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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test Systemの意味・解説 > Test Systemに関連した英語例文

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Test Systemの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3508



例文

A mobile station test section of the mobile station automatically test a voice system of a radio channel connected at actual communication among a control station, a base station and the mobile station when the voice system makes no speech and transmits test result data to the control station.例文帳に追加

制御局、基地局、移動局間で実際の通信に接続する無線回線に、移動局の移動局試験部は、音声系が通話しない時に、自動的に音声系に対する試験を行い、試験の結果データを制御局へ送出する。 - 特許庁

The fire sensors equipped with the automatic testing functions are connected to the sensor circuits 2-1 to 2-3 extracted by every system from the receiver 1, and a test instructing part 14 instructs the start of a test to a certain fire sensor, and instructs the start of a test to another fire sensor connected to the signal circuit of the identical system or another system before the test ends.例文帳に追加

受信機1は、系統毎に分けて引出された感知器回線2−1〜2−3に自動試験機能を備えた火災感知器を接続しており、試験命令部14は、ある火災感知器に試験開始を指示してから試験終了となる以前に、同一系統又は別系統の信号線に接続している他の火災感知器に試験開始を指示する。 - 特許庁

To realize stable operation by lightening a load for a measuring system at the time of a burn-in test or at the time of a stress test, and reducing a peak current, in a DRAM.例文帳に追加

DRAMにおいて、バーンイン試験時又はストレス試験時での測定系の負荷を軽減し、ピーク電流を低減して、安定した動作を実現する。 - 特許庁

To provide an LSI tester and a test system capable of improving an operating rate by forecasting a test ending time on a wafer basis with high accuracy.例文帳に追加

高精度でウェハ単位でのテスト終了時刻予測を行うことにより稼働率を高めることができるLSIテスタおよびテストシステムを提供すること。 - 特許庁

例文

To suppress increase of circuits for performing a memory test and to suppress increase of the number of test steps in a system LSI having a processor core and a plurality of memory banks.例文帳に追加

プロセッサコアと複数のメモリバンクを持つシステムLSIにおいて、メモリテストを実施するための回路増加を抑え、かつテストステップ数の増加を抑える。 - 特許庁


例文

To provide an information terminal test apparatus and an information terminal test system whereby a fault status of an information terminal can be obtained before a person is dispatched to a fault site.例文帳に追加

故障現場へ行く前に情報端末の故障状態を把握できる、情報端末試験装置及び情報端末試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test cartridge and an analytical system enhanced in flexibility and versatility in execution of an analytical test.例文帳に追加

分析試験の実施における柔軟性及び多様性を高めることを追求して改良された、こうしたテスト・カートリッジ及び分析システムを提供すること - 特許庁

To provide a tensile test method and a device capable of performing inexpensively a test in a low speed area, in a tensile tester of a Hopkinson bar system.例文帳に追加

ホプキンソンバー方式の引張り試験機において、安価に低速域の試験も行える引張り試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The test of a mobile telephone system having been manually entered and confirmed by human eyes is automated by using a personal computer and a test device.例文帳に追加

パーソナルコンピュータと試験装置を使用することにより人間の手で入力し、人間の目で確認していた携帯電話システムの試験を自動化する。 - 特許庁

例文

To provide a test pattern forming system, where the test pattern can be immediately used for the simulation by carrying out simulation, in an environment which approximates actual operation.例文帳に追加

実際の運用に近い環境でのシミュレーションを行い、シミュレーションのテストパターンとしてすぐに使用可能なテストパターン作成システムを提供する。 - 特許庁

例文

To provide an interface circuit for facilitating implementation of a test, by reducing an overhead cycle in the test during an interface operation, and to provide a communications system.例文帳に追加

インタフェース動作時テストにおけるオーバヘッドサイクルを削減でき、テストの実施を容易とすることが可能なインタフェース回路および通信システムを提供する。 - 特許庁

To provide an entrance examination study system with which the standard score of test results can be improved and anyone can easily improve the test result.例文帳に追加

試験成績を偏差値を向上させることが可能で、試験成績の向上を誰でも容易に行うことができる受験学習システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test support system which can provide an easy understanding of the entire flow of a test program which includes many branches or the like and a complicated processing flow.例文帳に追加

分岐などを多く含んでいて処理の流れが複雑なテストプログラム全体の流れを容易に理解できるテスト支援装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a radio communication system capable of remarkably increasing test efficiency by enabling automatic testing of test items being specified not to be overlapped.例文帳に追加

重複がないように規定された試験項目を自動試験で実施可能とし、試験効率を非常に高くすることが可能な無線通信システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test device measurement system that suitably controls the processing amount of data transmitted from a test device according to the data processing capacity of an information processor.例文帳に追加

情報処理装置のデータ処理能力に応じて、試験装置から送信されるデータの処理量を最適制御する試験装置測定システムを提供する。 - 特許庁

Meantime, a receiver receives the test packets from the communication system, and detects a maximum value of a difference in receiving times of the test packets transmitted consecutively.例文帳に追加

