「AFM」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Then a dent shape 1a' (or 1b') thus formed is subjected to high-fidelity AFM observation by means of a thin probe of high aspect ratio to check the direction of the vertical surface or the vertical edge, followed by storing an angular error θ.例文帳に追加

形成した圧痕形状1a’(又は1b’)をアスペクト比の高い細い探針で高忠実AFM観察を行い、垂直面または垂直な稜の方向を調べてその角度誤差θを記憶しておく。 - 特許庁

Furthermore, the measurement data processing device 10 acquires surface shape data measured by the AFM 20 from the AFM 20 (surface shape data acquisition unit 104) and displays the data on a display device 40 (display unit 105).例文帳に追加

また、計測データ処理装置１０は、ＡＦＭ２０により計測された表面形状データを、ＡＦＭ２０から取得し（表面形状データ取得部１０４）、表示装置４０に表示する（表示部１０５）。 - 特許庁

The pin retaining layer is extended from the ABS to the tip of the rear edge part of the AFM layer, and brought into contact with the first shield, and a path is provided for passing a detected current to the tunnel joined layer by bypassing the electric insulating AFM layer.例文帳に追加

ピン止め層はＡＢＳからＡＦＭ層の後縁部の先に延び第１のシールドに接触し、検知電流が電気絶縁ＡＦＭ層をバイパスしてトンネル接合層まで流れる経路を与える。 - 特許庁

When a DLC film is anodized by a conductive AFM probe 4, DLC reacts with moisture 5 stuck to a substrate and a needle point is oxidized and changed to a volatile component 7 such as CO_2, and locally removed.例文帳に追加

DLC膜を導電性のAFM探針4で陽極酸化するとDLCが基板や針先に吸着した水分5と反応し、酸化されCO_2等の揮発性の成分7に変わり、局所的に除去されることを利用する。 - 特許庁

A black defect region 3 is recognized by the observation of AFM, and anodic oxidation is repetitively performed only on the black defect region 3 in selective scanning while a height is monitored in the middle of work and the black defect is removed.例文帳に追加

AFMの観察で黒欠陥領域3を認識し、加工途中で高さをモニターしながら選択的な走査で黒欠陥領域3のみ繰り返し陽極酸化を行って黒欠陥を除去する。 - 特許庁

On the other hand, a second averaging means 44 averages the output of the AFM model for each specified period by sampling it at specified sampling periods longer than the sampling periods of the output of the AFM.例文帳に追加

一方、第２の平均化処理手段４４は、ＡＦＭモデル出力をＡＦＭ出力のサンプリング周期よりも長い所定のサンプリング周期でサンプリングして所定期間毎に平均化する。 - 特許庁

Then, the tip of the CNT401 is made close to the sample surface, and the sample surface is AFM-observed in tapping mode.例文帳に追加

その後、ＣＮＴ４０１の先端を試料面に近接させ、タッピングモードによりＡＦＭ観察する。 - 特許庁

To perform temperature measurement of a fine scale using AFM, highly accurately with excellent responsiveness.例文帳に追加

ＡＦＭを用いた微小スケールの温度計測を応答性よく且つ高精度にて行えるようにすること。 - 特許庁

AFM measured data is smoothed by weighted movement averaging for weighting points to obtain an average.例文帳に追加

ＡＦＭ測定データを、各点に重み付けをして平均を取る荷重移動平均にて、データのスムージングを行う。 - 特許庁

To shorten the measuring time of AFM measurement and to reduce the damage of a sample.例文帳に追加

本発明の課題は、ＡＦＭ測定の計測時間を短縮化し、試料へのダメージを低減することである。 - 特許庁

To accurately measure a high-aspect structure in a digital probing system AFM (atomic force microscope).例文帳に追加

