「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

The address counter 15a stops count-up operation by a test signal TEST, the parallel/serial converting circuit 23 synchronizes with a clock signal FADCK for test and outputs an address for read-out generated by the address counter 15a to the outside by the test signal TEST.例文帳に追加

アドレスカウンタ１５ａはテスト信号ＴＥＳＴによりカウントアップ動作を停止し、パラレル／シリアル変換回路２３はテスト信号ＴＥＳＴにより、アドレスカウンタ１５ａにより生成された読み出し用アドレスをテスト用クロック信号ＦＡＤＣＫに同期して外部に出力する。 - 特許庁

To automatically generate call display data for test to confirm the operation at equipment execution.例文帳に追加

自動的に試験用呼出表示データを作成して、機器施工時における動作確認を行う。 - 特許庁

In an operation test of a plurality of memory cells, the bank decoder simultaneously selects the first bank and the second bank.例文帳に追加

複数のメモリセルの動作テスト時に、バンクデコーダは第１バンクと第２バンクを同時に選択する。 - 特許庁

To provide an electronic dictionary allowing an easy word test without requiring troublesome operation.例文帳に追加

煩雑な操作を必要とせず、容易に単語テストを行うことが可能な電子辞書を提供する。 - 特許庁

To perform easily automatic self-test and diagnosis of an electromechanical type lock device without operation of an operator.例文帳に追加

オペレータの介入なしに電気機械式ロック装置の自動自己試験及び診断を容易にする。 - 特許庁

To provide a method of improving efficiency in confirming water leakage from piping in a test operation.例文帳に追加

試運転時における配管からの水漏れ確認作業を効率化する方法を提供する。 - 特許庁

The fourth pads 140, 240 receive a fourth power supply TVss during the test operation of the AC characteristic.例文帳に追加

第４パッド１４０，２４０はＡＣ特性テスト動作の間に、第４電源ＴＶｓｓを受け入れる。 - 特許庁

Memory power supply lines (MVDLa, MVDLb) are disconnected from a power supply node by switch gates (215a,215b) in test operation.例文帳に追加

メモリ電源線（ＭＶＤＬａ，ＭＶＤＬｂ）を、スイッチゲート（２１５ａ，２１５ｂ）により、テスト動作時電源ノードから切離す。 - 特許庁

Retrieving operation is performed (step 28), and it is discriminated whether the test address coincides with the retrieving address.例文帳に追加

検索操作を行って（ステップ２８）、検査アドレスと検索アドレスとの一致を判断する（ステップ２９）。 - 特許庁

The ground stations register test voting operation time transmitted from each terminal device.例文帳に追加

地上局においては、各端末装置から送られてきたテスト投票動作時間を登録する。 - 特許庁

CONTROL SYSTEM AND TEST FOR MEDICAL TECHNOLOGY AND/OR METHOD OF OPERATION OF TREATMENT APPARATUS例文帳に追加

医療技術の制御システムおよび医療技術の検査および／または治療装置の操作方法 - 特許庁

To provide a system which enables a communication test of all alarms to be performed by a simple operation.例文帳に追加

簡単な操作で全ての警報器の通信試験を行えるようにしたシステムを提供する。 - 特許庁

To materialize a semiconductor test device provided with a self diagnosis function capable of confirming operation margin.例文帳に追加

動作マージンの確認ができる自己診断機能を備えた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

A decision circuit 23 decides a maximum operation state of the microprocessor based on test results of the CPO.例文帳に追加

ＣＰＯのテスト結果に基づいて決定回路でマイクロプロセッサの最大動作状態を決定する。 - 特許庁

To conduct an operation test without switching a field instrument to a simulation device.例文帳に追加

現場機器を模擬装置に切り替えることなく動作試験ができる電子連動装置を提供する。 - 特許庁

The shift from the test mode to the normal operation is made by the switch provided on the main control board.例文帳に追加

テストモードから通常動作へは、メイン制御基板上に設けたスイッチによって移行させる。 - 特許庁

To safely conduct the impulse exciting test of a spindle by a simple operation by merely mounting a dummy tool.例文帳に追加

