「LSI circuit」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

An LSI tester 2 sets a well voltage adjustment value so as to average each delay time of circuit blocks CB1-CB3.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ２は、回路ブロックＣＢ１〜ＣＢ３の各遅延時間が平均化されるようにウエル電圧調整値を設定する。 - 特許庁

To provide a test circuit particularly allowing a high-speed and precise inspection of an LSI having MCP structure.例文帳に追加

特にＭＣＰ構成を採るＬＳＩの検査を高速かつ正確に行うことが可能なテスト回路を提供する。 - 特許庁

To improve soft error resistance in a system LSI with a system-on-chip form carrying a large-scale logic circuit and a memory.例文帳に追加

大規模論理回路とメモリを搭載したシステムオンチップ形態の所謂システムＬＳＩにおけるソフトエラー耐性を向上させる。 - 特許庁

To prevent the occurrence of temperature differences at the junctions of a plurality of LSI internal circuits which are packaged on a circuit substrate.例文帳に追加

回路基板に実装された複数のＬＳＩ内部回路の接合部が温度差を生じないようにする。 - 特許庁

To provide a scan test circuit capable of varying the number of scan chains, in response to form variation of an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩの形態の変化に応じてスキャンチェーンの本数を変化させることができるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

To improve the secrecy of circuit design data more than conventional by adopting enciphering processing to the design of an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩの設計において、暗号化処理を採り入れ、従来よりも回路設計データの機密性を高める。 - 特許庁

To provide an IC memory card which can be constituted by mounting plural kinds of LSI memories on a single printed circuit board.例文帳に追加

複種類のＬＳＩメモリを単一のプリント配線基板に実装して構成することのできるＩＣメモリカードを提供する。 - 特許庁

To provide a method and a circuit for converting an identifier in which design of an LSI is facilitated and an identifier is converted at a high speed.例文帳に追加

ＬＳＩ設計が容易で且つ識別子の高速変換を達成できる識別子変換回路及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic jitter measuring circuit capable of accurately measuring a jitter value even if the device condition and the usage condition of a LSI fluctuate.例文帳に追加

ＬＳＩのデバイス条件や使用条件が変化しても正確なジッタ値を測定できるジッタ自動測定回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit technology which can shorten the developing period of an LSI for controlling an information device, such as a hard disc unit, etc.例文帳に追加

ハードディスク装置などの情報機器の制御用ＬＳＩの開発期間を短縮することができる半導体集積回路技術を提供する。 - 特許庁

To allow a BIST (Built-In Self Test) circuit used for a manufacturing test of a LSI internal memory, to be used for initializing a cache memory also.例文帳に追加

ＬＳＩ内部メモリの製造テストに用いられるＢＩＳＴ（Build-In Self Test）回路をキャッシュメモリの初期化にも使用できるようにする。 - 特許庁

To provide a scan test circuit in which the number of test pins required for a scan test of an LSI is reduced to a minimum and which reduces the testing time.例文帳に追加

ＬＳＩのスキャンテストに所要のテストピンの数を最小限に抑えるとともにテスト時間を低減する。 - 特許庁

To provide a PLL circuit that is easily integrated as an LSI with a short lockup time and less power consumption.例文帳に追加

ロックアップ時間が短い、電力消費量が少ない、コストが安い、ＬＳＩ化し易いＰＬＬ回路を提供する。 - 特許庁

When a pattern to be formed on an LSI (Large Scale Integrated circuit) is determined, the data are inputted into a computer in step S2.例文帳に追加

ＬＳＩに形成すべきパターンが決定されると、そのデータがステップＳ２で計算機に入力される。 - 特許庁

The read-in result data is output to the LSI inspection device 130, by the interface control circuit 102.例文帳に追加

読み込まれた結果データは、前記インターフェース制御回路１０２によって、ＬＳＩ検査装置１３０に出力される。 - 特許庁

To provide a circuit inputting the two system of 10 bit parallel data to an LSI which uses 8 bit parallel input as basic.例文帳に追加

本発明は、８ビットパラレル入力を基本としたＬＳＩに１０ビットパラレルデータを２系統入力させることができる回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a simple structure and tested at an actual working speed by using a general-purpose LSI tester.例文帳に追加

簡易な構成であり、汎用ＬＳＩテスタを用いて実動作速度でテストすることが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In designing a soft block 200, hard-block cells 110 are incorporated to design the total LSI circuit.例文帳に追加

