7).例文帳に追加

前記材料密度を更新した後、応力−歪マトリックスの算出、有限要素解析、感度解析、収束判定、および設計変数の更新を繰り返す（７）。 - 特許庁

To determine a non-defective product by simplifying an operation confirmation to test an analog-to-digital converter, and externally variable changing a comparison accuracy to meet a circumferential condition at inspection.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換器の試験にあたり、動作確認を簡素化し、検査時の周囲条件に合わせて比較精度を外部から可変できるようにし、良品判定を容易にする。 - 特許庁

A strength control signal from the outside and a test switching signal are inputted to an analogue switch 411 set between the variable resistor VR1 and the amplifier 242.例文帳に追加

外部からの強度制御信号および試験切替信号が、可変抵抗器ＶＲ１と増幅器２４２との間に設定されたアナログスイッチ４１１に入力される。 - 特許庁

A stage evaluating part (15) estimates the output error of the variable stage (11A), based on the difference of the digital outputs of an output correcting part (17) when the two capacities are changed-over in the variable stage (11A) in a state where a test signal is given from an input changeover part (14) to the variable stage (11A).例文帳に追加

ステージ評価部（１５）は、入力切り替え部（１４）から可変ステージ（１１Ａ）にテスト信号が与えられた状態で、その可変ステージ（１１Ａ）における二つの容量を切り替えたときの出力補正部（１７）のデジタル出力の差分に基づいてその可変ステージ（１１Ａ）の出力誤差を推定する。 - 特許庁

The simulation support tool comprises: analyzing a ladder program; extracting variables used in the ladder program; retrieving the execution sequence of the input variable out of the extracted variables in the ladder program; and preparing a test input sequence describing a table related to the command of the input variable, a variable name, and a normal input value together in accordance with the execution order.例文帳に追加

ラダープログラムを解析し、ラダープログラムで使用される変数を抽出し、抽出された変数のうちの入力変数について、ラダープログラムにおける実行順を検索し、入力変数のコマンド，変数名，正常な入力値を関連付けたテーブルを、実行順にしたがって記述したテスト入力シーケンスを作成する。 - 特許庁

The variable voltage fuse interpreter determines the states of each of the fuses (namely blown or unblown) corresponding to the margin and unmargin test currents and generates a digital output as a predetermined function of the fuse states with respect to each of the test currents.例文帳に追加

可変電圧ヒューズ解釈器が、余裕及び非余裕試験電流に対応する各々のヒューズの状態（即ち、とんだか、とばないか）を決定し、各々の試験電流に対するヒューズ状態の予定の関数として、ディジタル出力を発生する。 - 特許庁

Before that, the fuse 19 for test is irradiated with a laser beam making the power variable, voltage is supplied from a power source pad 11, and optimum laser power to cut off a fuse is detected by an output signal from a test output pad 15.例文帳に追加

その前に、テスト用ヒューズ１９に対してレーザー光線のパワーを異ならせて照射して、電源パッド１１から電圧を供給し、テスト出力パッド１５からの出力信号によって、ヒューズを切断するために最適なレーザーパワーを検出する。 - 特許庁

A flow chart production part 20 analyzes a test target source code, and a state analysis part 40 extracts state transition information from an analysis result of the source code on the basis of a state variable supplied through a state variable editing part 60.例文帳に追加

フローチャート作成部２０が試験対象ソースコードを解析し、状態解析部４０は、状態変数編集部６０を介して供給される状態変数に基づいて、ソースコードの解析結果から状態遷移情報を抽出する。 - 特許庁

The failure inspection apparatus comprises a transmission part for sending the test patterns to the integrated circuit with a specified clock frequency, a voltage application part having a gain variable amplifier and applying inspection voltage to the integrated circuit, a control part for controlling the gain of the gain variable amplifier, and a receiving part for accepting the result processed by the integrated circuit according to the test patterns.例文帳に追加

故障検査装置は、一定のクロック周波数でテストパターンを集積回路に送る送信部と、利得可変増幅器を有し、集積回路に検査電圧を印加する電圧印加部と、利得可変増幅器の利得を制御する制御部と、テストパターンに基づいて集積回路で処理された結果を受け取る受信部とを備える。 - 特許庁

A prescribed test signal is applied to a measuring electrode, and whether the measuring electrode offers a correct measured value or not based on the response signal (actual value) to the prescribed test signal and/or based on the reference variable (actual value) obtained from the response signal to the prescribed test signal.例文帳に追加

