「LSI circuit」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

OPERATING MODE SETTING CIRCUIT, LSI HAVING THE OPERATING MODE SETTING CIRCUIT, AND OPERATING MODE SETTING METHOD例文帳に追加

動作モード設定回路、動作モード設定回路を有するＬＳＩ、及び動作モード設定方法 - 特許庁

A low skew clock distribution circuit (10) is provided with a PLL circuit (7) and an LSI (11).例文帳に追加

本発明の低スキュークロック分配回路（１０）は、ＰＬＬ回路（７）と、ＬＳＩ（１１）とを具備する。 - 特許庁

To reduce the LSI area of a process element array logic circuit and power consumption for the circuit.例文帳に追加

プロセスエレメントアレイ論理回路のＬＳＩ面積の低減と消費電力の削減を図る。 - 特許庁

An LSI 1 is provided with an output buffer 2, a ringing detection circuit 3 and a control circuit 4.例文帳に追加

ＬＳＩ１は、出力バッファ２とリンギング検出回路３とコントロール回路４とを備える。 - 特許庁

To provide a circuit verifying device for automatically verifying a semiconductor integrated circuit (LSI).例文帳に追加

半導体集積回路（ＬＳＩ）の検証を自動的に行なう回路検証装置を提供する。 - 特許庁

TIMING ADJUSTMENT CIRCUIT OF DATA TRANSMISSION AND RECEPTION CIRCUIT, LSI, AND DATA TRANSMISSION AND RECEPTION SYSTEM例文帳に追加

データ送受信回路のタイミング調整回路、ＬＳＩ及びデータ送受信システム - 特許庁

To obtain a mode setting circuit which can switch the operation mode of an LSI without any circuit remodeling.例文帳に追加

回路変更を伴うこと無く、ＬＳＩの動作モードを切り替えることのできるモード設定回路を得る。 - 特許庁

To provide an ESD protection circuit which reliably protects an internal circuit of an LSI from an ESD current.例文帳に追加

ＥＳＤ保護回路によりＬＳＩの内部回路をＥＳＤ電流から確実に保護する。 - 特許庁

The LSI tester 1 comprises a bypass capacitor 2, a test circuit 3, and a charging/discharging circuit 4.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ１は、バイパス・コンデンサ２と、テスト回路３と、充放電回路４とを具備する。 - 特許庁

The LSI 5 includes a CPU 50 and a circuit part 51 constituting a rewritable circuit.例文帳に追加

ＬＳＩ５は、ＣＰＵ５０と、書換え可能な回路が構成される回路部５１とを有する。 - 特許庁

To supply a plurality of power sources to an LSI to supply a voltage required each for a circuit block, to minimize power consumption with maintaining information processing capacity required for the LSI, to reduce the number of wiring required for supplying the power sources as much as possible, and to suppress increase of chip area of the LSI and deterioration of performance of signal wiring caused by supplying two kinds of power source.例文帳に追加

LSIに複数の電源を供給して回路ブロックごとに必要な電圧の電源を供給し、LSIの必要情報処理能力を維持したまま消費電力を最小化するとともに、電源の供給に必要な配線を極力低減し、２種類の電源を供給することによって発生する、LSIのチップ面積の増加や信号配線の性能低下を抑えることである - 特許庁

The PLL circuit (7) distributes out the reference clock (RCK) from the LSI (11) to the (n) general IC (8-1 to 8-n), and outputs the feedback clock (FCK2) from the LSI (11) to the LSI (11).例文帳に追加

ＰＬＬ回路（７）は、ＬＳＩ（１１）からのリファレンスクロック（ＲＣＫ）を分配してｎ個の汎用ＩＣ（８−１〜８−ｎ）に出力し、ＬＳＩ（１１）からのフィードバッククロック（ＦＣＫ２）をＬＳＩ（１１）に出力する。 - 特許庁

To provide a tester circuit capable of verifying the logic operation of an LSI 2 mounted in a tester using an LSI tester 3 operating at a lower speed than the specified maximum speed of the LSI 2.例文帳に追加

テスタに搭載するＬＳＩ２の規定最高速度より低速度のＬＳＩテスタ３を用いてＬＳＩ２の論理動作の検証が可能なテスタ回路を提供する。 - 特許庁

To conduct a selection test of a test of a very-multiple-terminal LSI by an LSI tester which has a small number of terminals without incorporating a circuit dedicated to the test in the tested LSI.例文帳に追加

