「LSI circuit」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

In a semiconductor device including an ordinary LSI circuit and an inductor component essential for a high frequency device both formed on the same substrate, wiring is formed with a laminated wiring layer of TiN/Ti/AlCu/TiN/Ti formed in order from upper layer toward lower layers in an ordinary LSI circuit region.例文帳に追加

通常のＬＳＩ回路と、高周波デバイスに必須なインダクタ素子とを同一基板上に形成した半導体装置において、通常のＬＳＩ回路領域は上層から下方に向かって順にＴｉＮ／Ｔｉ／ＡｌＣｕ／ＴｉＮ／Ｔｉとなる積層配線層により配線を形成する。 - 特許庁

A circuit data restoring circuit 13 installed in the logic simulation device 10a restores the compressed circuit data 30, and transfers the circuit data to a programmable logic LSI 11 and a wiring exclusive IC 12.例文帳に追加

論理エミュレーション装置１０ａが備える回路データ復元回路１３は、圧縮された回路データ３０を復元してプログラマブル論理ＬＳＩ１１および配線専用ＩＣ１２に転送する。 - 特許庁

The clock frequency divider circuit 2 divides the frequency of an LSI operational clock by an integer value N and outputs this signal to a modulation circuit and a delay circuit in the transmission circuit 1.例文帳に追加

クロック分周回路２はＬＳＩ作動用クロックを整数値Ｎで分周し、この信号を送信回路１の変調回路と遅延回路に出力する。 - 特許庁

To dispense with a common bus, to efficiently transmit a signal, and to simplify control for the signal transmission, related to an electronic circuit system having a logic circuit and a memory circuit as a macro circuit like a system LSI or the like.例文帳に追加

システムＬＳＩ等のように、マクロ回路として、ロジック回路及びメモリ回路を有する電子回路システムに関し、従来の共通バスを不要とし、信号伝送の効率化と、信号伝送の管理の簡単化を図る。 - 特許庁

To eliminate the need for a common bus, to make signal transmission efficient, and to simplify the management of signal transmission for an electronic circuit system, which has a logic circuit and a memory circuit as a macro circuit like a system LSI.例文帳に追加

システムＬＳＩ等のように、マクロ回路としてロジック回路及びメモリ回路を有する電子回路システムに関し、従来の共通バスを不要とし、信号伝送の効率化と、信号伝送の管理の簡単化とを図る。 - 特許庁

To make verification work efficient and shorten development period of an LSI, by enabling verification of the power down action of an analog circuit to be performed surely without errors with simple operations, in a circuit where an analog circuit and a digital circuit are mixed.例文帳に追加

アナログ回路とデジタル回路とが混在する回路において、アナログ回路のパワーダウン動作の検証を、簡単な操作でミスがなく確実に行え、その検証作業の効率化やＬＳＩの開発期間の短縮化を図ること。 - 特許庁

Observation for a circuit characteristic (delay) or simulation therefor is executed as to a circuit A (ring oscillator) inside a wafer or a chip after mounted, and a circuit characteristic is simulated in a circuit B (LSI).例文帳に追加

ウェハ又は実装後のチップ内の回路Ａ（リングオシレータ）について、回路特性（遅延）の実測又はシミュレーションを行ない、回路Ｂ（ＬＳＩ）の回路特性のシミュレーションを行なう。 - 特許庁

The circuit for testing cores consisting of a control means 1, a decoding means 2 and a downloading means 3 and to transit states of elements to constitute a logical circuit and a memory circuit of the core 4, is mounted on an LSI as a peripheral logical circuit of the core 4.例文帳に追加

制御手段１、デコード手段２、ダウンロード手段３から成り、コア４の論理回路およびメモリ回路を構成する素子の状態を遷移させるコアテスト回路をコア４の周辺論理回路としてＬＳＩに搭載する。 - 特許庁

An x-coordinate correction optical circuit 3, a y-coordinate correction optical circuit 4, a first rotation direction correction optical circuit 5 and a second rotation direction correction optical circuit 6 are disposed between a hologram 1 which is an optical information storage medium and an LSI part 2.例文帳に追加

