「Laser Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a multiple photon exciting and scanning type laser microscope capable of obtaining a sharp image over a range from a surface layer to a deep layer even if performing the observation up to an extremely deep region (e.g., about 100 μm or above from a surface).例文帳に追加

非常に深い領域(例えば、表面から約１００μｍ以上)まで観察する場合であっても、表層から深層まで鮮明な画像を得ることのできる多光子励起走査型レーザ顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

A drawing pattern 8 is heat-treated by local high temperature annealing using laser in the same device 1 immediately after carrying out pattern drawing by a solution 6 containing the inorganic material by using a cantilever 2 of a scanning type probe microscope on a substrate 5.例文帳に追加

基板５上に走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー２を用いて無機材料を含む溶液６によるパターン描画を行った直後に、同一装置１内においてレーザを用いた局所高温アニールにより描画パターン８を加熱処理する。 - 特許庁

To provide an IC device-testing method and an IC device-testing system for inexpensively applying a laser beam different targets of a semiconductor IC device (DUT) to be inspected simultaneously in parallel, speedily successively without requiring any rematching in a microscope.例文帳に追加

検査対象の半導体ＩＣデバイス（ＤＵＴ）の互いに異なるターゲットを同時並行的にまたは高速逐次的に顕微鏡の再整合を要することなく低コストでレーザ光照射するＩＣデバイス試験方法・システムを提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of securing a desired length measurement accuracy by turning the pixel size of a CCD element or the size of a light spot to the size for providing at least about four pixels at all times for one edge of a fine cycle structure to be an object.例文帳に追加

ＣＣＤ素子の画素サイズ又は光スポットの大きさを、対象となる微細周期構造の１つのエッジに対して常に少なくとも４画素程度含まれる大きさにして所望の測長精度を確保できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope capable of expanding a measuring range in the measurement of a sample of which the surface irregularities are severe and capable of measuring accurate physical characteristics not affected by the unstable deformation of the leading end of the laser reflecting surface of a cantilever.例文帳に追加

表面凹凸の激しい試料の測定において測定範囲を広げること および カンチレバーのレーザ反射面先端の不安定変形の影響の無い正確な物理特性を測定可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The nonwoven fabric 13 is mounted on a highly reflective metal-made material 11, fiber structure of the mounted nonwoven fabric 13 is evaluated using a confocal type laser microscope 12 provided with an objective lens 14 arranged opposedly to a highly reflective mounting face of the highly reflective metal-made material 11.例文帳に追加

金属製高反射材１１上に不織布１３を載置し、載置された不織布１３の繊維構造を、金属製高反射材１１の高反射な載置面に対向配置された対物レンズ１４を備えた共焦点型レーザ顕微鏡１２を用いて評価する。 - 特許庁

Pulse excitation light from a pulse laser apparatus 6 is converted into a straight line polarization having a specific polarization direction by a polarizing plate 10, and is applied to a 1 μL or less sample in a minute space in a microchip 2 through a microscope 4 from a dichroic mirror 8.例文帳に追加

パルスレーザー装置６からのパルス励起光が偏光板１０により特定の偏光方向をもつ直線偏光にされ、ダイクロイックミラー８から顕微鏡４を通してマイクロチップ２中の微小空間内にある１μＬ以下の試料に照射される。 - 特許庁

To provide a fluorescence detection device, a contrast information correction method, a contrast information correction program, and a scanning type confocal laser microscope capable of correcting deterioration of the contrast information (brightness information) by brown of a fluorescent pigment dying a sample.例文帳に追加

試料を染色している蛍光色素の褪色による濃淡情報（輝度情報）の劣化を補正することが可能な蛍光検出装置、濃淡情報補正方法、濃淡情報補正プログラムおよび走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a cantilever for a scan type probe microscope having a supporting part with less eclipse of a lever displacement detecting laser beam, a lever part with a good film thickness controlling property, and a probe part with high sharpness or low wearability for its point and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

