「Defect Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

The inspection unit blocks are all the same size and area, and their size is determined so it can be covered by performance of defect inspecting devices used in a manufacturing line of the device.例文帳に追加

また、検査単位ブロックは全て同じ寸法面積で、その大きさはデバイスの製造ラインで使用される欠陥検査装置の性能が及ぶ程度にされる。 - 特許庁

A surface defect detector 3 is provided on an inspection line and the surface defects of a cold-rolled steel sheet 1 are detected and input to a marking controller 5.例文帳に追加

検査ラインには表面欠陥検出器３が設けられ、冷延鋼板１の表面欠陥を検出してマーキング制御装置５に入力する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of detecting a focusing position of an oblique detection system and a position of illumination with high accuracy, and setting the position of illumination with high accuracy.例文帳に追加

斜方検出系の合焦位置と照明の位置とを高精度に検出し、照明の位置を高精度に設定可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of rapidly detecting problems by transmitting defect information such as the number of occurred defects in an easily understood manner.例文帳に追加

欠陥の発生数などの欠陥情報を分かり易く伝えることで、問題点の検知を迅速に行うことができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

This automated defect inspection system has been invented and is used to inspect patterned wafers, whole wafers, broken wafers, partial wafers, waffle packs, MCMs, and the like.例文帳に追加

自動化欠陥検査システムが発明され、これはパターン化されたウェハ、全ウェハ、破損ウェハ、部分ウェハ、ワッフルパック、ＭＣＭなどを検査するために使用される。 - 特許庁

To determine a binarization threshold, coping with a brightness fluctuation in various magnetic particle flaw inspection images, reduce misdetections, and attain a high defect detection rate.例文帳に追加

様々な磁粉探傷画像の輝度変動に対応可能な２値化のしきい値の決定して、誤検出を少なくすると共に高い欠陥検出率を実現する。 - 特許庁

The defect inspection device inputs the illuminance distribution of the light detected by the detection optical system, and calculates the thresholds by pixels of the detection optical system based upon the input data.例文帳に追加

検出光学系で検出された光の照度分布を取り込み、取り込んだデータを基に、検出光学系の画素毎にしきい値を算出する。 - 特許庁

The apparatus also includes a defect inspection unit 100 which detects a defective place formed on the board before the board is loaded on the stage 220.例文帳に追加

また、前記基板が前記ステージ２２０にローディングされる前に、前記基板に形成された欠陥の位置を検出する欠陥検査部１００をさらに含む。 - 特許庁

To appropriately calibrate a non-destructive inspection apparatus by fully ensuring a reflection strength of defect echoes FE from a hole bottom surface 33 in a flat-bottomed hole 31.例文帳に追加

平底穴３１の穴底面３３からの欠陥エコーＦＥの反射強度を十分に確保して、非破壊検査装置を適切にキャリブレーションすること。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device that embodies high resolution and a fast inspection speed for a technique for inspecting a pattern on a wafer by using an electron beam.例文帳に追加

電子ビームを用いたウェハ上パターンを検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

On the other hand, measurement of line width, measurement of overlap and inspection of macro defect are carried out after the substrate is developed and heat-treated and before being returned back to an indexer ID.例文帳に追加

一方、線幅測定、重ね合わせ測定およびマクロ欠陥検査については現像後熱処理の後、インデクサＩＤに戻される前に行われる。 - 特許庁

To perform a precise defect inspection by eliminating the influence of a fluctuation in scale factor of a mapping projection optical system and also in scan sensitivity of a multi-beam optical system.例文帳に追加

写像投影光学系の拡大率の変動やマルチビーム光学系の走査感度の変動の影響を解消して精度のよい欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

To provide a simple defect inspection device, capable of inspecting defects based on diffracted light and scattered light from a substrate (object to be inspected) at high throughput.例文帳に追加

基板（被検物体）からの回折光と散乱光とに基づく欠陥検査を高スループットで行える簡素な欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

Thus, even when there is irregularity of the gradation value between the inspection image data and the reference image data, it is possible to correctly judge the defects or defect candidates.例文帳に追加

検査画像内の各画素について、第１の相関関係と第２の相関関係を基にその画素が欠陥を構成しているか否かを判定する。 - 特許庁

The inspection device 1 precisely inspects the defect of the inspected object having tightly arranged patterns (including rotated patterns).例文帳に追加

