「AFM」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method of dipping pen nano-lithography (DPN), a substrate processed by patterning by DPN, a kit for carrying out DPN, and an AFM chip coated by hydrophobic compound.例文帳に追加

「つけペン」ナノリソグラフィ（ＤＰＮ）の方法、ＤＰＮによってパターニングされた基板、ＤＰＮを行うためのキット及び疎水性化合物で被覆されたＡＦＭチップを提供する。 - 特許庁

The magnetite powder is obtained by reducing hematite and is characterized in that a layered uneven pattern having an interval of 5-80 μm is observed on the surface of each particle in an AFM (atomic force microscope) image.例文帳に追加

ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）像において粒子表面に５〜８０ｎｍ間隔の層状凹凸模様が観察されるヘマタイトを還元してなるマグネタイトの粉末。 - 特許庁

To provide a magnetic tunnel joining (MTJ) device having an antiferromagnetic (AFM) layer and used as a magnetic sensor in a magnetic disk drive or a memory cell in a magnetic random access array.例文帳に追加

反強磁性ＡＦＭ層を有し、磁気ディスク・ドライブ中の磁界センサ、または磁気ランダム・アクセスアレイ中のメモリ・セルとして使用する磁気トンネル接合ＭＴＪデバイス。 - 特許庁

Further, the magnetic layer is, by combining with the AFM layer by exchange-coupling, fixed strongly by intensive anisotropy provided by a surface texture of the lower layer.例文帳に追加

更に、磁性層は、ＡＦＭ層に交換結合して組み合わさることによって、また下層の表面テクスチャによって付与された強い異方性によって強く固定される。 - 特許庁

To perform observation utilizing proximity field light and observation utilizing a principle similar to AFM and STM for one microsample with high accuracy.例文帳に追加

一つの微小な試料に対して、近接場光を利用した観察と、ＡＦＭ及びＳＴＭなどと同様の原理を利用した観察とを、高精度に行うことを可能とする。 - 特許庁

The pinned layer 16 has a synthetic antiferromagnetic pinned structure formed by sequentially stacking an AP2 layer 163, a coupling layer 162 and an AP1 layer 161 from the AFM layer 15.例文帳に追加

ピンド層１６は、ＡＦＭ層１５の側から、ＡＰ２層１６３と結合層１６２とＡＰ１層１６１とが順に積層されたシンセティック反強磁性ピンド構造を有する。 - 特許庁

The curved surface and the end surface of the substrate have surface roughness in the range of 4.0 Å≤Ra≤100 Å, preferably 4.0 Å≤Ra≤50 Å as measured by means of the AFM.例文帳に追加

さらに、この曲面や基板端面の表面粗さもＡＦＭで４．０Å≦Ｒａ≦１００Å、好ましくは４．０Å≦Ｒａ≦５０Åとする。 - 特許庁

Actually, an error initial value VERRINI# and a damping coefficient RELR# are used, and are reduced in a primary delay with the lapse of time, and an AFM output error VERR is set (S1 to S3).例文帳に追加

具体的には、誤差初期値ＶＥＲＲＩＮＩ＃と減衰係数ＲＥＬＲ＃とを用い、時間経過と共に一次遅れで減少させてＡＦＭ出力誤差ＶＥＲＲを設定する（Ｓ１〜Ｓ３）。 - 特許庁

In this case, the number of averaged data is set by correcting the number of times of sampling in the specified period by using a correction factor, virtual data is set by correcting the sampling data on the output of the AFM model by using a correction factor, and an averaged value is obtained by dividing the sampling data on the output of the AFM model and the virtual data by the number of the averaged data.例文帳に追加

その際、所定期間内のサンプリング回数を補正係数で補正して平均化データ数を設定すると共に、ＡＦＭモデル出力のサンプリングデータを補正係数で補正して仮想データを設定し、所定期間内のＡＦＭモデル出力のサンプリングデータと仮想データとの積算値を平均化データ数で除算して平均値を求める。 - 特許庁

