「"Diffraction pattern"」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

In addition, the objective lens has at least a diffraction pattern at least on one surface, and, when the light fluxes from the light sources having the different wavelengths are converged on an information recording surface, the first order diffracted ray from the diffraction pattern is used in reproduction of a plurality of recording media together.例文帳に追加

また、対物レンズは少なくとも１つの面に回折パターンを有し、異なる波長の光源からの光束を情報記録面に集光させるとき、複数の記録媒体の再生において、共に前記回折パターンからの１次回折光を用いる。 - 特許庁

A diffraction pattern formed on a detector 5 (screen) is imaged by an imaging device 6, and pattern analysis for comparing it with a diffraction pattern obtained by calculation by means of a refractive index of the droplet 4 is performed, thereby obtaining a contact diameter and a contact angle of the droplet 4.例文帳に追加

検出器５（スクリーン）上に結像する回折パターンを撮像装置６によって撮像し、液滴４の屈折率を用いた演算によって得られた回折パターンと比較するパターン解析を行なうことで、液滴４の接触径および接触角を求める。 - 特許庁

In addition, the objective lens has at least a diffraction pattern at least on one surface, and, when the light fluxes from the light sources having different wavelengths are converged on an information recording surface, the first-order diffracted ray from the diffraction pattern is used in reproduction of a plurality of recording mediums together.例文帳に追加

また、対物レンズは少なくとも１つの面に回折パターンを有し、異なる波長の光源からの光束を情報記録面に集光させるとき、複数の記録媒体の再生において、共に前記回折パターンからの１次回折光を用いる。 - 特許庁

Diffraction patterns 2 are formed on a plurality of spots on a wafer 1A, and each inspection pattern 3 which is larger than one diffraction pattern 2, and on which the same pitch as the diffraction pattern 2 is formed, is formed on mutually separated positions, to thereby constitute the mother board 1.例文帳に追加

ウェハー１Ａに回折パターン２を複数箇所に形成し、これらの回折パターン２の１つの大きさよりも大きくかつ回折パターン２と同一のピッチが形成された検査用パターン３を互いに離れた位置に形成してマザー基板１を構成した。 - 特許庁

In measuring the shape of the droplet changing with time, contrast information is extracted from the diffraction pattern being imaged (step S4-2), and the contrast of the central part of the diffraction pattern is so adjusted as to be a contrast enabling measurement of a contact diameter of the droplet (step S4-7).例文帳に追加

経時変化する液滴の形状計測において、撮像された回折パターンからコントラスト情報を抽出し（ステップＳ４−２）、回折パターンの中央部のコントラストを、液滴の接触径を計測可能なコントラストになるように調整する（ステップＳ４−７）。 - 特許庁

The values (lattice spacings d/Å) of the X-ray diffraction pattern are 12.3±0.3, 9.0±0.3, 6.8±0.3, 3.9±0.2, 3.5±0.1 and 3.4±0.1.例文帳に追加

Ｘ線回折パターン 格子面間隔ｄ／Å（オングストローム） １２．３±０．３ ９．０±０．３ ６．８±０．３ ３．９±０．２ ３．５±０．１ ３．４±０．１ - 特許庁

More preferably, the compound has an X-ray powder diffraction pattern comprising peaks, in terms of 2θ, at about 13.7° and about 14.9°.例文帳に追加

この化合物は、より好ましくは、２θに関して、約１３．７°および約１４．９°にピークを含むＸ線粉末回折パターンを有する。 - 特許庁

Therefore, the background due to the scattering of air and scattered X-rays is reduced and a diffraction pattern having a desired S/B ratio is measured.例文帳に追加

このため、空気散乱及び散乱Ｘ線によるバックグラウンドが低減され、所望のＳ／Ｂ比を有する回折パターンが測定される。 - 特許庁

The apparatus includes a laser for outputting an incident laser beam towards the sample and a first diffractive element having a plurality of diffraction pattern portions.例文帳に追加

本装置は、入射レーザビームを試料に向けて出力するレーザと、複数の回折パターン部分を有する第１回折要素とを含む。 - 特許庁

Since the diffraction pattern of the diffraction element 2 has the shape of a sin curve, the spot of the sub beam is larger than that of the main beam.例文帳に追加