光情報記憶媒質であるホログラム１とＬＳＩ部２との間に、Ｘ座標補正光回路３、Ｙ座標補正光回路４、第１の回転方向補正光回路５、第２の回転方向補正光回路６が配置されている。 - 特許庁

Since a circuit element is composed of a logic gate of a non-register circuit, the circuit is simplified, and a large correlation circuit is easily realized and also easily made to an LSI.例文帳に追加

回路素子が非レジスタ回路の論理ゲートで構成しているので、回路が簡素化され、大規模な相関回路の実現が容易で、ＬＳＩ化も容易となる。 - 特許庁

Actual measurement or simulation of circuit performance (delay) is carried out on a circuit A (ring oscillator) inside a wafer or a mounted chip, and simulation of circuit performance (delay) is carried out on a circuit B (LSI).例文帳に追加

ウェハ又は実装後のチップ内の回路Ａ（リングオシレータ）について、回路特性（遅延）の実測又はシミュレーションを行ない、回路Ｂ（ＬＳＩ）の回路特性のシミュレーションを行なう。 - 特許庁

The control circuit has a driving circuit 13 for driving the optical head, a read circuit 10 for reading the data of the optical head, and an LSI (Large Scale Integrated) circuit 1.例文帳に追加

制御回路は、光学ヘッドを駆動するための駆動回路１３と、光学ヘッドのデータのリードを行うリード回路１０と、ＬＳＩ回路１とを有する。 - 特許庁

LSI chips 30A to 30D electrically connected to a package substrate 10 are connected by a wiring pattern 26a of a silicon interposer 20 disposed on the opposite side from the package substrate, and a thin film circuit 31 of an LSI chip and the wiring pattern 26a of the silicon interposer 20 are electrically connected to each other through a via hole 32 formed penetrating the LSI chip.例文帳に追加

パッケージ基板１０と電気的に接続されたＬＳＩチップ３０Ａ〜３０Ｄが、パッケージ基板とは反対側に配置されたシリコンインタポーザ２０の配線パターン２６ａにより接続され、ＬＳＩチップの薄膜回路３１とシリコンインタポーザ２０の配線パターン２６ａが、ＬＳＩチップに貫通形成されたビア穴３２を介して、電気的に接続される。 - 特許庁

The capacitor mounting method for mounting a capacitor 13 in close proximity to an LSI 12 includes mounting in a stacked fashion the capacitor 13 on an LSI 12 via solder balls 14 and 16 (or bumps) placed therebetween, the LSI being mounted on a printed circuit board 11 via solder balls 15 and 17 (or bumps) placed therebetween.例文帳に追加

本発明にかかるキャパシタ実装方法は、ＬＳＩ１２の近傍にキャパシタ１３を実装するキャパシタ実装方法であって、プリント基板１１上に半田ボール（又はバンプ）１５，１７を介して実装されたＬＳＩ１２の上にさらに積層するように、キャパシタ１３を半田ボール（又はバンプ）１４，１６を介して実装するものである。 - 特許庁

An interface control circuit 102 of the inspection module 100 is controlled by setting a value of a state control flag 121 by an LSI inspection device 130 when inspected, the testing data is output to the inspection-objective LSI, and a result data output in response to the testing data is read in from the inspection-objective LSI.例文帳に追加

検査時には、ＬＳＩ検査装置１３０が状態制御フラグ１２１の値を設定することによって、検査モジュール１００のインターフェース制御回路１０２が制御され、テスト用データの検査対象ＬＳＩへの出力、前記検査対象ＬＳＩから前記テスト用データに応じて出力される結果データの読み込みが行われる。 - 特許庁

To provide an LSI design verification apparatus and an LSI design verification method that can verify whether results of an operation simulation in an upstream design phase and results of an RTL simulation in a downstream design phase match in an intermediate stage of the RTL simulation or in an LSI circuit to be verified.例文帳に追加

