「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(191ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing device for a sorter capable of reducing labor taken for confirming operation of the sorter of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの分類装置の動作確認にかかる手間を低減することができる分類装置用の試験装置を提供する。 - 特許庁

Since the paddle 12 is made of a good heat-conductor, heat generated in the heater 16 is transferred quickly to the testing solution 42.例文帳に追加

パドル１２は熱の良導体で作成されているため、発熱体１６の発生する熱は速やかに試験溶液４２に伝達される。 - 特許庁

The probe has: a contact head used for the contact with the object for testing; a first needle body; and a second needle body.例文帳に追加

本実施例で提供されるプローブは、テスト用物体との接触に使われるコンタクトヘッド、第１の針本体、第２の針本体を有する。 - 特許庁

An operator of the testing device 40 can judge whether or not the sorter 10 is normal from the sorting operation of the sorter 10.例文帳に追加

分類装置１０の分類動作から、試験装置４０の操作者は、分類装置１０が正常か否か判断することができる。 - 特許庁

To provide a method for more accurately and simply testing skeletomuscular toxicity-inducing ability possessed by a substance than ever.例文帳に追加

物質が有する骨格筋毒性誘発能力をより正確にかつ簡便に検定するための方法等を提供可能とすること。 - 特許庁

The control points 15 and 27 perform a queue used in the case of testing the filter rules and a function related to bit selection.例文帳に追加

制御ポイント１５および２７は、フィルタ規則を試験する上で使用される行列、およびビットの選択に関係する機能を実行する。 - 特許庁

This metal foil cover is easily peeled off, so its fitting and removal are easy to shorten the testing and adjusting operation time.例文帳に追加

この金属箔カバーは、容易に引き剥がし可能であるため脱着が容易であり、試験調整作業時間の短縮化が実現出来る。 - 特許庁

To provide a compression creep testing device capable of measuring precisely a displacement of a sample in a direction applied with a compression load.例文帳に追加

圧縮荷重を加えた方向における試料の変位を高精度に測定することができる圧縮クリープ試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a mounting method of a terminal fitting for a fretting corrosion testing equipment and a fixing tool capable of accurately making a micro-sliding test.例文帳に追加

微摺動試験を正確に行うことができるフレッチング腐食試験装置の端子金具の取り付け方法と固定具を提供する。 - 特許庁

To further improve testing efficiency by performing uniformity measurement and dynamic balance measurement in parallel by one tester, as a tire tester.例文帳に追加

タイヤ試験機において、１つの試験機でユニフォミティ測定と動バランス測定とを並列して行って試験効率を一層向上させる。 - 特許庁

To provide a food and a masticatory function test method capable of simply testing the masticatory function at a sufficiently high accuracy.例文帳に追加

十分に高い精度で且つ簡便に咀嚼機能を検査することが出来る食品及び咀嚼機能検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a slot machine allowing easy confirmation on whether visibility of identification information has changed, by a testing device.例文帳に追加

識別情報の視認性が変化しているか否かを、試験装置により容易に確認することができるスロットマシンを提供すること。 - 特許庁

To provide a material testing machine for a fine test piece capable of measuring a fatigue characteristic and a tensile characteristic of the fine test piece with high accuracy.例文帳に追加

微小試験片の疲労特性及び引張特性を高精度に測定できる微小試験片用材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a weather resistance-testing device that can be used without using any commercial power supplies and at the same time, can improve reliability in evaluation.例文帳に追加

商用電源を用いることなく使用できるとともに評価の信頼性を向上できる耐候性試験装置を得ることにある。 - 特許庁

To provide example methods, apparatus and articles of manufacture for testing batch configurations, which can reduce a potential for disrupting a process.例文帳に追加

プロセス中断の潜在性を低減させることができる、バッチ構成を試験するための例示的方法、装置、および製品を提供する。 - 特許庁

In this automatic testing device (ATE) 200 having a tester architecture classified by terminals provided with plural dispersed testing units 700 classified by the terminals, the each testing unit 700i issues a stimulation response signal to each DUT terminal di of a tested device (DUT) 600, and/or receives a stimulation signal from the each DUT terminal, to test the each DUT terminal.例文帳に追加

