「Test particle」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST PIECE IMAGE FORMING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料像形成方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁

TEST PIECE OBSERVATION METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料観察方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

FIBROUS PARTICLE-PRODUCTION APPARATUS AND TEST SYSTEM例文帳に追加

繊維状粒子発生装置及び試験システム - 特許庁

To provide a method of preparing a test sample for a triaxial test wherein the test sample can be properly saturated with water without changing the particle size and a difference in a saturation rate of the test sample is not caused by a particle size difference of the test sample.例文帳に追加

粒度を変化させることなく供試体を水で確実に飽和させることができると共に、供試体の粒度差により供試体の飽和速度に差が生じることがない三軸試験用供試体を作製する方法を提供する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND PICK-UP METHOD OF TEST PIECE USING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、及び荷電粒子ビーム装置を用いた試料のピックアップ方法 - 特許庁

SCANNING IRRADIATION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, TEST PIECE OBSERVATION METHOD, AND TEST PIECE PROCESSING METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム走査照射方法、荷電粒子ビーム装置、試料観察方法、及び、試料加工方法 - 特許庁

DEVICE FOR INTAKE TEST WITH HOMOGENIZATION PROCESSING MECHANISM OF FINE PARTICLE例文帳に追加

微粒子の均一化処理機構を有する吸入試験装置 - 特許庁

TEST PIECE HOLDER MOVING MECHANISM, VACUUM EQUIPMENT, AND CHARGED PARTICLE BEAM EQUIPMENT例文帳に追加

試料ホルダ移動機構及び真空装置並びに荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

To solve a problem in a magnetic particle flaw detection test wherein the magnetic particle pattern that is applied to an inspection surface and adsorbs to and accumulates on a flaw is hidden in the magnetic powder precipitated from the test liquid and the detection of the magnetic particle pattern is difficult.例文帳に追加

磁粉探傷試験において、検査面に適用されキズに吸着して集積した磁粉模様が、検査液から沈殿した磁粉の中に隠れて、磁粉模様の検知が困難となっている。 - 特許庁

Preferably, the crushed activated carbon as the carrier has a particle size that remains on a test sieve of 500 μm opening and passes through a test sieve of 5.60 mm opening.例文帳に追加

担体である破砕状活性炭は試験用ふるいの目開きで、５００μｍ〜５．６０ｍｍの粒度を有するものが好ましい。 - 特許庁

The particle removal performance is measured, with a solution containing ferric hydroxide colloidal particles having an average particle diameter of 9-70 nm as test solution.例文帳に追加

平均粒子径９〜７０ｎｍの水酸化第２鉄コロイド粒子を含む水溶液を試験液として粒子除去性能を測定する。 - 特許庁

HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING DEVICE, NON-DESTRUCTIVE TEST DEVICE OF TUBE-SHAPED MEMBER, AND HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING METHOD例文帳に追加

高エネルギー粒子発生装置及び管状部材非破壊検査装置並びに高エネルギー粒子発生方法 - 特許庁

To carry out exchange of a test piece promptly at the exchange of the test piece, by performing inspection of the test piece by irradiating charged particle beams such as electron beams on the test piece arranged in a normal pressure atmosphere opened to the outside air.例文帳に追加

外気に開放された常圧雰囲気に配置された試料に、電子線等の荷電粒子線を照射して試料検査を行うことにより、試料検査における試料交換を迅速に行う。 - 特許庁

This particle collector is provided with a plate type test base 2 arranged on a test table 4, a member 3 for sticking tested paper to the test base, and a cylindrical roller 1, and a mechanism such as a motor driving the roller is arranged beneath the test table.例文帳に追加

試験テーブル４上に備えられた平板状の試験台２と試験台に被試験紙を装着する部材３と、円筒上のローラ１を備え、試験テーブル下にはモータ等の前記ローラを駆動する機構が備えられている。 - 特許庁

INSPECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER TEST PIECE WHICH USES CHARGED PARTICLE BEAM AND EQUIPMENT例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いた半導体ウェハ試料の検査方法および装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, COMPUTER PROGRAM USED FOR IT, AND TEST PIECE IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、それに用いられるコンピュータプログラム、及び試料像観察方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND TEST PIECE INFORMATION DETECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビームを用いた試料情報検出方法 - 特許庁

To provide a new method to apply to a non-aqueous system of performance test to establish fine particle removal ability of a film and an integrity test of a non-destructive method for checking that a used film is within a set range in the fine particle removal performance, a test reagent to be applied to the test, and a method for manufacturing the reagent.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の非水系で実施する新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new method of a performance test for establishing the fine particle removing performance of a membrane and a nondestructive integrity test for preconfirming that the membrane after use is within setting in the fine particle removing performance, and to provide a test reagent to be applied to the test, and a method of manufacturing the reagent.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁

The method which analyzes a test substance by simultaneously using two particles dispersed in a solution is characterized in that a substance interacting with the test substance is fixed on a first magnetic particle, and the particle size of a second magnetic particle is large in comparison with the first magnetic particle.例文帳に追加

