| 意味 | 例文 |
Test operationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2158件
In normal operation mode, both the TEST 1 for a first measurement mode signal and the TEST 2 for a second test mode signal are set at a low level.例文帳に追加
通常動作モードにおいては、第1の測定モード信号TEST1および第2のテストモード信号TEST2をいずれもローレベルに固定する。 - 特許庁
To provide a protective cover for test plug that improves test efficiency while preventing an operation error at the start or end of a test.例文帳に追加
試験の作業効率を向上させ、試験開始又は試験終了後の操作ミスを防止することができるテストプラグ用保護カバーを提供すること。 - 特許庁
The LSI 1 is transited from a general operation mode to a test mode by asserting a test mode signal TM1 and a test mode signal TM2 to H-level.例文帳に追加
LSI1は,テストモード信号TM1およびテストモード信号TM2がHレベルにアサートされることによって,通常動作モードからテストモードに遷移する。 - 特許庁
The inverter 5 has an operation changeover switch 520 for switching automatic operation, stopping and test operation of the corresponding pump 3.例文帳に追加
インバータ5は、対応するポンプ3の自動運転と停止と試験運転との切替を行う運転切替スイッチ520を備える。 - 特許庁
In this case, the first operation conditions are, for example, operation conditions in actual operation after a semiconductor circuit is completed, and the second operation conditions are, for example, operation conditions when performing a shipping test (in a test) after the semiconductor circuit is completed.例文帳に追加
ここで、第1の動作条件は、例えば、半導体回路完成後の実動作時の動作条件であり、第2の動作条件は、例えば、半導体回路完成後の出荷試験を行うとき(試験時)の動作条件である。 - 特許庁
A mode setting circuit switches an operation mode to a normal operation mode or a test mode in accordance with an external control.例文帳に追加
モード設定回路は、外部制御により動作モードを通常動作モードまたはテストモードに切り替える。 - 特許庁
A component (symbol) testing part 7 is provided with an operation confirmation monitoring data creation function and a test executing operation function.例文帳に追加
部品(シンボル)試験部7は、動作確認用監視データ作成機能と試験実施操作機能をもつ。 - 特許庁
An operation indicating part 1e instructs start of test object operation by the movable part 2a to a device 2 to be tested.例文帳に追加
動作指示部1eは、被試験装置2に可動部2aによる試験対象動作の開始を指示する。 - 特許庁
To provide a field equipment diagnostic device for easily executing test operation or reproducting past operation.例文帳に追加
簡便に試験的な動作の実行や過去の動作の再現ができるフィールド機器診断装置を提供する。 - 特許庁
To enable even a low-speed tester to test a circuit operation at the time of restricted operation.例文帳に追加
低速テスタでも拘束動作時の回路動作を試験することができるようにすることを目的とする。 - 特許庁
A means is provided for differentiating the standard electric potential between a first operation mode in a normal operation and a second operation mode in an operation margin test.例文帳に追加
通常動作時における第1の動作モードと、動作マージン試験時における第2の動作モードとで、基準電位を異ならせる手段を設けた。 - 特許庁
A memory cell block for the acceleration test and a memory cell block for a normal operation are prepared in the SRAM block to carry out the acceleration test and a normal operation in parallel.例文帳に追加
加速試験は、SRAMブロック中に加速試験用のメモリセルブロックと通常動作用のメモリセルブロックを用意し、通常動作と並行して行う。 - 特許庁
To provide an operation test method for a circuit for transmitting and receiving signals.例文帳に追加
信号を送受信する回路のための動作試験方法を提供する。 - 特許庁
To simply perform a transmission test even when an ATM network is in an operation system.例文帳に追加
ATM網が運用系にあるときでも簡単に伝送試験を行う。 - 特許庁
To surely perform a protective operation against an overcurrent at abnormality such as an abnormality test, etc.例文帳に追加
アブノーマル試験等の異常時の過電流保護動作を確実に行う。 - 特許庁
To apply a proper magnetic force field to each test piece while enabling the simultaneous operation of the test pieces at a plurality of places to improve efficiency in operation such as an experiment.例文帳に追加
複数箇所での同時試料操作を可能にして実験等の作業効率を高めながら、かつ、各試料に対して適正な磁気力場を付与する。 - 特許庁