レバー変位検出用レーザー光のけられの少ない支持部と、膜厚制御性のよいレバー部と、先端の尖鋭度が高いか若しくは磨耗性の低い探針部を備えた走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

The physical quantity measuring instrument is so constituted as to be capable of two-dimensionally or three-dimensionally measuring the physical quantities of a sample to be measured, by adapting a laser-induced fluorescence method to the confocal microscope which uses a confocal scanner, having a two-port disk type pinhole array.例文帳に追加

ニポウディスク型のピンホールアレイを有する共焦点スキャナを用いた共焦点顕微鏡にレーザ誘起蛍光法を適応して、測定対象中の測定試料の物理量の２次元または３次元分布を測定することができるように構成する。 - 特許庁

To provide an illumination optical system and a microscope provided with the system capable of easily switching evanescent illumination and ordinary vertical illumination while using a laser beam having intensity high enough to excite fluorescence dye though an entire device is compact.例文帳に追加

蛍光色素を励起するのに十分な強度を有するレーザー光を用いつつ、装置全体もコンパクトでありながら、容易にエヴァネッセント照明と通常の落射照明が切り替え可能な照明光学系及びこの照明光学系を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus to generate the harmonics of the irradiated laser beam from a fine area by irradiating the laser beam on the fine area of the nanometer order of a non-linear optical substance layer, a scan probe microscope to analyze the molecular orientation structure with the resolution of the nanometer order using this harmonic generator, and a display device of extremely high screen quality by the pixels of the nanometer order.例文帳に追加

非線型光学物質層のｎｍオーダーの微細領域にレーザー光を照射し、該微細領域から該照射レーザー光の高調波を発生させる装置、更にこの高調波発生装置を用いてｎｍオーダーの分解能で分子配向構造を分析できる走査プローブ顕微鏡およびｎｍオーダーの画素による極めて高画質の表示装置を提供する。 - 特許庁

The microscope apparatus is provided with the first scanning optical system A for obtaining the scanning image of a specimen and the second scanning optical system B for developing a specific phenomenon in the specific area of the specimen, means 30 for performing laser scanning independently with each of the first scanning optical system and the second scanning optical system and operation recording means 23 for recording the operation of the laser scanning.例文帳に追加

標本の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂと、前記第１の走査光学系と前記第２の走査光学系のそれぞれについて、独立してレーザ走査を行う手段３０と、前記レーザ走査の動作を記録する動作記録手段２３と、を備えた。 - 特許庁

It is preferable to set the irradiation spot of the pulse laser by setting a threshold for the thickness distribution data obtained with the microscope and setting the sample area on the sample base having the thickness over the threshold as the ionization area or by checking against a calibration curve which indicates the relation between the thickness of the sample and the mass spectrum of ions generated by laser irradiation.例文帳に追加

パルスレーザーの照射場所の設定は顕微鏡によって求められる厚さ分布データに対して閾値を設定し、当該閾値以上の厚さを有するサンプル台上の試料領域をイオン化領域として設定することにより行うか、或いは試料の厚さとレーザー照射で生じるイオンの質量スペクトルとの関係を示す検量線と照合することにより行うのが好ましい。 - 特許庁

This invention relates to the device for optically coupling the light (1) of at least one wavelength of the laser beam source (2) to the optical assembly (3), more specifically the confocal scanning microscope, having an optically active element (4) acting to select the wavelength and to set the power of the coupling light (5).例文帳に追加

本発明は、レーザ光源（２）の少なくとも１つの波長の光（１）を、具体的には波長を選択し、結合光（５）のパワーを設定するために作用する光学活性素子（４）を有する光学組立物（３）、好ましくは共焦点走査型顕微鏡に結合するための装置に関する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope device capable of changing independently depth-directional excitation light intensity distributions, on a sample face, of a laser beam for stimulating a sample, and a light for acquiring an image; and to provide an observation method using the same.例文帳に追加

