「test variable」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

A variable resistor (37) is turned into a low resistance state, during normal operation to reduce a signal delay and is switched to a high resistance state during test operation, since logic defects are generated by a leakage current.例文帳に追加

可変抵抗手段（３７）は、通常動作時には、信号遅延の低減を図るために低抵抗状態にされ、テスト動作時には、リーク電流に起因する論理不良を生じさせるために高抵抗状態に切り換えられる。 - 特許庁

The explanation variable maximizing a contribution rate subjected to double adjustment in terms of the degree of freedom is obtained from the life dominant parameter candidates, a final life estimation formula is obtained by executing the multiple linear regression analysis again by using the explanation variable, and the service life of the life test using the bearing steels is estimated by the final life estimation formula.例文帳に追加

前記寿命支配パラメータ候補の中から自由度２重調整済み寄与率が最大になる説明変数を求めるとともに、この説明変数を用いて再度重回帰分析を行って最終寿命推定式を求め、最終寿命推定式により軸受用鋼を用いた寿命試験の寿命を推定する。 - 特許庁

In the game machine wherein the winning probability of a variable display device for normal patterns is improved accompanying the probability variable state, the variation time is shortened, the opening time of a normal electric accessory is extended and the number of times of the opening is increased, a connector for a test capable of outputting signals to the outside of the game machine is attached to a game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

A test parameter estimation method relating to the present invention has a step to normalize a capability value parameter θ_i, and a step to move a value of θ_i on a variable axis of distribution function while maintaining a magnitude relation so that a distribution of θ_i gets close to a normal distribution.例文帳に追加

本発明に係る試験パラメータ推定方法では、能力値パラメータθ_ｉを正規化することに加え、θ_ｉの分布が正規分布に近づくように、大小関係を維持しつつ、θ_ｉの値を分布関数の変数軸上で移動させる。 - 特許庁

The semiconductor random access memory having a complex shape is provided with a ROM device storing an all latent row data pattern to be input to a memory cell array during test procedure, a variable step address generator, a comparing device, and a control device.例文帳に追加

複雑な形状を持つ半導体ランダムアクセス・メモリが、試験手順の間に記憶セル・アレイに入力すべき悉くの潜在的な行データ・パターンを記憶するＲＯＭ装置、可変ステップ・アドレス発生器、比較装置及び制御装置を備えている。 - 特許庁

When the measured temperature is a regulated value or more, a temperature control means (variable resistor 8) is controlled, and the air quantity of a temperature control means (cooling fan 7) is adjusted to cool the object to the regulated value, whereby a high-temperature test is performed.例文帳に追加

この測定温度が規定値以上になった場合には、温度制御手段（可変抵抗器８）を制御し、温度制御手段（冷却ファン７）の風量を調整して被試験物を規定値まで下げることにより、高温試験を行う。 - 特許庁

To provide a delay control circuit which delays a strobe signal by using a variable delay circuit including a plurality of unit delay elements and which performs an operation test of all the unit delay elements in a short time, not depending on the nonuniformity in the unit delay time of each chip.例文帳に追加

複数の単位遅延素子から構成される可変遅延回路を用いてストローブ信号を遅延させるものであって、チップ毎の単位遅延時間のばらつきによらず、全単位遅延素子の動作テストを短時間で行うことができる遅延制御回路の提供。 - 特許庁

In a capacity test under partial load, a resistance value from a variable resistor 33 having specific correlative relationship segmentalized by 1/10°C or more between the temperature and the resistance value, is used for the temperature sensor 24 to artificially adjust the temperature difference as the control index.例文帳に追加

部分負荷での能力試験に際し、温度センサ２４に代えて、温度と抵抗値との間に１／１０℃以上に細分化した特定の相関関係を持たせた可変抵抗器３３からの抵抗値を用い、制御指標である温度差を人為的に調整する。 - 特許庁

