「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test circuit for a semiconductor memory and a semiconductor memory device having an operation verifying function of a built-in self- test circuit (BIST circuit) or a built-out self-test circuit (BOST).例文帳に追加

内臓自己テスト回路（ＢＩＳＴ回路）または外付自己テスト回路（ＢＯＳＴ回路）の動作検証機能を持った半導体メモリのテスト回路および半導体メモリデバイスを提案する。 - 特許庁

The test circuit 4 is set in a test operation mode including a plurality of modes by switching internal multiplexers 11a, 11b corresponding to a test signal TST[a:b] used as a mode switching signal.例文帳に追加

テスト回路４は、モード切替信号となるテスト信号ＴＳＴ［ａ：ｂ］に応じて内部のマルチプレクサ１１ａ、１１ｂが切り替えられ、複数のモードからなるテスト動作モードに設定される。 - 特許庁

To provide a probe card capable of desired actual operation test of a semiconductor device by means of an existing LSI tester even if both a low-speed test signal and a high-speed test signal are necessary.例文帳に追加

低速テスト信号と高速テスト信号の双方が必要な場合であっても、既存のＬＳＩテスタを使用して、半導体装置の所望の実動作試験を行えるプローブカードの提供。 - 特許庁

To provide an electrical apparatus testing device capable of preventing an electrical apparatus operation test from being performed with a test plug being inserted in a test terminal by mistake before a signal line is disconnected.例文帳に追加

信号線路を遮断する前に誤って試験プラグを試験端子に挿入して電気設備の動作試験を実施することを防ぐことができる電気設備の試験装置を提供する。 - 特許庁

A test data part 12 outputs false input data to a test data transmission part 14, which outputs an operation signal corresponding to the false input data to a test object system 26.例文帳に追加

テストデータ部１２は擬似入力データをテストデータ送信部１４へ出力し、テストデータ送信部１４は擬似入力データに応じた操作信号をテスト対象システム２６に出力する。 - 特許庁

By setting each test switch 4, etc., into a collectively closed state, a test signal from the test signal control circuit 1 is transmitted to the direct current indicators 3, etc., to thereby enable operation confirmation.例文帳に追加

試験スイッチ４、…、４を一括閉状態にすることにより、試験信号制御回路１からの試験信号を直流電流指示計３、…、３に流し、動作確認が可能となる。 - 特許庁

The remote tester is provided with a test control part which sends test signals so that operation times by test signals of fire sensors connected to the same sensor line do not overlap with each other.例文帳に追加

遠隔試験器には、同じ感知器回線に接続された各火災感知器の試験信号による作動時間が重複しないように試験信号を送出する試験制御部を設ける。 - 特許庁

An operation test is performed by an external test device 1, a BIST 4 formed in a chip 2, and a BOST 3 arranged between the external test device 1 and the chip 2.例文帳に追加

外部試験装置１と、チップ２内に形成されるＢＩＳＴ４と、外部試験装置１とチップ２との間に介在されるＢＯＳＴ３とでチップ２の動作試験が行われる。 - 特許庁

The control part 6 sets a maximum rotational frequency in the test operation and a maximum rotational frequency in automatic operation so that the maximum rotational frequency in the test operation of the pump 3 becomes lower than the maximum rotational frequency in the automatic operation.例文帳に追加

制御部６は、ポンプ３の試験運転時の最高回転周波数が自動運転時の最高回転周波数よりも低くなるように、試験運転時の最高回転周波数と自動運転時の最高回転周波数とを設定する。 - 特許庁

Also, the self-test circuit instructs operation start to the discharge circuit in response to the instruction of operation start to the cutoff circuit in a test for holding data of the memory block, and instructs operation stop to the discharge circuit in response to the instruction of operation stop to the cutoff circuit.例文帳に追加

更に、自己試験回路は、メモリブロックのデータ保持に関する試験の際に、遮断回路への動作開始の指示に合わせて放電回路に動作開始を指示し、遮断回路への動作停止の指示に合わせて放電回路に動作停止を指示する。 - 特許庁