ディジタルプロービング方式のＡＦＭ（原子間力顕微鏡）において、高アスペクト構造を高精度で測定する。 - 特許庁

A relationship between the intercooler pressure corresponding to the air flow rate measured value AFM and an atmospheric pressure is determined from two coordinates (P_amax, P_icmax) and (P_amin, P_icmin), and an intercooler pressure measured value P_ic is applied to the relationship to calculate a current atmospheric pressure P_a.例文帳に追加

そして、２つの座標（P_amax，P_icmax）及び（P_amin，P_icmin）から空気流量測定値AFMに対応するインタークーラ圧と大気圧との関係を求め、同関係にインタークーラ圧測定値P_icを当てはめて現在の大気圧P_aを算出する。 - 特許庁

At least one antiferromagnetic (AFM) tab is connected to the first free layer on a surface thereof opposite the spacer layer, the AFM tab having a second areal extent that is smaller than the first areal extent.例文帳に追加

少なくとも１つの反強磁性（ＡＦＭ）タブが、第１のフリー層に、スペーサ層とは反対側のその表面上で接続されており、ＡＦＭタブは、第１の面積範囲よりも小さい第２の面積範囲を有する。 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) functions as the dipping pen nano-lithography (DPN) for writing a pattern on a gold substrate (AU) by transferring molecules from the chip of the interatomic force microscope (AFM) to the gold substrate (AU).例文帳に追加

該原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）は、原子間力顕微鏡チップ（ＡＦＭ）から金基板（ＡＵ）へ分子を移動して金基板（ＡＵ）上にパターンを書き入れるための、つけペンナノリソグラフィ（ＤＰＮ）として作動する。 - 特許庁

The detecting error in the intake air flow rate equivalent to the lead heating is determined as a detecting error in AFM output voltage.例文帳に追加

リード加熱分の吸気流量の検出誤差を、ＡＦＭ出力電圧の検出誤差として求める。 - 特許庁

Surface area percentage of one of the uppermost surface layer of the substrate is 1.05 to 1.5 field vision by 1 μm angle of AFM measurement.例文帳に追加

一方の最表層の表面積率がＡＦＭ測定の１μｍ角の視野で１．０５〜１．５である基板。 - 特許庁

The AFM output error VERR is corrected by a correction rate A according to the intake air flow rate (S4 and S5).例文帳に追加

そして、ＡＦＭ出力誤差ＶＥＲＲを吸気流量に応じた補正率Ａにより補正する（Ｓ４、Ｓ５）。 - 特許庁

The exchange-coupling film 13 is provided between the AFM layer 12 and the AP2 layer 14 constituting a pinned layer 17.例文帳に追加

ＡＦＭ層１２とピンド層１７を構成するＡＰ２層１４との間に交換結合膜１３を設ける。 - 特許庁

The AFM layer 232 is constituted on the lower layer 238 having a treated surface 233 having anisotropic unevenness.例文帳に追加

ＡＦＭ層２３２は、異方性凹凸を有する処理表面２３３を有する下層２３８の上に構成される。 - 特許庁

The AFM probe includes: an elastically deformable hollow frame having a fixed end and a movable end on one axis; an AFM tip supported by the movable end to be movable axially against a test sample; and a stopper disposed on the inner surface of the hollow frame to control a movement of the AFM tip within a predetermined range.例文帳に追加

本発明によるＡＦＭプローブは、一軸線上に固定端と可動端を有する弾性変形可能な中空フレームと、可動端に支持され、試験片に対抗して軸線方向に移動可能なＡＦＭチップと、中空フレームの内側面に設けられ、ＡＦＭチップの軸線方向への移動を決められた範囲内で規制するストッパーと、を備える。 - 特許庁

The lamination structure is coupled to at least one antiferromagnetic (AFM) tab a predetermined offset distant from the ABS.例文帳に追加

積層構造は、ＡＢＳから所定のオフセット距離を空けて少なくとも１つの反強磁性（ＡＦＭ）タブに結合される。 - 特許庁

The resin molding surface 3 has <0.2 [nm] surface roughness Ra measured by an atomic force microscope (AFM).例文帳に追加

