「Test operation」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

A test water discharge valve 42 performs the test water discharge by: discharging wastewater associated with an opening operation of the hydraulic actuator 34, in the stationary state; and discharging wastewater associated with a closing operation of the hydraulic actuator 34 and discharging the pressurized water from the secondary side of the automatic valve 10 to a drainage side, in the test water discharge.例文帳に追加

テスト用放水弁４２は、定常時に水圧アクチュエータ３４の開操作に伴う排水を流し、テスト放水時には水圧アクチュエータ３４の閉操作に伴う排水を流すと共に自動弁１０の２次側からの加圧水を排水側に流してテスト放水する。 - 特許庁

The wireless device 2 can switch an operation mode which notifies the user that the transmission unit 3 has transmitted the operation wave and the reception unit 4 has received the operation wave, and an inspection mode which notifies the user that the transmission unit 3 has transmitted the test wave and the reception unit 4 has received the test wave.例文帳に追加

無線装置２は、送信部３が運用波を送信し、受信部４が運用波を受信した旨を通知する運用モードと、送信部３が試験波を送信し、受信部４が試験波を受信した旨を通知する点検モードとを切り替え可能である。 - 特許庁

A write-driver circuit 1090 gives write-in data of which level is reversed every write-in cycle to a selected memory cell based on write-in data held in a latch circuit 1073a at the point of time at which write-in operation in a test operation mode is specified, in a test operation mode.例文帳に追加

ドライバ回路１０９０は、テスト動作モードにおいては、テスト動作モードにおける書込動作が指定された時点で、ラッチ回路１０７３ａに保持された書込データに基づいて、書込サイクルごとにレベルが反転する書込データを選択されたメモリセルに与える。 - 特許庁

After such operation, the screen structure file 108 is compared with a screen structure file 107 in the past, an operation in which a difference is generated is retrieved from the screen structure file and its operation contents, the kinds of the screen structure element and the contents of the difference are obtained as the test result from the stored test script.例文帳に追加

この操作後、過去の画面構造ファイル１０７との比較をし、差異が発生した操作を画面構造ファイルより検索し、記憶しておいたテストスクリプトからその操作内容、画面構成要素の種類と差異の内容をテスト結果として得る。 - 特許庁

To provide a testing device for enhancing precision of a test, by making an operation direction of expansion movement in a vibration controller consistent with an operation direction of expansion drive in the testing device.例文帳に追加

防振器の伸縮動と試験装置の伸縮駆動との動作方向を一致させて、試験の精度を向上させる試験装置を提供すること。 - 特許庁

A circuit simulation is performed by using an initial value of the overlap capacitance CGSO, obtained from a theoretical formula for an operation speed to obtain an operation speed of the test ring oscillator.例文帳に追加

動作速度の理論式より求めたオーバーラップ容量ＣＧＳＯの初期値を用いて回路シミュレーションを行い、テスト用リングオシレータの動作速度を求める。 - 特許庁

To provide an air conditioner and a display device easy for an operator in maintenance work to acquire the operation progressing condition of each operating mechanism in test operation of an air conditioner.例文帳に追加

メンテナンス者等の操作者が、空気調和機の試運転動作時において各動作機構の動作進行状況を簡単に把握できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of performing an actual operation speed test of a small amplitude/high-speed operation input/output part without using a dedicated tester.例文帳に追加

専用の試験装置を用いなくとも小振幅・高速動作の入出力部の実動作速度テストが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

An analyzing part 1404 analyzes detected description information for each of a system-mode operation and a test mode operation relating to the verification object circuit.例文帳に追加

解析部１４０４は、検出された記述情報を、検証対象回路に関するシステムモード動作およびテストモード動作の各々について解析する。 - 特許庁

To provide a control operation testing device for group-controlled elevators, allowing self-generated control operation test without causing troubles in normally operating other elevators.例文帳に追加

他のエレベータの通常運転に支障を来たすことなく自家発電管制運転の試験を行える群管理エレベータの管制運転試験装置の提供。 - 特許庁

An automatic reset manual switch 76 for operation by a general worker is provided for the operation check test of the drive motor 18 and the lubricating oil pump 17.例文帳に追加

