「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a system microscope capable of detecting specification information related to a unit constituting the system microscope based on a picked-up image.例文帳に追加

撮像した画像に基づいて、システム顕微鏡を構成するユニットに関する諸元情報を検出することができるシステム顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The confocal microscope inputs an image of a specimen into a video-rate camera 1 through an objective lens 5, an actuator 4, a microscope 3, and a confocal scanner 2.例文帳に追加

共焦点顕微鏡は、対物レンズ５、アクチュエータ４、顕微鏡３、及び、共焦点スキャナ２を経由して、試料からの像をビデオレートカメラ１に入力する。 - 特許庁

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE例文帳に追加

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of attenuating vibrations of an upper board of an inertial-drive stage and of observing atomic images of the scanning probe microscope images.例文帳に追加

慣性駆動ステージの上盤の振動を減衰させ、走査型プローブ顕微鏡像の原子像観察が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a phase plate and a method of manufacturing the same, and a phase difference electron microscope capable of acquiring a stable, high-resolution phase difference electron microscope image.例文帳に追加

安定で、かつ高分解能の位相差電子顕微鏡像の取得が可能な位相板及びその製造方法、並びに位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A stage 12 is provided in a microscope chamber 7 and supports the sample 11.例文帳に追加

顕微鏡室７には前記試料１１を支持するステージ１２が設けられている。 - 特許庁

DEVICE FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR OBSERVING THREE-DIMENSIONAL STRUCTURE, ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD USING THE DEVICE例文帳に追加

３次元構造観察用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法 - 特許庁

To provide an image-forming lens for a microscope the distortions of which are corrected and which are miniaturized.例文帳に追加

ディストーションを補正し、且つ、小型化された顕微鏡結像レンズを提供する。 - 特許庁

First, an objective lens 13 of a low magnification is placed in the optical path of a microscope.例文帳に追加

最初、低倍率の対物レンズ１３が顕微鏡の光路上に配置される。 - 特許庁

An image structure that is image-formed out of the auxiliary structure is detected using a microscope.例文帳に追加

補助構造の結像された像構造は、顕微鏡を用いて検出される。 - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE, MICROSCOPE SYSTEM PROVIDED WITH THE IMAGE DISPLAY DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

画像表示装置、画像表示装置を備えた顕微鏡システムおよび記録媒体 - 特許庁

ORGANISM OBSERVATION CONTAINER, BIOLOGICAL MICROSCOPE USING THE SAME, AND ORGANISM OBSERVATION APPARATUS例文帳に追加

生物観察容器並びにこれを用いる生物顕微鏡及び生物観察装置 - 特許庁

To provide a total focus reflection type optical microscope capable of focusing on all the surface at the time of observing a super thin film sample on a substrate through a reflection type microscope.例文帳に追加

基板上の超薄膜試料を反射型顕微鏡で観察する際に、全面に焦点が合うような全焦点反射型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

FOCUS DETECTOR AND OPTICAL MICROSCOPE HAVING THE SAME OR OPTICAL INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

焦点検出装置及びそれを備えた光学顕微鏡又は光学検査装置 - 特許庁

To provide a microscope image processing method which enables the removal of the noise component contained in an observation image without using artificial operation, and to provide a microscope image processor.例文帳に追加

観察像に含まれるノイズ成分を人為的な操作を用いずに除去できる顕微鏡画像処理方法及び顕微鏡画像処理装置を提供する。 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE, ITS POSITIONING METHOD, PROGRAM FOR THE SAME, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡、その位置合わせ方法、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁

To provide an electron microscope which is easy in aberration correction even at the time of high magnification observation.例文帳に追加

高倍率観察でも収差補正が容易な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a microscope by which a distinct sample image can be obtained in a vertical dark-field microscope with a simple mechanism and whose operation in the case of switching the observing method is easy.例文帳に追加

簡単な機構で、落射暗視野検鏡において鮮明な試料像を得ることができるとともに、観察方法を切り換える際の操作が簡易な顕微鏡を得る。 - 特許庁

A system comprising the scanning microscope and the additional unit is used for generating a special contrast, and particularly used for generating a dark-field contrast in a transmission type microscope.例文帳に追加

走査顕微鏡と追加ユニットからなるシステムは、特別なコントラストを生成するのに用いられ、特に透過式に暗視野コントラストを生成するのに用いられる。 - 特許庁

The present invention provides a manufacturing method for an optical fiber probe 1 for a near-field optical microscope.例文帳に追加

近接場光学顕微鏡用の光ファイバプローブ（１）の製造方法である。 - 特許庁

The microscope 100 includes an illuminator for lighting a specimen 111.例文帳に追加

顕微鏡１００は、標本１１１を照明するための照明装置を含んでいる。 - 特許庁

To provide a method for eliminating color unevenness of an optical microscope photograph enabling high image analysis by removing the various color unevenness caused on the optical microscope photograph.例文帳に追加

光学顕微鏡写真に発生する種々の色むらを除去し、高度な画像解析を可能とする光学顕微鏡写真の色むら除去方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate switching of observation state, and thereby improve the operability of a microscope.例文帳に追加

観察状態の切り替えを容易にして顕微鏡の操作性を向上させる。 - 特許庁

In an electron microscope provided with electron beam bi-prisms, a microprobe 15 to shield an electron beam is installed between an electron gun 1 of the microscope and a holder to hold the sample 11.例文帳に追加