To provide a circuit module having a function for independently executing an operation test.例文帳に追加
単独で動作テストを行う機能を有する回路モジュールを提供する。 - 特許庁
Therefore, it becomes possible to simply carry out the leak test operation of the device.例文帳に追加
そのため、装置のリーク検査作業を簡単に行なうことが可能になる。 - 特許庁
In this test mode, operation can be performed with one clock per one cycle.例文帳に追加
このテストモードでは、1サイクル当たり1クロックで動作させることができる。 - 特許庁
PUMP TEST DEVICE, PUMP OPERATION ASSIST DEVICE, AND PUMP BEARING TEMPERATURE CALCULATION DEVICE例文帳に追加
ポンプ試験装置、ポンプ運転支援装置、およびポンプ軸受温度演算装置 - 特許庁
The usual operation and the test operation are thereby carried out without requiring the terminal 211 dedicated for the test, and the interposer substrate.例文帳に追加
このため、テスト専用の外部端子211やインターポーザ基板を必要とすることなく、通常動作とテスト動作とを実行するようなことができる。 - 特許庁
To prevent an erroneous operation by a test subject from occurring without lowering operability.例文帳に追加
操作性の低下を来たすことなしに、被験者による誤操作を防止する。 - 特許庁
In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加
この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁
To provide the test system of a game machine and the game machine capable of considering even the operation pattern of the game machine and easily performing a test before an operation without performing a manual operation.例文帳に追加
人手による操作をすることなく、遊技機の操作パターンをも考慮して稼動前の試験を容易に行うことができる遊技機の試験システム及び遊技機を提供する。 - 特許庁
An operation rate calculation test pattern generating means prepares the operation rate calculation test pattern of the gate from the 0/1 probability data of each register and the operation rate data of each register in the logic circuit.例文帳に追加
動作率算出用テストパタン生成手段は、論理回路中のレジスタ毎の0/1確率データとレジスタ毎の動作率データからゲートの動作率算出用テストパタンを作成する。 - 特許庁
To make it possible to execute a test in system operation by widely developing a scanning test for a circuit board in a computer system.例文帳に追加
計算機システムにおける回路基板のスキャンテストをより幅広く展開し、システム動作中にテストを行うこと。 - 特許庁
Thus the test part 301 stops the output of test data to allow the control part 300 to output operation data.例文帳に追加
また、試験部301は試験データの出力を取り止めて制御部300からの運用データを出力するようになる。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory in which a test time can be shortened to a test of which the sense operation margin is severe.例文帳に追加
センス動作マージンが厳しいテストに対してテスト時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
On a display screen 31, a test operating section 32 is provided to instruct a test operation to the apparatus to be electronically controlled.例文帳に追加
表示画面31に被電子制御装置に対する試験用の操作指示を行う試験操作部32を設けた。 - 特許庁
Thus, not only the down link test but also the up link test can be determined by operation from one side.例文帳に追加
かかる構成により、下り回線のみならず上り回線の試験を片側からの操作によって判定することができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device including a test circuit performing write-mask operation, in a test of a wafer state.例文帳に追加
ウェーハ状態の試験において、ライトマスク動作を実行するテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
A transmission test is started by sending a test request to a prescribed ATM transmission testing device during normal operation.例文帳に追加
通常の運用中、所定のATM伝送試験装置に試験要求を出すことにより伝送試験が開始される。 - 特許庁
To automatically generate a test vector to realize the shortening of a test time based on log data at the performance of a manual operation.例文帳に追加
マニュアル操作を行った際のログデータに基づいて、試験時間の短縮を実現するテストベクタを自動生成すること。 - 特許庁
To inexpensively perform operation verification of a test program at high speed in offline simulation environment of a test device.例文帳に追加
試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁
TEST SUBSTRATE AND METHOD FOR CHECKING OPERATION UPON CARRYING IN/OUT SUBSTRATE TO CASSETTE OR PRODUCTION DEVICE BY USING THE TEST SUBSTRATE例文帳に追加
テスト基板および該テスト基板を用いたカセットまたは生産装置への基板搬入・搬出時の動作確認方法 - 特許庁
To provide a scan test method capable of readily performing scan test between chips at actual operation timing of each chip.例文帳に追加
各チップの実動作タイミングでチップ間のスキャンテストを簡単に行うことができるスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁
To prevent erroneous operation caused by that the prescribed test mode is not set due to defect of a line in a burn-in test.例文帳に追加
バーンイン試験におけるライン不良により所定のテストモードに入れていないことによる誤動作を防止すること。 - 特許庁
To provide a scan flip-flop which is a hold-free small test circuit, and allows a test with an actual operation frequency to be possible.例文帳に追加
ホールドフリーの小規模なテスト回路であり、且つ実動作周波数でのテスト可能なスキャンフリップフロップを提供する。 - 特許庁
An operation content including all the input signals inputted to test equipment when a tester performs testing, an input time of day, and a time of day when the test has been performed by the test equipment is recorded as test data, their management table, and operation history every test ID, and is managed as a bug management database.例文帳に追加
テスターがテストを実施した際のテスト機器に入力された全ての入力信号と、入力された時刻と、テスト機器で実行された時刻を含む操作内容を、テストID毎に、テストデータと、その管理テーブルと操作履歴として記録してバグ管理データベースとして管理する。 - 特許庁
The operation verification device combines the program and the input data to form execution sets and a test scenario as well, and subsequently continuously executes the respective execution sets to thereby automatically execute an operation test by a test program.例文帳に追加
プログラムと入力データを組み合わせて実行セット、更には、テスト・シナリオを構成した上で、各実行セットを連続実行させることにより、テスト・プログラムによる動作テストが自動実行される。 - 特許庁
Since the data can be thereby supplied serially from the test data terminals to the latch circuits during the test operation, therefore, the number of terminals used at the operation test can be greatly reduced.例文帳に追加
これにより、テスト動作時においてテストデータ端子からラッチ回路へデータをシリアルに供給できることから、動作試験において使用する端子の数を大幅に削減することが可能となる。 - 特許庁
To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加
通常の動作時(命令実行時)に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁
To provide an operation test support device for efficient and stable debugging in an operation test of a device to be tested performed by a semiconductor integrated circuit tester on the basis of a test program.例文帳に追加
テストプログラムに基づいて半導体集積回路試験装置が行う被測定デバイスの動作試験において、効率良く、安定したデバッグを行うための動作試験支援装置を提供する。 - 特許庁
The operation mode control unit 4 is used when the sensor LSI 50 is tested, and outputs to the operation timing generation unit 5 a mode control signal Sms designating either an operation test mode or an intermittent operation test mode.例文帳に追加
動作モード制御部4は、センサLSI50のテスト工程のときに用いられ、間欠動作テストモードと動作テストモードいずれかを指定するモード制御信号Smsを動作タイミング生成部5に出力する。 - 特許庁
When the parameter is reset, the test operation of the work flow is started again.例文帳に追加
前記パラメータが再設定されると、再度ワークフローのテスト動作が開始される。 - 特許庁
TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS OPERATION CONFIRMING BOARD THEREFOR例文帳に追加
半導体集積回路試験装置及び当該装置の動作確認用基板 - 特許庁
To make control by a remote controller available when abnormality is not found in a test operation.例文帳に追加
試運転に異常がない場合に、リモートコントローラによる制御を可能とする。 - 特許庁
The magnet coil 2 is demagnetized when pressing operation to the test switch 18 is released.例文帳に追加
試験スイッチ18の押圧操作を解除すると、マグネットコイル2が消勢される。 - 特許庁
OPERATION TEST METHOD AND APPARATUS AND STANDBY PRESSURE SETTING METHOD FOR GOVERNOR例文帳に追加
整圧器の稼働試験方法および装置、ならびに待機用圧力設定方法 - 特許庁
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