回折素子２の回折パターンはｓｉｎ曲線の形状をなしているため、副ビームのスポットは主ビームのスポットよりも大きくなる。 - 特許庁

The beam 3 diffracted by the hologram board 16 forms inside the workpiece 1 a unit diffraction pattern for diffracting visible light.例文帳に追加

ホログラム板１６により回折された回折ビーム３が、加工対象物内１に、可視光を回折させる単位回折パターンを形成する。 - 特許庁

The central molding surface 41b has a plurality of diffraction patterns DP and the pitch of the diffraction pattern DP of at least the outermost periphery is 10 μm or below.例文帳に追加

中央側成形面41bは複数の回折パターンDPを有し、少なくとも最外周の回折パターンDPのピッチは10μｍ以下である。 - 特許庁

A Fraunhofer X-ray diffraction pattern is generally photographed about 50 to 150 mm behind the specimen under a condition where there is no lens to focus the X-rays. 例文帳に追加

X線を集束するレンズがない条件下では、試料の約50〜150mm後ろでフランホーファーX線回折図形が一般的に撮影される。 - 科学技術論文動詞集

Energy filtering of diffraction patterns makes it possible to investigate the contribution of electrons with different energy losses to the diffraction pattern. 例文帳に追加

回折図形のエネルギーフィルタリングは、異なるエネルギー損失を伴う電子の回折図形への寄与を(詳細に)研究することを可能にする。 - 科学技術論文動詞集

The formation of the electron channeling pattern by backscattered electrons is related to that of the electron backscatter diffraction pattern by the reciprocal theorem. 例文帳に追加

後方散乱電子による電子チャンネリングパターンの形成は、相反定理により後方散乱電子回折パターンの形成と関係している。 - 科学技術論文動詞集

The diffraction optical element comprises: a first diffraction pattern 11 which diffracts incident light and generates illumination light of illuminating a first region A; and a second diffraction pattern 12 which is formed adjacently to the first diffraction pattern 11, diffracts incident light and uses at least a part of the diffracted light to generate illumination light for illuminating a second region B1(B) other than the first region A.例文帳に追加

入射した光を回折させ、第１領域Ａを照明する照明光を生成する第１回折パターン１１と、該第１回折パターン１１に隣接して形成されるとともに、入射した光を回折させ少なくとも回折された光のうち一部が第１領域Ａ以外の第２領域Ｂ１（Ｂ）を照明する照明光を生成する第２回折パターン１２とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

The method for manufacturing the diffraction optical element comprises transferring a shape of a die 7 with a diffraction pattern to a resin material 8 and releasing the solidified resin material 8 without deformation of the fine shape of projecting and recessing parts constituting the diffraction pattern.例文帳に追加

回折パターンを有する型７の形状を樹脂８材料に転写することにより、回折光学素子を製造するための回折光学素子の製造方法であって、回折パターンを構成する凹凸の微細形状を変形させることなく、固化した樹脂材料８を離型させる。 - 特許庁

A stable crystalline dihydrate D olanzapine polymorph has a typical X-ray powder diffraction pattern as represented by specific interplanar spacings, or a stable crystalline dihydrate B olanzapine polymorph has a typical X-ray powder diffraction pattern as represented by specific interplanar spacings.例文帳に追加

特定の面間隔によって示される典型的なＸ線粉体回折パターンを有する安定な結晶２水和物Ｄオランザピン多形又は、特定の面間隔によって示される典型的なＸ線粉体回折パターンを有する結晶２水和物Ｂオランザピン多形。 - 特許庁

X-ray diffraction pattern (lattice plane spacing d/Å): 13.2±0.6, 12.3±0.3, 9.0±0.3, 6.8±0.3, 3.9±0.2, 3.5±0.1, and 3.4±0.1.例文帳に追加

Ｘ線回折パターン格子面間隔ｄ／Å（オングストローム）１３．２±０．６１２．３±０．３９．０±０．３６．８±０．３３．９±０．２３．５±０．１３．４±０．１ - 特許庁

This insert contains, in addition, W_2C in an amount such that in the X-ray diffraction pattern the peak ratio W_2C(101)/W(110) is ∠ 0.3.例文帳に追加