樹脂成形面３の表面粗さＲａは、原子間顕微鏡（ＡＦＭ）で測定した場合に、０．２［ｎｍ］未満となっている。 - 特許庁

The management of the rugged step difference amount after the CMP treatment can also be performed by the measuring pattern and the AFM measuring unit.例文帳に追加

なお、ＣＭＰ処理後の凹凸段差量の管理も、測定パターンとＡＦＭ測定装置によって行うことができる。 - 特許庁

To remove a black defect with less over etching by detecting a finish point by an AFM (Atomic Force Microscope) photomask defect correcting apparatus.例文帳に追加

ＡＦＭフォトマスク欠陥修正装置で終点検出によりオーバーエッチングの少ない黒欠陥除去を行う。 - 特許庁

Resultantly, the sample stand 12 is adsorbed firmly onto the Z-scanner in the durable degree to application to high-speed AFM.例文帳に追加

その結果、試料台１２は、高速ＡＦＭへの適用に耐えうる程度にＺスキャナーに強固に吸着される。 - 特許庁

Since the measurement can be performed at the position positioned based on the AFM observation, the positional accuracy can be improved.例文帳に追加

ＡＦＭ観察に基づいて位置決めされた位置で計測できるので、位置決め精度の向上を図ることができる。 - 特許庁

To perform stable AM detection even if a cantilever having a high Q value is used in a vacuum in an intermittent mode AFM.例文帳に追加

間歇モードＡＦＭにおいて、真空中でＱ値の高いカンチレバを用いても安定したＡＭ検出を行なえるようにする。 - 特許庁

A magnetic resistance sensor 200 includes a fixed layer structure fixed by exchange-coupling to an antiferromagnetic (AFM) layer 232.例文帳に追加

磁気抵抗センサ２００は反強磁性（ＡＦＭ）層２３２に交換結合することによって固定された固定層構造体を含む。 - 特許庁

A first averaging means 45 averages the output of the AFM for each specified period by sampling it at specified sampling periods.例文帳に追加

第１の平均化処理手段４５は、ＡＦＭ出力を所定のサンプリング周期でサンプリングして所定期間毎に平均化する。 - 特許庁

LOCALLY DEGENERATE SEMICONDUCTOR YBCO ELEMENT USING AFM CHIP, SUPERCONDUCTOR YBCO ELEMENT, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

ＡＦＭチップを用いた局所変質半導体ＹＢＣＯ素子及び超伝導体ＹＢＣＯ素子並びにそれらの製造方法 - 特許庁

In the method of correcting a photomask defect, after making an electrical continuity in an isolated pattern by a metal deposition film 7 by use of an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source, the defect 3 is corrected; and after the correction, the metal deposition film 7 is physically removed by an AFM (atomic force microscope) scratch working probe 9.例文帳に追加

電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームを用いた金属デポジション膜7で孤立したパターンに導通を作ってから欠陥3を修正し、修正後金属デポジション膜7をAFMスクラッチ加工探針9で物理的に除去する。 - 特許庁

The AFM fixes magnetization of the SAF through contact with the pinning region of the SAF stretching laterally over the magnetic tunnel junction.例文帳に追加

ＡＦＭは、磁気トンネル接合を超えて横方向に伸延するＳＡＦのピニング領域との接触を通じて、ＳＡＦの磁化を固定する。 - 特許庁

A surface shape observer (STO) that id a disturbance observer for estimating the surface shape measured by AFM is realized as an open loop, that is independent of a feedback loop in a closed-loop system; and since the band of AFM will not affect the stability of the closed-loop system, AFM which is widened farther in band than the feedback control system can be provided.例文帳に追加

本発明によれば、閉ループ方式において、ＡＦＭで計測する物体の表面形状を推定する外乱オブザーバである表面形状オブザーバ（ＳＴＯ）は、フィードバックループとは独立な開ループで実現され、本発明に係るＡＦＭの帯域は、閉ループ方式の安定性に影響を与えることはないため、フィードバック制御系よりも高帯域化されたＡＦＭを提供することができる。 - 特許庁

