「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(90ページ目) - Weblio英語例文検索

The scanning electron microscope includes: a pattern existence determining part 1012 that determines the existence of a pattern with respect to an individual frame image and sub-frame image constituting a synthesis image for inspection/length-measurement; a magnification correction part 1014; a distortion correction part 1018; an image synthesis part 1015; and a storage unit 1111 that compresses and stores those images therein in a video form.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、パターンの検査・測長のための合成画像を構成する個々のフレーム画像やサブフレーム画像に対してパターンの有無を判定するパターン有無判定部１０１２や倍率補正部１０１４、歪曲補正部１０１８、画像合成部１０１５及びそれら画像を動画形式で圧縮保存する記憶部１１１１を備える。 - 特許庁

To provide an optical radiation pressure measuring device capable of easily and accurately measuring an optical radiation pressure, a resonance frequency regulating method capable of easily adjusting a resonance frequency of a resonance body, an aperture diameter inspection device evaluating a minute aperture of the resonance body, and a near field microscope provided with the aperture diameter inspection device.例文帳に追加

本発明の目的は光放射圧を簡便かつ正確に測定可能な光放射圧測定装置、共振体の共振周波数を容易に調整可能な共振周波数調整方法、共振体の微小開口を評価する開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

On a fixture 1 for verifying mounting accuracy that is mounted at a region on a stage 800 of a mounting device where a circuit board is mounted, positions of mounting reference points A and B provided on the surface for mounting parts B1 and B2 under the mounted state, and positions of mounting position verifying points P1 and P2 are recognized with an electronic microscope.例文帳に追加

実装装置のステージ８００上の回路基板が載置される部位に載置した実装精度確認用冶具１上に、実装した状態の部品Ｂ１，Ｂ２の搭載面上に設けた実装基準ポイントＡ、Ｂとの位置と実装精度確認用冶具１の実装位置確認ポイントＰ１、Ｐ２の位置とを電子顕微鏡２により認識する。 - 特許庁

In a method that an image is formed by utilizing a secondary electron amplification by residual gas around a sample in a low vacuum scanning electron microscope(SEM) and an absorption current, the observation with high resolution and good image quality is enabled by an electric field in which an electrode acts with the comparatively reduced number of parts and a design taking scattering of a first electron beam into consideration.例文帳に追加

低真空SEMにおける試料周辺の残留ガス分子による二次電子増幅法と吸収電流を利用して画像を形成する方式に於いて、比較的少ない部品数で電極が作用する電界や１次電子ビームの散乱を考慮した設計によって、低真空における高分解能・良好な像質での観察を可能とする。 - 特許庁

A slit plate which is mounted on an optical irradiation device of an optical microscope and is used for irradiation with reverse slit light is constituted of an outer peripheral section having an opened central part and a light shielding section which is fixed to or is suspended from the outer peripheral section through a center or a vicinity of an opened part located inside the outer peripheral section.例文帳に追加

スリット板が、光学顕微鏡の光照射デバイス上に載置して逆スリット光を照射するためのスリット板であって、中央部が開口された外周縁部分と、該外周縁部分の内側にある開口部の中心またはその近傍を通って前記外周縁部分に固定または懸架された遮光部分とから構成されている。 - 特許庁

In a method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor obtained by sequentially stacking at least an intermediate layer, a charge generating layer and a charge transport layer on a conductive support, the intermediate layer contains a thermoplastic resin and a microscopic ten-point average roughness obtained by shape observation through an atomic force microscope is ≤3.2 μm.例文帳に追加

導電性支持体上に、少なくとも中間層、電荷発生層、電荷輸送層が順次積層されて成る電子写真用感光体の製造方法において、前記中間層が熱可塑性樹脂を含有し、且つ、原子間力顕微鏡による形態観察をして得られた微視的な十点平均粗さが３．２ｎｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

In the easily lubricating polyamide laminate film comprising a film layer made of a binder resin and provided on at least one side surface of a polyester film, a mean value of a roughness according to an AFM(atomic force microscope) on an outer surface of the film layer is 3 to 20 nm and specks of roughness are 5 to 70%.例文帳に追加