一方、受信器は、前記通信システムから試験パケットを受信し、連続して送信された試験パケットの受信時刻の差の最大値を検出する。 - 特許庁

A test pattern formed on a test reticle Rt is projected onto a light reception surface 42 of an image pickup mechanism 41 via a projection optical system PLe to be inspected.例文帳に追加

テストレチクルRt上に形成されたテストパターンを、被検投影光学系PLeを介して撮像機構41の受光面42上に投影する。 - 特許庁

To provide a test system capable of improving the efficiency of operation to connect a plurality of cables connecting a test device and a tested device to each other.例文帳に追加

試験装置と被試験器とを接続する複数のケーブルを接続する際の作業効率を向上させることができる試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern for verification generating system that is capable of facilitating a pattern input and generating an easily understood test pattern having excellent visibility.例文帳に追加

容易にパタン入力ができ、視認性の良くて分かり易い検証用テストパタンを生成することができる検証用テストパタン生成システムを提供する。 - 特許庁

The system then test the memory location by causing the first processor to perform read and write operations to the memory location to produce test results.例文帳に追加

次いで、テスト結果を生成するために、第1のプロセッサに、メモリ位置に対する読み取りおよび書き込み動作を実行させることによって、メモリ位置をテストする。 - 特許庁

To provide a system and a method for subscriber line digital continuity test which efficiently perform a subscriber line digital continuity test.例文帳に追加

加入者線ディジタル導通試験を効率良く行うことができる加入者線ディジタル導通試験システム及びその導通試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce a workload for preparing a test case condition corresponding to a system LSI of different specifications by using the existing test items.例文帳に追加

既成の試験項目を用いて、異なる仕様のシステムLSIに対応したテストケース生成条件を作成する作業量を削減することを目的とする。 - 特許庁

This system includes a load lock chamber 400 arranged near the first side part of the test chamber 500, and a probe storing assembly 200 arranged under the test chamber 500.例文帳に追加

テストチャンバ500の第1の側部の近傍に配置されたロードロックチャンバ400と、テストチャンバ500の下方に配置されたプローブ収納アセンブリ200を含む。 - 特許庁

METHOD FOR RESISTANCE VALUE COMPENSATION, CIRCUIT HAVING RESISTANCE VALUE COMPENSATION FUNCTION, TEST METHOD OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, RESISTANCE VALUE COMPENSATION PROGRAM, TEST PROGRAM OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, AND SYSTEM例文帳に追加

抵抗値補償方法、抵抗値補償機能を有する回路、回路の抵抗値試験方法、抵抗値補償プログラム、回路の抵抗値試験プログラム及びシステム - 特許庁

This management system is executed at a central management work station and at least one work station for test installed in various rooms of a test center.例文帳に追加

本発明の管理システムは、中央管理ワークステーションと、テストセンターの種々の部屋に設置した少なくとも1つのテスト用ワークステーションの上で実現される。 - 特許庁

To provide a connectability evaluation system capable of conducting a test wherein various modes of quality deterioration and the worst condition occurring on a network in a test environment are simulated.例文帳に追加

試験環境のネットワークで生じ得る品質劣化の様々な態様や最悪条件を模擬した試験を行える接続性評価システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test case designing support method for a software system which can test important functions preferentially and selectively.例文帳に追加

本発明では、状況に応じて重要な機能を優先的かつ重点的にテストできるような、ソフトウェアシステムのテストケース設計支援方法の提供。 - 特許庁

To provide a circuit opening test system and circuit opening testing method which permit elimination of a waiting time for an opening test even when the opening tests overlap with each other.例文帳に追加

開通試験が重なっても、開通試験の待ち時間を無くすことを可能にする回線開通試験システムおよび回線開通試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and program for supporting the determination of how much resources should be assigned, and how those resources should be assigned to the test of a software system as a test plan.例文帳に追加

ソフトウェアシステムのテストにどれだけのリソースをどのように割り当てるべきかを、テスト計画として決定することを支援する方法およびプログラムの提供。 - 特許庁

To provide a game machine and a game test system allowing a manufacturer of the game machine or an organization for testing the game machine to easily perform a test on the change of set values.例文帳に追加

遊技機の製造者や試験機関が設定値の変更に関する試験を容易に行うことができる遊技機および遊技試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a memory test device which can perform a test by an interleaving system between banks and distinguishing correctly a charge 1 region and a charge 0 region.例文帳に追加

バンク間インタリーブ方式で然もチャージ1領域とチャージ0領域とを正しく区別して試験を行うことができるメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten time of development and time of execution of a test in a static electric source current measuring test in a system LSI with a built-in processor.例文帳に追加

プロセッサーを内蔵するシステムLSIにおいて、静止電源電流測定試験時の試験の開発時間と実施時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and a system for evaluating an insulation film in which TDDB test accuracy is enhanced in a thin film region while shortening the test time.例文帳に追加