In this tapping mode atomic force microscope (AFM) system 10, the probe 22 is excited at an excitation frequency other than the probe's first natural frequency to produce a response signal manifesting a grazing bifurcation between "non-collision" and "collision" states of the AFM system, so that an additional characteristic frequency component is generated in the "collision" state.例文帳に追加

タッピングモード原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）システム１０において、プローブ２２は、プローブの１次固有振動数以外の加振周波数にて励振され、ＡＦＭシステムの「非衝突」状態と「衝突」状態との間のグレイジング分岐を明示する応答信号を作り出し、その結果、付加的な特性周波数成分が「衝突」状態において創出される。 - 特許庁

Further, when the visual range 1 is detected within a distance of distinct vision (below 24 cm) by the AFM 31, an LED 41 flickers and a microminiature buzzer 42 sounds to output an alarm.例文帳に追加

さらに、ＡＦＭ３１によって、視距離ｌが明視距離以内（２４ｃｍ未満）と検知された場合は、ＬＥＤ４１が点減し超小型ブザー４２が鳴り警報を出力する。 - 特許庁

This polybenzazole fiber is characterized by having an uneven fiber surface and having a fiber surface area rate of ≥1.03 in an AFM (atomic force microscope) observation visual field range of 1×1 μm^2.例文帳に追加

繊維表面に凹凸を有し、当該繊維表面のＡＦＭ観察視野範囲１×１μｍ^2における表面積率が１．０３以上であることを特徴とするポリベンザゾール繊維。 - 特許庁

To provide a wafer evaluation method and a wafer evaluation apparatus for raising accuracy of alignment to effectively analyze and evaluate the wafer in the evaluation apparatus such as SEM or AFM or the like.例文帳に追加

ＳＥＭ、またはＡＦＭ等の評価装置でのアライメントの精度を高め、ウェーハの分析評価を効率的に行うことができるウェーハの評価方法および評価装置を提供。 - 特許庁

When an antenna 11 of a vehicle 3 is failed or damaged during driving of the vehicles 1 to 4, the AFM is changed as shown in Fig. and an antenna 11 is automatically switched to an antenna 12 (b).例文帳に追加

（ｂ）：車両１〜４の走行中に車両３のアンテナ１１が故障又は破損すると、そのＡＦＭが図示のように変化し、アンテナ１１がアンテナ１２に自動的に切替えられる。 - 特許庁

When AFM observation is performed using a CNT401 as the probe disposed separately from the nano tweezers 1, the CNT401 disposed in a CNT cartridge is gripped with the nano tweezers 1.例文帳に追加

ナノピンセット１と別体で設けられた探針であるＣＮＴ４０１を用いてＡＦＭ観察を行う場合には、ＣＮＴカートリッジに設けられたＣＮＴ４０１をナノピンセット１で把持する。 - 特許庁

To dispense with the necessity of an antiferromagnetic(AFM) layer in a sensor, to make realizable doubling of read signals and an operation in a differential mode showing high symmetry, and to make achievable a high reading performance.例文帳に追加

センサ内の反強磁性（ＡＦＭ）層の必要性をなし、読取り信号の倍増と、高い対称性を示すディファレンシャル・モードでの動作とを実現し、高い読取りパフォーマンスを達成する。 - 特許庁

Based on the AFM observation, a four-terminal probe unit 1 is positioned to a measuring position of the sample, probes 11a-14a are brought into contact with the sample, and the electric characteristic is measured.例文帳に追加

そして、そのＡＦＭ観察に基づいて、４端子プローブユニット１を試料の計測位置に位置決めし、プローブ１１ａ〜１４ａを試料に接触させて電気特性を計測する。 - 特許庁

After removing the external magnetic field, their entire are heat treated at a temperature higher than a blocking temperature of an AFM layer and lower than a Curie temperature of the first to third patterns 43A to 43 C.例文帳に追加