In particular, current consumption at the time of an operation-incapable condition for the test circuit 3 is reduced and malfunction is prevented, by controlling operation capability/operation incapability for the input circuit 3b in an initial stage of the test circuit 3.例文帳に追加

特にテスト回路（３）の入力初段の入力回路（３ｂ）の動作可能／不能を制御することにより、テスト回路（３）の動作不能時の消費電流を低減しかつ誤動作を防止することができる。 - 特許庁

In the disk interface system, a real-time testbench having an actual operation speed is generated while minimum test instruction word information for test are caused to be inputted at a sufficiently low speed like an operation speed of general test equipment.例文帳に追加

ディスクインターフェースシステムにおいて、テストのための最小限のテスト命令語情報を一般的なテスト装備の動作速度のように十分に遅い速度で入力させつつ実際の動作速度のテストベンチを自動的に発生する。 - 特許庁

To provide a technique for verifying function operation of a virtual tape device under a test operation environment by operating a test program on a host computer that is a host control device and a test program on a monitoring terminal.例文帳に追加

上位制御装置であるホストコンピュータ上の試験用プログラムと監視端末の試験プログラムとを稼働させることによって、この試験運用環境下における仮想テープ装置の機能動作を検証する技術を提供する。 - 特許庁

To provide an operation method for a pressurized-fluidized combined power generation plant in multi-coal type burning test, capable of performing operation adapted to an operation state by clarifying the criterion for whether the operation state in the multi-coal type burning test is poor, and an operation management device for managing the operation.例文帳に追加

多炭種燃焼試験時の運転状態が不良である否かの判定基準を明確し、運転状態に適応した運転を行うことが可能な多炭種燃焼試験時の加圧流動床複合発電プラントの運転方法及びこれら運転を管理する運転管理装置を提供する。 - 特許庁

The fire receiver includes: a storage section 17 for storing fire history based on sensing of the sensor and test history of the sensor 2; an operation section 15 for selectively receiving a display operation of the fire history and a display operation of the test history; and a display section 14 for displaying the fire history or the test history according to the display operation.例文帳に追加

感知器２の感知に基づいた火災履歴と、感知器２の試験履歴とを記憶する記憶部１７と、火災履歴の表示操作と、試験履歴の表示操作とを選択的に受け付ける操作部１５と、その表示操作に従って、火災履歴または試験履歴を表示する表示部１４とを備える。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To efficiently confirm a receiving state of an operation signal in a test mode while not damaging the beauty of an operation target device in normal operation, in a remote control operation confirmation system.例文帳に追加

リモコン動作確認システムにおいて、通常時には操作対象機器の美観を損ねることなく、テストモード時には効率的に動作信号の受信状態を確認できるようにする。 - 特許庁

The operation verification device 100 executes the program for the operation test, and operates a SAP Gui (Graphical User Interface) client 406 through an add-in 410 for SAP of QTP (Quick Test Professional) 408 in the execution.例文帳に追加

動作検証装置１００は、動作テスト用プログラムを実行し、その実行においてはＱＴＰ４０８のＳＡＰ用アドイン４１０を介して、ＳＡＰＧｕｉクライアント４０６を操作する。 - 特許庁

To eliminate wasted time loss required for an inspection in occurrence of an error by preventing the error occurrence during an operation test due to inconsistency between a user computer and the version of an operation test file.例文帳に追加

ユーザコンピュータと動作テストファイルのバージョンとの不整合による動作テスト中のエラー発生を防止し、エラー発生に伴う調査に要する無駄な時間のロスを招かないようにする。 - 特許庁

To provide a test unit for wireless base station that can prevent deterioration in the quality of a speech in operation associated with radio wave interference and can test confirmation of the operation of a function, corresponding to each sector of a transmitter-receiver.例文帳に追加

電波干渉にともなう運用中の通話品質の劣化を防止するとともに、送受信装置の各セクタに対応する機能の動作確認試験を可能とする。 - 特許庁

To provide a driving device of an elevator governor for easily conducting an operation test of the elevator governor and suppressing cost required for the operation test of the elevator governor to be inexpensive.例文帳に追加

