| 意味 | 例文 |
Test operationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2158件
A test circuit performs test operation of the circuits to be tested in parallel based on the test control information by designating test operation of each test control circuit 42 through a control terminal 32.例文帳に追加
制御端子(32)を介して各テスト制御回路(42)にテスト動作を指示することにより、テスト回路は並列的にテスト制御情報に基づいて被テスト回路をテスト動作させる。 - 特許庁
TEST METHOD, TEST DEVICE, DEVICE TO BE TESTED, AND SUPERVISORY CONTROLLER FOR MAINTENANCE AND OPERATION例文帳に追加
試験方法、試験装置、被試験装置および保守運用監視制御装置 - 特許庁
OPERATION VERIFYING METHOD FOR MEMORY TEST PATTERN, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
メモリテストパターンの動作検証方法、半導体試験装置、及び半導体装置 - 特許庁
To provide a communication operation test equipment that can efficiently test a communication operation with respect to the front end of an electronic device.例文帳に追加
電子機器のフロントエンドに対する通信動作の試験を効率よく行うことを可能とする。 - 特許庁
To automatically test a whole operation pattern by a simple operation.例文帳に追加
運行パターンの全体について、簡単な操作で、自動的にテストを行う。 - 特許庁
With a start bit set in the test start register, the test control circuit starts a test operation of the CPU with the test circuits, accumulates test results, and resets the CPU and the internal circuits in response to the completion of the test operation.例文帳に追加
テスト起動レジスタにスタートビットがセットされて、テスト制御回路は、テスト回路によるCPUなどのテスト動作を起動しテスト結果を蓄積し、テスト動作の終了に応答してCPUと内部回路をリセットする。 - 特許庁
To provide an automatic test tool program and an automatic test method capable of efficiently performing an operation test of a screen display accompanied by an operation.例文帳に追加
操作に伴う画面表示の動作テストを効率的に行える自動テストツール・プログラム及び自動テスト方法を提供すること。 - 特許庁
To prevent occurrence of erroneous operation in a scan test circuit.例文帳に追加
スキャンテスト回路での誤動作の発生を防止する。 - 特許庁
OPERATION CONTROL METHOD OF REFRIGERATOR IN ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM, AND ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM例文帳に追加
環境試験装置における冷凍機の動作制御方法及び環境試験装置 - 特許庁
To provide a test carton for simplifying the work required for operation test of an inspection apparatus.例文帳に追加
検査装置の動作テストのための作業を簡単化するテストカートンを提供する。 - 特許庁
Each gateway includes a test pattern generator and a test memory analyzer that are used for an in-operation test of the video signal.例文帳に追加
各ゲートウェイはビデオ信号の稼働中テストを行うためのテスト・パターン・ジェネレータ及びテスト測定アナライザを含む。 - 特許庁
An operation test control means 14 controls the operation tests of processors which are in test run states to conduct a specified operation test.例文帳に追加
そして、動作試験制御手段14は、動作状態が試験走行状態となっているものについての動作試験を制御し、所定の動作試験を実行させる。 - 特許庁
This hot water supply system 10 executes a test operation program.例文帳に追加
給湯システム10は、試運転プログラムを実行する。 - 特許庁
At the step S6, operation of the test template is tested.例文帳に追加
ステップS6において、テストテンプレートの動作テストを行なう。 - 特許庁
HOT WATER HEATING SYSTEM AND ITS TEST OPERATION CONTROL METHOD例文帳に追加
温水暖房システム及びその試運転制御方法 - 特許庁
a test operation of a machine that is done in order to examine its defects 例文帳に追加
欠陥箇所を発見するための機械の試運転 - EDR日英対訳辞書
SPEED MEASUREMENT DEVICE AND OPERATION TEST DEVICE FOR ELEVATOR GOVERNOR例文帳に追加
速度測定装置、エレベータ調速機の動作試験装置 - 特許庁
To simplify a test for verifying operation of a control device and also simplify verification of operation using the test.例文帳に追加
制御装置の動作の検証のためのテストを簡易化し、かつ、テストを利用した動作の検証を簡易化する。 - 特許庁
This self-test circuit responds to an external test activating signal WBIZ and activated, generates a test operation command WBI-CMD, generates a test address WBI-ADD, and generates a test data WBI-DATA.例文帳に追加
この自己試験回路は、外部からの試験活性化信号WBIZに応答して活性化し、試験動作コマンドWBI-CMDを発生し、試験アドレスWBI-ADDを発生し、試験データWBI-DATAを発生する。 - 特許庁
To update test specifications or test procedures at any time along the progress of a test, to raise work efficiency of the test and to eliminate errors in a test operation.例文帳に追加
テストの進行状況に沿ってテスト仕様書あるいはテスト手順書を随時更新し、テストの作業効率を向上させると共にテスト作業の誤りを無くす。 - 特許庁
When the test of a work flow is designated, test data instead of input data for the work flow processing are prepared, and processing by a test operation following a parameter is executed about the test data, and when any problem is generated in the middle of a test operation, the test operation is stopped.例文帳に追加
ワークフローのテストが指定されると、当該ワークフロー処理用の入力データに代わるテストデータが作成され、このテストデータについてパラメータに従ったテスト動作での処理が実行され、テスト動作の途中で問題が発生した場合には、テスト動作が停止される。 - 特許庁