設計上位の動作シミュレーションの結果と設計下位のＲＴＬシミュレーションの結果とが、ＲＴＬシミュレーションの途中の段階において、又は検証対象となるＬＳＩの回路内部において整合しているかどうかを検証し得るＬＳＩ設計検証装置及びＬＳＩ設計検証方法を提供することにある。 - 特許庁

This method for analyzing undesired radiation quantity of an LSI includes an equivalent impedance information calculating process for calculating and estimating equivalent impedance information on the basis of circuit information of a corresponding LSI chip and package information of the LSI chip and an undesired radiation noise calculating process for calculating undesired radiation noise on the basis of the equivalent impedance information.例文帳に追加

ＬＳＩの不要輻射量を解析する方法であって、当該ＬＳＩチップの回路情報と、当該ＬＳＩチップのパッケージ情報とに基づいて等価インピーダンス情報を算出推定する等価インピーダンス情報算出工程と、前記等価インピーダンス情報に基づいて、不要輻射ノイズを算出する不要輻射ノイズ算出工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

To prevent the internal information and the information of the way of the operation of an LSI from being illegally analyzed in the state of an LSI chip by abusing an inspection circuit and a pad for an inspection used for the inspection of respective internal circuits at the time of a semiconductor device in a wafer state before being divided into the LSI chips for an IC card.例文帳に追加

ＩＣカード用ＬＳＩチップに分割される以前のウエハ状態の半導体装置のときに各内部回路の検査に用いる検査回路および検査用パッドを悪用して、ＬＳＩチップの状態のときにその内部情報やＬＳＩの動作の仕方の情報が不正に解析されるのを防止できるようにする。 - 特許庁

The contactless IC card 5 as the title medium can receive much more power by increasing the number of turns of an antenna coil 7 and transmits the power efficiently to an LSI 9 by connecting an intermediate tap 7b of the antenna coil 7 to the LSI 9 so as to match an output impedance at the intermediate tap of the resonance circuit with an input impedance of the LSI 9.例文帳に追加

アンテナコイル７の巻数を増やしてより多くの電力を受信できるようにするとともに、アンテナ７の中間タップ７ｂとＬＳＩ９とを接続することにより、共振回路の中間タップ点における出力インピーダンスとＬＳＩ９の入力インピーダンスとを整合させてＬＳＩ９へ効率良く電力を伝送している。 - 特許庁

To provide a defect analysis method and its system for analyzing defect, based on an emission image that is detected by an emission microscope corresponding to a circuit block in an LSI chip for a semiconductor device where LSI chips such as system LSIs are arranged.例文帳に追加

システムＬＳＩなどのようなＬＳＩチップが配列された半導体装置に対してＬＳＩチップ内部における回路ブロックに対応付けしてエミッション顕微鏡によって検出される発光像に基いて不良解析をできるようにした不良解析方法およびそのシステムである。 - 特許庁

Thus, by comparing the signal in virtual pins PT1 and PT0 based on failure assumed to virtual circuit data with the observed result of the signal in the test output terminal resulting from test implementation in the LSI, the failure diagnosis device diagnoses failure of the LSI.例文帳に追加

そして、故障診断装置は、仮想回路データに対して仮定した故障に基づく仮想ピンＰＴ１，ＰＴ０における信号とＬＳＩにてテストを実行させてテスト出力端子における信号を観測した結果とを比較してＬＳＩの故障を診断する。 - 特許庁

To prevent power source noise caused by an inductance component of an LSI package by in rush power source current to a digital circuit block at ON/OFF of a clock, in an LSI realizing a low power consumption mode by controlling the ON/OFF of the clock.例文帳に追加

クロックのＯＮ／ＯＦＦを制御することで、低消費電力モードを実現するＬＳＩにおいて、クロックのＯＮ／ＯＦＦ時のディジタル回路ブロックへの突入電源電流により、ＬＳＩパッケージのインダクタンス成分などに起因する電源ノイズが発生するのを防止する。 - 特許庁