エレベータ調速機の動作試験を容易に行うことができ、また、エレベータ調速機の動作試験に要する費用を安く抑えることができるエレベータ調速機の駆動装置の提供。 - 特許庁

A DRAM 1 of a packet, system operated with an operation frequency of several hundreds MHz is provided with a burn-in mode in which a memory test is performed with an operation frequency of several tens MHZ at the time of a burn-in test.例文帳に追加

数百ＭＨＺの動作周波数で動作するパケット方式のＤＲＡＭ１は、バーンインテスト時には数十ＭＨｚの動作周波数でメモリテストを行うバーンインモードを備えている。 - 特許庁

By a test mode control circuit 14, the functional block 12 is shifted to the test mode from the normal operation mode during the activating process of the operation inhibiting signal EN and the receiving process of the external clock CK.例文帳に追加

テストモード制御回路１４は、動作禁止信号ＥＮの活性化中かつ外部クロックＣＫの受信中に機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させる。 - 特許庁

To provide a method of analyzing a medical appliance operation efficiency which can shorten a test processing time and a test latency time sharply, and to provide a method of supporting a medical appliance operation plan planning.例文帳に追加

検査処理時間と検査待ち時間を大幅に短縮することが可能な医療機器稼動効率分析方法と医療機器稼動計画立案支援方法を提供する。 - 特許庁

The operation test or stress test conducted by using a terminal provided on the driver 1 for driving displays and dust detecting test using measuring terminals 6, 7 of the dust detecting circuit are conducted with the wafer test in the same step.例文帳に追加

上記表示装置駆動用ドライバ１上に設置された端子を使用して行う動作テストまたはストレステストと、ダスト検知用回路の測定端子６，７を使用して行うダスト検知テストとを、同工程のウエハテストにて行う。 - 特許庁

To obtain a method for facilitating tests by a frequency divider circuit that verifies a timing, even at test operation by adding a test circuit to the frequency divider circuit so as to reduce a test pattern and to obtain the frequency divider circuit with the test circuit.例文帳に追加

分周回路にテスト回路を追加することによりテストパタンを短縮化し、且つテスト動作時でもタイミング検証を可能にする分周回路によるテスト容易化方法及びテスト回路付き分周回路を提供する点にある。 - 特許庁

When a bender test mode conducting a voltage acceleration test is entered, a test signal TM1 at a low level is input to step-down power circuits 15, 16 from a bender test circuit, a transistor 19 is turned on, and operation as an operational amplifier is stopped.例文帳に追加

電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとベンダテスト回路から降圧電源回路１５，１６にローレベルのテスト信号ＴＭ１が入力され、トランジスタ１９がＯＮし、演算増幅器としての動作が停止となる。 - 特許庁

The fire alarm 3 outputs sound indicating a normal state when the operation is normal, and completes the operation confirmation test.例文帳に追加

火災警報器３は、正常動作である場合、正常状態を表現する音を出力し、動作確認テストを終了する。 - 特許庁

An operation test section 120 tests the operation after setting the timing of generating the strobe signal in the detection range.例文帳に追加

動作テスト実行部１２０は、検出可能範囲内にストローブ信号の発生タイミングを設定した上で、動作テストを実行する。 - 特許庁

To provide a unit for operation prohibition display, which can improve handleability in performing the operation prohibition display of a test terminal.例文帳に追加

テストターミナルの操作禁止表示を行う際の作業性を向上することができる操作禁止表示用ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit having an effect for suppressing the cost of LSI production by eliminating a LSI test pin unnecessary for a normal operation.例文帳に追加

通常動作に不要であるLSIテストピンを削除し、LSI製造コストの増加を押さえる効果を持つ、テスト回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

To allow operation check of a test rule for a black box test for a network application by using mockup only from a client side.例文帳に追加

ネットワークアプリケーション向けブラックボックステスト用テストルールの動作確認をモックアップを用いて行う場合に、クライアント側のみからの操作により実現する。 - 特許庁

