「visual defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DEFECT EMPHASIZING ALGORITHM IN VISUAL INSPECTION例文帳に追加

外観検査における瑕疵強調アルゴリズム - 特許庁

Visual inspection is carried out to detect the defect such as a pattern defect and a foreign matter on the substrate.例文帳に追加

そして、基板上のパターン欠陥や異物の欠陥を検出する外観検査を行う。 - 特許庁

visual defect in which the shape and size of an ocular image differ in the two eyes 例文帳に追加

両眼の視覚上の像の形や大きさに差違があるという視覚欠損 - 日本語WordNet

visual defect in which objects appear to have a yellowish hue 例文帳に追加

物が黄ばんでいる色を持っているように見える視覚障害 - 日本語WordNet

DEFECT DETECTION METHOD, AND VISUAL INSPECTION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検出方法およびその方法を用いた視覚検査装置 - 特許庁

DEFECT LIMIT SPECIMEN TOOL FOR VISUAL INSPECTION OF EYEGLASS LENS, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法 - 特許庁

To improve reliability for inspecting a defect by enabling a defect candidate to be verified easily by the visual inspection of an image or the like and the defect to be verified by all means.例文帳に追加

画像による目視検査での欠陥候補の確認をし易くし、欠陥の見逃しなどをなくして欠陥検査の信頼性を高める。 - 特許庁

When a plurality of defect candidates are detected by a first automatic inspection, the distance between the defect candidates is calculated, a defect candidate existing within a fixed distance determined by a visual field size and magnification are grouped as a group of defect candidates, and a visual field position is determined for performing a second inspection so that all defect candidates included one group of defect candidates enter one visual field.例文帳に追加

第１の自動検査により欠陥候補が複数検出された際に、欠陥候補間の距離を計算し、視野サイズや倍率から決められる一定距離以内に存在する欠陥候補をひとつの欠陥候補群としてグルーピングし、一の欠陥候補群に含まれる全ての欠陥候補が一視野に入るように視野位置を決めて第２の検査を行うようにする。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of displaying an image of a defect imaged under a condition near to a visual observation.例文帳に追加

目視観察状態に近い状態で撮像された欠陥の画像を表示することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method for finding a cold shut defect of an impeller and allowing inspection to be performed in a short time.例文帳に追加

羽根車の湯境欠陥を発見でき、短時間に検査を行う事が可能な外観検査方法及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the movement of visual point when a visual inspector refers to the inspection information of a surface defect inspection device.例文帳に追加

目視検査員が表面欠陥検査装置の検査情報を参照する場合に視点の移動を少なくする。 - 特許庁

In a visual inspection step 32, a display part 8 displays a defect detected as a non-inspection area by a visual inspection operator in the automatic inspection.例文帳に追加

目視検査工程３２では、表示部８は、目視検査作業者に自動検査での非検査領域と検出された欠陥とを表示する。 - 特許庁

To provide a nozzle visual inspection apparatus capable of identifying the kind of a defect that occurs in a nozzle hole, and a nozzle visual inspection method.例文帳に追加

ノズル穴に生じる欠陥の種類を特定可能なノズル外観検査装置、およびノズル外観検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a perimeter which enables a subject to easily recognize his or her own visual field defect concretely in the process of a visual field examination and clearly shows a result of examination.例文帳に追加

被検者が視野検査の過程で自らの視野欠損を具体的に容易に自覚でき、検査結果が分り易い視野計を提供する。 - 特許庁

The visual field size for defect search of the defect review device is set on the basis of the error without any inclination.例文帳に追加

傾向を持たない誤差に基づいて、欠陥レビュー装置における欠陥探索用の視野サイズを設定する。 - 特許庁

Prior to correction of defect, a stage 2 moves a substrate 1 two-dimensionally to a position where the defect are put in the visual field area of an objective 14.例文帳に追加

欠陥の修正が行われる前に、ステージ２は、欠陥が対物レンズ１４の視野領域に入る位置に基板１を二次元移動する。 - 特許庁

To provide a means for inspecting a response to only an OFF stimulus in an inspection of advancing a visual field defect.例文帳に追加

視野欠損の進行の検査において、ＯＦＦ刺激のみに対する応答を検査する手段を提供する。 - 特許庁

To efficiently and surely perform the visual inspection of a defect which is present on a coil face.例文帳に追加

コイル端面に存在する欠陥の目視検査を効率良く且つ確実に実施できるようにする。 - 特許庁

To provide a method and device for correcting an error in a defect coordinate output from an inspection device to make it easy to select a visual field size for defect search of a defect review device and a defect for fine alignment.例文帳に追加

