「電子イオン化法」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

運動エネルギーの分布幅の極めて狭い電子流を生成して、その電子流により個々の成分のイオン化ポテンシャルの差異に基づく選択イオン化を可能とする試料イオン化方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample ionizing method which enables to carry out selective ionization basing on ionizing potential differences among each component by generating and using an electron beam which has a very narrow distribution of kinetic energy. - 特許庁

一方、電子衝撃イオン化法の際は、導管１４と吸引管２１とを接続する。例文帳に追加

On the other hand, the conduit tube 14 is connected to the suction tube 21 in an electron ionization method. - 特許庁

固体撮像素子およびその製造方法、電子情報機器、イオン化スパッタリング装置例文帳に追加

SOLID-STATE IMAGE PICKUP ELEMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, ELECTRONIC INFORMATION EQUIPMENT AND IONIZATION SPUTTERING DEVICE - 特許庁

イオン化法として電子イオン化法を採用した質量分析において、イオン源内の残留水分による影響を抑えて正確な測定データを得ることができる同位体濃度の分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for analyzing isotopic concentration capable of obtaining accurate measurement data by suppressing the influence caused by residual water in an ion source in mass spectrometry adapting electron ionization as an ionization method. - 特許庁

われわれは、電子エネルギー損失分光のイオン化エッジの微細構造(ELNES)における体積の寄与から表面の寄与を分離する手法を示す。例文帳に追加

We present a method to separate surface from volume contributions in the fine structure of ionization edges in electron energy-loss spectroscopy (ELNES).  - 科学技術論文動詞集

フーリエ比法は、内殻イオン化エッジを、低(エネルギー)損失電子の影響から畳み込みを解いて得る(デコンボリューションする)だけである。例文帳に追加

The Fourier-ratio method only deconvolves inner-shell ionization edges from the influence of low-loss electrons.  - 科学技術論文動詞集

イオントラップ内で、試料あるいは試薬ガスを電子衝撃イオン化（ＥＩ）等によりイオン化する際に、大量に生成されるイオンをイオントラップ電極間空間から排除し、極微量にしか生成されない負イオンを優先的に捕捉し、高感度に分析可能な、内部イオン化型のイオントラップによる質量分析法ならびにその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device for mass spectrometry by an internal ionization ion trap analyzable with high sensitivity by eliminating ion formed in a mass quantity, from a space between ion trap electrodes, and preferentially capturing negative ion formed only in a trace quantity in ionizing a sample or reagent gas in the ion trap by electron impact ionization(EI) or the like. - 特許庁

また、電子写真感光体の製造において、前回製造の電荷輸送材料のイオン化ポテンシャルが小さい場合、次に使用する塗布液を前回生産とのイオン化ポテンシャルの差が０．２５ｅＶ以内の電荷輸送材料を構成材料とする塗布液にすることでΔＶＬを１５Ｖ以内に抑える電子写真感光体の製造方法。例文帳に追加

In the method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor, when the ionization potential of a previously manufactured charge transport material is low, ΔVL is controlled within 15 V by preparing a coating liquid containing a charge transport material having at most 0.25 eV difference in ionization potential between the material and the previously manufactured charge transport material as a coating liquid to be used next time. - 特許庁

質量分析法および／または電子常磁性共鳴分光法用のイオン化技術間のＥＳＩ、ＦＩ、ＦＤ、ＬＩＦＤＩ、およびＭＡＬＤＩ素子およびハイブリッド手段を結合する調整可能なイオン源圧力を有するイオン源例文帳に追加

ION SOURCE HAVING ADJUSTABLE ION SOURCE PRESSURE FOR CONNECTING ESI-, FI-, FD-, LIFDI- AND MALDI-ELEMENTS AND HYBRID MEANS BETWEEN IONIZATION TECHNIQUES FOR MASS SPECTROMETRY AND/OR ELECTRON PARAMAGNETIC RESONANCE SPECTROSCOPY - 特許庁

超音波分子ビーム中のサンプルの改良された電子イオン化液体クロマトグラフィ質量分光測定のための毛管で分離された蒸発チェンバーおよびノズルの方法および装置の提供。例文帳に追加

To provide a capillary separated evaporation chamber and a nozzle device and method that are used for improved electron ionization liquid chromatography mass spectrometry of a sample in a supersonic molecular beam. - 特許庁

塩を添加剤として使って、極性溶媒内で非電荷性、非塩基性および低極性である試料を分析する段階を含むことを特徴とする電子噴霧イオン化質量分析方法である。例文帳に追加

This electronic atomization ionization mass spectrometry includes a step for analyzing the non-chargeable, non-basic and low-polar sample in a polar solvent, using a salt as an additive. - 特許庁

試料をイオン源に導入して電子イオン化法によりイオン化して質量分析することにより、前記試料中の特定の元素の安定同位体の濃度を求める際に、前記イオン源に前記試料と共に不活性ガス、例えば、ヘリウム、窒素、アルゴン、ネオン、クリプトン及びキセノンの少なくとも１種を同時に導入する。例文帳に追加