ダミーツールを取り付けるだけの簡単な操作で主軸のインパルス加振試験を安全に行う。 - 特許庁

To appropriately set a generation timing of a strobe signal in operation test of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体記憶装置の動作テストに際し、ストローブ信号の発生タイミングを適切に設定する。 - 特許庁

Calibration, test and operation monitoring procedures, for using head position status, are described.例文帳に追加

ヘッド位置状態を使用するため、較正処理、検査処理、動作監視処理について説明されている。 - 特許庁

Thereafter, in a period T1, light exposing operation for one page for printing the test pattern is performed.例文帳に追加

その後、期間Ｔ１においてテストパターンを印刷する１ページ分の露光動作が行われる。 - 特許庁

To cope with a narrow pitch in an external terminal, in an operation test for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の動作テストにおいて外部端子の狭ピッチ化に対応させることができる。 - 特許庁

The real clock tree is selectively stopped, so that a normal operation mode is shifted to a test mode.例文帳に追加

リアルクロックツリーは選択的に停止され、これによって、通常動作モードからテストモードに移行する。 - 特許庁

The following example demonstrates how to start up and test operation of the fpectl module.例文帳に追加

以下の例はfpectlモジュールの使用を開始する方法とモジュールのテスト演算について示しています。 - Python

Accordingly, it is possible to reliably prevent any other apparatus under operation during test from being accidentally operated.例文帳に追加

これにより、試験中において他の運転中の機器に対する誤操作を確実に防止できる。 - 特許庁

Ensure that personnel from the user department and the operation department are involved in user-acceptance tests, and that they review the user-acceptance test results.例文帳に追加

ユーザ受入れテストは、ユーザ及び運用の担当者もテストに参画して確認すること。 - 経済産業省

A CPU 41 counts the number of times for every execution of an operation test and displays the number of times of the operation test and the abnormal contents of the operation signals at the time of judging that the operation state is abnormal by the monitoring means 34 together at a CRT 39.例文帳に追加

ＣＰＵ４１は動作試験の実行毎にその回数をカウントするとともに、監視手段３４により作動状態が異常であると判定されたときの動作試験の回数及び当該動作信号の異常内容をＣＲＴ３９に併記表示する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 of the invention includes: the external terminal 11; the functional block 14a for receiving the signal from the external terminal 11 during a test operation; a CPU register 12 for applying the signal to the functional block 14a during the test operation instead of the external terminal 11; and the functional block 14b for receiving the test signal from the external terminal 11 during the test operation.例文帳に追加

本発明に係る半導体集積回路１は、外部端子１１と、通常動作時に外部端子１１から信号を受ける機能ブロック１４ａと、テスト動作時に外部端子１１に代わり機能ブロック１４ａに信号を与えるＣＰＵレジスタ１２と、テスト動作時に外部端子１１からテスト信号を受ける機能ブロック１４ｂとを備える。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit is provided with a test mode determining circuit for determining the normal operation mode and test mode, by using a scan enable signal used for the scan test, when inputting a clock from a reset condition to start an operation, and for holding a determination result until rest.例文帳に追加

リセット状態からクロックを入力し動作開始させたときの、スキャンテストに使用するスキャンイネーブル信号を用いて、通常動作モードとテストモードを判定し、判定結果をリセットされるまで保持するテストモード判定回路を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which expansion of a test pattern can be performed without changing design of BIST by enabling an operation test in which an address signal supplied from the outside is taken in, in addition to an operation test by BIST.例文帳に追加

ＢＩＳＴによる動作試験に加えて、外部から供給されるアドレス信号を取り込んだ動作試験を可能とすることにより、ＢＩＳＴを設計変更することなく試験パターンの拡充を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a smoke producing composition for a operation test of a smoke sensor and a device for the operation test of the smoke sensor, which do not use injection gas such as flon, have a high safety and being readily handleable, and allows the operation work to be completed in a short time.例文帳に追加

フロンなどの噴射ガス種を用いずに、安全性が高く、取扱いも容易で、短時間に試験作業を完了し得る煙感知器作動試験用発煙組成物、および煙感知器作動試験用器具を提供する - 特許庁

A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.例文帳に追加

テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁

To provide a reaction test piece measuring instrument capable of performing dealing-with operation when the moving speed of a reaction test piece 1 inserted in a housing 60 by the manual work of a user is changed, and the reaction test piece 1.例文帳に追加