標本に刺激を加えるレーザ光と画像取得のための光との標本面上での深さ方向の励起光強度分布をそれぞれ独立に変化させることができる共焦点顕微鏡装置及び共焦点顕微鏡装置を用いた観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a living body organ support device and method that significantly decrease the motion of living body texture in imaging of living bodies, will not damage the texture, and acquire a laminating image of the depth direction, using a confocal laser microscope.例文帳に追加

生体イメージングにおいて生体組織の動きを大幅に減少させることができるとともに組織に損傷を与えることがなく、共焦点レーザ顕微鏡を用いて深さ方向の積層イメージを得ることを可能とする生体臓器支持装置および方法を提供する。 - 特許庁

A height measurement function using a laser beam is provided by using a part of components of an optical microscope equipped in the electron beam analyzer, and consequently, the unevenness image of the sample surface can be simultaneously measured in the same visual field as the EPMA analysis image and the SEM observation image.例文帳に追加

レーザーを用いた高さ測定機能を、電子線分析装置が備える光学顕微鏡の構成要素の一部を兼用することによって設け、これによって、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時測定を可能とする。 - 特許庁

In the technique of discriminating the skin internal structure, with the skin surface information of the texture and/or the skin color or the like as an index, a parameter measured using a confocal laser microscope as the skin internal structure is estimated utilizing estimation formula obtained by multivariable analysis.例文帳に追加

キメ及び／又は肌色等の皮膚表面情報を指標に、皮膚内部構造として共焦点レーザー顕微鏡を用いて計測されたパラメータを、多変量解析によって得られた推定式を利用して推定することを特徴とする、皮膚内部構造を鑑別する技術に関する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of optionally changing a filter transmission wavelength band without preparing an optical filter for every fluorescent wavelength even in the case of changing the fluorescent wavelength, filtering only the wavelength of an exciting laser beam and yielding a distinct fluorescent image without being influenced in terms of manufacture and environment.例文帳に追加

蛍光波長を変更する場合でも光学フィルタを各蛍光波長毎に用意することなくフィルタ透過波長帯域を任意に変更可能で、励起レーザビームの波長のみをフィルタリングでき、製造上及び環境上の影響を受けずに鮮明な蛍光画像を得ること。 - 特許庁

The microscope uses the plurality of scanning optical system, and the problem is solved by controlling the 2nd scanning optical system so as to stop the irradiation with the laser light in the area, where scanning by the 1st scanning optical system and scanning by the 2nd scanning optical system overlap each other.例文帳に追加

複数の走査光学系と、この複数の走査光学系のうち第１の走査光学系の走査と第２の走査光学系の走査とが重なる領域で、第２の走査光学系のレーザ光の照射を停止する制御を行うことにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

To provide an optical detecting circuit capable of expanding an optical detection dynamic range without making the SN of an optical detection signal and height data of a sample dark part worse and acquiring image data of good quality even if a sample has a large luminance difference, and a laser microscope equipped with the optical detecting circuit.例文帳に追加

試料暗部の光検出信号および高さデータのＳ／Ｎを劣化させずに光検出ダイナミックレンジを拡大し、輝度差が大きい試料であっても良質の画像データを取得することが可能な光検出回路および該光検出回路を備えたレーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Because an excitation light irradiation part 18 of a semiconductor laser irradiation device is disposed on the attachment 16 detachably set on an observation light intake 15 of a surgical microscope 1, the excitation light irradiation part 18 can be conveniently removed when it is not in use and maintenance (such as replacement and adjustment) becomes easier.例文帳に追加

半導体レーザー照射装置の励起光照射部１８が手術顕微鏡１の観察光の取入口１５に着脱自在なアタッチメント１６に備えられているため、不使用時には外しておくことができ便利であると共に、メンテナンス（交換調整等）も容易である。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of selectively performing detection of Raman scattering light and observation of Coherent Antistokes Raman Scattering (CARS) light without moving an observation sample and capable of effectively selecting a vibration frequency for CARS light observation without needing complicated work.例文帳に追加