薄膜領域でのTDDB試験精度の向上と時間短縮とを実現するための絶縁膜の評価方法及び評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a power supply current measuring unit arranged on a semiconductor test system and capable of accurately measuring the power supply current of a device under test at a high speed.例文帳に追加

半導体試験システムに備えられ、被試験デバイスの電源電流を高速でかつ正確に測定できる電源電流測定ユニットを提供する。 - 特許庁

To obtain a system for managing test report for providing an environment where the functions of registering, managing and analyzing a software test report is given for outsourcing.例文帳に追加

ソフトウェアのテストレポートの登録と管理、その解析を行うための機能をアウトソーシングできる環境を提供するテストレポート管理システムを実現する。 - 特許庁

To provide A/D converter test system and method for substantially shortening test time by reducing the number of times of comparison required for analog/digital conversion.例文帳に追加

アナログ・デジタル変換に必要な比較の回数を減らすことによりテスト時間を大幅に短縮するA/Dコンバータテスト方式および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system of a short message which can perform an overall verification test of short message service, and a test method of the short message.例文帳に追加

本発明は、ショートメッセージサービスの総合的な確認試験が行えるショートメッセージ試験システム及びショートメッセージの試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To realize a test mode entry method using key entry by continuous test mode cycle used in a conventional SDRAM/DDR-SDRAM, in a FCRAM command system.例文帳に追加

FCRAM のコマンド体系において、従来のSDRAM/DDR-SDRAM で使用されている連続したテストモードサイクルによるキーエントリを使用したテストモードエントリ方法を実現する。 - 特許庁

To provide a fuel cell heat simulator capable of reducing test cost by executing an initial system integration test of a required element instead of a solid-state oxide fuel cell.例文帳に追加

固態酸化物燃料電池の代わりに、必要とする素子の初期システム統合テストを行い、テストコストを低下する燃料電池熱シミュレータを提供する。 - 特許庁

This semiconductor test system outputs the virtual test results even when the prober is not installed, as well as the case where the prober is installed.例文帳に追加

本発明による半導体テストシステムはプローバが設置されていない場合にもプローバが設置されている場合と同様に仮想テスト結果を出力する。 - 特許庁

The diagnostic system thus provides a list of requirements to support a diagnostic test prior to the test to be performed and the efficiency and consistency of the diagnosis are improved.例文帳に追加

これにより、診断テストの実施に先立ってそのテストをサポートする要件のリストを提供し、診断の効率及び一貫性が改善される。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system that does not affect the accuracy of measurement under execution while shortening the switching period of a test program.例文帳に追加

試験プログラムの切り替え時間の短縮化を達成しつつ、実行中の測定精度に影響を及ぼさない半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide an acoustic pupillary reaction test system capable of performing an acoustic pupillary reaction test efficiently by giving no excessive stress to a subject.例文帳に追加

被験者に過度なストレスを与えずに音響性瞳孔反応検査を効率的に行うことが可能な音響性瞳孔反応検査システムを提供する。 - 特許庁

A hard disk current test system includes a hard disk, an adapter board, a test device, a first cable, a second cable, and two clip-on ammeters.例文帳に追加

本発明に係るハードディスク電流のテストシステムは、ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び2つのクリップオン電流計を備える。 - 特許庁

An engine cooling water circulation system 1 for test includes a test piece 2 including an engine 3, and a circulation device 5 which circulates and supplies cooling water to the engine 3.例文帳に追加

試験用エンジン冷却水循環システム1は、エンジン3を含む試験体2と、エンジン3へ冷却水を循環供給する循環装置5とを備える。 - 特許庁

Also a test strip that includes the reagent composition, and a system and kit incorporating the test strip are provided.例文帳に追加

さらに、上記本発明の各試薬組成物を含む各試験片、並びに、当該本発明の試験片を組み込んでいる各システムおよび各キットも提供される。 - 特許庁

To provide a single semiconductor test system capable of running a plurality of the same or different types of test programs parallel with each other by a plurality of virtual testers.例文帳に追加

複数の仮想テスタにより、複数の同一または異なるテストプログラムを同時に並列に実行することのできる単一の半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

By the first pads, a first power supply which is transmitted through a probe card from a test system is transmitted to a first power-supply line 111 during the test operation of a DC characteristic.例文帳に追加

第1パッドはDC特性テスト動作の間に、テストシステムからプローブカードを通じて伝達される第1電源を第1電源ライン111に伝達する。 - 特許庁

To provide a damping test method, a control apparatus, a hydraulic system and a program capable of improving reliability of a damping test result without using a pressure sensor.例文帳に追加

圧力センサを用いることなく、ダンピング試験結果の信頼性を向上し得る、ダンピング試験方法、制御装置、油圧システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁

例文

To provide a system for game machine testing which can properly perform a performance confirming test.例文帳に追加

好適に性能確認試験を行うことが可能な遊技機試験用システムを提供すること - 特許庁




  
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