Furthermore, a printed wiring board power supply circuit designing device is constituted which makes a determination based upon the power supply noise with respect to the insertion of the resistance element between the power supply terminals of the LSI and the addition of the capacity element of the PCB on which the LSI having the addition region of the resistance element is mounted.例文帳に追加

また、抵抗素子の付加領域を有するＬＳＩが実装されたＰＣＢにおいて、抵抗素子のＬＳＩの電源端子間への挿入と、容量素子の追加に関して、電源ノイズを基準にして判断するプリント配線基板電源回路設計装置を構成する。 - 特許庁

To provide a device and a jig for measuring accurately the impedance of a terminator of a receiving LSI by a TDR method without breaking a TDR oscilloscope or deteriorating the performance thereof in the state where a measuring object circuit such as the receiving LSI is put in a correct active condition.例文帳に追加

受信用ＬＳＩなどの測定対象回路が正しい能動条件の下におかれた状態で、かつＴＤＲオシロスコープを破損あるいは性能劣化させることなく、受信用ＬＳＩの終端器のインピーダンスを、ＴＤＲ法により、正確に測定するための装置及び治具を提供する。 - 特許庁

Then, in the control LSI 1, a selector 11 for switching output signals g1 from the internal circuit 14 of the control LSI 1 to the memory 8 for the data storage and the signals i1 inputted from external input/output signals d1 through an interface buffer 3 is provided.例文帳に追加

このセレクタ１１により、制御ＬＳＩ１が選択されている動作モード時には、メモリ８は、その制御ＬＳＩ１が使用し、またメモリを内蔵していないその他の制御ＬＳＩ２が選択されている動作モード時には、制御ＬＳＩ１の外部端子には、メモリ８の信号が割り付けられる。 - 特許庁

The predetermined period allows for a timing skew that could occur with the LSI tester; once the circuit element is determined by the logic simulation to have no problems, there is no possibility that it will later be determined as being faulty by the LSI tester under the influence of the timing skew.例文帳に追加

所定期間は、ＬＳＩテスタで生じるタイミングスキューを考慮した期間であり、論理シミュレーションにおいて問題なしと判定された場合には、後にＬＳＩテスタで、タイミングスキューの影響により異常と判定されることはない。 - 特許庁

Even though 4 actually the circuit 1 in the LSI and the device operate, e.g. with a 125 MHz high-speed clock, such a test output as is recognized as 25 MHz low-speed data form the outside of the LSI is outputted to the outside.例文帳に追加

そして、実際にはＬＳＩ内部のクロックリカバリ回路１および試験装置４はたとえば１２５ＭＨｚの高速クロックで動作しているが、ＬＳＩ外部からは２５ＭＨｚの低速データとして認識されるような試験出力を外部に出力させる。 - 特許庁

An LSI (waveform generating circuit LSI) 120 stores data (d1) from the waveform decode data (D1) 51 into a first SRAM 21 of a built-in SRAM part, and stores data (d2) of one readout cycle (for example, 1SF) selected from the waveform decode address set (D2) 52 into a second SRAM 22.例文帳に追加

ＬＳＩ（波形生成回路ＬＳＩ）１２０は、内蔵ＳＲＡＭ部の第１のＳＲＡＭ２１に、波形デコードデータ（Ｄ１）５１からのデータ（ｄ１）を格納し、第２のＳＲＡＭ２２に、波形デコードアドレスセット（Ｄ２）５２から選択した１読み出し周期（例えば１ＳＦ）分のデータ（ｄ２）を格納する。 - 特許庁

Since only a program to be used by the task to be started is transferred to the high-speed program memory and is operated when the task is started, the high-speed program memory capacity mounted on the system LSI is reduced to reduce the circuit scale of the system LSI.例文帳に追加

各タスクが起動する時に、起動するタスクが使用するプログラムのみを高速プログラムメモリに転送して動作させるようにしたため、システムＬＳＩに実装する高速プログラムメモリ容量を削減し、システムＬＳＩの回路規模を小さくすることができる。 - 特許庁

A storage part 2c is a large-scale integrated circuit (LSI) for storing identification information, design information, inspection history information, disaster history information, damage history information, maintenance history information, execution record information and execution plan information, etc., of the bridge as the management information or the like.例文帳に追加