In mass spectrometry by introducing a sample to an ion source and ionizing it by electron ionization, the sample and at least one kind of inert gas such as helium, nitrogen, argon, neon, krypton and xenon are simultaneously introduced to the ion source when determining concentration of a stable isotope of a specific element in the sample. - 特許庁

クラスターのイオン化方法または装置において、クラスターイオンビーム源５を備え、該クラスターイオンビーム源を、クラスターに照射される光の波長を内殻電子による電離が起きるエネルギー持つ波長範囲に制御可能とした波長制御機構（回折格子，アパチャースリット）を有する構成とし、オージェ過程を利用してクラスターを多価にイオン化するように構成する。例文帳に追加

In the method and the apparatus for ionizing cluster, a cluster ion beam source 5 is included, the cluster ion beam source has a wavelength control mechanism (diffraction grating, aperture slit) capable of controlling the wavelength of the light irradiated on the cluster in a wavelength range having the energy to cause ionization by inner shell electron, and the cluster is ionized in multivalent manner by utilizing Auger process. - 特許庁

静止した永久磁石から、磁石に蓄えられている磁場エネルギーを他系に仕事を与えるエネルギーとして放出すること、そして核と軌道電子を結合するクーロン力を上回る磁気力を引き出すことにより、磁場内の原子、分子をイオン化する方法。例文帳に追加

To provide a method for ionizing atoms and molecules, by discharging a field energy given to a magnet as energy for imparting work to another system from a stationary permanent magnet and deriving a magnetic force that exceeds the Coulomb force for bonding a nucleus to orbital electrons. - 特許庁

従来の電子衝撃法によるイオン化ではクラスターのフラグメント化防止と実用的なビーム電流を両立することは困難であるが、本発明を用いることによって、クラスターのフラグメント化を防止しながら、実用的なビーム電流を得ることができる。例文帳に追加

Although it is difficult to balance prevention of the fragmentation of the cluster with a practical beam current by ionization by a conventional electron impact method, the practical beam current can be provided while preventing the fragmentation of the cluster by this application. - 特許庁

本発明のフッ化物薄膜の形成方法は、金属ターゲットを用い、少なくともフッ素を含むガスで反応性スパッタを行うことにより、基板上に金属フッ化薄膜を形成する薄膜形成方法において、フッ素を含むガスのイオン化エネルギー以下で電子を該フッ素を含むガスに照射することにより該フッ素を含むガスを活性化して導入しスパッタを行うことを特徴とする。例文帳に追加

The fluoride thin film depositing method is characterized in that gas containing fluorine is activated and introduced to perform sputtering by irradiating electrons on the gas containing fluorine at the energy below the ionization energy of the gas containing fluorine in a thin film depositing method to deposit a metal fluoride thin film on a substrate by performing the reactive sputtering with the gas containing at least fluorine by using a metal target. - 特許庁

一態様において、電子装置製造処理チャンバの構成部分をクリーニングするための方法であって、ａ）上記部分の最表面の意図していない被覆層１０６を酸でスプレーしてエッチングし、ｂ）残っている被覆層１０６を脱イオン化水で加圧洗浄し、ｃ）被覆層１０６の下層の意図的被覆層１０４を水酸化カリウムで処理する、ことを含む方法が提供される。例文帳に追加

In one aspect, a method of cleaning an electronic device manufacturing process chamber part is provided, including (a) spraying an unintentional coating 106 on the uppermost surface of the chamber part with an acid; (b) pressure spraying the residual coating 106 with deionized water; and (c) treating an intentional coating 104 being an under layer of the coating 106 with potassium hydroxide. - 特許庁

圧力、レーザ放射、および電界強度を適当に調整することにより、質量分析法および／または電子常磁性共鳴分光法により形成されたイオンまたはラジカル・イオンを検出し、イオン源を交換しないで、同じイオン容量で、ＥＳＩ、ＦＩ、ＦＤ、ＬＩＦＤＩまたはＭＡＬＤＩ、またはこれらのハイブリッドにより分析用物質をソフト・イオン化するための技術を提供する。例文帳に追加

This invention provides a technique effecting a soft ionization of an analyte substance by ESI, FI, FD, LIFDI, MALDI or a hybrid thereof with the same ion volume without replacing an ion source by appropriately adjusting pressure, laser radiation and electric field intensity to detect ions or radical ions formed by a mass spectrometry and/or an electron paramagnetic resonance spectroscopy. - 特許庁

導電性の有無に係わらず物質表面の電荷移動力を正確に測定しうる電荷移動力検出装置及び方法を提供し、その測定により、物質の識別、局所的なイオン化エネルギー、電子親和力、仕事関数、界面の分極状態、界面の反応性等の物理的および化学的性質の検出を可能にする。例文帳に追加

To provide a charge moving force detection apparatus and method capable of accurately measuring the charge moving force of the surface of a substance, regardless of conductivity and non-conductivity and to detect the discrimination of the substance and physical and chemical properties such as local ionization energy, electron affinity, work function, interface polarizing state or interface reactivity by the measurement of the charge moving force. - 特許庁