「IC electrical contact」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a method in which both the electrode terminal of an electrical component such as an IC package or the like, and a contact object member such as a contact pin or the like are brought into electrical and mechanical contact under an always proper contact pressure without being mechanically damaged.例文帳に追加

ＩＣパッケージなどの電気部品の電極端子とコンタクトピンなどのコンタクト対象部材の双方を機械的損傷を与えることなく常に適正なコンタクト圧力でもって電気的機械的接触させる方法。 - 特許庁

A signal processing unit (IC substrate) 5 for transmitting the electrical signal to the optical element 4A or for receiving the electrical signal from the optical element 4A, and a connector 6 to/from which an external electrical contact terminal is attachable/detachable, are mounted on the mount substrate 3.例文帳に追加

光素子４Ａに電気信号を送信するまたは光素子４Ａから電気信号を受信するための信号処理部（ＩＣ基板）５と、外部の電気接触端子を着脱可能なコネクタ６とは、マウント基板３に実装されている。 - 特許庁

The chamfers 24 abut on an IC package 12 following this closing motion, a resulting wedge effect depresses the IC package 12 in the mounting direction, and terminals of the IC package 12 are depressed against the contact pins 16, thus providing reliable electrical connection.例文帳に追加

この閉動作で、面取り２４がＩＣパッケージ１２に当接してその楔効果でＩＣパッケージ１２を装着方向に押圧し、ＩＣパッケージ１２の端子をコンタクトピン１６に押圧して確実な電気的接続を得る。 - 特許庁

To prevent IC card deformation and prevent electrical conduction failure by removing contact pressure on a card side contact part when ACC power supply is off, and prevent IC card theft.例文帳に追加

ＡＣＣ電源のオフ時にカード側接点部への接触圧力を除去することにより、ＩＣカードの変形を防止し、電気的導通不良を予防すると同時に、ＩＣカードの盗難を未然に防止する。 - 特許庁

To maintain the total number of electrical contacts of an IC card to handle high speed data communications and non-contact protocol.例文帳に追加

ＩＣカードの電気接点の総数を維持しつつ、高速データ通信及び非接触のプロトコルの処理を可能とする。 - 特許庁

To provide a highly convenient communication control device of a non-contact/contact dual IC card capable of preventing a crime such as an electrical interception prevention by selecting a communication system of a non-contact/contact dual IC card by the will of an owner, and a cell phone device.例文帳に追加

所持者の意思によって非接触／接触両用ＩＣカードの通信方式を選択することができ、盗聴防止等の防犯を図ることが可能な利便性の高い非接触／接触両用ＩＣカード制御装置及び携帯電話装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket for an IC package having a plurality of pads disposed in a matrix shape on its lower surface, whereby the IC package can be mounted to it by a small number of operations to make sure of electrical connection of the pad and a contact after the IC package is mounted.例文帳に追加

下面に複数のパッドがマトリックス状に配置されたＩＣパッケージ用のＩＣソケットに関し、少ない操作でＩＣパッケージを装着することができ、装着後のパッドとコンタクトの電気的接続を確実にする。 - 特許庁

The wafer is placed on a hot chuck, and probes 18 of the probe card 17 are brought into contact with each of electrodes 15 of the IC chips 14 that are formed on the wafer, thus an electrical test of the IC chips 14 being conducted.例文帳に追加

ウェハをホットチャック上に搭載し、ウェハ上に形成されたＩＣチップ１４の各電極１５にプローブカード１７のプローブ１８を接触させてＩＣチップ１４の電気的テストを行う。 - 特許庁

To establish electrical connection between at least one contact pad of at least one sheet of IC card and the corresponding electro-conductive element of printed circuit board in a laminated IC card connector.例文帳に追加

積層化されたＩＣカードコネクタは、少なくとも１枚のＩＣカードの少なくとも１つの接触パッドと、印刷回路板の対応導電素子との電気接続を確立する。 - 特許庁

This information management system using the non-contact IC card function is constructed of a portable terminal 110 with the noncontact IC card function, a terminal device 120, and a home electrical appliance 130.例文帳に追加

非接触ＩＣカード機能を利用した情報管理システムは、非接触ＩＣカード機能付き携帯端末１１０と、端末装置１２０と、家電機器１３０から構成される。 - 特許庁

The back face of the IC chip 3 is subjected to polishing to thin the chip thickness, and an insulating layer 11 is formed at the back face subjected to polishing to prevent electrical contact between the MEMS chip and IC chip 3.例文帳に追加