検査装置から出力された欠陥座標の誤差を補正し、欠陥レビュー装置における欠陥探索用の視野サイズ及びファインアライメント用の欠陥を容易に選定することができる方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The presence or absence of a defect in a wiring pattern is confirmed by visual observation, image processing, or the like; defect information on the position, coordinates, size, or the like is confirmed, and the type of the defect is determined; when the defect is detected; and a machining method and machining conditions are set according to the type and state of the defect (step S1).例文帳に追加

目視又は画像処理等により配線パターンの欠陥の有無を確認し、欠陥を検出した場合は、その位置、座標及び大きさ等の欠陥情報を確認すると共に欠陥の種類を判定し、欠陥の種類及び状態に応じて加工方法及び加工条件を設定する（ステップＳ１）。 - 特許庁

The inspection system for the circuit pattern is provided with an electron beam visual inspection device, provided with a monitor for displaying the defect on a map; and an external visual inspection device for storing an image of the defect, and is constituted to display concurrently the map and the image of the defect on the monitor.例文帳に追加

また、回路パターンの検査システムは、マップに欠陥を表示するモニタを備えた電子線外観検査装置とこの欠陥の画像を記憶した外部外観検査装置とを備え、モニタにマップと欠陥の画像とを同時に表示する構成とする。 - 特許庁

The picture element defect is moved into the visual field of the magnifying lens 11 in accordance with the approximate picture element defect coordinate determined by this picture element defect position instruction device 25 and the exact coordinate position is measured.例文帳に追加

絵素欠陥位置指示装置２５を用いて求めた概略絵素欠陥座標に基づいて拡大レンズ１１の視野内に絵素欠陥を移動させ、正確な座標位置を測定する。 - 特許庁

To provide a defect marker and a defect marking method for films with improved accuracy in recognizing the location of a defect in a marking area, thus capable of preventing reduction of yield and reducing man-hours required for a visual inspection.例文帳に追加

マーキングエリアでの欠陥部分の位置の認識精度を向上させることで歩留りを下げることなく、かつ、目視検査の工数を削減できるフィルム用欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法を提供する。 - 特許庁

An image processing section 24 determines whether a defect exists, whose size allows to make a defect decision by visual inspection, based on information representing the size of the defect.例文帳に追加

画像処理部２４は、欠陥の大きさを示す情報に基づいて、目視によって欠陥の判断が可能な大きさの欠陥があるかどうかを判断する。 - 特許庁

When a penetrated defect part 3 causing water leaks occurs in the surface 11 of the subject of inspection, a colored area 5 appears as the result of reaction of water conveyed by the penetrated defect part 3 with the leak inspection film 10, so that the defect can be readily detected through visual observation.例文帳に追加

検査物表面１１に水漏れを生じる貫通欠陥３が発生した場合、この貫通欠陥３より運ばれた水と水漏れ検査膜１０が反応すると発色領域５が生じるので目視で容易に検出できる。 - 特許庁

To provide an apparatus for visual examinination capable of clearly distinctly detecting whether a defect is a defect due to the same material as the stock or a defect due to a material different from the stock.例文帳に追加

素材と同じ材質による欠点であるのか、または素材と異なる材質による欠点であるのか、を明確に区別して検出することができる外観検査装置とする。 - 特許庁

To specify a process of generating a defect, or to detect the defect, even in an area that is not formed with a repeeated pattern on a wafer surface, when detecting the defect appearing on the semiconductor wafer surface by visual inspection.例文帳に追加

外観検査により半導体ウエハの表面に現れる欠陥を検出する際に、欠陥を生じた工程を特定する、或いはウエハ表面に繰り返しパターンが成形されていない領域においても欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a defect marking device for a film and a defect marking method capable of reducing man-hours for visual inspection without lowering yield by improving greatly marking accuracy on a defect position in comparison with a conventional technology, and by marking on a fine defect itself.例文帳に追加

従来技術に比べて欠陥位置へのマーキング精度を飛躍的に向上することで歩留りを下げることなく、かつ、微小欠陥そのものにマーキングすることで目視検査の工数を削減できるフィルム用欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法を提供すること。 - 特許庁

A defect display device 4 reads the image and the defect information obtained by the automatic defect inspection device 2 from the storage part 41 on the basis of the substrate ID of a substrate to be visually inspected in a visual inspection device 3, and highlights a defect part with respect to the image.例文帳に追加

欠陥表示装置４は、目視検査装置３において目視検査を行う基板の基板ＩＤに基づいて自動欠陥検査装置２で取得された画像及び欠陥情報を記憶部４１から読み出して、画像に対して欠陥部分を強調表示する。 - 特許庁