電子線バイプリズムを備えた電子顕微鏡において、該顕微鏡の電子銃１と試料１１を保持するホルダの間に電子線を遮蔽するマイクロプローブ１５を設ける。 - 特許庁

To provide a confocal scanning microscope in which the combination scanning of minute luminescent spots and pinholes of the confocal scanning microscope is made possible by a digital micro-mirror device.例文帳に追加

共焦点走査顕微鏡の微小輝点とピンホールの組み合わせ走査をデジタルマイクロミラー装置により可能にした共焦点走査顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide an electron microscope, having a structure of a frame casing improved in vibrations to a lens-barrel part with regard to the floor fluctuation of an installation room of the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の設置室の床変動に対して、鏡筒部への振動を改善した架台筐体の構造を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

TWO-DIMENSIONAL TEST PATTERN USED FOR COLOR CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM AND ADJUSTMENT OF THE SYSTEM例文帳に追加

カラー共焦点顕微鏡システムとその調整に使用される二次元テストパターン - 特許庁

The electron microscope main body part 1 composed of an electronic gun part 2 and a microscope tube 3 is placed on a pedestal cabinet 24, and its surrounding is sealed and surrounded by the cover part 6.例文帳に追加

電子銃部２や鏡筒３からなる電子顕微鏡本体部１は架台筐体２４上に載置されており、その周りがカバー部６で密閉上に囲まれている。 - 特許庁

DYEING AGENT FOR ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION AND DYEING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微鏡観察用染色剤および該染色剤を用いた染色方法 - 特許庁

CONTROL DEVICE OF PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE HAVING THE CONTROL DEVICE例文帳に追加

プローブの制御装置、該プローブの制御装置を有する近接場光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a sample stage for an electron microscope, capable of setting an eucentric position around the visual field of the electron microscope at all times during a large inclination of a sample.例文帳に追加

試料の大傾斜時にユーセントリック位置を電子顕微鏡の視野中心に常に設定できる電子顕微鏡用試料ステージを供することを目的とする。 - 特許庁

OBJECTIVE LENS CAPABLE OF CHANGING FOCUS POSITION AND AUTOMATIC FOCUSING MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

焦点位置を変化可能な対物レンズ、及びそれを用いた自動合焦顕微鏡 - 特許庁

To evaluate the performance of a scanning electron microscope without using visual sensory evaluation to reduce aging effect and a performance difference between individuals of the scanning electron microscope.例文帳に追加

目視官能評価によらない走査形電子顕微鏡の性能評価を行い、走査形電子顕微鏡の経時変化や個体間の性能差を低減する。 - 特許庁

To allow a user to recognize the female ovulation date using a simple microscope of high magnification.例文帳に追加

高倍率の単式顕微鏡を使って女性の排卵日がわかるようにする。 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR SWITCHING OBJECTIVE LENS USAGE OF THE SAME例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法 - 特許庁

The microscopic observation device 100 has a laser scanning confocal microscope 110 and four optical scanning systems 130 for feeding exciting beams to the confocal microscope 110.例文帳に追加

顕微鏡観察装置１００は、レーザー走査型共焦点顕微鏡１１０と、これに励起光のビームを供給する四系統の光走査系１３０を有している。 - 特許庁

To realize an electron microscope having a simple structure and being low cost, where the electron microscope can provide observation of a three-dimensional image of the ruggedness on a sample surface.例文帳に追加

試料表面の凸凹の立体的な画像を観察することができる電子顕微鏡において、構成が簡単で低コストで得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a confocal microscope microscope which actualizes the expansion of a measurement range and/or the improvement of resolution without altering a conventional display system.例文帳に追加

従来の表示システムを変えることなく、測定範囲の拡大及び分解能の向上の両方又は一方を実現することが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

CONTROL DEVICE AND CONTROL METHOD FOR ELECTRON GUN USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE例文帳に追加

走査電子顕微鏡等に用いる電子銃の制御装置及び制御方法 - 特許庁

Moreover, changes of a shape at the time can be observed by an electronic microscope.例文帳に追加

また、その時の形状変化を電子顕微鏡により観察することができる。 - 特許庁

To provide a digital camera system for a microscope with which the optimum measurement is performed, even when the magnification of a microscope is changed, achieving good usability and reducing operation mistakes.例文帳に追加

本発明では、顕微鏡の倍率が変更されても最適な計測が可能で、使い勝手良く、操作ミスを低減した顕微鏡用デジタルカメラシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope or the like in which image observation conditions to obtain an optimum picture quality can be set easily even if a user is inexperienced in operation of the electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡の操作に不慣れなユーザであっても最適な画質を得るための像観察条件を容易に設定することができる電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁

The automatic focusing microscope adopts a pupil partitioning system as an automatic focusing system.例文帳に追加

自動合焦顕微鏡は、自動合焦方式として瞳分割方式を採用する。 - 特許庁

the removal of a tissue sample with a wide needle for examination under a microscope. 例文帳に追加

顕微鏡での検査のために太い針を用いて組織のサンプルを採取すること。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

the removal of tissue or fluid with a thin needle for examination under a microscope. 例文帳に追加

顕微鏡での検査のために細い針を用いて組織のサンプルを採取すること。 - PDQ®がん用語辞書 英語版