ソフトブロック２００を設計する際に、ハードブロックセル１１０を組み込むことにより全体のＬＳＩ回路を設計する。 - 特許庁

At an LSI design phase, a region indicating the circuit treating the micro signal is created as a region pattern, excluding a wiring.例文帳に追加

ＬＳＩ設計段階に、微小信号を取り扱う回路を示す領域を配線除外領域パターンとして作成しておく。 - 特許庁

To increase the secrecy of circuit design data higher than a conventional one by using encryption processing in the design of an LSI and to verify encrypted design data while maintaining their secrecy.例文帳に追加

ＬＳＩの設計において、暗号化処理を採り入れ、従来よりも回路設計データの機密性を高める。 - 特許庁

To realize accurate control in the quantity of light for attaining a high image quality in a print engine easily using an LSI circuit.例文帳に追加

印画エンジンにおいて高画質を得るための正確な光量制御がＬＳＩ回路で容易に実現できるようにすること。 - 特許庁

Then, optimal system frame pulses 18 and 19 of each LSI 1 and 2 can be obtained based on the output of the arithmetic circuit 5.例文帳に追加

この演算回路５の出力に基づき各ＬＳＩの最適システムフレームパルス１８、１９を得る。 - 特許庁

To provide a memory control circuit for efficiently verifying an LSI, on which a memory is loaded by quickly initializing the memory.例文帳に追加

メモリを短時間に初期化することにより、メモリを搭載したＬＳＩを効率よく検証することができるメモリ制御回路を提供する。 - 特許庁

To delete a partial logical circuit by specifying with fewer number of processes regarding logical design support in CAD system of LSI.例文帳に追加

ＬＳＩのＣＡＤシステムにおける論理設計支援に関し、部分論理回路を少ない作業工数で指定して削除する。 - 特許庁

For example, the internal circuit 300 can be operated and tested while using an inexpensive LSI tester of low clock frequency.例文帳に追加

例えば、クロック周波数が低い低コストのＬＳＩテスタを用いて、内部回路３００を高速で動作させ試験できる。 - 特許庁

The ETC vehicle mounted device 10 is constituted by a DSRC control LSI 11, a signal converter 12, an RF circuit 53, and an antenna 54.例文帳に追加

ＥＴＣ車載器１０は、ＤＳＲＣ制御用ＬＳＩ１１、信号変換器１２、ＲＦ回路５３、アンテナ５４から成る。 - 特許庁

To provide a circuit for correcting the duty of a signal precisely in an environment using an LSI chip.例文帳に追加

ＬＳＩ化されたチップを使用する環境下において、信号のデューティを精度良く補正可能なデューティ補正回路を提供する。 - 特許庁

An SD memory card 10 incorporates an RF circuit 20, a controller LSI 21 and a flash memory 22.例文帳に追加

ＳＤメモリカード１０にはＲＦ回路２０、コントローラＬＳＩ２１、フラッシュメモリ２２が内蔵されている。 - 特許庁

To obtain a display device provided with a data processing circuit in which the number of terminals are reduced and one chip LSI can be realized.例文帳に追加

端子数を削減して１チップＬＳＩ化が可能なデータ処理回路を備える表示装置を得る。 - 特許庁

A cross point switch LSI 10 is provided with a path pattern generating circuit 18 and switch circuits 11 whose number corresponds to the number of input highways.例文帳に追加

クロスポイントスイッチＬＳＩ10にパスパターン生成回路18と入力ハイウェイ数に応じたスイッチ回路11とを具備させる。 - 特許庁

The printed circuit board mounts an LSI package 24 on itself that generates heat and is covered with an insulation sheet 32.例文帳に追加

プリント配線板は、発熱するＬＳＩパッケージ２４を実装しているとともに、絶縁シート３２によって覆われている。 - 特許庁

To make fast a system which uses an LSI by providing a test circuit which adds no delay time.例文帳に追加

遅延時間を付加させることのないテスト回路を提供し、ＬＳＩを使用するシステムの高速化を図る。 - 特許庁

To test LSIs to be inspected of a large-scale circuit constitution at low costs by utilizing a conventional logic LSI tester.例文帳に追加

大規模な回路構成の被検査ＬＳＩを、従来のロジックＬＳＩテスタを活用して、低コストで検査する。 - 特許庁

To provide the structure of an integrated circuit device capable of developing and designing a highly reliable system LSI in a short period of time.例文帳に追加

信頼性の高いシステムＬＳＩを短期間に開発および設計することができる集積回路装置の構造を提供する。 - 特許庁

To provide a multicore DSP(digital signal processor) circuit which is obtained by mounting a plurality of DSP cores on one LSI and efficiently increases the number of processing channels.例文帳に追加