ＩＣチップ３の裏面は、チップ厚を薄くするために研磨処理されており、その研磨処理された裏面には絶縁層１１が形成され、ＭＥＭＳチップとＩＣチップ３の電気的接触が防止されるようになっている。 - 特許庁

Also, by bringing a tip of the needle 13b into contact with the IC pad 22 at a predetermined tilt angle thereto, an insulation film formed on a surface of the IC pad 22 is satisfactorily peeled off, so that the electrical resistance between the probe pin 13 and the IC pad 22 is reduced.例文帳に追加

また、ニードル１３ｂの先端部をＩＣパッド２２に対して所定の角度で傾斜して接触させることにより、ＩＣパッド２２表面に形成された絶縁膜を良好に剥離して、プローブピン１３とＩＣパッド２２との電気抵抗を低減する。 - 特許庁

To provide a contact sheet of low cost which has a structure in which an electrical contact can be obtained certainly even if spring weight is small and can cope with high frequency and a narrow pitch in a connector which makes electrical connection of LGA and BGA terminals IC and a printed-circuit board without soldering.例文帳に追加

ＬＧＡ・ＢＧＡ端子ＩＣとプリント基板とをハンダ付けすることなく電気的接続をするコネクタにおいて、バネ加重が小さくても確実な電気的接触を得られる構造、高周波数、狭ピッチなどに対応できる安価なコンタクトシートの開発。 - 特許庁

A conductive path 600 extends between a wafer contact pad 606 on a top of the cap and an electrical contact point 208 on an IC wafer through the cap wafer.例文帳に追加

導電性経路６００は、キャップウエハを通して、キャップの上面上のウエハ接触パッド６０６とＩＣウエハ上の電気的接触点２０８との間を延びる。 - 特許庁

An IC measuring socket 1 includes C-form contacts 4 to generate connections with leads 3 of an IC 2 held in the socket, an each contact 4 is furnished with a sense pin 5 and force pin 6 for coming into electrical contact with the outside.例文帳に追加

ＩＣ測定用ソケット１において、その内部に保持するＩＣ２のリード３と接続するＣ字状のコンタクト４を有し、更に、該コンタクト４に外部との電気的接触を行うためのピンとしてセンスピン５とフォースピン６の２つのピンを設ける。 - 特許庁

This IC socket having an inserting type contact to form electrical connection by inserting the IC package in it is provided with the guide member to be mounted with the IC package, the IC loaded substrate to mount the guide member, and an elastically deformable engagement mechanism to slidably install the guide member on the IC loaded substrate.例文帳に追加

ＩＣパッケージを挿入して電気的接続を形成する挟み込みコンタクトを有するＩＣソケットにおいて、前記ＩＣパッケージが装着されるガイド部材と、該ガイド部材を載置するＩＣ搭載基板と、前記ガイド部材をＩＣ搭載基板に滑動可能に設置する弾性変形可能な係合機構を有する。 - 特許庁

To provide a resin laminated non-contact IC card, with which a circuit board for IC card for packaging electrical parts and the resin sheet of a surface layer are laminated by using an adhesive agent, improved in adhesion workability, the adhesion strength of a laminated part and smoothness on the surface of the card.例文帳に追加

電装部品を実装するＩＣカード用回路基板とその表層の樹脂シートが接着剤を用いて積層接着されており、接着作業性に優れ、該積層部の接着強度が高く、カード表面の平滑性に優れた樹脂積層型非接触式ＩＣカードを提供する。 - 特許庁

An ejector mechanism for inserting and extracting an IC card 12 into/from an IC card reader 10 provided with an electrical connector 30 having at least one terminal 34 engaged with at least one contact 36 provided on the surface of the card 12 is provided.例文帳に追加

ＩＣカード１２の表面に設けられた少なくとも１つのコンタクト３６に係合する少なくとも１つの端子３４を有する電気コネクタ３０を備えたＩＣカード読取装置１０に対してＩＣカード１２を挿入したり取り出したりするためのイジェクタ機構が提供される。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an IC card whereby the reliability of the electrical and mechanical connections of a contact type communications external electrode base (tab) can be enhanced.例文帳に追加

接触式通信用外部電極基板（タブ）の電気的接続及び機械的接続の信頼性を高めることができるＩＣカードの製造方法を提供する。 - 特許庁

This contact pin is used for inspecting the electrical characteristics of a semiconductor device and is provided in a probe card or an IC socket for electrically connecting the semiconductor device to a semiconductor inspection device.例文帳に追加