ポリエステルフィルムの少なくとも片面に、バインダー樹脂からなる皮膜層を設けた積層フィルムであって、皮膜層の外表面のＡＦＭ（原子間力顕微鏡）による粗さの平均値が３〜２０ｎｍで、且つ、粗さの斑が５％以上７０％以下であることを特徴とする易滑性積層フィルムおよびそれを用いた磁気記録媒体。 - 特許庁

An infrared microscope system 1 includes an optical unit 50 that narrows down the infrared light flux supplied from an interference unit 22 of an FT-IR 2 to a smaller diameter in a substantially parallel light, so as to generate a high density infrared light flux having a higher light beam density than the supplied infrared light flux and to introduce it.例文帳に追加

本発明の赤外顕微システム１は、ＦＴ−ＩＲ２の干渉計部２２から供給された赤外光線束を実質的に平行光とした状態で小径に絞ることで、当該赤外光線束の光線密度よりも高い光線密度とされた高密度の赤外光線束を形成して導入する光学ユニット５０を備えている。 - 特許庁

To provide a apparatus and a program for medical image generation which allows editing of animation such as extraction of a still image which has the highest utilization value for a medical doctor and other persons making medical practices from the animation photographed by a medical photographing apparatus such as a slit lamp microscope (slit lamp) and an endoscope used at a medical site.例文帳に追加

医療現場で利用される細隙灯顕微鏡（スリットランプ）や内視鏡等の医療用撮影装置で撮影された動画から、医師等の医療行為を行う者にとって、最も利用価値の高い静止画を抽出する等の動画の編集を行うことを可能にする医療画像作成装置及び医療画像作成プログラムの提供。 - 特許庁

To provide an afocal zoom lens for a microscope, which has an overall length reduced to simultaneously realize a high variable power ratio and improvement of aberration performance in all variable power areas and not only has an exit pupil less varied at a high power end from a low power end but also has the quantity of light like the quantity of peripheral light less reduced to improve systematizability as an optical system.例文帳に追加

全長を抑えて高変倍比化と変倍全域での収差性能を向上とを同時に満たすとともに、低倍端から高倍端での射出瞳の変動及び周辺光量などの光量低下を抑えて、光学系としてのシステム性を向上させることができる顕微鏡用アフォーカルズームレンズを提供する。 - 特許庁

To approach unevenness of sample surface and measure surface state at high resolution by solving such problems as destruction, deformation of a base probe, destruction of a jointed part, caused by distortion and slipping of the CNT probe, which cause problems in observing the sample surface with a scanning probe microscope using a CNT cantilever.例文帳に追加

ＣＮＴカンチレバーを使用した走査型プローブ顕微鏡による試料表面の観察で問題となるＣＮＴの湾曲や滑りに起因するベース探針の破壊、変形および接合部の破壊の問題を解決し、試料表面の凹凸に確実にアプローチして高分解能で表面状態を測定することができるようにする。 - 特許庁

To prevent reattachment of chips produced during modification by removal to a substrate in a step of removing defective portions remaining so as to be different from a state expected by design against a design in a light shielding film Cr, an absorbing film TaN, a phase film MoSi left without being removed in the process and the substrate Qz by using a probe of an atomic force microscope.例文帳に追加

プロセス工程で除去されず残ってしまった遮光膜Ｃｒ、吸収膜ＴａＮ、位相膜ＭｏＳｉ、や基板Ｑｚの設計とは異なり残留した欠陥部分を原子間力顕微鏡の探針を用いて除去する工程において、除去修正時に発生する削り屑の基板への再付着を防止する。 - 特許庁

To provide a microscope in which at least one or more electric drive parts are used, which displays current position information, statuses and error states of the electric drive parts and has the necessary minimum number of inexpensive display parts, operation switches in order to decrease an operation burden to a worker without using expensive liquid crystals, etc.例文帳に追加

少なくとも１つ以上の電動駆動部を用いた顕微鏡において、上記顕微鏡電動駆動部の現在位置情報・ステータス・エラー状態を表示し、高価な液晶などの高価な表示部を用いない安価な表示部と、作業者への操作負担を軽減させるため、必要最小限数の表示部、操作スイッチを備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Average size and/or maximum size of minute thrombi larger than the diameter (7 μm) of capillary vessel, and variation of the number of minute thrombi are measured with an optical method and/or electrical method of a combination of a microscope and a flow-cytometer, using blood plasma obtained from blood of two hours or longer after eating.例文帳に追加