測定電極に対して所定のテスト信号を与え、前記所定のテスト信号に対する応答信号（実際値）に基づいて、および/または前記所定のテスト信号に対する応答信号から求められた基準変量（実際値）に基づいて、前記測定電極が正確な測定値を提供しているか否かを決定するようにする。 - 特許庁

To make it possible to obtain a high pulse repetition rate, improved pointing stability, and variable pulse repetition rate as an option for various users, including non-destructive laser ultrasonic test of the material.例文帳に追加

材料の非破壊レーザ超音波検査を含めて、高いパルス繰返し数と、改良されたポインティグ安定度と、多様なユーザに対するオプションで可変パルス繰返し数とが得られる。 - 特許庁

To provide a fuse clip with a variable resistor, and a testing system and a testing method capable of attaining high work efficiency in an alarm output test or the like by a power company.例文帳に追加

電力会社などにおける警報出力試験などの作業の効率化を図ることができる可変抵抗付きヒューズクリップ，それを用いた試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic switch with a heat ray sensor, capable of arbitrarily and precisely setting an operation time of a timer circuit, without using a variable resistor and facilitating a test work.例文帳に追加

可変抵抗器を用いることなくタイマ回路の動作時間を任意にかつ精度よく設定可能とするとともに試験作業を容易にする熱線センサ付き自動スイッチを提供する。 - 特許庁

The system 110 further includes a processing unit 124 configured to determine the variable distance d 116 based on a voltage difference between the tip of the probe 112 and the test object 114.例文帳に追加

システム（１１０）はさらに、プローブ（１１２）の先端と検査対象（１１４）の間の電圧差に基づき可変距離ｄ（１１６）を決定するように構成された処理ユニット（１２４）を含む。 - 特許庁

A crystal vibration test performed before package mounting reduces a frequency adjustment width to be performed after mounting, enabling reducing a parameter change of the crystal vibrator and reducing the dispersion of a variable characteristic.例文帳に追加

パッケージ実装前に行う水晶振動子テストは実装後に行う周波数調整幅を減らすので水晶振動子のパラメータ変化を少なくし、可変特性のばらつきを減らす。 - 特許庁

The testing circuit 14 includes a variable ring oscillator, performs a series of parameter tests at a nominal operation frequency of the integrated circuit, and transmitting a test result to the testing unit 12 for analysis.例文帳に追加

試験回路１４は、可変リング発振器を含み、集積回路の公称動作周波数での一連のパラメータ試験を実行し、試験結果を分析のために試験ユニット１２に送信する。 - 特許庁

Thus, the power element can be independently subjected to vacuum test, resulting in the high yields of the finally assembled control valve for the variable displacement compressor.例文帳に追加

これにより、パワーエレメント単独で真空試験を行うことができるため、最終的に組み立てられた可変容量圧縮機用制御弁の歩留りを向上させることができる。 - 特許庁

A test data pattern is transmitted from the electronic circuit cards 130, 140 to the electronic circuit card 150 at the next stage while changing delay time of the variable delay elements 134, 144 in step to judge propriety of the test data pattern returned from the electronic circuit card 150 at the next stage via a loop return path.例文帳に追加

可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間を段階的に変えながら、試験データパターンを電子回路カード１３０、１４０から次段の電子回路カード１５０に送信し、次段の電子回路カード１５０からループリターンパスを経由して返信された試験データパターンの正否を判定する。 - 特許庁

To provide a frequency variable fatigue testing device using an electrically operated vibration generator targeting a mold material of a ground coil for a superconducting magnetically levitated railroad, and making a fatigue test by applying a bend fatigue load to a material test piece by an electrically operated vibration generator as a drive source.例文帳に追加

超電導磁気浮上式鉄道用地上コイルのモールド材を対象に、駆動源として動電型振動発生装置を用いて材料試験片に曲げ疲労負荷を与えて疲労試験を実施する、動電型振動発生装置を用いた周波数可変疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

When the semiconductor device 30 is tested, a calibration data acquiring circuit 18 measures the jitter width of each test signal, controls the delay amount of each comparison variable delay circuit 12 and regulates the skew such that the position at a specific ratio of the jitter width overlaps among the test signals.例文帳に追加

半導体装置３０の試験に際して、キャリブレーションデータ取得回路１８は、各テスト信号のジッタ幅を測定し、各比較可変遅延回路１２の遅延量を制御して、各テスト信号のジッタ幅の特定比率位置が信号間で重なるようにスキュー調整を行う。 - 特許庁

To provide an area-variable timer display device, employing a timer display method for efficiently arranging the test time, study time of a student at educational facilities, training time of an athlete, or the like.例文帳に追加