複数のＤＳＰコアを１つのＬＳＩに実装して、処理チャネル数を効率良く増加させるマルチコアＤＳＰ回路を提供する。 - 特許庁

A low-order one-bit counter 102 is built in the original LSI 100 and a sub zero detecting circuit 101 for the subcounter 102 is arranged.例文帳に追加

その下位１ビットカウンタ１０２を元ＬＳＩ１００側に組み込み、サブカウンタ１０２のサブ０検出回路１０１を設ける。 - 特許庁

To provide an impedance adjusting circuit to be built in LSI capable of adjusting an input/output impedance to an appropriate value.例文帳に追加

入出力インピーダンスを適切な値に調整することが可能なＬＳＩ組み込み用のインピーダンス調整回路を提供する。 - 特許庁

To realize a signal intensity detection circuit and an amplification factor control system, wherein the temperature dependence is reduced, in a radio communicating LSI system.例文帳に追加

無線通信用ＬＳＩシステムにおいて、温度依存性の小さい信号強度検波回路および増幅率制御システムを実現する。 - 特許庁

Measurement is made possible on high characteristics and low characteristics of the differential circuit 17 within the LSI.例文帳に追加

ＬＳＩ内部のアナログ差動回路１７のＨｉｇｈ特性及びＬｏｗ特性の測定を可能にする。 - 特許庁

The arithmetic part 201 of the LSI 200 generates a switching control signal SED from a switching table TBL and applies the signal to the switching circuit 202.例文帳に追加

ＬＳＩ２００の演算部２０１は、切替テーブルＴＢＬから切替制御信号ＳＥＤを生成し、切替回路２０２に与える。 - 特許庁

The arithmetic part 101 of the LSI 100 generates a switching control signal SED from a switching table TBL and applies the signal to the switching circuit 102.例文帳に追加

ＬＳＩ１００の演算部１０１は、切替テーブルＴＢＬから切替制御信号ＳＥＤを生成し、切替回路１０２に与える。 - 特許庁

An LSI design support system includes a first storage means for storing interface information 2 for connecting an internal circuit and an external circuit of an LSI, a second storage means for storing library information 3 having specifications of various buffers set thereto, and a generation means for generating design information of the LSI internal interface part by using the interface information 2 and the library information 3.例文帳に追加

ＬＳＩ設計支援システムであって、ＬＳＩの内部回路と外部回路とを接続するためのインタフェース情報２を記憶する第１の記憶手段と、各種バッファの仕様が設定されたライブラリ情報３を記憶する第２の記憶手段と、インタフェース情報２とライブラリ情報３とを用いてＬＳＩ内部インタフェース部分の設計情報を生成する生成手段と、を有する。 - 特許庁

Thereby version control information of the LSI can be acquired by monitoring the initial value before the circuit is initialized and operated, and the version of the LSI can be controlled without specially providing the circuit and wasting the register space.例文帳に追加

これにより、回路が初期化されて動作する以前に初期値をモニタリングすることでＬＳＩのバージョン管理情報を得ることができ、特別に回路を設けることなく、かつレジスタ空間の消費することなくＬＳＩのバージョンを管理することができる - 特許庁

To simplify a packaging structure of a semiconductor device having a MEMS sensor and an LSI circuit as well as achieving both downsizing and thickness reduction and sensitivity improvement of the semiconductor device that has the MEMS sensor formed by bulk micromachining technique such as an acceleration sensor and an angular rate sensor, and the LSI circuit.例文帳に追加

加速度センサや角速度センサのようにバルクマイクロマシニング技術により形成したＭＥＭＳセンサとＬＳＩ回路からなる半導体装置の小型化や薄型化と、高感度化を両立しつつ、ＭＥＭＳセンサとＬＳＩ回路からなる半導体装置の実装構造を簡易化する。 - 特許庁

A successive approximation type A/D converter mounted on an LSI chip 10a is allowed to have a self-test function, and the conversion test of the successive approximation type A/D converter circuit 18a can be made with voltage generated from a built-in DAC circuit 22 as an analog input voltage AIN.例文帳に追加

LSI チップ10a に搭載された逐次比較型A/D コンバータ回路18a にセルフテスト機能を持たせ、内蔵DAC 回路22から生成した電圧をアナログ入力電圧AIN として逐次比較型A/D コンバータ回路の変換テストを行なうことを可能とした。 - 特許庁