食後２時間以上を経過した血液から得られた血漿を検体として、毛細血管の直径（７μｍ）より大きな微小血栓の平均大きさ，および／または最大大きさ、微小血栓の数の変化を顕微鏡とフローサイトメーターとを組み合わせた光学手法および／または電気学的手法によりリアルタイムで測定する。 - 特許庁

To cancel a shift between a displacement amount of a cantilever generated in two-dimensional scan and a positional displacement amount of a spot of a laser beam, in a scanning type probe microscope using a probe scanning system arranged with a laser beam source between an XY piezo scanner for conducting the two dimensional scanning and a Z piezo scanner for conducting height-directional control to conduct the scanning.例文帳に追加

２次元的な走査を行うＸＹピエゾスキャナと高さ方向の制御を行うためのＺピエゾスキャナとの間にレーザ光源を配置して走査するプローブ走査方式を用いた走査型プローブ顕微鏡において、２次元走査時に生じるカンチレバーの変位量と、レーザ光のスポットの位置の変位量のズレをキャンセルする。 - 特許庁

This surface coated member 5 is furnished with a hard coating layer 4 having a part with at least an under layer 1, a connecting part 3 and an upper layer 2 sequentially and continuously laminated on a surface of a base body, and a tripe type contrast 3a can be observed on the connecting part 3 in a transmission electron microscope photograph for a cross-section of the hard coating layer 4.例文帳に追加

基体の表面に、少なくとも下部層１と、結合部３と、上部層２とを順次続けて積層した部分を有する硬質被覆層４を具備し、硬質被覆層４の断面についての透過型電子顕微鏡写真において、結合部３にストライプ状のコントラスト３ａが観察される表面被覆部材５である。 - 特許庁

The method for fabricating a probe tip for use in the scanning probe microscope includes steps of forming a triangular prism formed with protective films on both sidewalls by patterning a (111) general silicon wafer; etching the silicon wafer to make the triangular prism into a probe tip of triangular pyramid shape; and removing the protective films.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）に用いられる探針ティップを製造する方法において、（１１１）一般シリコンウェーハをパターニングし、両側壁に保護膜が形成されている三角柱を形成する段階と、前記シリコンウェーハをエッチングし、前記三角柱を三角錐状の探針ティップに形成する段階と、前記保護膜を取り除く段階と、を含む探針ティップの製造方法を提供する。 - 特許庁

The polyamide resin composition for vehicle body mechanical parts is composed of (a) 30-60 wt.% polyamide resin, (b) 10-30 wt.% polyester resin and (c) 20-60 wt.% glass fiber wherein the polyamide resin (a) forms a continuous phase and the polyester resin (b) forms a disperse phase in the phase-separated resin structure in the resin composition observed by an electron microscope.例文帳に追加

ポリアミド樹脂（ａ）３０〜６０重量％、ポリエステル樹脂（ｂ）１０〜３０重量％、およびガラス繊維（ｃ）２０〜６０重量％から構成される樹脂組成物であって、該樹脂組成物中に電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造において、ポリアミド樹脂（ａ）が連続相、ポリエステル樹脂（ｂ）が分散相を形成する樹脂相分離構造を有することを特徴とする車体機構部品用ポリアミド樹脂組成物。 - 特許庁

The chart 10 for resolution evaluation used for evaluating the imaging performance of the coherent Raman microscope includes: a substrate 11 optically smooth for illumination light and not emitting fluorescence for illumination light excitation; and a Raman active layer 12 containing a Raman active substance not emitting fluorescence for illumination light excitation by being two-dimensionally formed on the substrate 11 and having oscillation spectrum different from the substrate 11.例文帳に追加

コヒーレント・ラマン顕微鏡の結像性能を評価するのに用いる解像度評価用チャート１０であって、照明光に対して光学的に平滑で、かつ照明光励起に対して蛍光を発光しない基板１１と、基板１１上に二次元的に形成され、基板１１とは異なる振動スペクトルを有し、かつ照明光励起に対して蛍光を発光しないラマン活性物質を含むラマン活性層１２と、を有する。 - 特許庁