受験時間、教育機関での学生の勉強時間、運動選手の訓練時間などを効率的に按配するタイマー表示方法を採用した面積変動式タイマー表示装置を提供する。 - 特許庁

Continuous light outputted from a variable wavelength light source 120 is randomly polarized by a polarization scrambler 121 and converted into pulsed light by an AO switch 122 for output as test light.例文帳に追加

波長可変光源１２０から出力された連続光は、偏波スクランブラ１２１により偏波状態がランダムとされ、ＡＯスイッチ１２２によりパルス光とされて試験光として出力される。 - 特許庁

Each chip has a variable resistance element CC formed simultaneously by a process common to the memory cell between interconnected test pads TT and TB of a first pad for memory location detection.例文帳に追加

各チップは、相互に接続される第１のメモリ位置検知用パッドのテストパッドＴＴ，ＴＢ間に、それぞれ、メモリセルと共通のプロセスにより同時に形成される可変抵抗素子ＣＣを有する。 - 特許庁

An attenuation adjustment unit 530 adjusts the attenuation amount of the variable attenuator 310 such that the reception sensitivity for the test signal becomes the normal sensitivity when the reception circuit 330 performs reception processing of the combined signal.例文帳に追加

減衰調整部530は、受信回路330が合成信号を受信処理したときに前記テスト信号に対する受信感度が規定感度になるように可変減衰器310の減衰量を調整する。 - 特許庁

The dielectric loss tangent tanδ' from which an influence of a leakage current component I2 is removed by a CPU 25 is calculated based on the output current from the current adder 16 when the direct-current component in the output current is adjusted to be zero by the variable resistor 14 and on the test current by the test power supply 2.例文帳に追加

そして、可変抵抗器１４によって出力電流のうちの直流成分が零になるようにされたときの電流加算器１６の出力電流と、試験電源２による試験電圧とに基づき、ＣＰＵ２５により漏れ電流成分Ｉ２の影響を除いた誘電正接ｔａｎδ’が算出される。 - 特許庁

The driver pin block 11 includes a variable delay circuit 11b for delaying a driver signal A1 output from a driver signal generation circuit 11a as long as a prescribed time in a prescribed time range, and a driving circuit 11c for generating a test signal from the driver signal through the variable delay circuit 11b.例文帳に追加

ドライバピンブロック１１は、ドライバ信号発生回路１１ａから出力されるドライバ信号Ａ１を所定の時間範囲内における所定時間だけ遅延させる可変遅延回路１１ｂと、可変遅延回路１１ｂを介したドライバ信号から試験信号を生成する駆動回路１１ｃとを備える。 - 特許庁

An explanation variable for maximizing a degree of freedom double regulated contribution rate is determined among the candidate parameters dominating the lifetime, a second lifetime estimation formula is determined by performing multiple regression analysis again using that explanation variable and then the life time of life time test using bearing steel is estimated according to the second lifetime estimation formula.例文帳に追加

前記寿命支配パラメータ候補の中から自由度２重調整済み寄与率が最大になる説明変数を求めるとともに、この説明変数を用いて再度重回帰分析を行って第２の寿命推定式を求め、第２の寿命推定式により軸受用鋼を用いた寿命試験の寿命を推定する。 - 特許庁

A flag processor instruction which uses the variable word length memory enables a low-cost efficient process and a flag memory, a status test flag, and a latched condition state can directly be referred to.例文帳に追加

可変ワード長メモリを利用するフラグプロセッサ命令セットにより、低コストで効率的な論理処理が可能となり、フラグメモリ、ステータステストフラグ、およびラッチされた条件状態に対する直接の参照を行うことができる。 - 特許庁

In this case, the test picture is obtained as a concentric circle-shaped pattern whose variable density is repeated like a sine wave so that a repeating cycle can be made longer and a luminance difference (amplitude) can be made larger as a distance from the center is made larger.例文帳に追加

ここで、当該試験画像は、中心からの距離が大きくなるに従って繰り返し周期が長く、輝度差（振幅）が大きくなるように正弦波状に濃淡を繰り返す同心円状のパタンとなっている。 - 特許庁

A VDP 109 executes an alpha test or alpha blending using alpha values set in pixels for image data, and a decoration symbol images are gradually and stepwisely changed during variable display.例文帳に追加

また、ＶＤＰ１０９が、画像データの各画素に設定されたアルファ値を用いてアルファテスト処理やアルファ合成処理を実行し、可変表示中に飾り図柄の画像をグラデーションをつけて段階的に変化させる。 - 特許庁