記憶部２ｃは、橋梁の識別情報、設計情報、検査履歴情報、災害履歴情報、損傷履歴情報、保守履歴情報、施工記録情報、施工方針情報などを管理情報として記憶する大規模集積回路(LSI)などである。 - 特許庁

An area calculating processing part 21 calculates the required area for the unit of sub-block from information on the number of cells in a circuit block inside a technology library 4 and an LSI chip area in an LSI chip area holding part 7 and stores this calculating processing result in an area value information storage part 3.例文帳に追加

面積計算処理部２１はテクノロジ・ライブラリ４の回路ブロックのセル数情報と、ＬＳＩチップ面積保持部７のＬＳＩチップ面積とからサブブロック単位の必要面積を計算処理し、この計算処理結果を面積値情報記憶部３に記憶させる。 - 特許庁

The liquid crystal display device is constructed by directly forming a transparent electrode 2 and input-output wiring 4 for the LSI on a substrate 10 out of transparent substrates 9, 10, mounting the LSI 5 on the substrate 10 and attaching an FPC (Flexible Print Circuit) assay 14 consisting of an FPC 8 with mounted electric components 13 and a connector 17 thereon.例文帳に追加

透明基板９、１０の一方の基板１０上に直接透明電極２とＬＳＩ用入出力配線４を形成し、基板１０上にＬＳＩ５を実装し、この上に電気部品１３とコネクタ１７を実装したＦＰＣ８からなるＦＰＣアッセイ１４を取り付けて液晶表示装置とする。 - 特許庁

This impedance measuring device wherein the LSI 50 for receiving a digital signal is used as a measuring object is equipped with the TDR oscilloscope 10, a connection tool 20 for connecting the LSI to be measured which is the measuring object circuit, a capacitance element C1 for direct-current voltage blocking, and a power supply device 30.例文帳に追加

本発明のインピーダンス測定装置は、デジタル信号を受信するＬＳＩ５０を測定対象とし、ＴＤＲオシロスコープ１０、測定対象回路である被測定ＬＳＩを接続する接続治具２０、直流電圧阻止用のキャパシタンス素子Ｃ１、及び電源装置３０を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a highly convenient LSI is realized by enabling a user to program a logic circuit on the LSI in an extremely short period of time by making possible precise setting of signals on a final stage of a user system.例文帳に追加

ユーザシステムの最終段階で各信号の細かな設定を行うことが可能となり、ユーザが極めて短時間でＬＳＩ上に論理回路を組むことができ、利便性が高いＬＳＩを実現することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

Next, the signals are reproduced to input into the LSI 104, a means enabling to stop signal reproduction temporarily is equipped, so that during a temporary stop, the internal operation state is monitored by using an internal access circuit 128 premounted in the LSI.例文帳に追加

次に、信号を再生してＬＳＩ１０４に入力するが、信号再生を一時停止できる手段を設けておき、一時停止させている間に予めＬＳＩ内部に搭載しておいた内部アクセス回路１２８を用いて、内部の動作状態を観測する。 - 特許庁

To enable realization of mounting structure of an LSI chip where the strength of a connecting part of the LSI chip can be sufficiently obtained, when solder bumps are made minute in accordance with high level integration of a semiconductor integrated circuit, and flux used in the course of soldering can be eliminated by cleaning.例文帳に追加

半導体集積回路の高集積化に伴い半田バンプを微細化してもＬＳＩチップの接続部の強度が十分に得られ、半田付けの際に用いたフラックスを洗浄して取り除くことが可能なＬＳＩチップの実装構造を実現する。 - 特許庁

Since an output voltage of the optical transparent solar battery 5 of the single cell configuration is about 0.5V, when the LSI in the mobile terminal requires a voltage of about 0.5V or over, the power boosted by the booster type power supply conversion circuit 6 is supplied to the LSI.例文帳に追加

