「visual defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a visual inspection method which rationalizes and simplifies a setup process before a defect of an anti-reflection film is observed and a cleanup process after the observation, and to provide a visual inspection device which enables visual inspection of the total length of the anti-reflection film to be manufactured at a time.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥を観察するに至るまでの段取り工程及び観察後の後始末工程を合理化・簡略化する外観検査方法を提供し、同時に製造した反射防止フィルム全長の外観検査が可能な外観検査装置を提供することを目的とした - 特許庁

To provide a visual function disorder improving agent, particularly a visual function disorder improving agent that has the effects of promoting axon extension in retinal gangliocyte and promoting regeneration of optic nerve cells and is useful in treating visual function disorders in association with various eye diseases caused by damage, defect, degeneration, etc., in retina and optic nerves.例文帳に追加

視覚機能障害改善剤の提供、特に網膜神経節細胞の軸索伸展促進作用、視神経細胞の再生促進作用を有し、網膜や視神経の損傷や欠損、変性等に起因する種々の眼疾患に伴う視覚機能障害の治療に有用な視覚機能障害改善剤等の提供。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method, capable of confirming the propriety of a production process of forming a pattern appearing on the surface of a semiconductor wafer or the like, at the same time as with the visual inspection of a defect appearing on a wafer surface.例文帳に追加

半導体ウエハなどの表面に現れるパターンを形成した製造プロセスが適切であるか否かを、このウエハ表面に現れる欠陥の外観検査と同時に確認することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

An apparatus for inspecting the display panel detects defect parts deteriorating brightness from obtained pixel images, and compares whether color arrangement of peripheral pixels of the defect parts is matched between pixel images imaged at different visual angles.例文帳に追加

得られた画素画像から、輝度が低下した欠陥部位を検出し、この欠陥部位の周辺画素の色配列が異なる視角で撮像した画素画像間で一致するか否か比較する。 - 特許庁

To provide a method of automatically and precisely determining a material defect section without any visual verification even if the material defect section occurs on the surface of a steel rail for a track.例文帳に追加

軌道用鋼製レールの表面に材質異常部が生じた場合でも、これを目視確認を伴うことなく自動、且つ、高精度に判定することを可能とする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for cleaning, inspection, and defect history management of a stud bolt hole capable of performing cleaning, visual inspection, and defect history management of the bolt hole in a lump.例文帳に追加

ボルト穴の洗浄と目視検査と損傷履歴の管理とを一括して行うことができるスタッドボルト穴の洗浄、検査及び損傷履歴管理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a mold release film preventing a foreign matter and a defect from getting difficult to be observed, when conducting visual inspection by a crossed Nicols method that is representative one for defect inspection of a polarizing plate, and attaining high inspection precision.例文帳に追加

偏光板の欠陥検査の代表的なひとつである、クロスニコル法による目視検査を行った際に、異物や欠陥等が見づらくなることがなく、高度な検査精度を実現することのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a mold release film preventing a foreign matter and a defect from getting difficult to be observed, when conducting visual inspection by a crossed Nichols method for defect inspection of a polarizing plate, and attaining high inspection precision.例文帳に追加

偏光板の欠陥検査である、クロスニコル法による目視検査を行った際に、異物や欠陥が見づらくならず、高度な検査精度を実現することのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁

An image processing section 15 determines an inspection area based on the image for area thus picked up and detects a visual defect in the inspection area based on the inspection area thus determined and the image for defect thus picked up.例文帳に追加

画像処理部１５は、撮像された領域用画像に基づいて検査領域を決定し、決定した検査領域と撮像された欠陥用画像とに基づいて検査領域内の外観欠陥を検出する。 - 特許庁

In this system, appearance defect information detected by the visual examination device and electrical defect information detected by a probe examination device are collated with a review process threshold and review- processed by an edition process means.例文帳に追加

外観検査装置で検出される外観的な欠陥情報およびプローブ検査装置で検出された電気的な欠陥情報を見直処理しきい値に照らして編集処理手段で見直処理すること。 - 特許庁

To provide a mold release film preventing a foreign matter and a defect from getting difficult to be observed, when conducting visual inspection by a crossed Nicols method for defect inspection of a polarizing plate, and attaining high inspection precision.例文帳に追加