超多端子ＬＳＩのテストの選別テストを、被テストＬＳＩにテスト専用の回路を内蔵させることなく端子数が少ないＬＳＩテスタにより可能とする。 - 特許庁

A plate 10 for making uniform the temperature to an LSI, which is made of an aluminum plate and is placed on the upper surfaces of a plurality of LSI packages 13 packaged on a circuit substrate and is formed to connect the upper surfaces, is fixed to the upper surface of the LSI packages 13.例文帳に追加

回路基板に実装された複数のＬＳＩパッケージ１３の上面に、前記上面に載置され、上面同士を連結するように形成されたアルミ板とからなるＬＳＩ用均温プレート１０を取り付ける。 - 特許庁

This semiconductor device comprises a Lsi variation detection circuit 1 detecting the variance in gate length Lsi of formed MOS transistors, a comparison circuit 2 comparing output signals A, B of the Lsi variation detection circuit 1, and a potential control circuit 3 controlling a substrate potential of the MOS transistors in accordance with the output signal A of the Lsi variation detection circuit 1 and an output signal of the comparison circuit 2.例文帳に追加

この半導体装置は、形成されたＭＯＳトランジスタのゲート長Ｌｓｉのばらつきを検出するＬｓｉ変動検出回路１と、Ｌｓｉ変動検出回路１の出力信号Ａ，Ｂを比較する比較回路２と、Ｌｓｉ変動検出回路１の出力信号Ａおよび比較回路２の出力信号Ｃに応じてＭＯＳトランジスタの基板電位を制御する電位制御回路３とを含む。 - 特許庁

To solve the problem in the LSI package such as BGA type or the like that the power supply voltage supply terminal of the LSI package must be provided in the equal number as the power supply terminals of the LSI element, because of the influence of a high frequency current generated by the switching operation of an internal circuit of the LSI element.例文帳に追加

ＢＧＡタイプ等のＬＳＩパッケージにおいて、ＬＳＩ素子の内部回路のスイッチング動作で発生する高周波電流の影響でＬＳＩパッケージの電源電圧供給端子の数をＬＳＩ素子の電源端子と同数設けなければならない。 - 特許庁

A first resin coat layer for insulating electrically an LSI (large scale integrated circuit) pad 2 and a first contact electrode 4 which are formed on an individualized LSI chip 1 is extended to the outside of the outer rim end of the LSI chip 1 to enlarge a package so as to be bigger than the LSI chip 1.例文帳に追加

個片化されたＬＳＩチップ１上に形成されたＬＳＩパッド２及び第１コンタクト電極４を電気的に絶縁する第１樹脂コート層を、ＬＳＩチップ１外縁端よりも外側まで延出させ、ＬＳＩチップ１よりもパッケージを大きくする。 - 特許庁

To make a test of a system LSI efficient and to shorten development period of the system LSI by enabling a production test of the entire system LSI constituted on a logical integrated circuit such as an FPGA as for a development support system of the system LSI.例文帳に追加

システムＬＳＩの開発支援システムにおいて、ＦＰＧＡ等の論理集積回路上に構築したシステムＬＳＩ全体の実機テストができるようにして、システムＬＳＩのテストを効率化し、システムＬＳＩの開発期間の短縮化を図る。 - 特許庁

The frequency divided clock signal clk12 is inputted to a phase synchronizing loop circuit PLL1 and an output clock signal 1 from a circuit selected by a selector circuit SEL3 is distributed to the inside of an LSI through a frequency division circuit DIV2.例文帳に追加

分周されたクロック信号clk12は、位相同期ループ回路ＰＬＬ１に入力され、セレクタ回路SEL3により選択された回路の出力クロック信号が分周回路DIV2を経てLSI内部へ分配される。 - 特許庁

TEST PATTERN CREATING METHOD, TEST PATTERN CREATING SYSTEM, TEST METHOD AND TEST CIRCUIT FOR SYSTEM LSI例文帳に追加

システムＬＳＩのテストパターン作成方法，テストパターン作成装置，テスト方法及びテスト回路 - 特許庁

An LSI has a scan test mode for performing a scan test of an internal circuit.例文帳に追加

ＬＳＩは、内部回路をスキャンテストするためのスキャンテストモードを有する。 - 特許庁

RECONFIGURABLE ADDRESS GENERATION CIRCUIT FOR IMAGE PROCESSING, AND RECONFIGURABLE LSI HAVING THE SAME例文帳に追加

リコンフィグ可能な画像処理用アドレス生成回路及びそれを有するリコンフィグＬＳＩ - 特許庁

RECEPTION SYSTEM, MICROCOMPUTER, LSI CIRCUIT, DIGITAL BROADCAST SYSTEM, RECEPTION METHOD, PROGRAM, AND MEDIUM例文帳に追加

受信システム、マイコン、ＬＳＩ回路、デジタル放送システム、受信方法、プログラム、および媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, RECORDING MEDIUM, TEST DATA GENERATING APPARATUS, AND LSI TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体集積回路、記録媒体、テストデータ生成装置およびＬＳＩ試験装置 - 特許庁

