「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(195ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an IC product testing device capable of rapidly processing test of an RF-ID medium in a single piece form such as an IC card.例文帳に追加

たとえばＩＣカードのような単片形態のＲＦ−ＩＤメディアの検査を迅速に処理することのできるＩＣ製品検査装置。 - 特許庁

To provide a materials testing machine which ensures reliability of the measured results, by providing a function for detecting the vibration produced during measurement.例文帳に追加

測定中に生じた振動を検出する機能を備えることによって、測定結果の信頼性を保証する材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of detecting whether a block failure has occurred or not prior to the implementation of a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験を実施する前に、ブロック不良が発生しているか否かを検知することができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an accurate, easy, and simple dementia-forgetfulness testing apparatus using comfortable stimulus of music to an acoustic sensitivity region of the brain.例文帳に追加

音楽による脳の音感領域への快い刺激を利用し、正確で、容易かつ簡便な認知症・物忘れ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor device capable of testing an analog element highly accurately by using a digital tester having wide versatility.例文帳に追加

汎用性の高いデジタル用テスタを用いて高精度にアナログ素子の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To accurately perform testing at a high speed even when phase shift occurs in DUT due to temperature variation, power supply variation or the like.例文帳に追加

温度変動や電源変動等によりＤＵＴに位相ずれが生じたとしても、高速且つ正確に試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, with which a CSP having no built-in interposer can be made into a MCP, and also to provide methods of manufacturing and testing the same.例文帳に追加

インターポーザーを内蔵しないＣＳＰにおいてＭＣＰ化が可能な半導体装置，その製造方法，その試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inverter unit capable of avoiding needless components for use and patterns without forming an exclusive analogue port for testing, and cutting down on the cost of the inverter.例文帳に追加

試験のための専用アナログポートを設けることなく使用部品やパターンの無駄を省いてコストダウンを可能としたインバータユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a method for realizing certain identification and a true test at comparatively less hardware cost and for recognizing or testing securities.例文帳に追加

比較的わずかなハードウエア−費用で確実な識別及び真性テストを可能にする、有価証券を認識し又はテストする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a compact testing apparatus of a hard disk drive which can test a hard disk drive in a state of nearly finished goods by changing an ambient environment.例文帳に追加

ハードディスクドライブを製品に近い状態で周辺環境を変化させて試験できる、コンパクトなハードディスクドライブの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a jig for cross cutting which enables forming of a cut simply and accurately on a test piece for the testing of a paint.例文帳に追加

塗料の試験に供する試験片に対して、簡単且つ正確に切り傷を形成することができるクロスカッティング用治具を提供する。 - 特許庁

Test data for a circuit module 24 inputted from a TIN terminal during testing operation sequentially shifts scan cells from 31,1 to 31,4, 32,1 to 32,4, 33,1 to 33,4, and to 34,1 to 34,4.例文帳に追加

テスト動作時にＴＩＮ端子から入力された回路モジュール２_4のテストデータがスキャンセル３_1,1 〜３_1,4 ，３_2,1 〜３_2,4 ，３_3,1 〜３_3,4 ，３_4,1 〜３_4,4 を順にシフトする。 - 特許庁

To realize testing easily by suppressing increment of circuit elements about a test function to the minimum in a semiconductor apparatus especially including a phase transition material.例文帳に追加

特に相変化材料を含む半導体装置において、テスト機能に関する回路素子増加を最小に抑え、テストの容易化を実現する。 - 特許庁

To provide a system for fault sensing prevention of an optical film and tape-shaped printed circuit board, and to provide its testing method.例文帳に追加

光学を利用したフィルムおよびテープ形態の印刷回路基板の過検出防止のためのシステムおよびそれのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual testing device capable of easily and correctly selecting a current object to be tested from various types of objects to be tested.例文帳に追加

多品種の検査対象の中から現在の検査対象を容易かつ正確に選択できる外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁

For example, the amount of change of the voltage of the waveform for testing to the waveform for recording is set to 1.3 times of the voltage of the waveform for recording as the upper limit.例文帳に追加

例えば、記録用波形に対するテスト用波形の電圧の変化量は、記録用波形の電圧の１．３倍を上限とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a squelch circuit at a higher speed using a DC voltage by a low-speed tester.例文帳に追加

低速テスターによる直流電圧を用いてスケルチ回路をより高速テストをすることが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and a test system of a semiconductor integrated circuit capable of easily testing contact between a test probe and a pad.例文帳に追加

テスト用のプローブとパッドとの接触を容易にテストすることが可能な半導体集積回路のテスト方法およびテストシステムを提供する。 - 特許庁

The test circuit 160 outputs a test pattern for testing the memory 20 and obtains a test result of the memory 20 obtained on the basis of the test pattern.例文帳に追加

テスト回路１６０は、メモリー２０をテストするテストパターンを出力し、そのテストパターンにより得られるメモリー２０のテスト結果を取得する。 - 特許庁

To reduce the number of driving power supplies of IGBT in a semiconductor device of a three level inverter circuit to enable testing of the semiconductor device.例文帳に追加

３レベルインバータ回路の半導体装置におけるＩＧＢＴの駆動電源数を減らし、かつ半導体装置の試験を行えるようにする。 - 特許庁

To enable a testing circuit of a semiconductor integrated circuit using a plurality of clock domains for optionally set the timing-applying double clocks.例文帳に追加

複数のクロックドメインを用いる半導体集積回路のテスト回路において、ダブルクロックを印加するタイミングを任意に設定することを可能にする。 - 特許庁

To perform exact comparison between a flow rate measured by a flowmeter and an actual flow rate offered by a testing device.例文帳に追加

流量計によって測定された流量と試験装置によって提供される実際の流量との間で正確な比較を行うこと。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory capable of easily identifying a memory cell in a state of excessive writing, and a method for testing the same.例文帳に追加

過書き込み状態のメモリセルを容易に特定することが可能な不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To realize a semiconductor testing device which can synchronize a high speed determination result data and Device Under Test(DUT) determination result data and display it.例文帳に追加

高速側判定結果データおよびＤＵＴ判定結果データを同期して表示することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating a weld zone by nondestructive testing which facilitates simple processing without incurring increase in cost or an equipment space.例文帳に追加

コストや装置スペースの増大を招くことなく、簡易な処理で行うことができる、非破壊検査による溶接部評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a protocol test device capable of testing a network using an optional protocol and to provide a protocol test method.例文帳に追加

本発明は、任意のプロトコルを用いてネットワーク試験を行うことができるプロトコル試験装置又はプロトコル試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To improve a testing method for evaluating difficulty of drilling work for a metal member (e.g. a roll shell of a suction roll for a paper machine) drill-worked by a drill.例文帳に追加

ドリルで孔あけ加工される金属部材（例えば抄紙機用サクションロールのロールシェル）のドリル加工の難易を評価する試験方法の改良。 - 特許庁

To provide a method for testing the surface-characteristics of a member, such as the anti-offset properties, fixation performance, etc., of a fixation member to a low-energy fixation-type toner.例文帳に追加

定着部材の低エネルギー定着型トナーに対する耐オフセット性、定着性能など、部材の表面特性の試験方法を提供する。 - 特許庁

To enhance accuracy and reduce the scale of installation of a zero gravity simulation testing device by reducing the effect of a component force in the horizontal direction.例文帳に追加

水平方向からの分力の影響を小さくし、これにより無重力模擬試験の高精度化および設備の小規模化を図る。 - 特許庁

To suppress repeated measurement of a frequent path included in a program to be tested, and to avoid unnecessary overhead in a program testing method.例文帳に追加