Choose the appropriate log level for the sun-bpel-engine from the drop down list.If logging is defined for a process activity, and the log level specified for it corresponds to the log level set for the BPEL SE, after you perform a test run of the process, the selected variable value will be written to the server log file.例文帳に追加

ドロップダウンリストから、sun-bpel-engine に適切なログレベルを選択します。 プロセスアクティビティーにログが定義されていて、指定されているログレベルが、BPEL SE に設定されているログレベルに対応している場合、プロセスのテスト実行を行なったあと、選択した変数の値がサーバーログファイルに記録されます。 - NetBeans

This evaluation microprocessor constituted by a variable logic device 36 has a test interface unit 80 for connecting a first user logic 25 to the CPU bus 20 coupled with a processor core, and connecting them to an external evaluation controller 7, and user interface units 23, 24 capable of connecting the CPU bus to a target system.例文帳に追加

可変論理デバイス（３６）で構成される評価用マイクロプロセッサは、プロセッサコアが結合するＣＰＵバス（２０）に第１ユーザロジック（２５）を接続し、それらを外部の評価用コントローラ（７）に接続するテストインタフェースユニット（８０）と、ＣＰＵバスをターゲットシステムへ接続可能にするユーザインタフェースユニット（２３，２４）とを有する。 - 特許庁

The chip address discrimination circuits 150 detects location of the memory chip of each layer by comparing the voltage which appears in the test pad TT respectively with a known comparison signal from a memory location detection circuit 156 in a comparator 154 according to the order of layering the chips by increasing resistance of a variable resistance element CC of each chip.例文帳に追加

チップアドレス識別回路１５０は、各チップの可変抵抗素子ＣＣを高抵抗化することにより、チップの積層順に応じて、テストパッドＴＴにそれぞれ現れる電圧を、比較器１５４にて、メモリ位置検知回路１５６からの既知の比較信号と比較することで、各層のメモリチップの位置を検知する。 - 特許庁

The arithmetic unit 16 selects the optical conditions of a focusing lens 8, variable multi-aperture 10, beam deflecting electrode 11, and objective lens 12 based on data inputted in the input unit 17, and calculates automatically processing scanning conditions of the focusing ion beam 4 on the test piece 2 corresponding to the optical conditions selected.例文帳に追加

演算装置１６は、入力装置１７に入力されたデータに基づいて、集束レンズ８、可変マルチアパーチャ１０、ビーム偏向電極１１及び対物レンズ１２の光学条件を選択し、かつ選択された光学条件に応じた集束イオンビーム４の試料２上での加工走査条件を自動的に算出する。 - 特許庁

A plurality of candidate parameters dominating the lifetime are selected from the content of impurities or the size of a nonmetallic inclusion contained in bearing steel and a first lifetime estimation formula is derived by performing multiple regression analysis using all candidate parameters dominating the lifetime as explanation variables and an objective variable as an actual lifetime in lifetime test.例文帳に追加

軸受用鋼に含まれる不純物の含有量や非金属介在物の大きさから複数の寿命支配パラメータ候補を選択し、全ての寿命支配パラメータ候補を説明変数とし、目的変数を寿命試験における実際の寿命として重回帰分析を行って第１の寿命推定式を導出する。 - 特許庁

A preliminary life estimation formula is derived by executing a multiple linear regression analysis by selecting plural life dominant parameter candidates from contents of impurities contained in the bearing steels and the size of a nonmetal intermediate to use all the life dominant parameter candidates as explanation variables and by using an objective variable as an actual service life in a life test.例文帳に追加

軸受用鋼に含まれる不純物の含有量や非金属介在物の大きさから複数の寿命支配パラメータ候補を選択し、全ての寿命支配パラメータ候補を説明変数とし、目的変数を寿命試験における実際の寿命として重回帰分析を行って予備寿命推定式を導出する。 - 特許庁