本検査装置１は、密接配置された絵柄（回転移動した絵柄を含む）を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。 - 特許庁

To cope with detection/classification of a defect on different patterns photographed at different places of an inspection object, and to improve accuracy of an automatic classification result.例文帳に追加

検査対象物の異なる場所で撮影した違うパターン上の欠陥の検出・分類に対応し、なおかつ自動分類結果の精度を向上させる。 - 特許庁

To acquire not only the position of a defective portion of an inspected body but a defect quantity thereof with high accuracy, as to a method of inspection using a guided wave.例文帳に追加

ガイド波を用いた検査方法において、検査体の欠損部分の位置だけでなく、その欠損量を高精度に得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of relatively easily determining a threshold even when a new product type is added to a manufacturing line.例文帳に追加

製造ラインに新たな製品種別が追加された場合であっても、比較的容易にしきい値を決定することができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for defect inspection, capable of reliably detecting defects regardless of the kind of the defects, and to provide a method of manufacturing a pattern substrate.例文帳に追加

欠陥の種別によらず、確実に欠陥を検出する欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びパターン基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method capable of detecting a defective part difficult to be detected in a prior art, irrespective of a shape and a directivity thereof.例文帳に追加

従来検出が困難であった欠陥部について、その形状や方向性に関係なく検出可能な欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

An image data operating processor 17 compares image data to be subjected to comparing inspection among the image data, detects the different data and acquires the detected data as the defect data.例文帳に追加

画像データ演算処理部１７は、画像データ中の比較検査すべき画像データについて比較して、異なるデータを検出し欠陥データとして取得する。 - 特許庁

To easily and surely inspect a dot-like defect articulately existent on an inspection image, which is obtained by picking up the image of printed matter, together with a picture.例文帳に追加

印刷物を撮像して得られる検査画像上に絵柄と共に明瞭に存在する点状欠陥を容易且つ確実に検査できるようにする。 - 特許庁

Accordingly, defect inspection can be performed in the state where a pattern of a polycrystal is not reflected on the image and a density image can be acquired only from a defective spot.例文帳に追加

このことにより、多結晶体の模様が画像に映ることがないようにし、欠陥個所のみ濃淡のある画像を得ることにより欠陥検査を行う。 - 特許庁

To aim at improvement of image recognition when a defect of a pin mounted on a base is detected by an image processing so as to enhance accuracy and efficiency of pin inspection.例文帳に追加

画像処理によって、口金に取り付けられたピンの不良を検出する場合の画像認識性向上を図り、ピンの検査の精度、効率を高める。 - 特許庁

To provide a mask inspection method and an apparatus therefor in which a defect can be detected stably even in a region where surface roughness varies.例文帳に追加

表面ラフネス（roughness）が変化している領域においても、安定して欠陥を検出することができるマスク検査方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of replenishing the learning pattern of a neural network and capable of enhancing the recognition ratio to non-learned data.例文帳に追加

ニューラルネットワークの学習用パターンの不足を補い、また、未学習データに対する認識率を高めることができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

In this defect inspection method, while moving a wafer, illumination having each different illuminance is irradiated to each measuring domain on the wafer (S1), and each measuring domain is imaged (S2).例文帳に追加

ウェハを移動させながら、ウェハの各測定領域に対して異なる照度の照明を照らし（ステップＳ１）、各測定領域を撮像する（ステップＳ２）。 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus which is improved in discharging performance of an electronic part when a feeding defect of the electronic part to a disk is generated.例文帳に追加

円盤への電子部品の供給不良が生じた場合におけるその電子部品の排出性を向上した外観検査装置の提供。 - 特許庁

To provide an inspection method of a flat sample capable of inspecting with high sensitivity a defect not only on the surface of the flat sample but also inside or on the rear.例文帳に追加

平板状試料の表面のみならず、内部、裏面の欠陥に対して、感度良く検査することができる平板状試料の検査方法を得る。 - 特許庁

To provide a method of inspecting an array substrate and an inspection device thereof, which allow a disconnection defect of a gate line to be detected even when potential is applied from both ends of the gate line.例文帳に追加