駆動モータ１８および潤滑油ポンプ１７の動作確認試験のため、一般作業者操作用の自動復帰式手動スイッチ７６を備える。 - 特許庁

When the operation is not normal, namely abnormal, the fire alarm 3 does not output any sound and completes the operation confirmation test.例文帳に追加

これに対して、正常動作でない場合、つまり異常状態である場合、火災警報器３は音を出力せずに、動作確認テストを終了する。 - 特許庁

A circuit operation verification system includes a computer, a programmable logic device constituting a circuit to be tested, a test bench unit for performing operation verification of the circuit to be tested.例文帳に追加

回路動作検証システムは、計算機と、被テスト回路が構成されたプログラマブルロジックデバイスと、被テスト回路の動作検証を行うテストベンチ部と、を備える。 - 特許庁

To provide an engine test board for establishing connection between simulation of drive systems and vehicles and combustion operation and transition operation peculiar to the vehicles in an engine.例文帳に追加

駆動系および車両のシミュレーションと、エンジンの車両特有燃焼動作および過渡動作との接続を確立できるエンジン試験台を提供する。 - 特許庁

To shorten the input time of an input test pattern for simulation in an LSI comprising low speed operation logic circuits and high speed operation logic circuits mixedly.例文帳に追加

低速動作論理回路と高速動作論理回路が混在するＬＳＩにおけるシミュレーション用入力テストパターンの入力時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a game machine simplifying a test of a game operation by electronically testing the game operation without using a game value.例文帳に追加

遊技価値を用いずに遊技動作の試験を電子的に行うことができ、遊技動作の試験を簡素化することができる遊技機を提供すること。 - 特許庁

When the signals are normal, the operation of the whole semiconductor integrated circuit device 1 is checked by the test bench TB to judge whether or not the operation is normal.例文帳に追加

正常の場合、半導体集積回路装置１全体としての動作をテストベンチＴＢによってチェックし、正常であるか否かを判断する。 - 特許庁

Article 21 (1) The Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism shall conduct the Operation Manager examination to test the knowledge and competency required in the duty as the Operation Manager. 例文帳に追加

第二十一条　運行管理者試験は、運行管理者の業務に関し必要な知識及び能力について国土交通大臣が行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a semiconductor device for accurately discriminating diversified test modes from a normal operation mode, and to provide a method for discriminating its operation mode.例文帳に追加

様々なテストモードと通常動作モードとを正確に判別できる半導体装置及びその動作モードの判別方法を提供することにある。 - 特許庁

To simplify control constitution for changing over a normal operation and a test mode operation; to simplify circuit constitution of a FIFO memory; and to reduce the circuit scale.例文帳に追加

通常動作とテストモード動作を切り換えるための制御構成を簡単にして、ＦＩＦＯメモリの回路構成が簡単で、回路規模を小型化する。 - 特許庁

The program execution part 134 includes: a first test execution mode to execute the operation confirmation of the Web page by making an interface disposed by a Web browser be called from the test program; and a second test execution mode to execute the operation confirmation of the Web page by making a control code newly added to the Web page be called from the test program.例文帳に追加

プログラム実行部１３４は、ウェブブラウザが公開するインタフェースをテスト・プログラムから呼び出させることによりウェブページの動作確認を実行する第１のテスト実行態様と、ウェブページに対し新たに追加した制御コードをテスト・プログラムから呼び出させることによりウェブページの動作確認を実行する第２のテスト実行態様とを含む。 - 特許庁

A test script conversion device 101 which executed the test script processing program 100 reads, when program correction of the operation object application 115 is performed, data for one line of data of the test script by a test script analysis means 110, detects data of an operation object screen when this data is a switching instruction, and executes screen structure information comparison processing.例文帳に追加

テストスクリプト処理プログラム１００を実行したテストスクリプト変換装置１０１は、操作対象アプリケーション１１５のプログラム修正を行った場合に、テストスクリプト解析手段１１０によりテストスクリプトのデータを１行分のデータを読み込み、切替命令である場合には操作対象画面のデータを検出し画面構成情報比較処理を実行する。 - 特許庁