An operation confirmation test of an excessive speed prevention means is incorporated in a load dump test.例文帳に追加
負荷遮断試験に過速度防止手段の動作確認試験を組み込むこととした。 - 特許庁
A test system 100 is configured to test the operation of a semiconductor memory device.例文帳に追加
テストシステム100は、半導体記憶装置の動作テストを実行するためのシステムである。 - 特許庁
Thus, only the refresh operation necessary for the test can be executed, thereby the test efficiency is improvable.例文帳に追加
これにより、テストに必要なリフレッシュ動作のみを実行でき、テスト効率を向上できる。 - 特許庁
MEMORY TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND OPERATION CONTROL METHOD FOR MEMORY TEST CIRCUIT例文帳に追加
メモリテスト回路、半導体集積回路装置、およびメモリテスト回路の動作制御方法 - 特許庁
An automatic test device 3 controls an operation of the load test machine 2 and the test machine 5 automatically and performs an automatic test of the node B apparatus 1.例文帳に追加
自動試験装置3は負荷試験機2及び試験機5の動作を自動的にコントロールし、ノードB装置1に対する自動試験を実施する。 - 特許庁
To provide a test terminal capable of easily carrying out an operation test of a relay in which a test plug is inserted into the test terminal, while preventing the relay from malfunctioning, even when using a general test plug as the test plug.例文帳に追加
一般的なテストプラグを用いても、これをテスト端子に対し挿入して行う継電器の誤動作を防止してその動作試験を容易に行うことのできるテスト端子を提供する。 - 特許庁
By transmitting a test program as a communication signal wirelessly at an operation test, test contents are changed as required.例文帳に追加
動作テスト時に、テストプログラムを通信信号として、無線により送信することで、テスト内容を必要に応じて変化させる。 - 特許庁
The self test circuits 10A, 10B are controlled so that test operation is performed alternately by a test control circuit 20.例文帳に追加
自己試験回路10A,10Bは、試験制御回路20によって交互に試験動作を行うように制御される。 - 特許庁
To provide a plant test managing device which can efficiently advance a plant test and plant test managing operation.例文帳に追加
プラント試験ならびにプラント試験管理業務を効率的に進めることのできるプラント試験管理装置を提供する。 - 特許庁
COMBINATION TEST DATA GENERATION DEVICE AND OPERATION METHOD THEREOF例文帳に追加
組み合わせ試験データ生成装置およびその動作方法 - 特許庁
This hot water supply system 10 executes a bath test operation program.例文帳に追加
給湯システム10は、風呂試運転プログラムを実行する。 - 特許庁
Selection is performed between an operation power source and a test power source.例文帳に追加
動作電源および検査電源間で選択を行なう。 - 特許庁
To provide a test device for a semiconductor device which can test in a short time by increasing operation speed of trimming operation of a flash memory.例文帳に追加
フラッシュメモリのトリミング動作を高速化し、短時間に済ませることができる半導体デバイス試験装置を提案する。 - 特許庁
To test a word line selection circuit with a real time operation.例文帳に追加
リアルタイム動作で、ワード線選択回路のテストを行うこと。 - 特許庁
To provide a multi-sample read circuit having a test mode operation.例文帳に追加
テストモード動作を有するマルチサンプル読みだし回路の提供。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE OF REDUNDANCY ARITHMETIC OPERATION, AND MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加
リダンダンシ演算方法及び装置並びにメモリ試験装置 - 特許庁
Under Select the Operation to Test, under HelloXSLTWSDLPort (Binding=HelloXSLTWSDLBinding) select HelloXSLTWSDLOperation. 例文帳に追加
「テストする操作を選択」で、HelloXSLTWSDLPort (Binding=HelloXSLTWSDLBinding) の下の HelloXSLTWSDLOperation を選択します。 - NetBeans
To provide a test method and device capable of implementing a test for maintenance and operation such as a loopback test and a code error rate test by means of remote control.例文帳に追加
折返し試験や符号誤り率試験などの保守運用のための試験を遠隔制御により実施できる試験方法および装置を得ることである。 - 特許庁
To provide a partition cover for test plugs, which can prevent an operation error from the start of a test to the finish of the test by improving the work efficiency in the test.例文帳に追加
試験の作業効率を向上させ、試験開始から試験終了までの操作ミスを防止することができるテストプラグ用仕切カバーを提供すること。 - 特許庁
To reduce the number of test patterns and a test time in a test of a memory of a RAM and the like incorporated in a LSI, and to enable a test by actual operation speed.例文帳に追加
LSIに内蔵されたRAM等のメモリのテストにおけるテストパターン数およびテスト時間を削減し、また実動作スピードによるテストを可能とする。 - 特許庁
The operation screen includes a test apparatus selection mode screen C for selecting the test apparatus and a test mode screen D for actually performing the verification test.例文帳に追加
この操作画面は、試験機器を選択するため試験機器選択モード画面Cと、実際に確認試験を実施する試験モード画面Dとで構成される。 - 特許庁
A test circuit for performing an operation test for each chip CP on the test object wafer 10 is mounted on each chip SCP on the test wafer 210.例文帳に追加
テストウェハ210上の各チップSCPには、試験対象ウェハ10上の各チップCPに対して動作テストを実行するための試験回路が搭載される。 - 特許庁
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