ゲート線の両端から電位を印加してもゲート線の断線不良を検知できるアレイ基板の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for plate glass or the like capable of detecting simply an edge and capable of detecting accurately a defect such as a flaw or a stain.例文帳に追加

エッジの検出を簡便に行うことができ、傷、汚れなどの欠点の検出を正確に行うことができる板ガラスなどの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of obtaining a matrix number accurately at high speed, and not requiring a complicated operation such as designation of a retrieval range.例文帳に追加

正確かつ高速に行列番号を求めることができ、かつ検索範囲を指定する等の煩雑な操作が不要になる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To keep detection precision as to foreign matter, a defect, etc., uniform above a constant level and to enable highly reliable inspection.例文帳に追加

異物や欠陥等の検出精度を均一、かつ一定の水準以上に維持できるようにすると共に、信頼性の高い検査をできるようにする。 - 特許庁

To enable to easily determine whether the reason for causing a failure is due to a panel failure or a contact failure, when a lighting defect occurs during a lighting inspection.例文帳に追加

点灯検査時に点灯不良が生じたとき、それがパネル不良に起因するものかコンタクト不良に起因するものかを容易に判断できるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection method of an optical film, capable of inspecting a defect precisely by preventing sufficiently reflection of light onto the optical film.例文帳に追加

光学フィルムへの光の映り込みを十分に防止して、欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and device capable of high-accuracy inspection of the defect of a photomask having a light-shielding part, light-transmitting part and fine pattern part, in a short time.例文帳に追加

遮光部と、透過部と、微細パターン部とを有するフォトマスクにおいて、短時間でかつ高精度な欠陥検査を行うことができるを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of a can lid joint (seaming part), having superior detection accuracy, capable of detecting whatever joint defect accurately and surely.例文帳に追加

検出精度に優れ、どのような接合不良でも正確かつ確実に検出することができる缶蓋接合部（巻締め部分）の検査装置を提供すること。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM CONTROLLER, CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE USING THE SAME, CHARGE PARTICLE BEAM DEFECT INSPECTION DEVICE AND CONTROL METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビーム制御装置、及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、荷電粒子ビーム欠陥検査装置、並びに荷電粒子ビーム制御方法 - 特許庁

To provide a defect inspection device for electroluminescent element capable of surely discriminating RGB colors, and is further, capable of inspecting a plurality of pixel areas on a manufacturing line.例文帳に追加

ＲＧＢの色を確実に識別でき、さらに製造ライン上で複数の画素領域を検査できるエレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection technology, capable of determining a defect with high sensitivity up to the most peripheral part of a memory mat part of a semiconductor device or up to a peripheral circuit that has no repeatability.例文帳に追加

半導体装置のメモリマット部の最周辺部や、繰り返し性の無い周辺回路まで高感度に欠陥判定できる検査技術を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of detecting a fine pattern with high resolution, and a device therefor, and a method of manufacturing a semiconductor substrate with a high yield.例文帳に追加

微細なパターンを高い分解能で検出する欠陥検査方法、その装置及び半導体基板を高歩留まりで製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method which enables a defect inspection in a perpendicular magnetic recording medium with a high degree of sensitivity and in a short period of time, and provide a program for executing the above.例文帳に追加

高感度かつ短時間で垂直磁気記録媒体中の欠陥検査を可能とする方法およびそれを実行するためのプログラムを提供すること。 - 特許庁

The automated defect inspection system 10 has been invented and is used to inspect patterned wafers, whole wafers, broken wafers, partial wafers, waffle packs, MCMs, etc.例文帳に追加

自動化欠陥検査システム（１０）が発明され、これはパターン化されたウェハ、全ウェハ、破損ウェハ、部分ウェハ、ワッフルパック、ＭＣＭなどを検査するために使用される。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting defects where the light intensity felt by the image of inspected object is not much difference from that of a normal section.例文帳に追加

被検査物体像が感じる光強度が正常部とあまり変わらない欠陥を検出することが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electrooptical device wherein existence of point defect or the like can be easily determined by full lighting inspection before cutting short circuit lines.例文帳に追加

短絡配線を切断する前に全点灯検査により点欠陥等の有無を容易に判断できるようにした電気光学装置を提供する。 - 特許庁