観察対象の標本を動かすことなく、ラマン散乱光検出およびＣＡＲＳ光観察を選択的に行うことができ、煩雑な作業を要することなく、ＣＡＲＳ光観察のための振動周波数を効率的に選択できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain a highly accurate three-dimensional image by using accurate displacement information of an actuator for driving an objective lens, and also to realize a three-dimensional laser microscope system capable of obtaining a stable image by controlling a vibration level based on the acceleration calculated from the displacement information of the actuator.例文帳に追加

対物レンズを駆動するアクチュエータの正確な変位情報を用いて高精度な３次元像を得ると共に、アクチュエータの変位情報から計算した加速度に基づき振動レベルを制御することにより安定した画像を得ることができる３次元レーザ顕微鏡システムを実現する。 - 特許庁

Microbe suspension is added to a biofilm carrier stored in a sterilization dish, and a fluorescent dye is added so as to cover the surface of the biofilm carrier, and then a biofilm formation amount on the surface of the biofilm carrier is measured by using a confocal laser scanning fluorescence microscope system, to thereby evaluate slime generation.例文帳に追加

滅菌シャーレに入れたバイオフィルム担体に菌懸濁液を加え、蛍光染色剤を前記バイオフィルム担体の表面を覆うように加え、続いて、共焦点レーザー走査蛍光顕微鏡システムを用いて前記バイオフィルム担体表面のバイオフィルム形成量を測定してヌメリの発生を評価している。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope capable of automatically or almost automatically setting a range where effective spectroscopic data is acquired to a sample in the case of photometrically metering fluorescence from one or a plurality of fluorescent probes applied to the sample in arbitrary wavelength units and acquiring it as continuous data (λ stack data).例文帳に追加

標本に塗布された１つ又は複数の蛍光プローブからの蛍光を、任意の波長単位で測光し、それを連続データ（λスタックデータ）として取得する場合に、その標本に対して、有効な分光データを取得できる範囲が自動的または略自動的に設定することが可能なレーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When the stylus-type prove 10 is irradiated with illumination light from a laser light source 4 through the glass substrate 20, an interference fringe appears resulting from the gap G, and the position in the X-direction of the interference fringe is detected by a microscope 2 and a CCD camera 3, to thereby measure the irregularity quantity on the sample S surface.例文帳に追加

レーザー光源４からの照明光をガラス基板２０を通して触針式プローブ１０へ照射すると、ギャップＧに起因して干渉縞が現れ、その干渉縞のＸ方向の位置を顕微鏡２とＣＣＤカメラ３で検出することにより、試料Ｓの表面の凹凸量を測定する。 - 特許庁

The total reflection fluorescence microscope makes the change over of vertical illumination and total reflection illumination possible by changing the incident angle of the illumination light to be radiated to a sample through an objective lens 7 from a laser beam source, in which the incident angle of the illumination light from the objective lens 7 on the sample is regulated to a range making the total reflection illumination obtainable.例文帳に追加

レーザ光源から対物レンズ７を介して試料に照射される照明光の入射角を変化させ落射照明と全反射照明の切換えを可能にした全反射蛍光顕微鏡であって、照明光の対物レンズ７から試料への入射角を全反射照明が得られる範囲に規制する。 - 特許庁

The optical microscope 100 comprises a laser light source 10, a Y scanning device 40 for performing scanning of light beams in a Y direction, an objective lens 23, an X scanning device 20 for performing scanning of light beams in an X direction, the spectrograph 31 for measuring spectra, and a line CCD camera 50.例文帳に追加

第１の態様にかかる光学顕微鏡１００は、レーザ光源１０と、光ビームをＹ方向に走査するＹ走査装置４０と、対物レンズ２３と、光ビームをＸ方向に走査するＸ走査装置２０と、スペクトルを測定するための分光器３１と、ラインＣＣＤカメラ５０が設けられている。 - 特許庁