The inspection substrate stage 1 and the microscopic inspection stage 7 are made parallel or almost parallel, and the inspection substrate can be supported at the depth of field of the microscope 4 of the microscopic inspection stage 7.例文帳に追加

検査基板を搭載する検査基板ステージ１と、検査基板ステージ１を水平軸で回転自在に支えるステージ台２と、ステージ台２を垂直軸で回転自在に支える基台３と、基台３を水平方向に移動可能にするフレーム９と、フレーム９に設けられた顕微鏡検査ステージ７とを有し、検査基板ステージ１と顕微鏡検査ステージ７とを並行にまたは略並行にして、かつ、顕微鏡検査ステージ７が備える顕微鏡４１の被写界深度に検査基板を支持可能とする。 - 特許庁

A scanning optical microscope comprising means for irradiating a specimen with light, a granular probe for scanning the specimen while keeping a constant distance therefrom, and means for detecting the intensity of proximity field light from the specimen is further provided with means for detecting the position of the granular probe by detecting the proximity field light therefrom.例文帳に追加

本発明の一態様によると、被検体に光を照射する手段と、前記被検体と一定の距離を保ち走査をする粒子状プローブと、前記被検体からの近接場光の強度を検出する手段とを有する走査型光学顕微鏡であり、前記粒子状プローブからの近接場光を検出することにより、前記粒子状プローブの位置を検出するプローブ位置検出手段を設けたことを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。 - 特許庁

The carbon black has ≤0.5% oxygen content, 150-250 ml/100 g DBP absorption measured based on JIS K 6217, 0.5-0.8 μm mode diameter in a size distribution curve drawn by using structure lengths measured by a transmission electron microscope, and ≥1 μm half width thereof.例文帳に追加

酸素含有量が０．５％以下、ＪＩＳ Ｋ ６２１７によるＤＢＰ吸収量が１５０〜２５０ｍｌ／１００ｇ、透過型電子顕微鏡によって測定されたストラクチャー長さを用いて描かれた粒度分布曲線の最大頻度径が０．５〜０．８μｍで、その半値幅が１μｍ以上であることを特徴とするカーボンブラック。 - 特許庁

To separate a constituent that depends on recess and projection, material quality, and the like from obtained light information by using multiple- azimuth simultaneous detection condensing equipment for mounting a plurality of optical waveguides or photo detectors in a condensing system used for a scanning type proximity field microscope.例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡に用いる光集光系において、複数の光導波路または光検出器を搭載できる多方位同時検出光集光器を使う事で、得られる光情報の中から、これまで不可能であった、凹凸、材質などに依存した成分を分離する事が可能にする。 - 特許庁

The biaxially stretched resin film is characterized in that: it is composed of a layer containing a polyethylene terephthalate resin (A) and a layer containing a syndiotactic polystyrene resin (B), which are laminated alternately in total of five or more layers; and absolute value of retardation measured by polarization microscope with Berec compensator is 500 nm or less.例文帳に追加

ポリエチレンテレフタレート系樹脂（Ａ）を含む層とシンジオタクチックポリスチレン系樹脂（Ｂ）を含む層が交互に合わせて５層以上積層されており、ベレック型コンペンセーターを用いた偏光顕微鏡により測定されるレターデーションの絶対値が５００ｎｍ以下であることを特徴とする二軸延伸樹脂フィルム。 - 特許庁

After a polishing process ends, a top surface of the glass substrate is observed using an optical microscope after a pit defect which has an easy-to-observe size is obtained through 5 μm etching using an acid etching solution including hydrogen fluoride, nitric acid, etc., and then isotropic etching of a processing deformed layer (a flaw etc.) remaining at a chamfer part.例文帳に追加

研磨工程終了後、ガラス基板の表面を、フッ酸や硝酸等を含む酸性のエッチング溶液を用いて５μｍエッチングし、面取り部に残留する加工変質層（キズなど）を等方的にエッチングして観察しやすい大きさのピット欠陥にした後、光学顕微鏡を用いて観察する。 - 特許庁