半導体デバイスの電気的特性の検査のために用いられ、半導体デバイスと半導体検査装置とを電気的に接続するプローブカード又はＩＣソケットに設けられたコンタクトピンである。 - 特許庁

A data processing unit 11 detects an electrical state varying depending on a distance of a transmission circuit 12 of a reader/writer 10, an antenna 13 or a reception circuit 14 with respect to a non-contact IC card 20.例文帳に追加

リーダ／ライタ１０の送信回路１２、アンテナ１３または受信回路１４にて非接触ＩＣカード２０との距離に応じて変化する電気的な状態をデータ処理部１１が検知する。 - 特許庁

In an electric lock system, electrical lock/unlock control is performed on an electric lock (3) built in an outside door of a general house in which auto-door-lock setting is not performed, using a non-contact IC card (1) and a reader/writer (2) therefor.例文帳に追加

電気錠システムは、オートドアロック設定にしていない一般住宅の室外扉に内蔵された電子錠（３）を、非接触ＩＣカード（１）及びそのリーダ／ライタ（２）を使用して電気的に施開錠制御する。 - 特許庁

To provide a bolster plate which is improved to enable an electrical contact region of a lower side of an IC component to hold into a desired flatness, by imparting a mechanical support necessary for the board.例文帳に追加

基板に必要とされる機械的な支持を与え、ＩＣ部品の下側の電気的な接触領域の所望の平坦性を保持することができる改善されたボルスター板を提供する。 - 特許庁

To provide an IC socket and a contact method thereof capable of suppressing failure at a lead bend and simply breaking electrical connection with a lead.例文帳に追加

リード曲りの不良の発生を抑制し且つ簡単にリードとの電気的接続を断つことができるＩＣソケット及びそのコンタクト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester in which manufacturing cost can be reduced by varying the pin count in units of pin-holding blocks, and proper electrical contact with a wafer can be achieved by providing a dummy load generating means.例文帳に追加

ピン保持ブロック単位でピン数を可変できて製造コストが低減でき、ダミー荷重発生手段が設けられてウェハとの良好な電気接触が実現できるＩＣテスタを実現する。 - 特許庁

The electrodes 31 of electrical connectors 30 arrayed in the supporting film 20, penetrating the supporting film 20 and then supported by the same, are brought into contact with the terminals 14 for IC chips via a conducting material 22.例文帳に追加

そして、支持フィルム２０に並べて貫通支持された複数の導電接続子３０の電極３１とＩＣチップ用端子１４とを導電材２２を介して接触させる。 - 特許庁

The contact probe of the socket for the electronic parts such as an IC socket is provided with a cylinder having an electrical connection, a plunger having the electrical connection which can reciprocate in the cylinder, and a coil spring which is arranged outside along the cylinder and the plunger and compressed when equipped to the IC socket.例文帳に追加

電子部品用ソケット、例えば、ＩＣソケットのコンタクトプローブは、電気的接続部を有するシリンダと、電気的接続部を有し、前記シリンダ内を往復動可能なプランジャと、前記シリンダ及び前記プランジャに沿って外側に配置され、ＩＣソケットに設置されたとき圧縮されるコイルバネとを備える。 - 特許庁

The IC socket with a contact forming an electrical connection inserting an IC package has an upper side insulation substrate, a lower side insulation substrate and a plurality of contacts arranged between the both insulation substrates, and the contacts are formed in a coil spring shape to apply preload, and are made to be contacted with external terminals of the IC package.例文帳に追加

ＩＣパッケージを挿入して電気的接続を形成するコンタクトを有するＩＣソケットにおいて、上側絶縁基板および下側絶縁基板と、両絶縁基板間に配列された複数個のコンタクトとを有し、前記コンタクトをコイルばね形に形成して予荷重をかけ、前記ＩＣパッケージの外部端子を接触させる。 - 特許庁

To provide a socket assembly for testing an IC chip, capable of improving reliability for electrical characteristics inspection by improving efficiency by selecting one of direct/indirect connection between a test board and the IC chip in accordance with its characteristics, and reducing the load capacity between probe pins through direct contact and terminals, the IC chip which uses the same, and a tester which uses the socket assembly.例文帳に追加