外部磁場を取り除いたのち、ＡＦＭ層のブロッキング温度よりも高く、かつ第１から第３のパターン４３Ａ〜４３Ｃのキュリー温度よりも低い温度で全体を熱処理する。 - 特許庁

One end of a cantilever 5 that is the component of AFM is mounted to a fixed stage 4, and a funnel-shaped probe 6 (extraction electrode) is formed at the tip of the cantilever 5.例文帳に追加

ＡＦＭの構成要素であるカンチレバー５の一端が固定ステージ４に取り付けられており、カンチレバー５の先端部には、漏斗状の探針６（引出電極）が形成されている。 - 特許庁

A projection aligner 10 is provided with an atomic force microscope(AFM) for measuring a latent image formed on a wafer W with a surface-reaction type resist subjected to silylation as a photosensitive layer.例文帳に追加

露光装置１０に、表面反応型のシリル化レジストを感光層としたウエハＷに形成される潜像を計測するため、原子間力顕微鏡ＡＦＭを備える構成とした。 - 特許庁

A surface analysis method of an insulation material with an atomic force microscope includes performing AFM measurement by suppressing charging of the insulation material due to static electricity under high humidity environment.例文帳に追加

高湿度環境下で絶縁材料の静電気による帯電を抑制してＡＦＭ測定を行う原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法である。 - 特許庁

The MTJ element 8 includes: an AFM layer 11, an SyAF pinned layer 12, a tunnel barrier layer 13 comprised of crystalline MgO made by applying natural oxidation process to a magnesium layer, and a free layer 14.例文帳に追加

ＭＴＪ素子８は、ＡＦＭ層１１と、ＳｙＡＦピンド層１２と、マグネシウム層を自然酸化処理してなる結晶質のＭｇＯを有するトンネルバリア層１３と、フリー層１４とを含む。 - 特許庁

On a seed layer 11, an antiferromagnetic layer 12, an outer pinned layer 20, an AFM coupling layer 14, an inner pinned layer 15, a barrier layer 16, a free layer 17 and a cap layer 18 are provided in this order.例文帳に追加

シード層１１上に、反強磁性層１２、外側ピンド層２０、ＡＦＭ 結合層１４、内側ピンド層１５、バリア層１６、フリー層１７およびキャップ層１８をこの順で備えている。 - 特許庁

Thereby the phase difference of the phase shifting part is measured by the level difference measuring instrument such as an AFM and the phase difference is calculated while considering damage applied to a light shielding film when forming the phase shifting part.例文帳に追加

したがって、その位相シフト部の位相差をＡＦＭ等の段差測定器で測定し、また、この位相シフト部を形成する際の遮光膜が受けたダメージも考慮して位相差を算出する。 - 特許庁

The selected region of the surface of the substrate, containing one of a plurality of the points, is measured using AFM (stage 60), and the microroughness measured value of the selected region is provided (stage 70).例文帳に追加

複数のポイントのうちの一つを含む基板表面の選択された領域をＡＦＭを使用して測定し（段階６０）、選択された領域のマイクロラフネス測定値を提供する（段階７０）。 - 特許庁

Thus, not only the response delay caused in the detection part but also the response delay caused in the circuit part can be compensated, so that the response delay of the AFM is highly accurately compensated.例文帳に追加

これによれば、検出部において生じる応答遅れだけではなく、回路部において生じる応答遅れを補償することができるため、高精度にＡＦＭの応答遅れを補償することができる。 - 特許庁

A sensor body of an air flow meter (AFM) is equipped with a flow channel diaphragm part 22 which gradually reduces width of a diaphragm flow channel 23 from the center side of the height direction of the diaphragm flow channel 23 toward both sides.例文帳に追加

空気流量計（ＡＦＭ）のセンサボディは、絞り流路２３の高さ方向の中央側から両側に向かって絞り流路２３の幅を徐々に減少させる流路絞り部２２を備えている。 - 特許庁

The aluminum support shows a surface area ratio ΔS of not less than 5% calculated by formula (I) based on three-dimensional data measured using an interatomic force microscope (AFM) and not higher than 20% steepness a45.例文帳に追加