このインサートは、他にＷ_2Ｃを含み、Ｘ線回折パターンにおいてピーク比Ｗ_2Ｃ（１０１）／Ｗ（１１０）が０．３未満になる量である。 - 特許庁

This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ±0.1) of 10.2, 12.7, 18.4 and 22.3°.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１０．２、１２．７、１８．４及び２２．３度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

For further magnification of the image or diffraction pattern, the viewing screen in a two-lens system is replaced with subsequent intermediate and projector lenses. 例文帳に追加

像または回折図形のさらなる拡大のためには、2レンズ系の観察スクリーンは、その後に続く中間および投影レンズに置き替えられる。 - 科学技術論文動詞集

In addition, the coefficient of variation of the first peak intensity showing the maximum intensity in an X-ray diffraction pattern inside a stimulable phosphor layer face is set at 40% or lower.例文帳に追加

そして、輝尽性蛍光体層面内のＸ線回折パターンにおいて最大強度を示す第１ピーク強度の変動係数を４０％以下とする。 - 特許庁

An inspection film 10 is irradiated with a laser beam from a laser 11, and Fourier transform is executed by a lens 13, and a Fraunhofer diffraction pattern is obtained on a screen 14.例文帳に追加

被検査フィルム１０には、レーザ１１からのレーザビームが照射され、レンズ１３でフーリエ変換されて、スクリーン１４にはFraunhofer回析パターンが得られる。 - 特許庁

Related to the coat 12, A/B is 1 or higher for an X-ray diffraction pattern, where A is a peak intensity on (111) surface while B is a peak intensity on (220) surface.例文帳に追加

皮膜１２は，Ｘ線回折パターンにおける，（１１１）面のピーク強度をＡ，（２２０）面のピーク強度をＢとした場合，Ａ／Ｂが１以上である。 - 特許庁

To provide a molding die of an optical element having a mark serving as measurement reference capable of correct shape evaluation of a stepped diffraction pattern.例文帳に追加

階段状となる回折パターンの形状評価を正確に行うことができる測定基準としてのマークを有する光学素子の成形金型を提供する。 - 特許庁

Related to silicon carbide, A/B is 1 or higher for an X-ray diffraction pattern, where A is a peak intensity on (111) surface while B is a peak intensity on (220) surface.例文帳に追加

かつ，炭化珪素体は，Ｘ線回折パターンにおける，（１１１）面のピーク強度をＡ，（２２０）面のピーク強度をＢとした場合，Ａ／Ｂが１以上である。 - 特許庁

To appropriately define coordinates of respective spots in a nano electron beam diffraction pattern to calculate a lattice plane distance with sufficient accuracy.例文帳に追加

本発明の課題は、ナノ電子線回折パタンにおける各スポットの座標を適切に定義し、格子面距離を精度良く算出することを目的とする。 - 特許庁

To provide a card authenticity discriminating device capable of objectively discriminating the authenticity of the card having a hologram where an image based on a diffraction pattern is formed.例文帳に追加

回折パターンに基づく画像が形成されたホログラムを有するカードの真贋を客観的に判定することのできるカードの真贋判定装置を提供する。 - 特許庁

Zirconium hydroxide having an X-ray diffraction pattern exhibiting amorphous characteristics and a BET specific surface area of 250 m^2/g or more is prepared.例文帳に追加

水酸化ジルコニウムを、Ｘ線回折パターンが非晶質の特徴を示し、かつ２５０ｍ^２／ｇ以上のＢＥＴ表面積を有するものとする。 - 特許庁

The center spot alone can be shielded from light, which realizes a high degree of diffraction pattern of high precision.例文帳に追加

目的の回折像を遮光することなく、中心スポットのみを遮光できるように作用するので、高次レベルの回折像を高精度で得ることができる。 - 特許庁

The graphite powder having a spacing of (002) planes in c axis determined by a lattice constant precision measuring method from X-ray diffraction pattern of 3.368 Å or less is preferably used.例文帳に追加