使用者の手作業で反応試験片１をハウジング６０に挿入させる移動速度が変化するときに対処できる反応試験片測定装置および反応試験片を提供する。 - 特許庁

The ejection operation of the ink by the recording head 202 is controlled on the basis of the test pattern of the first test pattern and the second test pattern which has a smaller placement amount of the ink per unit area.例文帳に追加

そして、第一のテストパターンと第二のテストパターンとのうち、単位面積当たりのインクの打ち込み量の少ない方のテストパターンに基いて記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁

A circuit 6 for test derives the above-mentioned data for test read from the RAM 5 to the outside and captures data from the outside after the completion of operation corresponding to the above-mentioned test mode.例文帳に追加

テスト用回路６は上記テストモードに対応した動作が終了した後にＲＡＭ５から読み出される上記テスト用データを外部に導出すると共に外部からのデータを取り入れる。 - 特許庁

The test mode circuit 280 detects power source voltage Vcc1 having a voltage level at normal operation in accordance with a test mode shift signal MRS1 and generates a test mode signal TM of a L level.例文帳に追加

テストモード回路２８０は、テストモード移行信号ＭＲＳ１に応じて通常動作時の電圧レベルを有する電源電圧Ｖｃｃ１を検出してＬレベルのテストモード信号ＴＭを発生する。 - 特許庁

To provide a method for specifying a tissue fusion system in a test executed before the system is used in surgical operation and automatically executing the test as a part of the starting procedure of self test when turning on a power supply.例文帳に追加

システムを外科手術に使用する前に実施する試験で特定され、電源投入時自己診断などの起動手順の一部として自動で試験を実施する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component tester capable of securing a high test precision while intending to increase the effect of test operation.例文帳に追加

試験作業の効率化を図ることができるとともに、高い試験精度を確保することができる電子部品試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To realize stable operation by lightening a load for a measuring system at the time of a burn-in test or at the time of a stress test, and reducing a peak current, in a DRAM.例文帳に追加

ＤＲＡＭにおいて、バーンイン試験時又はストレス試験時での測定系の負荷を軽減し、ピーク電流を低減して、安定した動作を実現する。 - 特許庁

Referring to the test image, the operator determines whether or not the information on the operation state inputted by himself is rightly reflected on the test image.例文帳に追加

この試験画像により、操作者は自分が入力した動作状態に関する情報が試験画像に正しく反映されているかを確認する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which an operation test by a frequency being higher than the maximum clock frequency which can be supplied by a test device can be performed.例文帳に追加

試験装置が供給できる最大クロック周波数より高い周波数での動作試験が行える半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental test apparatus capable of preventing an accident caused by human operation and improving test efficiency by enhancing workability.例文帳に追加

人手によって作業することによる災害の防止と、作業性を高めて試験効率の向上を図ることができる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit which can prevent operation errors or start errors of a circuit to be tested regardless of items to be tested and can reduce the power consumption during the test.例文帳に追加

試験項目によらず、被試験対象回路の誤作動や誤起動を防止でき、試験時の消費電力を削減できる試験回路を提供する。 - 特許庁

To test a memory operated in a different operation clock, and to cope with a delay generated at the test time of the memory arranged on a physically far position.例文帳に追加

異なる動作クロックで動作するメモリのテストを行うこと、及び物理的に遠い位置に配置されているメモリテストの際に発生する遅延に対応すること。 - 特許庁

To provide a test pattern forming system, where the test pattern can be immediately used for the simulation by carrying out simulation, in an environment which approximates actual operation.例文帳に追加

実際の運用に近い環境でのシミュレーションを行い、シミュレーションのテストパターンとしてすぐに使用可能なテストパターン作成システムを提供する。 - 特許庁

Alternatively, captured data are serially stored in the data storage circuit in the RAM or the hard macro core, in the capture operation of the scan test, and are read out to the outside of the large scale circuit after the scan test, in which an external large scale integrated circuit tester verifies expectations.例文帳に追加

ＲＡＭやハードマクロコア内のデータ蓄積回路にスキャンデータを蓄積し、スキャンテストのシフト時にスキャンデータをスキャンチェーンにシフトインする。 - 特許庁