In this case, an averaged value is obtained by dividing the integrated value of the sampling data on the output of the AFM in the specified period by the number of times of sampling.例文帳に追加

その際、所定期間内のＡＦＭ出力のサンプリングデータの積算値をサンプリング回数で除算して平均値を求める。 - 特許庁

A micro-structure of a four-probe type atomic force probe (4PAFM probe) manufactured on the basis of a conventional AFM probe is schematically shown.例文帳に追加

従来のＡＦＭプローブを基にして作製された、４探針型原子間力プローブ（４ＰＡＦＭプローブ）のミクロ構造を模式的に示す。 - 特許庁

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

A correction similar to the correction of irradiated region with respect to the pattern matching processing from the usual secondary ion image or secondary electron image of the ion beam defect correcting device is performed and a defect region 3b which is extracted by the AFM and is subjected to fine adjustment by the conformation of the pattern for alignment is corrected by ion beams 8.例文帳に追加

イオンビーム欠陥修正装置の通常の二次イオン像もしくは二次電子像からのパターンマッチング加工に対する照射領域の補正と同様な補正を行い、AFMで抽出し、位置合わせ用のパターンの合わせ込みで微調整された欠陥領域3bをイオンビーム8で修正する。 - 特許庁

In addition to the increase in exchange-bias magnetic field in the AFM layer 12, the resistance-area (RA) product and the MR ratio which contribute to reproducing characteristics are increased.例文帳に追加

ＡＦＭ層１２において交換バイアス磁界が増加すると共に、再生特性に寄与する抵抗（ＲＡ）およびＭＲ比が増加する。 - 特許庁

To detect a change in frequency with a high sensitivity and to improve the detection gain in the simultaneous observation of a non-contact atomic force microscopic(NC-AFM) image and a potential image.例文帳に追加

ＮＣ−ＡＦＭ像と電位像の同時観察において高感度での周波数の変化の検出と検出利得の向上を図る。 - 特許庁

In this manner, in the apparatus shown in Fig. 1, the cantilever in AFM is also used as the extraction electrode in the atom probe electric field ion microscope.例文帳に追加

このように、図１の装置では、ＡＦＭにおけるカンチレバーを、アトムプローブ電界イオン顕微鏡における引出電極として兼用している。 - 特許庁

A TMR sensor 1 is constructed by sequentially stacking a seed layer 14, an AFM layer 15, a pinned layer 16, a spacer layer 17, a free layer 18, and a cap layer 19.例文帳に追加

ＴＭＲセンサ１は、シード層１４、ＡＦＭ層１５、ピンド層１６、スペーサ層１７、フリー層１８およびキャップ層１９が順に積層されたものである。 - 特許庁

To provide a scanning proximity field optical microscope improved to obtain an AFM image along with an SNOM image.例文帳に追加

本発明は、ＳＮＯＭ像と一緒にＡＦＭ像も得られるように改良された走査型近接場光学顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this case, the response delay model and the inverse model are set based on a difference between an estimated AFM passing air-quantity Gam and the intake air-quantity Qa.例文帳に追加

この場合応答遅れモデルと逆モデルとを、推定ＡＦＭ通過空気量Ｇａｍと吸入空気量Ｑａとの差分に基づいて設定する。 - 特許庁

Note that the average surface roughness Ra is measured by scanning an area of 10 μmx10 μm employing an interatomic force microscope (an AFM).例文帳に追加

ここで、平均表面粗さＲａは、原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を用いて、１０μｍ×１０μｍの範囲を走査して測定されたものである。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) probe structure includes a cantilever (8) and a planar type tip (19) mounted on the cantilever (8) extending along its longitudinal direction (x).例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）プローブ構成は、カンチレバー（８）と、カンチレバー（８）に装着され、その長手方向（ｘ）に沿って延びるプレーナ型チップ（１９）とを備える。 - 特許庁