ここで、ΔＳ^5(0.02-0.2)は、原子間力顕微鏡を用いて得られる３次元データから、波長０．０２〜０．２μｍの成分を抽出して求めた値であり、ΔＳ^5は以下の式（Ｉ）より算出した値である。 - 特許庁

To provide user-friendly substrate for SPM which makes orientation of any sample on the substrate easier and is shaped suitable for various standards of SPM, or underwater observation by AFM, and the like.例文帳に追加

基板上の試料の位置特定を容易にし、様々なＳＰＭの規格や、ＡＦＭによる液中観察等にも適切な形状を有する、使い勝手に優れたＳＰＭ用の基板を提供すること。 - 特許庁

Therefore, when the probe 2 is charged up during measurement, the electrostatic force with a body to be measured cannot change, thus measuring accurate electrostatic force when using for an AFM or the like.例文帳に追加

よって、測定中に探針２がチャージアップし、それによって被測定体との間の静電力が変化することがないので、たとえばＡＦＭ等に用いる場合に、正確な原子間力の測定が可能となる。 - 特許庁

Titanium carbonitride powder of 64 pts.wt., titanium carbide powder of 30 pts.wt., AFM alloy iron powder as an assistant of 6 pts.wt. and methanol are mixed in a ball mill for 48 hours, and obtains spray granulated powder.例文帳に追加

炭窒化チタン粉体６４重量部、炭化チタン粉体３０重量部、助剤であるＡＦＭ合金鉄粉体６重量部、及びメタノールをボールミルにて４８時間混合し、スプレー造粒粉を得た。 - 特許庁

The oxygen-added seed layer 11, AFM layer 12, binder layer 14, upper pinned layer 41, and free layer 25 are formed by sputter deposition using oxygen-added argon (Ar) gas.例文帳に追加

これらの酸素が添加されたシード層１１、ＡＦ層１２、結合層１４、上部ピンド層４１およびフリー層２５は、酸素が添加されたアルゴン（Ａｒ）ガスを使用してスパッタ成膜されることにより形成される。 - 特許庁

To provide a probe and a cantilever for realizing an AFM (Atomic Force Microscope) having high resolution, and a method for manufacturing the probe and the cantilever easily and surely.例文帳に追加

高い分解能を有するＡＦＭを実現し得るプローブ及びカンチレバーと、それらプローブ及びカンチレバーを簡易且つ確実に製造することが可能な製造方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an AFM cantilever constituted so that a probe part is strongly held so as to be hardly detached from a lever part without increasing the weight of the probe part by keeping the lever part thin, and its manufacturing method.例文帳に追加

レバー部の厚さを薄くしたまま探針部の重量を増加させることなく、探針部がレバー部から外れにくいように強固に保持させたＡＦＭカンチレバー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

A TMR device includes a laminate 1 on which a seed layer 14, an AFM layer 15, a pinned layer 16, a tunnel barrier layer 17, a free layer 18, and a gap layer 19 are laminated in order on a lower shield layer 10.例文帳に追加

ＴＭＲ素子は、下部シールド層１０の上に、シード層１４，ＡＦＭ層１５，ピンド層１６，トンネルバリア層１７，フリー層１８，キャップ層１９が順に積層された積層体１を有する。 - 特許庁

A TMR device has a laminated body 1 on which a seed layer 14, an AFM layer 15, a pinned layer 16, a tunnel barrier layer 17, a free layer 18, and a gap layer 19 are laminated in order on a lower shield layer 10.例文帳に追加

ＴＭＲ素子は、下部シールド層１０の上に、シード層１４，ＡＦＭ層１５，ピンド層１６，トンネルバリア層１７，フリー層１８，キャップ層１９が順に積層された積層体１を有する。 - 特許庁