Consequently, in a test mode, the transmitter 4 for test is mounted on the remote control receiver 3 to receive the communication confirmation signal transmitted by the transmitter 4 for test with the receiver 5 for test, thereby the transmission and reception of the operation signal sent from the remote control transmitter 2 to the remote control receiver 3 can be confirmed.例文帳に追加

そのため、テストモード時は、リモコン受信器３にテスト用送信器４を装着して、テスト用送信器４が送信した通信確認信号をテスト用受信器５で受信することにより、リモコン送信器２から送リモコン受信器３への動作信号の送受信を確認することができる。 - 特許庁

A control section controls so as to operate only the test apparatus selected in the test apparatus selection mode screen C in the test mode screen D, and controls so as not to operate any other apparatus under operation which are not selected in the test apparatus selection mode screen C.例文帳に追加

制御部は、試験モード画面Ｄでは、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択された試験機器のみの操作を可能するように制御し、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択されていない他の運転中の機器は操作できないように制御する。 - 特許庁

An automatic test device 1 includes a test procedure execution engine part 12 for performing the automatic test of a picture program 23 of a programmable display unit 2 by reading a test scenario 11 in which the operation procedure of the programmable display unit 2 and a procedure for confirming the response display state and the timing are written.例文帳に追加

自動試験装置１は、プログラマブル表示器２の操作手順とその応答表示状態を確認するための手順とそのタイミングを記した試験シナリオ１１を読み込んで同表示器２の画面プログラム２３の自動試験を行う試験手順実行エンジン部１２を含む。 - 特許庁

When reproducing the test, a test ID is inputted, information held in the bug management database is used, an input signal time serially reproduced by the test data, and a control signal of the operation history are inputted to the test equipment, and the generated bug is reproduced.例文帳に追加

また、テストの再現時には、テストＩＤを入力して、そのバグ管理データベースに保持されている情報を利用し、時系列的にテストデータによって再現される入力信号と、操作履歴の制御信号をテスト機器に入力することにより、発生したバグを再現させる。 - 特許庁

A control circuit 4 for controlling an operation mode in the test for the logic circuit 2 and the DRAM 3 is provided on the same chip mounted with the logic circuit 2 and the DRAM 3, a scanning test mode is set in the burn-in test in the logic circuit 2, a burn-in test mode is set therein in the DRAM 3.例文帳に追加

ロジック回路２とＤＲＡＭ３が搭載される同一チップ上に、これらの試験時の動作モードを制御するためのコントロール回路４を設け、バーンイン試験時には、ロジック回路２についてはスキャン試験モードに設定させ、ＤＲＡＭ３についてはバーンイン試験モードに設定させる。 - 特許庁

This event type test system has a plurality of pin units assigned to a device pin to be tested, a test finishing signal generator for generating a signal for indicating finishing of the test for a corresponding pin unit independently of the other pin unit, and a system controller for controlling an entire operation of the event type test system.例文帳に追加

イベント型テストシステムは、被試験デバイスピンに割り当てられる複数のピンユニットと、対応するピンユニットについてのテストの終了を示す信号を他のピンユニットと独立して発生するテスト終了信号発生器と、イベント型テストシステムの全体的動作を制御するシステムコントローラとを有する。 - 特許庁

The adapter device for an IC tester, which is detachably electrically connected to a test head and electrically connected to a target under test, has an exclusive OR circuit for subjecting a plurality of digital signals from the test head to an exclusive OR operation and outputting the result to the target under test.例文帳に追加

本発明は、テストヘッドに着脱可能に電気的に接続し、被試験対象に電気的に接続するＩＣテスタのアダプタ装置であって、テストヘッドからの複数のデジタル信号を排他的論理和して被試験対象に出力する排他的論理和回路を有することを特徴とするものである。 - 特許庁

To shift to a test mode without providing a terminal for the exclusive use of a test and to prevent shifting erroneously to a test mode at the time of normal operation in a semiconductor memory provided with a test function and a circuit substrate mounting a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体集積回路を搭載した回路基板に関し、試験専用の端子を設けることなく試験モードに移行し、かつ通常動作時に誤って試験モードに移行することを防止することを目的とする。 - 特許庁