黒鉛粉末は、Ｘ線回折図から格子定数精密測定法で求めたｃ軸(002) 面格子間隔の値が3.368 Å以下であるのが好ましい。 - 特許庁

Especially, the sum total of the absolute value of the difference of the light quantity between the normalized output from the line sensor and the approximate expression of the Fresnel diffraction pattern is calculated as the correlation value.例文帳に追加

特にラインセンサの正規化出力とフレネル回折パターンの近似式との光量の差の絶対値の総和を相関値として計算する。 - 特許庁

Besides, it is also possible to adjust the light quantity of a diffraction pattern by the usual diffracted light beam 1b to reproduce information by the dummy diffracted light beam 1c.例文帳に追加

また、ダミーの回折光１ｃにより、情報を再生する通常の回折光１ｂによる回折像の光量調整を行うことも可能である。 - 特許庁

Information, indicating diffraction pattern intensity, may be used to determine one or more sample characteristics and/or one or more pattern characteristics.例文帳に追加

１若しくは複数のサンプル特性及び／または１若しくは複数のパターン特性を決定するために、回折パターン強度を示す情報が用いられることがある。 - 特許庁

To provide a Fourier iterative phase retrieval method which can reconstruct a real image close to an original image even for an incomplete diffraction pattern including noise or the like.例文帳に追加

ノイズなどを含む不完全な回折パターンに対しても、オリジナルに近い実像を再構成することができる、フーリエ反復位相回復法を提供する。 - 特許庁

The polymorphic crystals of donepezil hydrochloride (I)-(IV) and (V) expressed by chemical formula (A) characterized in a powder X-ray diffraction pattern and an infrared absorption spectrum are provided.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折パターンおよび赤外吸収スペクトルにおいて特徴付けられる、下記化学式で表される塩酸ドネペジルの多形結晶(I)〜(IV)と(V)。 - 特許庁

Thus, the degree of diffusion of a laser beam made incident on the effective diffraction pattern 15 of the diffraction grating 2 is narrowed, and aberration generated in a diffracted optical beam is suppressed.例文帳に追加

これにより回折格子２の有効回折パターン１５に入射されるレーザービームの拡散度を狭くし、回折光ビームに発生する収差を抑制する。 - 特許庁

This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ+0.1) of 3.4, 10.2, 13.7, 17.1 and 20.7°.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、３．４、１０．２、１３．７、１７．１及び２０．７度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

This hologram element 10 has colored members 4 for element identification at the outside of a hologram pattern 3 which is a diffraction pattern disposed on one surface of a substrate 1.例文帳に追加

基板１の一方表面に設けられた回折パターンであるホログラムパタ−ン３よりも外周部に素子識別用の着色部材４が設けられている。 - 特許庁

To easily acquire the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a short time.例文帳に追加

不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を短時間で容易に取得することを実現する。 - 特許庁

Such a magnesium-alloy sheet as has a highest proportion between the peak of the (111) face and its equivalent peak in the X-ray diffraction pattern is used.例文帳に追加

Ｘ線回折パターンにおける（１１０）面のピーク及びこれと等価なピークの比率が最も高くなるようなマグネシウム合金薄板を用いる。 - 特許庁

This crystal polymorphism gives a powder X-ray diffraction pattern having strong diffraction peaks at the diffraction angles (2θ±0.1) of 10.1, 10.4, 15.5, 17.0, 20.0 and 20.2°.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折図形で、回折角（２θ±０．１）において、１０．１、１０．４、１５．５、１７．０、２０．０及び２０．２度に強い回折ピークを示す結晶多形。 - 特許庁

It is possible to write a computer program which will determine the Bravais lattice type, unit-cell dimensions, and crystal system from a spot diffraction pattern rather than a CBED pattern. 例文帳に追加

CBED図形よりもむしろ点状の回折図形からブラベー格子の型、単位胞の大きさおよび結晶系を決定するコンピュータプログラムを書くことが可能である。 - 科学技術論文動詞集

Here, a perfect crystal means a parallel-sided slab of defect-free crystalline material, which produces an ideal point diffraction pattern when illuminated by a plane wave. 例文帳に追加

ここで、「完全結晶」とは欠陥がない結晶性の平行平板を意味し、これは平面波で照らされるとき理想的な「点状の」回折図形を作る。 - 科学技術論文動詞集