In a method of evaluating the surface of a principal surface of an attraction retainer onto which an object is to be attracted, surface evaluation of the principal surface is performed based on images of interference patterns in the principal surface obtained using a laser microscope.例文帳に追加

被吸着物を吸着する吸着保持装置の前記被吸着物を吸着する側の主面に対する表面評価方法であって、レーザ顕微鏡を用いて求められた前記主面における干渉縞の像に基づいて前記主面に対する表面評価を行うことを特徴とする吸着保持装置の表面評価方法。 - 特許庁

In the inspection method of the nonmetal inclusion in steel, the surface of steel subjected to mirror surface polishing is observed using an optical microscope using a single wavelength laser beam source as an illumination light source and the nonmetal inclusion is discriminated on the basis of the brightness difference between steel and the nonmetal inclusion in the observed variable density image.例文帳に追加

本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。 - 特許庁

In the laser scanning type microscope equipped with the optical system for observation and the optical system for luminous stimulus, the optical system for observation includes a scanning means for scanning a sample surface with a spot obtained by condensing exciting light, and the optical system for luminous stimulus irradiates wide field with stimulating light.例文帳に追加

本発明の上記課題は、観察用光学系と光刺激用光学系を備えたレーザー走査型顕微鏡において、前記観察用光学系は励起光を集光させたスポットを試料面で走査する走査手段を備え、前記光刺激用光学系は刺激光をワイドフィールド照射することを特徴とするレーザー走査型顕微鏡によって解決される。 - 特許庁

Upon using a scanning electron microscope which is loaded with a spin-polarized electron source having a laser 201 and a semiconductor 202, a chirality structure and magnetized vector of polymer inside a testpiece 208 can be visualized by measuring intensity and the degree of spin-polarization of reflected electrons 209 from the testpiece 208 which is irradiated by a spin-polarized electron beam 203 by using a reflected electron detector 210.例文帳に追加

レーザー201と半導体202を備えたスピン偏極電子源等を搭載した走査電子顕微鏡を用いて、スピン偏極電子線203を照射した試料208からの反射電子209の強度やスピン偏極度を反射電子検出器210などを用いて測定することにより、試料208内部の高分子のカイラリティ構造や磁化ベクトルを可視化することができる。 - 特許庁

The method comprises: condensing and irradiating pulse laser beams from beneath of a solution with an objective lens 5 of a microscope, thereby generating plasma emission at the upper portion of the solution surface; and condensing the emission spectrum with an objective lens 9 at the upper portion of the solution and measuring it with a spectrometer 12, thereby analyzing a metallic element contained in the solution.例文帳に追加

顕微鏡を使用して溶液の下からパルスレーザー光線を対物レンズ５で集光して照射ことより、溶液表面上部でプラズマ発光が発生する、その発光スペクトルを溶液上部の対物レンズ９で集光して分光装置１２で測定して、溶液に含まれる金属元素を分析することを特徴とする。 - 特許庁

For this microscope, fluorescent light is condensed from the upper and the lower parts of a stage on which a sample is placed, converted into an electric signal by two optical sensors (photomultiplier, etc.), 120 and 170 provided above and below, and the electric signals from the two above and below optical sensors are added by a device 180 for laser scanning control and image processing.例文帳に追加

本発明の二方向蛍光測光多光子励起レーザ顕微鏡は、試料を乗せるステージの上下から蛍光を集光して、上下に設けた２つの光センサ（光電子倍増管等）１２０および１７０により電気信号に変換し、レーザ走査制御・画像処理装置１８０により上下２つの光センサからの電気信号を加算している。 - 特許庁

The scanning laser microscope 100 is equipped with a stage 101 on which a specimen 105 is placed, a first scanning optical system A for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a first light beam, a second scanning optical system B for scanning the specimen 105 placed on the stage 101 with a second light beam, and a detecting optical system C for obtaining the confocal scanning image.例文帳に追加