分散した複数の端子別試験ユニット（７００）を設けた端子別テスタアーキテクチャを持つ自動試験装置（ＡＴＥ）（２００）であって、各端子別試験ユニット（７００ｉ）が、被験デバイス（ＤＵＴ）（６００）のそれぞれのＤＵＴ端子（ｄｉ）へと刺激応答信号を発し、および／又は前記それぞれのＤＵＴ端子から刺激応答信号を受信することにより、前記それぞれのＤＵＴ端子を試験する。 - 特許庁

To achieve the variation of the quantity of the charge applied to a test sample in an electrostatic charge testing machine.例文帳に追加

静電気帯電試験装置において、試験試料に帯電する帯電量を可変することが可能であるようにすることを課題とする。 - 特許庁

The test system is acquired by improving a test system for testing the test object for inputting the TMDS signal by the IC tester.例文帳に追加

本発明は、ＩＣテスタにより、ＴＭＤＳ信号を入力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

Furthermore, in the case where a continuous operation time of the parts testing device is longer than a predetermined time, a normal temperature returning processing is carried out automatically.例文帳に追加

または、部品試験装置の連続運転時間が所定時間以上である場合に、自動的に常温復帰処理を行う。 - 特許庁

To provide device and method for cell testing by which any action of a damaged cell is properly verified.例文帳に追加

電池が破損した場合の振る舞いを適切に検証することが可能となる電池試験装置及び電池試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a game machine which enables a manufacture maker of the game machine and a third party testing organization, etc., to perform a test relating to the game machine.例文帳に追加

遊技機の製造メーカや第三者試験機関等が、遊技機に関する試験を行うことができる遊技機を提供する。 - 特許庁

appraisal of the biological activity of a substance by testing its effect on an organism and comparing the result with some agreed standard 例文帳に追加

ある有機体への効果を検査し、ある既存の基準とその結果を対照させることである物質の生物学的活動を測ること - 日本語WordNet

To provide a semiconductor testing system capable of simply updating a test program in accordance with an update request from a test board side.例文帳に追加

試験ボード側からの更新要求に応じて簡単に試験プログラムを更新することができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

These tests are repeated, and the D/A converter 10 is tested while shortening a testing time only by the tests of the switches.例文帳に追加

これらの試験を繰り返し行い、スイッチの試験のみによって、試験時間の短縮を図りつつ、Ｄ／Ａコンバータ１０の試験を行う。 - 特許庁

With such device testing apparatus 1, erosion of the tip section is avoided, and a semiconductor device 20 can be evaluated with sufficient accuracy.例文帳に追加

このような素子試験装置１によれば、先端部の目減りが防止され、半導体素子２０を精度よく評価することができる。 - 特許庁

An Ethernet-OAM testing apparatus stores structural information for artificially generating a network structure at each of a plurality of testings.例文帳に追加

Ｅｔｈｅｒｎｅｔ−ＯＡＭ試験装置は、複数の試験ごとにネットワーク構成を擬似的に生成するための構成情報を記憶する。 - 特許庁

To provide an automatic gain control circuit, capable of shortening its adjustment and testing time and reducing its production cost to reduce the number of circuit components.例文帳に追加

回路構成部品の部品点数を削減し、その調整や試験の時間の短縮化を図るとともに、製造コストの低減を図る。 - 特許庁

To provide an electronic equipment capable of exactly testing an open or a short-circuit test between semiconductor devices without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を増大させることなく、確実な半導体装置間のオープン・ショート試験を行うことが可能な電子機器を提供する。 - 特許庁

To obtain a radio communication terminal testing method, a radio communication terminal test system and a radio communication terminal which enhance efficiency of a field test.例文帳に追加

フィールド試験の効率性を高めた無線通信端末試験方法、無線通信端末試験システム、および無線通信端末を得る。 - 特許庁

This external covering system includes an external cover used to hold the first desiccant 18 and a magazine 22 having the supplying section of an unused testing element.例文帳に追加