単セル構成の光透過型太陽電池５は、その出力が約０．５Ｖ程度であるため、携帯端末内のＬＳＩにそれ以上の電圧が必要な場合には、昇圧型電源変換回路６で昇圧した電力をそのＬＳＩへ供給する。 - 特許庁

Moreover, the voltages obtained from the divider circuit arranged inside of the same LSI as the driving circuits are supplied to the plural driving circuits in the same LSI through buffer amplifiers having a high input impedance and a low output impedance.例文帳に追加

また、基準電圧源によって生成される基準電圧のうち、駆動回路と同一のＬＳＩ内部に設けられた分圧回路によって得られる電圧は、入力インピーダンスが大きく出力インピーダンスが小さいバッファアンプを介して同一ＬＳＩ内の複数の駆動回路に供給される。 - 特許庁

The testing device outputs such a test output that is recognized as low-speed data of 25 MHz from the outside of the LSI, though the clock recovery circuit 1 in the LSI operates practically by a high-speed clock of 125 MHz, for example.例文帳に追加

そして、実際にはＬＳＩ内部のクロックリカバリ回路１はたとえば１２５ＭＨｚの高速クロックで動作しているが、ＬＳＩ外部からは２５ＭＨｚの低速データとして認識されるような試験出力を外部に出力させる。 - 特許庁

In a CCD drive pulse, a horizontal pulse in the CCD drive pulse is fed from the analog front end LSI 16 to the CCD imaging element 14 and a vertical pulse is fed from the digital signal processing LSI 20 to the CCD imaging element 14 via a vertical drive circuit (V driver) 18.例文帳に追加

ＣＣＤ駆動パルスのうち、水平パルスはアナログフロントエンドＬＳＩ１６からＣＣＤ撮像素子１４に供給され、垂直パルスはデジタル信号処理ＬＳＩ２０から垂直駆動回路（Ｖドライバ）１８を介してＣＣＤ撮像素子１４に供給される。 - 特許庁

More specifically, function of a laser driver IC for driving a laser with an appropriate quantity of light is realized by a digital equivalent circuit on the image processing LSI for laser driving and a desired drive current is supplied to the laser by utilizing a plurality of ports of the image processing LSI.例文帳に追加

すなわち、適正な光量でレーザを駆動するレーザドライバＩＣの機能を、レーザ駆動用の画像処理ＬＳＩ上でデジタル構成の等価回路により実現し、画像処理ＬＳＩの複数のポートを利用して所望の駆動電流をレーザに供給する。 - 特許庁

A semiconductor relay circuit 3a is turned on by an output signal of the diode detection circuit 2a to supply electric power from an AC/DC conversion circuit 3b to a physical layer LSI 4a.例文帳に追加

ダイオード検波回路２ａの出力信号で、半導体リレー回路３ａをＯＮにし、ＡＣ／ＤＣ変換回路３ｂから物理層ＬＳＩ４ａに電力を供給する。 - 特許庁

An access control circuit 3 arranged in an LSI 1 is constituted of a clock mask circuit 21, a wait signal creating circuit 31, a flip-flop 41 and a wait cycle number setting register 51.例文帳に追加

ＬＳＩ１に備えられたアクセス制御部３は，クロックマスク回路２１，ウェイト信号生成回路３１，フリップフロップ４１，およびウェイトサイクル数設定レジスタ５１から構成されている。 - 特許庁

To provide a clock system power estimating method for an integrated circuit device capable of precisely estimating the power of the clock system circuit of an integrated circuit device such as an LSI even prior to layout design.例文帳に追加

ＬＳＩ等の集積回路装置についてそのクロック系回路の電力をレイアウト設計以前においても精度よく見積もることのできる集積回路装置のクロック系電力見積り方法を提供する。 - 特許庁

To reduce test cost in each digital processing circuit by minimizing the frequency of a logic test of a logic circuit on the digital processing circuit on which an LSI or the like is mounted.例文帳に追加

ＬＳＩ等を実装したデジタル処理回路上の論理回路のロジックテストの回数を最小化してデジタル処理回路ごとのテストコストを削減する。 - 特許庁