偏光板の欠陥検査である、クロスニコル法による目視検査を行った際に、異物や欠陥が見づらくなることがなく、高度な検査精度を実現することのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for pattern defect inspection which can speed up detailed analysis of detected pattern defect in semiconductor circuit pattern formation process, by skipping visual reinspection through a review device.例文帳に追加

半導体回路パターン形成工程において、レビュー装置による目視再検査を省略して、検出したパターン欠陥の詳細な解析を迅速化する。 - 特許庁

To allow visual inspection for a foreign matter and the like, in addition to pattern inspection, and to accurately inspect a defect mode as to a defect.例文帳に追加

本発明の課題は、パターン検査に加えて異物等の外観検査が可能で且つ欠陥がどのような欠陥モードなのかを正確に検査することができる金属箔パターンエッチング製品の欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a PTP packing machine capable of enhancing inspection precision, in particular, for a pocket part side, to enhance visual appearance quality of a PTP sheet, in defect inspection in a manufacturing process for the PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、特にポケット部側の検査精度の向上を図ることで、ＰＴＰシートの外観品質の向上を図ることができる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect marker for forming indentations easy to check by visual inspection independently of the existence or non-existence of rustproof oil or of defect detection performance on the fabricator side as to a processing line for winding up an aluminum sheet into a coil, a method of defect marking, and a defect-marked coil.例文帳に追加

アルミニウム板をコイルに巻き取る処理ラインにおいて、防錆油の有無及び加工メーカー側の欠陥検出性能に関らず、目視によって容易に確認可能な圧痕を形成することができる欠陥マーキング装置、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルを提供することを目的とする。 - 特許庁

To rationalize visual inspection, to provide an electronic photographic member of high quality, and to provide an image of high quality, by concurrently detecting automatically generation of an interference fringe and an appearance defect in the electronic photographic member, without depending on visual observation.例文帳に追加

電子写真感光体の干渉縞の発生と外観欠陥とを同時に目視に依らず自動で検知することにより、目視検査を合理化し、高品質な電子写真感光体を提供し、更には高画質の画像を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and device for visual inspection of electronic components which can securely surely decide only a real defect, without being affected by unevenness, sealed characters, etc., included in a photographed image of the package of electronic components and the recording medium, where the program for enabling a computer to actualize the visual inspection processing is recorded.例文帳に追加

電子部品のパッケージの撮影画像に含まれるむらや捺印文字等の影響を受けず、真の欠陥のみを確実に判別できる、電子部品の外観検査方法、外観検査装置及び外観検査処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which digitizes the position of a defect found in a visual inspection of a construction work on the spot to be specified and writes it on a conventional inspection sheet to enable implementation of correction work only by using the inspection sheet and promote conversion of inspection results into electronic data.例文帳に追加

本発明は、建築工事の目視検査で発見された不具合の位置をその場で数値として特定する目視検査方法であり、その数値を従来の検査シートに取り込もことにより、検査シートだけで是正工事の推進を可能とすると共に、検査結果の電子データ化を促進するものである。 - 特許庁

To provide an apparatus for detailed observation of defects detected by an optical defect inspection apparatus or by an optical visual inspection apparatus capable of placing a defect to be observed into the field of view of an electronic microscope or the like, without fail, and reducing the size of the apparatus.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, the visual inspection of a multiple layers phase defect becomes possible by an easy and practical through-put in a hole pattern which cannot be inspected easily by a mask inspection, and the yield is improved by supplying a defect free mask which is performed with a defective relief according to classification of the cause of failure.例文帳に追加

これにより、マスク検査では容易に検査できないホールパターンにおける、多層膜位相欠陥を容易かつ実用的なスループットで外観検査が可能となり、欠陥の原因の分類に応じた欠陥救済を行った無欠陥マスクを供給することで歩留まりが向上する。 - 特許庁

To provide a system for defect classification capable of shortening the work time of the visual examination of a product determined to be defective by an automatic inspection machine in a manufacturing process of a color filter or the like and capable of efficiently performing the input work of defect classification data.例文帳に追加

カラーフィルタ等の製造工程において、自動検査機で不良と判定された製品についての目視検査の作業時間を短縮するとともに、不良区分情報の入力作業を効率良く行うことができる不良分類システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect limit specimen tool for visual inspection of an eyeglass lens that easily and certainly inspects whether there is a defect that has adverse effect on the field of view in a predetermined region and reduces the influence of an inspecting person on the inspection results.例文帳に追加