USE OF VITAMIN B6 TO MITIGATE VISUAL FIELD DEFECT ASSOCIATED WITH THE USE OF GABAERGIC DRUGS IN MAMMAL例文帳に追加

哺乳動物におけるＧＡＢＡ作動薬の使用に伴う視野欠陥を緩和するためのビタミンＢ６の使用 - 特許庁

To provide a visual external inspection apparatus for semiconductors capable of surely detecting a defect on a semiconductor wafer or a pellet at a high speed.例文帳に追加

半導体ウエハあるいはペレット上の欠陥を高速で確実に検出することができる半導体外観検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the defect in the cholesteric liquid crystal layer can be easily and precisely checked by visual check of an observer.例文帳に追加

このため、コレステリック液晶層２０の欠陥を観察者の目視により簡易にかつ精密に検査することができる。 - 特許庁

The lens has the film composed of polythiourethane on the lens base material as main component whose surface defect can be observed by a visual inspection shown by JIS-T7313.例文帳に追加

JIS-T7313に示される視覚的な検査により表面欠陥が観察されるレンズ基材上にポリチオウレタンを主成分とする被膜を有するレンズ。 - 特許庁

BRAIN WAVE MEASURING METHOD BY ASYNCHRONOUS LIGHT INPUT ACTIVATION, VISUAL DEFECT JUDGING METHOD USING THE SAME, AND BRAIN WAVE MEASURING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

非同期光入力賦活による脳波測定方法とそれを用いた視覚障害判定方法、及びそのための脳波測定装置 - 特許庁

To shorten the time for a visual inspection by an inspector by digitizing the result of the inspection of the distribution of the defect of a semiconductor element by analyzing the distribution by a computer.例文帳に追加

半導体素子の欠陥の分布をコンピュータで解析してその検査結果を数値化し、検査員による目視検査の時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an inspection method by which an observer can easily and precisely checkt a defect in a cholesteric liquid crystal layer by visual check.例文帳に追加

コレステリック液晶層の欠陥を観察者の目視により簡易にかつ精密に検査することができる検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of rapidly detecting problems by transmitting defect information such as the number of occurred defects in an easily understood manner.例文帳に追加

欠陥の発生数などの欠陥情報を分かり易く伝えることで、問題点の検知を迅速に行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a defect of missing a concerned part due to a narrowed visual angle in the case of selecting a magnified observation mode from a usual observation mode.例文帳に追加

通常観察から拡大観察に切り替えた際に、視野角が狭くなることで関心部位を見失う不都合を防止する。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus capable of easily, reliably detecting a defect such as a flaw and dirt on the surface of a cigarette.例文帳に追加

シガレットの表面における傷や汚れ等の欠陥を容易に、しかも確実に検出することのできる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method by which an observer can easily and precisely inspect a defect in a cholesteric liquid crystal layer by visual checks.例文帳に追加

コレステリック液晶層の欠陥を観察者の目視により簡易で精密に検査できる検査方法を提供する。 - 特許庁

Using the image read by its infrared ray oomponents corrects a defect of an image read by its visual light components due to dust and a flaw.例文帳に追加

この赤外光成分で読み取った画像によって可視光成分で読み取った画像におけるごみ，傷等の欠陥を補正する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a device for a defect part of a glass plate for simply creating conditions allowing visual observation from front without imposing impossible posture on an inspector, and reasonably, certainly, and safely detecting a defect part of a large-sized glass plate for FPD.例文帳に追加

検査者に無理な姿勢を強いることなく、正面視により目視しやすい条件を簡単に作り出すことができ、大型のＦＰＤ用ガラス板の欠陥部分を無理なく確実に安全に検出することのできる、ガラス板の欠陥部分の目視検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method capable of defect detection even in a domain other than a repeated pattern domain without generating a reference image, when detecting a defect appearing in the appearance of a substrate on whose surface an electric pattern is to be formed or has been formed.例文帳に追加

表面に電気的パターンが形成される、又は形成された基板の外観に現れる欠陥を検出する際に、基準画像を生成することなく、繰り返しパターン領域以外の領域においても欠陥検出が可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

It is thus possible to automate visual inspection of the wafer 2 to final defect classification, eliminate the need for inspection by visual observation (review), and substantially shortening the time required for inspection.例文帳に追加

このため、ウェハ２の外観検査を最終的な欠陥分類に至るまで自動化でき、目視検査（レビュー）が不要となり、検査時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

In a high-magnification inspecting step S4, the high-magnification inspecting image of the visual field region is acquired by positioning the position of the stored crystal defect in the visual field region so as to change an objective distance through the use of a high-power objective lens 14b.例文帳に追加

高倍率検査ステップＳ４では、高倍率の対物レンズ１４ｂを用いて、記憶された結晶欠陥の位置を視野領域の中に位置させて対物距離を変えて、視野領域の高倍率検査画像を取得する。 - 特許庁