The first roller 1010 and the second roller 1020 have groove parts 1030 simulated with a recess provided between a neck part of an element and a saddle face thereof, and a position of a fatigue start point in the fatigue test for a ring single body is conformed with a fatigue start position of the ring assembled in a continuously variable transmission, by the groove parts 1030.例文帳に追加

第１ローラ１０１０および第２ローラ１０２０は、エレメントの首部とサドル面との間に設けられた窪みを模擬した溝部１０３０を有し、この溝部１０３０により、リング単体の疲労試験における疲労起点の位置と、無段変速機に組み込まれたリングの疲労起点の位置とが一致する。 - 特許庁

When detecting an analyte (esp. a tumor marker) in a sample immunologically, the method of this invention is to add to a test preparation a substance including a peptide sequence from the framework region of variable domain of a detecting antibody or an antibody for immunothrapy or scintigraphy in order to reduce interference.例文帳に追加

本発明は、サンプル中のアナライト、特に腫瘍マーカーの検出のための免疫学的方法に関し、該方法においては、干渉を減少させるために検出される抗体または免疫療法もしくはシンチグラフィーのために使用される抗体の可変ドメインのフレームワーク領域に由来するペプチド配列を含む物質を試験調製物に加える。 - 特許庁

In this structure, an alternating voltage is impressed to the Schering bridge circuit D from an alternating voltage applying device 9, and a potential difference between the conjunctive points a, b is minimized by regulating the first and second variable resistors 2, 10, and then, deterioration of insulation is diagnosed by detecting a harmonic constituent (imbalance constituent) from the test capacitor 1.例文帳に追加

以上の構成のもとで交流課電圧装置９よりシエーリングブリッジ回路Ｄに交流電圧を印加し、第１および第２の可変抵抗２と１０を調整することによって中点ａ、ｂ間の電位差を最小にし、供試コンデンサ１からの高調波成分（不平衡成分）を検出することにより絶縁劣化診断を行う。 - 特許庁

The test system gradually increases/decreases attenuation of a variable attenuator 43 corresponding to an antenna 10 in each sector 1 as time elapse so as to gradually select the sectors and uses a device 30 equivalent to a mobile communication unit without using an actual mobile communication unit to confirm the normality of a wireless system in a way close to an actual hand-over.例文帳に追加

各セクタ１のアンテナ１０に対応する可変減衰器４３の減衰量を、時間とともに漸次に増大または減少させることにより、セクタ間を漸次に切り替え、実際の移動通信機を使用せずに、移動通信機相当装置３０を使用して、実際のハンドオーバに近い形で無線系の正常性の確認を行う。 - 特許庁

A high frequency signal switching circuit 17 at the inspection of reception switches connection to connect an input terminal of a gain variable high frequency amplifier 2 and an output terminal of a local oscillator VCO 1, and the local oscillator VCO 1 provided in advance to provide a local signal to mixer circuits 7, 8 is selected as a test signal source.例文帳に追加

受信の検査の時に、高周波信号切り替え回路１７はゲイン可変高周波アンプ２の入力端子と局部発振器ＶＣＯ１の出力端子とを接続するように接続の切り替えを行い、ミキサ回路７・８にローカル信号を与えるために予め設けられた局部発振器ＶＣＯ１を、テスト信号源として選択する。 - 特許庁

The device 1 is also provided with a current adder 16 for adding together as an input current a current ix flowing in the measuring object 10 and an antiphase current I1 having an opposite phase to the test voltage, and is equipped with a variable resistor 14 capable of adjusting the input current from the current adder 16 so that a direct-current component in an output current becomes zero.例文帳に追加

さらに、被測定対象物１０に流れる電流ｉｘと、試験電圧とは逆相の逆相電流Ｉ１とを入力電流として、これらを加算する電流加算器１６が設けられ、この出力電流の直流成分が零になるように電流加算器１６の入力電流を調整可能な可変抵抗器１４が備えられている。 - 特許庁