To provide a method of designing long life fatigue strength of a metallic material with increase in the size of ODA (a hydrogen effecting area observed to be blackish with a metallurgical microscope) according to a life to be expected for usage of a mechanical part taken into account to allow an optimal mechanical part according to a service life set to be designed.例文帳に追加

機械部品の使用想定寿命に応じたＯＤＡ（金属顕微鏡観察で黒く見える水素影響領域）寸法の拡大を考慮することにより、設定する耐用年数に応じた最適な機械部品を設計可能とした金属材料の長寿命疲労強度設計法の提供。 - 特許庁

A surface of a glass substrate containing SiO_2 as main component is polished by a polishing slurry including colloidal silica having an average primary particle size of at most 50 nm, an acid and water, and having pH adjusted to be in a range of 0.5-4, so that the surface roughness Rms measured by an atomic force microscope becomes not higher than 0.15 nm.例文帳に追加

平均一次粒子径が５０ｎｍ以下のコロイダルシリカ、酸および水を含み、ｐＨが０．５〜４の範囲になるように調整してなる研磨スラリーを用いて、ＳｉＯ_２を主成分とするガラス基板の表面を、原子間力顕微鏡で測定した表面粗さＲｍｓが０．１５ｎｍ以下になるように研磨する。 - 特許庁

To provide a compact device capable of recording a transmission image acquired by using a soft X-ray not absorbed by water occupying a large portion of a cell in order to observe the living cell, as a moving image with high space resolution of about 100 nm, organizing a stereoscopic image, and performing simultaneous observation with a visible range microscope.例文帳に追加

生きたままの細胞を観察するには細胞の大部分を占める水に吸収されることのない軟X線を用いその透過像を１００nｍ程度の高空間分解能で動画として記録し、立体像を構築し、さらには可視域顕微鏡との同時観察を可能とするコンパクトな装置が必要である。 - 特許庁

This tension testing device is attached to an inside of a scanning electron microscope mounted with a reflected electron detector, a test piece is tensioned while photographing a reflected electron image, and a change of a shape in a crystal grain appearing in the reflected electron image is measured to compute sequentially a strain amount in each crystal grain and a cross section with respect to a tensioned direction.例文帳に追加

反射電子検出器を装着した走査電子顕微鏡内に引張り装置を取り付け、反射電子像を撮影しながら試験片を引張り、反射電子像に現れる結晶粒の形の変化を測定し、結晶粒毎の歪量及び引張り方向に対する断面積を逐次演算する。 - 特許庁

For an organic EL element 100 obtained by successively laminating a substrate-side electrode 4, an organic EL layer 6 and a counter electrode 8 on one side of an element substrate 2, an increase rate of an area measured through an atomic force microscope to a projected area in a direction perpendicular to an electrode surface of the substrate-side electrode is controlled to lower than 1.1%.例文帳に追加

素子基板２の片面に基板側電極４、有機ＥＬ層６、対向電極８を順次積層してなる有機ＥＬ素子１００において、基板側電極の電極面に垂直方向の投影面積に対する原子間力顕微鏡で測定した面積の増加率を１．１％未満にする。 - 特許庁

When a multi-axial stage 40 of a scanning electron microscope 10 is rotated horizontally, inclined or moved horizontally, an operation of rotating, inclining or horizontally moving an image for specification is performed by means of a mouse 62 while creating an image for specification from an SEM image obtained from a signal of a secondary electron detector 20 and displaying the image on an image display unit 61.例文帳に追加

走査電子顕微鏡１０の多軸ステージ４０を水平回転、傾斜、水平移動させるに際して、二次電子検出器２０の信号から得られるＳＥＭ像から指定用画像を作成して画像表示装置６１に表示しつつ、マウス６２で指定用画像を回転、傾斜、水平移動させる操作を行う。 - 特許庁

To provide a highly efficient antibody screening method making an unknown ultramicro component composing a fine structure or the like recognized only under microscope determinable, and directly and capable of efficiently screening a specific antibody to a target protein existing in a particular tissue at a certain moment of life activity.例文帳に追加

顕微鏡下においてのみ認められる微細構造物等を構成する未知の超微量成分を決定することを可能にする、生命活動のある瞬間に特定の組織に存在する標的タンパク質に対する特異抗体を、直接的に高効率でスクリーニングする高効率抗体スクリーニング方法を提供すること。 - 特許庁