プログラムのテスト方法において、テスト対象プログラムに含まれる頻出経路の繰り返しの計測を抑止し、無用なオーバーヘッドを回避する。 - 特許庁

To provide an improved prober for an electronic apparatus testing system capable of adapting the prober to differential apparatus layouts and substrate sizes.例文帳に追加

異なる装置レイアウト及び基板サイズに対して、プローバを適合させることができる電子装置テストシステム用の改良されたプローバを提供する。 - 特許庁

To provide an active matrix test substrate and a testing method which facilitate defect detection even when a scan line driving circuit of CC driving is included.例文帳に追加

ＣＣ駆動を行う走査線駆動回路を含んでいても欠陥検出が容易なアクティブマトリクス型検査基板と検査方法を提供する。 - 特許庁

To attain gas-insulation switching device, capable of performing repair work and withstand voltage test, by only stopping one overhead line and a withstand voltage testing method therefor.例文帳に追加

架空線１回線の停止のみで修理と耐電圧試験を行うことができるガス絶縁開閉装置と耐電圧試験方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus, capable of debugging a test program of a DSP (digital signal processor), any times as needed, by using a virtual environment.例文帳に追加

ＤＳＰのテストプログラムのデバッグをいつでも必要なときに仮想環境を用いて行うことができる半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

The durometer hardness herein is measured according to 'Durometer Hardness Testing Method (Type A) of Plastic' defined in JIS K 7215.例文帳に追加

ここでいうデュロメータ硬さとは、ＪＩＳ Ｋ ７２１５に定める「プラスチックのデュロメータ硬さ試験方法（タイプＡ）」に準じて測定したデュロメータ硬さをいう。 - 特許庁

To provide a photoreceptor testing device for electrophotography not generating a measuring error caused by a size change of an opening part forming a test area.例文帳に追加

試験領域を形成する開口部の大きさ変化による測定誤差を生じない電子写真用感光体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of checking whether or not a test state is correctly set inside in testing a redundant memory cell.例文帳に追加

冗長メモリセルの試験時に、内部に試験状態が正しく設定されているか否かをチェックできる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce influence of external noise and improve testing accuracy in the test of a semiconductor integrated circuit including an ADC and a DAC.例文帳に追加

ＡＤＣとＤＡＣとを備えた半導体集積回路のテストにおいて、外部のノイズの影響を低減し、テストの精度を向上させること。 - 特許庁

With this structure, torque of a motor 5 to be required when testing emergency stop can be reduced, and furthermore, the motor 5 and the inverter device 6 can be miniaturized.例文帳に追加

これにより、非常止め試験時に必要な電動機５のトルクを小さくし、ひいては電動機５とインバータ装置６の小型化を可能とする。 - 特許庁

By use of the alignment information, a testing position is derived on the basis of the alignment information of the electrode pattern included in the model data.例文帳に追加

次に、このアライメント情報を用いて、上記機種データに含まれる電極パターン部の配列情報に基づき、検査位置が導出される。 - 特許庁

To realize a high speed operation without using any memory whose access time is fast or any high speed element in the sequence control circuit of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のシーケンス制御回路において、アクセス時間の速いメモリや高速素子を用いることなく高速動作を可能にする。 - 特許庁

The sample collection apparatus and the testing apparatus are used together as a diagnostic tool for collecting and analyzing a specimen contained in a sample.例文帳に追加

サンプル収集装置および試験装置は、サンプルに含まれる検体の収集および分析のための診断ツールとして共に使用される。 - 特許庁

To provide an appropriate diffusion testing method for more accurately performing the quantitative evaluation of the elusion of contaminants from a solidified body.例文帳に追加

固化体からの汚染物溶出の定量的な評価をより精確に行い得るようにするために適当な拡散試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an erase function testing method of a semiconductor nonvolatile memory executing the erase function test in sector units in a short time.例文帳に追加

セクタ単位での消去機能の試験を短時間で実行することができる、半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法を提供する。 - 特許庁