溶液中に分散した2種類の磁性粒子を同時に用いて、被験物質を分析する方法であって、第１磁性粒子上に前記被験物質と相互作用する物質が固定されており、且つ第２磁性粒子の粒径が第１磁性粒子と比較して大きいことを特徴とする、前記方法。 - 特許庁

The average particle size, which agrees with the relation of the density at each test piece operated from the test result is obtained by supposing that the average particle size with water droplet impingement ratio.例文帳に追加

その結果から平均粒子径を仮定して演算した各供試体毎の濃度と水滴衝突率との関係が一致する平均粒子径を求める。 - 特許庁

This is an automatic focusing method of a scanning electron microscope 10 which acquires an image signal and forms a test piece image based on secondary charged particle beams from a test piece irradiated with charged particle beams.例文帳に追加

荷電粒子ビームが照射された試料からの２次荷粒子に基づいて画像信号を取得し試料像を形成する走査電子顕微鏡１０のオートフォーカス方法である。 - 特許庁

By using the magnetic particle mixed liquid 101 for the flaw detection test, the magnetic particle flaw detection test conventionally requiring two or more efforts according the size of a flaw requires only one effort.例文帳に追加

この探傷試験用磁粉混合液１０１を用いることで、従来では傷の大きさに応じて二度以上の手間を必要とした磁粉探傷試験が、一回の手間で済む。 - 特許庁

To provide a bio-safety exhaust processing device with simple constitution in which leakage tests for measuring a test particle on the downstream side by inputting the test particle on the upstream side of a filter is conducted in the same operating state as normal operation.例文帳に追加

フィルタの上流側で試験粒子を投入して、下流側で試験粒子の計測を行う漏洩試験が通常の運転時と同じ運転状態で実行できる簡単な構成のバイオセーフティ排気処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a novel method for a performance test determining fine particle removal performance of a membrane and for a non-destructive integrity test confirming that the membrane after use is within a preset range in terms of the fine particle removal performance, a test reagent applied to the tests, and a method for producing the reagent.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of irradiating charged particle beams to a test piece by reducing aberration and capable of irradiating charged particle beams without a possibility of discharge even when introducing gas to the surface of the test piece.例文帳に追加

収差を軽減して試料に荷電粒子ビームを照射可能であるとともに、試料の表面にガスを導入する場合などでも、放電のおそれ無く荷電粒子ビームを照射することが可能な荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

To raise the accuracy of observation and the process of a profile line by preventing the charging of a test piece at the observation and process of the test piece by a charged particle beam device and effectively utilize a processing gas to be blown on the test piece at processing.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置による試料の観察や加工の際に、試料の帯電を防いで輪郭線の観察や加工の精度を上げるとともに、加工時には試料に吹き付ける加工用ガスを有効に活用する。 - 特許庁

This magnetizer for magnetic particle test comprises a means structured so that air within a bowl-shaped portion of the inspecting object is exhausted with the inspecting object submerged in magnetic particle liquid, and the means causes the particle liquid to get in to the interior of the bowl-shaped portion.例文帳に追加

検査物を磁粉液中に水没させた状態で、検査物の椀形部分内部の空気を排気するように構成された手段を有し、これにより椀形部分内部にまで磁粉液が入り込むようにする。 - 特許庁

IMMUNOCHROMATOGRAPHIC CONJUGATE PAD CONTAINING FLUORESCENT PARTICLE AND COLORED PARTICLE AS MARKER PARTICLE, AND IMMUNOCHROMATOGRAPHIC TEST STRIP AND INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

標識粒子として、蛍光粒子と着色粒子とを含有するイムノクロマト法用コンジュゲートパッド、それを用いたイムノクロマト法用テストストリップおよび検査方法 - 特許庁

This relates to the pick-up method of the minute test piece in charged particle beam device in which a minute test piece and a manipulator are held by a beam assisting deposition film formed by irradiating charged particle beam while supplying a deposition gas, and the minute test piece and the manipulator are separated by removing the beam assisting deposition film by irradiating the charged particle beam while supplying an etching gas.例文帳に追加

本発明は、デポジション用ガスを供給しながら荷電粒子ビームを照射して形成されるビームアシスト堆積膜により微細試料とマニピュレータを保持し、エッチング用ガスを供給しながら荷電粒子ビームを照射してビームアシスト堆積膜を除去することにより微細試料とマニピュレータを分離することに関する。 - 特許庁

LIPOSOME PARTICLE DISPERSION FOR DETECTING TEST SUBSTANCE, METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND METHOD FOR DETECTION BY FLUORESCENCE PHOTOMETRY USING THE SAME例文帳に追加

被検物質検出用リポソーム粒子分散物、その製造方法、それを用いた蛍光測定による検出方法 - 特許庁

To provide a charged particle beam apparatus capable of completely neutralizing, according to kinds or the like of a test piece made of an insulating material.例文帳に追加