The exhaust gas cleaning catalyst is held by composite oxide particles in which particulates of a noble metal contain CeO_2 and a photograph, which is measured Pd fine particles on a support from a side face by a transmission electron microscope (TEM), exhibits trapezoidal shaped nanoparticles having smooth tips.例文帳に追加

貴金属微粒子がＣｅＯ_２を含有する複合酸化物粒子に担持された排ガス浄化触媒であって、担体上のＰｄ微粒子を側面から透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）により測定した写真が平坦な頂部を有する台形状のナノ粒子を示す、前記排ガス浄化触媒。 - 特許庁

To provide a light deflector and a scanning optical microscope using the light deflector in which a high speed scan driven by resonance and a low speed scan in which a lower speed region and an arbitrary frequency are selected are realized with a single light deflector and various kinds of useful microscopic actions are realized.例文帳に追加

共振で駆動する高速スキャンと、高速スキャンよりも低速領域で且つ任意の周波数を選べる低速スキャンを一つの光偏向器で実現し、各種の有用な顕微鏡動作を実現できる光偏向器およびこの光偏向器を用いた走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A focal length of an objective is continuously changed by making accelerated voltage from a power source 1 of an electron beam accelerating voltage connected to an electron gun 2 of the scanning electron microscope variable by a voltage fine controller 3 to realize focusing to a sample without adjusting a position of a sample by a mechanical means.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子銃２に接続される電子線加速高圧電源１を電圧微細調整器３により加速電圧を可変にすることにより対物レンズの焦点距離を連続的に変更し、試料位置を機械的手段で調整することなく試料への焦点合わせを実現させる。 - 特許庁

A plurality of point probes having sharp tips 1, 2, 3 and 4 access sample electrodes 5, 6, 7 and 8 respectively until contact currents saturate and contact with them securely, while observing through a scanning electron microscope, by the control of a point probe moving control circuit 18 by using point probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。 - 特許庁

When transferring a mask pattern to a photoresist film applied on a wafer principal surface, after transferring on an off-condition of under dose or defocus or both, a defective inspection is carried out through a process which inspects a transferred pattern to the photoresist film with a scanning electron microscope (SEM) for a voltage potential controlling type visual inspection.例文帳に追加

ウエハ主面上に塗布されたフォトレジスト膜にマスクパターンを転写する際、アンダードーズあるいはデフォーカスまたはその両方の、オフコンディション条件で転写をした後、フォトレジスト膜に転写されたパターンを電位制御型外観検査用走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：ＳＥＭ）で検査する工程を経て欠陥検査する。 - 特許庁

To achieve an electron microscope or an X-ray analysis apparatus, and a sample analysis method for precisely and speedily performing an element analysis with high precision by X rays being generated from a sample by applying electron rays being a foreign object element inspection required for improving a manufacturing yield in a semiconductor element or the like.例文帳に追加

半導体素子等の製造歩留まり向上のために必要な異物元素検査である電子線を照射して試料から発生するＸ線による元素分析を、高精度、高分解能、高速に実施できる電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

With the scanning electron microscope furnished with a function of specifying a required position according to a previously registered pattern, a means for setting kinds of patterns, intervals between a plurality of parts constituting the patterns, and information concerning dimension of parts constituting the patterns, and a means for forming a pattern image constituted by a plurality of parts according to the information given are provided.例文帳に追加

本発明は、予め登録されているパターンに基づいて、所望の位置を特定する機能を備えた走査電子顕微鏡において、パターンの種類，パターンを構成する複数の部分間の間隔、及びパターンを構成する部分の寸法に関する情報を設定する手段と、当該手段によって得られた情報に基づいて、複数の部分によって構成されるパターン像を形成する手段を備えた走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an economical optical microscope used for observing objects having different depths or a plurality of objects having distances in the direction of optical axis simultaneously and observing the overall images of the objects to be observed simultaneously and having an intuitive understanding characteristic, and, in particular, for clarifying three-dimensional form of a biological substance formed by coupling fluorescence dyes, analyzing its behavior, and clarifying properties of protein.例文帳に追加