走査型レーザー顕微鏡１００は、標本１０５が載置されるステージ１０１と、ステージ１０１に載置された標本１０５に対して第一光ビームを走査する第一走査光学系Ａと、ステージ１０１に載置された標本１０５に対して第二光ビームを走査する第二走査光学系Ｂと、共焦点走査画像を得るための検出光学系Ｃを備えている。 - 特許庁

In a confocal laser microscope 100, an information recording part 10 is configured to record luminance information detected by an optical detector 6 and position information acquired by a position detection part 8 in association with each other by a specific moving method for changing a sample 5 and/or an objective lens 4 to either the increasing direction or reducing direction of their mutual relative distance by a driving mechanism 7.例文帳に追加

共焦点レーザ顕微鏡１００において、情報記録部１０は、駆動機構７で試料５および／または対物レンズ４を、互いの相対距離の増大方向または縮小方向のいずれかの方向へ変化させる特定移動方法により、光検出器６が検出した輝度情報と位置検出部８が取得した位置情報とを相互に関連付けて記録する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope in which an optical filter and a mechanical driving part requiring high position reproducing accuracy are not necessitated and the change of a device constitution is not necessitated for the various kinds of the combinations of exciting wavelength and a fluorescent pigment, by which the multiexcited fluorescent image of a sample multi-colored can be obtained by one photodetector by having a high S/N and whose constitution is simple.例文帳に追加

光学フィルタや高度な位置再現精度を要する機械駆動部を必要とせず、励起波長や蛍光色素の各種組み合わせに対しても装置構成の変更を必要としない、多重染色された標本の多重励起蛍光像を一つの光検出装置でも高いＳ／Ｎをもって得ることの出来る、簡易な構成のレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional shape measuring device for measuring and displaying a three-dimensional shape efficiently by relating surface optical image information acquired by a confocal laser scanning type microscope with a simple configuration to height information acquired by a microscopic interference measurement method for management and easily acquiring the three-dimensional shape of a high-definition and high-resolution sample over a wide magnification range.例文帳に追加

簡単な構成で共焦点レーザ走査型顕微鏡によって取得される表面光学像情報と顕微干渉計測法によって取得される高さ情報を関連付けて管理し、広い倍率範囲に渡って高精細、高分解能な試料の３次元形状を容易に取得し、効率的にこの３次元形状を測定、表示する３次元形状測定装置を提供する。 - 特許庁

The method of operating laser scanning microscope comprises: lighting a sample through at least one scanner 2; imaging the sample; measuring temperature at the scanner 2 and/or a scanner driving part; starting a cooling device 6 when limit temperature is reached; advantageously interrupting the imaging operation once the cooling device 6 is switched on; and making a display device perform optical display or acoustic display when the limit temperature is reached.例文帳に追加

本発明によるレーザ走査型顕微鏡の動作方法では、試料は少なくとも１つのスキャナ２を通じて照明され、撮像が行われ、スキャナ２および／またはスキャナ駆動部において温度測定が行われ、限界温度に達すると冷却装置６が始動され、また有利なことに、冷却装置６のスイッチがオンに入ると撮像が中断され、または限界温度に達すると表示装置が光学的表示または音響的表示を行う。 - 特許庁

The laser scanning microscope is equipped with an illumination beam path for illumination of a sample, and a detection beam path for wavelength-dependent sensing of the light from the sample, whereby filters for selection of the detection wavelengths are provided, characterized in that at least one graduated filter spatially variable in regard to the threshold wavelength between the transmission and reflection is provided in several partial beam paths for the selection of the wavelengths.例文帳に追加

この走査型レーザ顕微鏡は、試料を照らすための照明用の放射線経路と、試料光を波長に応じて感知するための検出用の放射線経路とを備え、検出波長を選択するためのフィルタが設けられており、複数の部分放射線経路へと波長を選択するために、透過と反射との間の境界波長が場所によって変わる少なくとも１つのグラデーション・フィルタが設けられている。 - 特許庁