この外装システムは、第１の乾燥剤１８と未使用試験素子供給部を有するマガジン２２とを収容する外装を含む。 - 特許庁

An interface assembly (20) for testing a semiconductor wafer prior to the execution of a flip chip bumping process and its method are provided.例文帳に追加

フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するためのインタフェース・アセンブリ（２０）および方法が提供される。 - 特許庁

A testing apparatus 2a simultaneously tests a plurality of DUTs 1 each of which has a power supply terminal P1 and an input/output terminal P3.例文帳に追加

試験装置２ａは、それぞれが電源端子Ｐ１および入出力端子Ｐ３を有する複数のＤＵＴ１を同時に試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of testing its own circuit operating at a high speed by using a general low speed LSI tester.例文帳に追加

一般的な低速ＬＳＩテスターを用いて、高速動作する自己の回路を試験できるようにした半導体装置を提供する。 - 特許庁

To stably dispense a liquid such as a reagent or the like at a uniform discharge amount in a dispensing operation in a specimen testing device.例文帳に追加

検体試験装置における分注作業において、試薬等の液体を均一な吐出量にて安定して分注すること - 特許庁

To suppress rotational mode to accurately perform vibration tests even in the case of the occurrence of the rotational mode in a vibration testing system.例文帳に追加

振動試験装置において、回転モードが発生した場合でも、該回転モードを抑制して正確に振動試験が行なえること。 - 特許庁

A circuit for testing the access time of a clock synchronization type memory, includes a delay circuit 520, a sampling circuit 530 and a coincidence detection circuit 540.例文帳に追加

クロック同期式のメモリのアクセスタイムをテストする回路であって、遅延回路520と、サンプリング回路530と、一致検出回路540と、を備える。 - 特許庁

To provide a testing apparatus which can dynamically control a conditional branch based on a match detection and a conditional determination based on a logical comparison.例文帳に追加

マッチ検出にもとづく条件分岐と、論理比較にもとづく条件判定を動的に制御可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

An electrical characteristics test using a BGA-type IC is made by making the outer leads 5a have continuity temporarily with electrodes for the test of a testing unit.例文帳に追加

このＢＧＡ型ＩＣの電気的特性試験は、アウターリード５ａと試験装置のテスト用電極を一時的に導通させて行う。 - 特許庁

To provide a cache testing method capable of performing a test in the state of performing access to respective blocks composing of a cache without overlapping.例文帳に追加

キャッシュを構成する各ブロックへのアクセスが重複なく行われる状態で試験が行えるキャッシュ試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a material-testing machine for protecting a test piece and a detection sensor by preventing the bobbin and piston rod of an electrodynamic actuator from falling.例文帳に追加

動電形アクチュエータのボビンやピストンロッドが落下しないようにして試験片や検出センサを保護する材料試験機を得る。 - 特許庁

To provide a system for testing a tire using algorithm for comparing an average gradient of fluctuation of one parameter as a function of another parameter.例文帳に追加

一パラメータの変動の平均勾配を別のパラメータの関数として比較するアルゴリズムを用いてタイヤを試験するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing semiconductor, capable of performing accurate measurement by executing relay-off operation with appropriate waiting time, after switching off the power.例文帳に追加

パワーオフ後に適切な待ち時間でリレーオフ動作を実行することにより、正確な測定が可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide prognosis testing method, etc. for patients with lung cancer which clarifies the work of esRAGE in vivo, while utilizing its measurements.例文帳に追加

esRAGEの生体内における働きを明らかにすると共に、その測定を利用した肺癌患者の予後検査方法等を提供すること。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 for performing prescribed processing concerning input communication data for output.例文帳に追加

試験装置９００は、入力された通信データに対して所定の処理を実行して出力する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing device 30 tests electrical characteristics of a solid-state imaging device as a semiconductor device formed in a semiconductor wafer 10.例文帳に追加

検査装置３０は、半導体ウエハ１０に形成された半導体デバイスとしての固体撮像素子の電気的特性を検査する。 - 特許庁