To limit access from a debug I/F to an internal circuit in a system LSI.例文帳に追加

システムＬＳＩにおいて、デバッグＩ／Ｆからの内部回路へのアクセスを制限する。 - 特許庁

ELECTRONIC CIRCUIT, LSI CHIP MOUNTING STRUCTURE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

電子回路およびＬＳＩチップ実装構造体並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁

The circuit board 100a has an LSI 51a and a wiring area as sections to be cooled.例文帳に追加

回路基板１００ａは、冷却対象部位としてＬＳＩ５１ａと配線エリアを有する。 - 特許庁

To effectively obtain decoupling of high-frequency components in an internal circuit for an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩの内部回路の高周波成分のデカップリングを効果的に行う。 - 特許庁

TESTING CIRCUIT OF CHARGE DETECTOR, AND LSI AND METHOD FOR TESTING CHARGE DETECTOR例文帳に追加

電荷検出回路の試験回路およびＬＳＩならびに電荷検出回路の試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having a wiring structure suitable for an analog-digital hybrid LSI.例文帳に追加

ＡＤ混在ＬＳＩに適した配線構造を有する半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

CRITICAL PATH EVALUATION METHOD AND DELAY-CONDITION MEASUREMENT CIRCUIT, AND LSI MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

クリティカル・パス評価方法及び遅延状態計測回路、並びにＬＳＩ製造方法 - 特許庁

This time-up signal 6 is transferred to a DRAM control circuit 5 inside a logic LSI 3.例文帳に追加

このタイムアップ信号６をロジックＬＳＩ３内部のＤＲＡＭ制御回路５に伝達する。 - 特許庁

This information processing circuit is provided with a memory control LSI 1 and a DDR-SDRAM 2.例文帳に追加

情報処理回路は、メモリ制御ＬＳＩ１とＤＤＲ−ＳＤＲＡＭ２とを備える。 - 特許庁

Consequently, the circuit operation verification can be performed with high accuracy even on the fined LSI.例文帳に追加

これにより、微細化が進んだＬＳＩについても精度の高い回路動作検証を行うことができる。 - 特許庁

The switching circuit 16 is independently changed over via a terminal 27 from the outside of an LSI 1.例文帳に追加

切換回路１６の切換は、端子２７を介してＬＳＩ１の外部から独立して行うことができる。 - 特許庁

To decrease a power consumption of an LSI package flip-chip-connected to a circuit substrate.例文帳に追加

回路基板にフリップチップ接続されているＬＳＩパッケージの消費電力を低減する。 - 特許庁

A signal processing circuit is formed by a well-known technique as LSI manufacturing process.例文帳に追加

ＬＳＩ製造プロセスとして周知の技術により、信号処理回路を形成する。 - 特許庁

A solder bump 2 of an LSI package 1 is joined to an electrode pad 4 of a printed circuit board 3.例文帳に追加

ＬＳＩパッケージ１のはんだバンプ２をプリントト基板３の電極パッド４に接合する。 - 特許庁

To easily generate a power source decoupling circuit for each element such as LSI.例文帳に追加

ＬＳＩ等の素子毎の電源デカップリング回路の生成を容易に行うことができるようにする。 - 特許庁

REGRESSION TEST SYSTEM FOR LSI CIRCUIT, DEVICE USED FOR THE SAME AND REGRESSION TEST METHOD例文帳に追加

ＬＳＩ回路のリグレッションテストシステム、及びそれに用いる装置とそのリグレッションテスト方法 - 特許庁

To determine poor connection in mounting inspection of an LSI to be inspected without adding a complicated circuit.例文帳に追加

複雑な回路を追加せずに、被検査ＬＳＩの実装検査での接続不良を判定可能とする。 - 特許庁

To provide an architecture for designing and manufacturing a large-scale integrated circuit (LSI) in a short period of time.例文帳に追加

大規模なＬＳＩを短期間で設計および製造できるアーキテクチャを提供する。 - 特許庁

To provide a PLL circuit that is easily integrated as an LSI with a short lockup time and less power consumption.例文帳に追加

ロックアップ時間が短い、電力消費量が少ない、ＬＳＩ化し易いＰＬＬ回路を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that the relation between a power consumption of a LSI (Large Scale Integration) and a tability of circuit operation is a trade-off relation.例文帳に追加

ＬＳＩの消費電力と回路動作の安定性との関係は、トレードオフ関係にある。 - 特許庁