To provide a DSP card automatic test device allowing improvement of productivity by improving work efficiency of an operation confirmation test.例文帳に追加

動作確認試験の作業効率を向上させ、生産性を向上させることが可能なＤＳＰカード自動試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a cold impact test device capable of minimizing a period required for defrosting operation in a cold impact test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験において除霜運転に要する期間を最小限に抑制可能な冷熱衝撃試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

When it is test pattern mode, a test pattern is read and the correction of the operation coefficient, a correction situation, removing number of corrections, etc., are notified (step S20).例文帳に追加

テストパターン読取モードの場合は、テストパターンを読取り、演算係数の補正と補正の状況、補正残回数等を報知する（ステップＳ２０）。 - 特許庁

To provide a DSP where a holding test for judging the operation stop state of a DSP core can be conducted during the self-test of the DSP core.例文帳に追加

ＤＳＰコアのセルフテスト中に、ＤＳＰコアの動作停止状態を判定するホールドテストが実施可能になるＤＳＰを提供する。 - 特許庁

To prevent such a situation as to forget to write back backup data for job after loading data for a test to a volume and performing a test operation.例文帳に追加

試験用データをボリュームにロードし試験運用を行った後で、業務用のバックアップデータを書き戻すのを忘れてしまう事態を防止する。 - 特許庁

To provide an automatic temperature impact test system having simple conveyance operation and high reliability, capable of performing a low-temperature test for a long period.例文帳に追加

搬送動作が単純で信頼性が高く、更には長時間に渡る低温試験を行うことができる、自動温度衝撃試験システムを得る。 - 特許庁

To provide a single chip microcomputer or the like, which omits a dedicated terminal for test mode setting for switching and designating a test mode/other operation mode.例文帳に追加

テストモード／他の動作モードを切り換え指定するための専用のテストモード設定用端子を省略したシングルチップマイコンなどを実現する。 - 特許庁

The instruction of the user is preserved as a debug command file 107 so that it is not necessary to perform the same operation in the following re-test or the same kind of test.例文帳に追加

ユーザの指示はデバッグコマンドファイル107として保存し、後の再テストや同種のテストにおいて同じ操作を行わなくても良いようにする。 - 特許庁

To provide the constitution of a test interface circuit which can perform a direct memory access test with an actual operation frequency even if a low speed memory tester is used.例文帳に追加

低速メモリテスタを用いても実際の動作周波数でのダイレクトメモリアクセステストを実行可能なテストインターフェイス回路の構成を提供する。 - 特許庁

To provide a brake testing device capable of performing a braking test with a high accuracy even in a brake device requiring a braking test at a low operation pressure.例文帳に追加

低い操作圧で制動試験をしなければならないブレーキ装置でも高精度で制動試験を行うことができるブレーキ試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a pump test device greatly shortening the necessary operation time for a pump to reduce the cost for pump test.例文帳に追加

ポンプを運転する必要のある時間を大幅に短縮して、ポンプ試験にかかるコストを低減することができるポンプ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an regulation processing system for deciding the order of priority in regulation of an information processing system to reduce load in an operation test of business regulation when a result of the operation test of the regulation to the information processing system is used in the operation test of business regulation.例文帳に追加

情報処理システムに対する統制の運用テストの結果を業務統制の運用テストに用いる場合に、業務統制の運用テストにおける負担を軽減させる前記情報処理システムの統制の優先順位を決定する統制処理システムを提供する。 - 特許庁

The control part 24 is set in either a normal operation mode or a test mode on the basis of the instruction information received through the communication I/F 15, controls the execution of the series of bill validation operations when set in the normal operation mode and controls the execution of a test operation when set in the test mode.例文帳に追加

制御部２４は、通信Ｉ／Ｆ１５を介して受信した指示情報をもとに、通常動作モードまたはテストモードのいずれかに設定し、通常動作モードに設定した場合に一連の紙幣識別動作の実行を制御し、テストモードに設定した場合にテスト動作の実行を制御する。 - 特許庁