絶縁材料製試料の種類等に応じて完全な中和が出来るようにした荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

From the viewpoint of design, it is desirable to use a DRAM-based alpha particle sensing apparatus as an accelerated on-chip SER test vehicle.例文帳に追加

ＤＲＡＭベースのアルファ・イオン粒子感知装置の設計は、高速化されたオン・チップＳＥＲテスト装置として使用されることが望ましい。 - 特許庁

The radiation controller controls a radiation particle accelerator so that the test component emits periodically changing emitted light.例文帳に追加

また、放射線コントローラはテスト部品が周期的に変化する放射光を放射させるように放射線粒子加速装置を制御する。 - 特許庁

The fine particle is damaged ≥10% less than the base material in an abrasion resistance test ASTM 1044 (1,000 rotations) by a Taber's abrasion resistance tester.例文帳に追加

テーバー摩耗試験機による耐擦傷性試験ＡＳＴＭ１０４４（１０００回転）において、微粒子が基材よりも１０％以上傷付きにくい。 - 特許庁

To provide a fibrous particle-production apparatus and a test system which can stably prepare fibrous particles and makes evaluation using the fibrous particles possible.例文帳に追加

繊維状粒子を安定して生成可能にして、繊維状粒子を用いた評価を行なえるようにする。 - 特許庁

To provide a novel method and a device capable of detecting not only the number of particulates contained in a test liquid but also a particle size distribution of the particulates and the like.例文帳に追加

被検液中に含まれる粒子の数だけではなく、粒子の粒径の分布等をも検出することができる新規な方法と装置を提供する。 - 特許庁

To realize an inspecting method of a semiconductor wafer test piece, which uses a charged particle beam, and can improve absorption current sensing sensitivity and detecting accuracy by exactly controlling the charged particle beam irradiating the test piece in response to measurement purpose, and to provide its equipment.例文帳に追加

試料に照射する荷電粒子ビームを計測目的に応じて的確に制御することで、吸収電流検出感度と検出精度を向上させることができる荷電粒子ビームを用いた半導体ウェハ試料の検査方法および装置を実現する。 - 特許庁

The system 1 for estimating the transparency of water is provided with a preprocessing device 2 which treats test water by using a filtration process or a centrifugal concentration process, a particle amount quantifying device 3 which quantifies the amount of particles in the test water, and a transparency calculating device 4 which calculates the transparency based on the quantified amount of particle.例文帳に追加

検水を遠心濃縮又はフィルターろ過する前処理装置２と、該検水の粒子量を定量化する粒子量定量化装置３と、定量化された該粒子量から透視度を算出する透視度算出装置４とを含む水の透視度評価システム１を提供する。 - 特許庁

The reaction plate 1 is a vessel for determining plate-type aggregation patterns, in particular, a vessel for determining particle aggregation, which has different identifiers by each kind respectively, and includes two or more kinds of wells 10, 10a matching with test methods, sensitivity, particle size values or test items.例文帳に追加

本発明はプレート型凝集パターン判定用容器、特に種類ごとに違う識別子をもつ粒子凝集判定容器（反応プレート１）であり、検査の方法、感度、粒子径または検査項目に合った複数種類のウェル１０，１０ａを有する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device in which observation and evaluation of the surface of a test piece can be made without charge up on the whole test piece, and to provide a method of manufacturing a semiconductor device using the same.例文帳に追加

試料全体にわたりチャージアップのない状態で試料表面の観察及び評価を可能にした荷電粒子線装置及び該装置を使用した半導体デバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for measuring the installation position of a test piece in a charged particle beam lithography system capable of measuring the position of a test piece placed on a stage without the need of using an additional position measuring tool.例文帳に追加

ステージ上に載置された試料の位置を新たな位置計測ツールを用いることなく測定できるようした荷電粒子ビーム描画装置における試料の載置位置測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reaction plate with identifiers, capable of being used for identifying a particle aggregation determining vessel (reaction plate) which has been used for its test, even after completing the test as more reliable data.例文帳に追加

より信頼性の高い分析データとして後からでも検査に使用した粒子凝集判定用容器（プレート）を特定できるような識別子付きプレートを提供する事。 - 特許庁

As the result, a charged particle beam device using the X-ray reduction mirror 10 can perform highly accurately when it evaluates and analyzes a test-piece using a digital data obtained from the visible image of the test-piece.例文帳に追加

その結果、このＸ線低減ミラー１０を使用する荷電粒子線装置によれば、試料の可視化像に基づいて試料をデジタルデータで評価および分析を行う際に高精度で行うことができる。 - 特許庁

To provide a particle which effectively inhibits non-specific adsorption of various biomolecules etc., to the surface of the particle and can be easily recovered when added to a test sample.例文帳に追加

被験試料へ添加した場合に、粒子表面への各種生体分子等の非特異的吸着が効果的に抑制され、かつ回収が容易である粒子を提供する。 - 特許庁