所定の領域内に視野を害する欠陥があるか否かを容易かつ確実に検査することができ、また検査者の検査結果への影響を低減することができるようにした眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

After the semiconductor chip is mounted an each device area followed by bonding using a bonding wire 6, a visual inspection such as on discontinuity of the bonding wire 6, is performed and a defect mark FM is posted onto the surface of the semiconductor chip 4 having a assembly-related defect.例文帳に追加

各々のデバイス領域に半導体チップ４を搭載して、ボンディングワイヤ６によるボンディング後、ボンディングワイヤ６の断線などの外観検査を行い、組み立て不良がある半導体チップ４の表面に不良マークＦＭを貼り付ける。 - 特許庁

To surely mark a defect position so as to encircle a defect of pressing flaw, scratch, etc., generated in rolling and to easily identify presence/absence and the defective positions of a steel plate in visual inspection.例文帳に追加

圧延時に生じた押し疵や擦り疵等の欠陥を囲むように欠陥位置を示すマーキングを鋼板表面に確実に施すことができ、この結果、客先での鋼板の目視検査時において、鋼板に存在する欠陥の有無および位置を容易に認識することができる。 - 特許庁

To enhance defect detection sensitivity at a pattern edge portion by improving the method of determining a correction amount, as to correction of gray level difference at the pattern edge portion performed in an image defect inspection method used for a visual inspection device for a semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路の外観検査装置に使用される画像欠陥検査方法で行う、パターンエッジ部分におけるグレイレベル差の補正において、補正量の決定方法を改善して、パターンエッジ部分における欠陥検出感度を向上する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and its visual inspection method of an aluminium extruded profile which determines easily and objectively whether an inspected aluminium extruded profile is a quality product or a defective product, by inspecting the aluminium extruded profile on whether a visual defect such as a streak is generated on the aluminium extruded profile.例文帳に追加

アルミニウム押出形材にストリーク等の外観欠陥が発生していないかどうかについてアルミニウム押出形材を検査し、検査したアルミニウム押出形材が良品か不良品かを容易にかつ客観的に判定することができるアルミニウム押出形材の外観検査装置及びその外観検査方法を提供する。 - 特許庁

This visual inspection system has a recording means for recording information including at least defect coordinates provided from an inspection result in an automatic inspection means arranged at least one portion or more in a manufacturing process while combined to an identification code imparted on a device substrate, and a visual inspection terminal for reading out the information recorded in the recording means by the identification code to be informed to a visual inspector.例文帳に追加

製造工程の少なくとも１箇所以上に配置された自動検査手段の検査結果から得た、少なくとも欠陥座標を含む情報をデバイス基板上に付された識別コードと結び付けて記録する記録手段を有し、該記録手段に記録された情報を該識別コードによって読み出して目視検査員に通知する目視検査端末を有することを特徴とする目視検査支援システム。 - 特許庁

The inspection supporting system sorts each defect detected with an inspection apparatus conforming to a plurality of inspecting conditions in accordance with combinations of the inspecting conditions for detecting respective defects, and calculates for each sorting visual distribution of the inspection objects of the defect belonging to each sorting on the basis of the location information of the defect belonging to the relevant sorting.例文帳に追加

本検査支援システムは、複数の検査条件によって検査装置が検出した各欠陥を、その欠陥が検出された検査条件の組み合わせで分類し、各分類ごとに、その分類に属する欠陥の、検査対象の外観上における分布を、当該分類に属する欠陥の位置情報に基づき算出する。 - 特許庁

The standard or optically adjustable intraocular lenses are combined with this optically adjustable "piggyback lens" in such a manner that the piggyback lens may correct every visual acuity defect which is not coped with by a first lens.例文帳に追加

標準のまたは光調整可能な眼球内レンズが、「ピギーバック・レンズ」が第１のレンズによって対処されないどのような視力欠陥も矯正するように、光調整可能な「ピギーバック・レンズ」と組み合わされる。 - 特許庁

To quantitatively and accurately stratify a defect such as a surface flaw or segregation with respect to a large number of permanent magnets without relying on visual observation though a powder figure method is utilized.例文帳に追加