The substrate for the magnetic disk has ≤0.3 nm long wavelength waviness and ≤0.2 nm AFM surface roughness as its surface characteristics.例文帳に追加

特に、実生産レベルの加工速度を有し、波長の短い表面粗さ（ＡＦＭ表面粗さ）と波長の長いうねり（長波長うねり）を同時に満足させた磁気ディスク用基板およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can perform a device test for a shorter time by applying a bank memory provided in an AFM and being not used and storing fall information from a DUT.例文帳に追加

ＡＦＭ内に備える使用されていなかったバンクメモリを適用して、ＤＵＴからのフェイル情報を格納させることで、より短時間にデバイス試験が実施可能な半導体試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a halftone phase shift mask by which no correction scum of a residual defect is left when the residual defect of a halftone phase shift mask is removed by using an AFM (atomic force microscope) correcting device.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクの残留欠陥をＡＦＭ型修正機を用いて除去する際、残留欠陥の修正カスを残さないハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cantilever which shows good vibration characteristics in usual AFM measurement and can further perform cell operation by suppressing the damage applied to a cell to the utmost in the case used in the cell operation.例文帳に追加

通常のＡＦＭ測定において良好な振動特性を示し、更に、細胞操作に用いられた場合には、細胞に与えるダメージを極力抑えて細胞操作を行うことのできるカンチレバーを提供すること。 - 特許庁

Oxygen (O_2) is added to a seed layer 11, an AFM layer 12, a binder layer 14 and an upper pinned layer 41 of a SyAP pinned layer 18, and a free layer 25, from among a series of layers from the seed layer 11 to a protective layer 27.例文帳に追加

シード層１１から保護層２７に至る一連の層のうち、シード層１１、ＡＦＭ層１２、ＳｙＡＰピンド層１８のうちの結合層１４および上部ピンド層４１、ならびにフリー層２５に酸素（Ｏ_2 ）を添加する。 - 特許庁

The surface lubricant index of the magnetic layer is in the range of 1.3-5.0, and the central surface mean roughness SRa in the area of 40 μm×40 μm measured by the atomic force microscopy (AFM) is equal to or less than 4 nm.例文帳に追加

前記磁性層の表面潤滑剤指数は１．３〜５．０の範囲であり、かつ原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）により測定された４０μｍ×４０μｍの面積での中心面平均粗さＳＲａは４ｎｍ以下である。 - 特許庁

A composite upper shield layer S2p has a structure wherein an FM layer S2a-1 and an FM sub layer 16, an AFCT layer 17, an FM sub layer 18 and an FM layer S2a-2, and an AFM layer 19 are layered in this order.例文帳に追加

複合上部シールド層Ｓ２ｐは、ＦＭ層Ｓ２ａ−１およびＦＭサブ層１６と、ＡＦＣＴ層１７と、ＦＭサブ層１８およびＦＭ層Ｓ２ａ−２と、ＡＦＭ層２０とがこの順に積層された構造を有する。 - 特許庁

The arithmetic mean of roughness Ra when a surface of the accumulated material 17 with which the insulating layer 15 is contacted on the substrate 18 side is observed within a range of 1 μm^2 by using an AFM probe with a 10 nm tip diameter is less than 3 nm.例文帳に追加

絶縁層１５が基板１８の側において接する被堆積物１７の表面を、先端径が１０ｎｍのＡＦＭ探針を用いて１μｍ^２の範囲で観察した時の算術平均粗さＲａが３ｎｍ未満である。 - 特許庁

To obtain a structure for implementing scanning on the stage side by an AFM nanoprober, using multiple probes which quickly corrects the positional relation between a sample and probes, avoids conflicts among the probes, and facilitate electrical measurements in a submicron region.例文帳に追加

多探針を用いたＡＦＭナノプローバで、ステージ側のスキャンを行う構造にして、試料と探針の位置関係の補正を迅速に行い、探針同士の衝突を回避して、サブミクロン領域での電気測定を容易にできるようにする。 - 特許庁