テストボードと集積素子との間の接続を集積素子の特性に従い直間接的方式のうちの一つを選ぶことにより効率性を高め、直接接続を通じたリードと端子との間の負荷容量を減らして電気的特性検査の信頼度を高めることができる集積素子テスタ用ソケット組立体とこれを用いる集積素子、及びこれを用いるテスタを提供するにある。 - 特許庁

A float prevention mechanism, preventing the moving member from floating up when moving, is formed to the IC socket comprising a plurality of clamping contacts forming an electrical connection with a mounted IC package, a socket main body on which, the contact is fixed, and the moving member opening and closing the contact.例文帳に追加

装着されたＩＣパッケージと電気的接続を形成する複数個の挟み込み形のコンタクトと、該コンタクトが固設されるソケット本体と、前記コンタクトを開閉する移動部材とを有するＩＣソケットにおいて、前記移動部材の移動時のせり上がりによる浮き上りを防止するための浮き上り防止機構を有する。 - 特許庁

The portable terminal 110 with the non-contact IC card function inputs purchased commodity information 101 via a non-contact IC card 111, generates commodity information by item by means of an article classification filter 112, and transmits the commodity information by item to the terminal device 120 and the home electrical appliance 130 from a communication part 113.例文帳に追加

非接触ＩＣカード機能付き携帯端末１１０は、非接触ＩＣカード１１１を通じて購入商品情報１０１を入力し、品目分類フィルタ１１２により品目別商品情報を生成し、通信部１１３により端末装置１２０及び家電機器１３０へ品目別商品情報を送信する。 - 特許庁

The integrated circuit IC charges a capacitor C2, and when it is charged to a default value, this circuit outputs a trigger signal so as to turn on a thyristor SCR; and a trip coil TC excitates and drive and makes the opening and closing contact 4 opened, and a three-phase four-wire system electrical path is cut off.例文帳に追加

集積回路ＩＣはコンデンサＣ２を充電し、既定値まで充電されるとトリガ信号を出力してサイリスタＳＣＲをオンし、トリップコイルＴＣが励磁駆動して開閉接点４を開離させ、３相４線式電路が遮断する。 - 特許庁

To supply or receive and detect an electric power under non-contact condition by a multiple-electrode probe in relation to a lead group of IC mounted on an inspected mounting substrate, and extract the electrical condition together with one to multiple connections relation about a plurality of leads connected to the conductor pattern of the inspected mounting substrate.例文帳に追加

被検査実装基板に実装されているＩＣのリード群に対して、多電極プローブにより非接触で給電又は受電・検出し、その電気的状態を、被検査実装基板の導体パターンに接続する複数のリードについて１対多の接続関係とともに抽出する。 - 特許庁

The insulating resin film 3 comprises a circuit pattern on which a plurality of conductive contact pads are formed corresponding to a plurality of bumps 21 of an IC 10, and which electrically connects the contact pads with an external electrical test circuit, and is made of a material capable of elastically deforming at a temperature of 150°C for a long period.例文帳に追加

絶縁性樹脂フィルム３は、ＩＣ１０の複数のバンプ２１に対応するように導電性の接触パッドが複数形成されると共に、該接触パッドと外部電気的テスト回路とを電気的に接続する回路パターンが形成され、１５０℃の温度環境下でも長期間弾性変形が可能な材料が使用される。 - 特許庁

Alternatively, the contact probe of the IC socket is provided with a hollow cylindrical barrel, two plungers having the electrical connection which can reciprocate in the hollow cylindrical barrel, and a columnar conductive elastic member which is arranged between the two plungers in the hollow cylindrical barrel and formed so as to be brought into surface contact with the plungers.例文帳に追加

又は、ＩＣソケットのコンタクトプローブは、中空円筒状バレルと、電気的接続部を有し、前記中空円筒状バレル内を往復動可能な２つのプランジャと、前記中空円筒状バレル内の前記２つのプランジャ間に配置され、該プランジャと面接触するように形成された円柱状導電性弾性部材とを備える。 - 特許庁

The medium for predictably cleaning the contact elements and support hardware of a tester interface, such as a probe card or a test socket, while it is still in manual, semi-automated, and automated handling device and the electrical test equipment are disclosed so that the function and performance of the individual die or IC package may be electrically evaluated.例文帳に追加

個々のダイ又はＩＣパッケージの機能及び性能を電気的に評価することができるように、手動、半自動、及び自動取扱装置にまだある間にプローブカード及び試験ソケットのような試験器インタフェースの接触要素及び支持ハードウエアを予測可能に清浄化するための媒体及び電気試験器具を開示する。 - 特許庁