粉末図形法を利用しつつも、目視に依存することなく、多数の永久磁石について、表面のきずや偏析等の欠陥を、定量的に、かつ正確に層別する方法と、その装置を提供すること。 - 特許庁

To improve efficiency of visual inspection of a liquid crystal panel determined as a defective unit by automatic inspection, in a defect inspection system of the liquid crystal panel which includes automatic inspection.例文帳に追加

自動検査を含む液晶パネルの欠陥検査システムにおいて、自動検査で不良品と判定された液晶パネルの目視検査を効率化する。 - 特許庁

To highly accurately evaluate a defect identification pattern without requiring any destructive analysis involving visual check with regard to a multilayer wiring board and its test method.例文帳に追加

多層配線基板及び多層配線基板の試験方法に関し、目視を伴った破壊解析を要することなく欠陥識別パターンの評価を精度良く行う。 - 特許庁

To provide a visual inspection device for a semiconductor device that protects adjacent non-defectives against damage by virtue of short-time and precise marking when marking a corresponding obverse surface after inspecting a defect in a reverse surface of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板裏面の欠陥を検査した後、対応する表面にマーキングする際に、短時間かつ精度良くマーキングを行うようにし、隣接する良品に傷を付けることのない半導体素子の外観検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, when the lens mount 42 of the imaging camera 14 is located at the front imaging position, a defect of part of the display panel body 13 intruding the region 44 in the vertical visual field angle can be prevented.例文帳に追加

これによって、撮像カメラ１４のレンズ装着部４２が前方撮像位置に配置された状態において、表示パネル本体１３の一部が上下方向の視野角内の領域４４に入り込んでしまうという不具合が防がれる。 - 特許庁

This visual inspection method includes determination concerning whether a defect extracted from inside an inspection domain of an image 21A of an inspection object 11a by comparison with a template 21A is acceptable or not.例文帳に追加

被検査体１１ａの画像２１Ａの検査領域上からテンプレート（２１Ａ）との比較によって抽出された欠陥が許容内か否かを判定することを含む外観検査方法。 - 特許庁

To provide a method for visual inspection of a photomask to improve the throughput of inspection without generating a pseudo defect, and to prevent decrease in guaranteed accuracy of an inspection apparatus.例文帳に追加

疑似欠陥を発生させないで、検査処理のスループット向上を図り、検査装置の保証精度を低下させないフォトマスクの外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a visual inspection device equipped with an image processing device capable of performing defect detection processing highly accurately, even when the image width of an input image is changed.例文帳に追加

入力画像の画像幅が変化しても、高い精度にて欠陥検出処理を行うことができる画像処理装置を備えた外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting device capable of detecting a defect of an aperture grill, which has been performed by a complicated visual inspection by an inspecting person, in relatively simple structure and operation.例文帳に追加

検査者による煩雑な目視検査により行われていたアパーチャグリルの欠陥の検出を、比較的簡単な構成および動作により行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection.例文帳に追加

外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a film that is excellent in handleability in a sheet state and has optical characteristics causing no hindrance to a visual inspection in a cross-nicol method which is typical as a defect inspection of contamination of foreign matters etc. in a polarizing plate.例文帳に追加

シート状態の取扱性に優れ、偏光板の異物混入等の欠陥検査として一般的なクロスニコル法による目視検査で障害とならないような光学特性を有するフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method of a transparent sheet for reducing a frequency at which a defect is overlooked even if the transparent sheet is not inspected on front and back surfaces.例文帳に追加

透明シートを表裏反転させて検査しなくても、欠陥を見逃してしまう頻度を低下することができる透明シートの目視検査方法を提供する。 - 特許庁

To eliminate an assembly defect by enabling the light emitted from an LED to be sufficiently discriminated from a display window by the visual sense of a user even if the same axes of a casing and the LED are dislocated.例文帳に追加

ケーシング３とＬＥＤ６の同軸Ａがずれても、表示窓１０からＬＥＤ６から放出される光が使用者の視覚に十分識別できるようにし、かつ、組付け不具合を無くす。 - 特許庁

To eliminate defects of a solder ball and a connection defect without requiring mounting facility with high precision and also eliminate man-hours for visual inspection and later adjustment.例文帳に追加

はんだボール及び接続不良による不具合をなくすと共に、高精度な実装設備を不要とし、かつ目視検査及び手直し作業にかかる労力を不要とする。 - 特許庁

To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