異なる深さのある物体または光軸方向に距離がある複数の物体を同時に観察し、かつ、観察する全体像を同時観察すると共に、見てすぐに直感的に理解できる特性を保持し、かつ、経済性にも優れた光学顕微鏡を得ることにあり、特に、例えば、蛍光色素を結合した生体物質の立体形態を解明し、その挙動を解析してたんぱく質の性質を明らかにすること。 - 特許庁

The optical filter is provided with two optical elements 1 and 2 operating to separate luminous flux and an optical element 3 which is arranged between those two optical elements and operates to eliminate polarization, wherein at least one of the three optical elements being a microscope element which has a structure finer than the wavelength of incident light and operates to separate luminous flux or eliminate polarization by optical anisotropy.例文帳に追加

光束分離作用を有する２つの光学素子１，２と、これら２つの光学素子の間に配置され、偏光解消作用を有する光学素子３とを有し、３つの光学素子のうち少なくとも１つの光学素子を、入射光の波長より細かい構造の光学的異方性による光束分離作用又は偏光解消作用を持つ微細構造素子として光学フィルタを構成する。 - 特許庁

A microscope 10 includes an illuminating unit 13 that includes an excitation light source 21 emitting an excitation light, a phosphor 22 receiving the excitation light and emitting illumination light in a specific wavelength range, and a contact lens 23 collecting the illumination light emitted by the phosphor 22, and an observation unit 14 for picking up an observation image of a specimen 27 illuminated with the illumination light collected by the contact lens 23.例文帳に追加

顕微鏡１０は、励起光を射出する励起光源２１と、励起光原２１が射出した励起光を受けて特定波長域の照明光を放出する蛍光体２２と、蛍光体２２が放出した照明光を集めるコレクタレンズ２３とを有し、コレクタレンズ２３が集めた照明光によって試料２７を照明する照明光学系１３と、照明光学系１３によって照明された試料２７の観察像を撮像する観察光学系１４と、を備える。 - 特許庁

The thermoplastic resin composition is prepared by blending a thermoplastic resin comprising a styrene-based resin and a polyamide resin with a specific maleimide-based resin and has a structure in which the polyamide resin (B) forms ≥5 volume% continuous phase as a phase structure observed by an electron microscope in a region of 40-60% depth from the surface based on the whole depth perpendicular to the surface of a molded body.例文帳に追加

スチレン系樹脂とポリアミド樹脂とからなる熱可塑性樹脂組成物に対して、特定のマレイミド系重合体を配合してなる熱可塑性樹脂組成物であって、かつ成形体の表面に垂直な方向を厚みとした時、表面から全厚みに対し４０〜６０％の深さの領域で、電子顕微鏡で観察される相構造として、ポリアミド樹脂（Ｂ）が連続相となる部分が５容量％以上形成された構造を有する熱可塑性樹脂組成物。 - 特許庁

The scanning probe microscope turns on a switch 8, when the probe 3 approaches the sample and turns off the switch 8, when performing the electrical measurement between the probes 3, 3'.例文帳に追加

試料と探針との間に流れる電流を利用して前記試料の表面を観察する試料観察装置であって、前記試料に対向する少なくとも２個の前記探針と、前記試料を置載する試料台と、前記試料台にバイアス電流を印加する試料バイアス電流印加手段と、前記試料バイアス電流印加手段を前記試料台より電気的に切り離すスイッチと、を備え、前記探針が前記試料にアプローチするときには前記スイッチをＯＮとし、前記探針間の電気計測するときには前記スイッチをＯＦＦとする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

When illumination light from the illumination module attached to the incident section 101A enters, spreading luminous flux thereof, the illumination light which passes through lenses 271 through 274 and exits from a projection section 101C forms an image on the image-side focal plane of the objective lens of the microscope.例文帳に追加

入射部１０１Ａに装着された照明モジュールからの照明光が光束が広がりながら入射するとき、レンズ２７１乃至レンズ２７４を通過し、射出部１０１Ｃから射出される照明光は、顕微鏡の対物レンズの像側焦点面において結像し、照明モジュールからの照明光が平行光束として入射するとき、レンズ２７１乃至レンズ２７４を通過し、射出部１０１Ｃから射出される照明光は、顕微鏡の対物レンズの像側焦点面に平行光束として入射する。 - 特許庁