When the evaluation test is executed (S204), the operation PC processes the resultant data of the evaluation test by the evaluation function (S206), extracts two test conditions obtained by changing the condition value (S208), and a three-dimensional graph is created by two extracted test conditions and the control performance (S210).例文帳に追加

評価試験を実行すると（Ｓ２０４）、オペレーションＰＣは、評価試験の結果データを評価関数により処理し（Ｓ２０６）、条件値を変化させた試験条件を２個抽出し（Ｓ２０８）、抽出した２個の試験条件と制御性能とで３次元グラフを作成する（Ｓ２１０）。 - 特許庁

To provide a test script processing program, which converts a test script according to a corrected content without abolishing an existing test script even in a case in which a program correction such as function extension or failure correction is caused in an operation object application in correction of the existing test script.例文帳に追加

既存テストスクリプトの修正において、操作対象アプリケーションに機能拡張や不良修正などのプログラム修正が生じた場合でも、既存のテストスクリプトを破棄することなく、修正された内容に従ってテストスクリプトを変換するテストスクリプト処理プログラムを提供すること。 - 特許庁

The fracture strength and the durability under the operation are tested by driving the test gear with load applied thereto.例文帳に追加

また負荷状態で試験歯車を駆動させることで、動作状態の破壊強度や耐久性を試験する。 - 特許庁

A facility equipment management device includes a test operation information storage means 66 and a facility position information transmission means 72.例文帳に追加

設備管理装置は、試運転情報記憶手段６６および設備位置情報発信手段７２を有する。 - 特許庁

To reduce a personnel cost by executing simultaneously an operation test of a fire detector and address confirmation by one personnel.例文帳に追加

一人の要員で火災感知器の作動試験とアドレス確認とを同時に行い要員コストの削減を図る。 - 特許庁

During the period of reuse, additional use, or test use of the instrument, the operation data are sent to a data acquisition device.例文帳に追加

器具の再使用又は追加の使用やテスト使用の期間中、操作データをデータ取得装置に送信する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of realizing a test of a device having a high operation speed, inexpensively in a small size.例文帳に追加

動作速度が高速な被試験デバイスの試験を小型且つ安価に実現できる試験装置を提供する。 - 特許庁

In the case noise enters before the input start of writing data after the fall of the test signal, the operation is reset.例文帳に追加

テスト信号が立ち下がった後において書き込みデータ入力開始前にノイズが入った場合にはリセットする。 - 特許庁

In a test of RAM 13, a CPU 12 performs write/read operation of data for the RAM 13.例文帳に追加

ＲＡＭ１３の試験において、ＣＰＵ１２は、ＲＡＭ１３に対するデータの書き込み／読み出し動作を行う。 - 特許庁

An output signal S11 is inputted to a picture processing part 14 synchronously with an output signal S12, and operation test is operated.例文帳に追加

出力信号S11は出力信号S12に同期して画像処理部14に入力され、動作テストが行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its test method, enabling high-speed tests at a desired operation frequency.例文帳に追加

所望の動作周波数での高速テストが可能である半導体装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

EXCESS CURRENT PROTECTION CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE COMPRISING THE SAME, AND METHOD FOR OPERATION TEST THEREOF例文帳に追加

過電流保護回路、過電流保護回路を備える半導体装置及び過電流保護回路の動作テストの方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device test circuit capable of adjusting the SCAN operation period by a simple means.例文帳に追加

簡単な手段でSCAN動作期間を調整することができる半導体素子テスト回路を提供することにある。 - 特許庁

Then, an image processor 50 executes a binarization processing operation to an image regarding the test pieces 2 so as to obtain a binary image.例文帳に追加

次に、画像処理装置５０は、その試験片２についての画像に二値化処理を施し、二値画像を得る。 - 特許庁

Memory power supply lines (MVDLa, MVDLb) are disconnected from a power supply node by using switch gates (15a, 15b) in a test operation, Voltages of the memory power supply lines are detected using detection holding circuits (16a, 16b).例文帳に追加

メモリ電源線（ＭＶＤＬａ，ＭＶＤＬｂ）を、スイッチゲート（１５ａ，１５ｂ）により、テスト動作時電源ノードから切離す。 - 特許庁