| 意味 | 例文 |
Unit Testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 350件
When you click Finish, the IDE creates the skeleton unit test file to which you add your specific testing code. 例文帳に追加
「完了」をクリックするとスケルトンの単体テストファイルが作成されるので、ここに具体的なテストコードを追加します。 - NetBeans
The basic building blocks of unit testing are test cases --single scenarios that must be set up and checked for correctness. 例文帳に追加
単体テストの基礎となる構築要素は、テストケース -- セットアップと正しさのチェックを行う、独立したシナリオ -- です。 - Python
A ventilation connector for testing the airtightness of the light source unit 4 can be connected to the valve mechanism 50.例文帳に追加
このバルブ機構50には、光源ユニット4の気密性の検査用の通気コネクタを接続することもできる。 - 特許庁
To provide a testing device of an input/output unit constituted so that a test of the input/output unit may be performed only by connector connection.例文帳に追加
入出力ユニットの試験がコネクタ接続のみで行うことができるようにした入出力ユニットの試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a system test environment capable of testing operation of a system on a computer with an application program working on a hardware unit, without using any hardware unit.例文帳に追加
ハードウェアユニット上で動作するアプリケーションプログラムを、ハードウェアユニット無しでも、システムの動作をコンピュータ上でテストすることが可能なシステムテスト環境の提供。 - 特許庁
Then, the image processing means 9 executes image processing by a unit of the visual field in parallel and testing by a unit of the visual field in parallel.例文帳に追加
すると、画像処理手段9によって、検査視野単位の画像処理が並行して実行され、検査視野単位の検査が並行して実行される。 - 特許庁
To provide a device and method for testing a model structure for testing, with a simple model, a physical phenomenon occurring when a mobile unit moves in the structure.例文帳に追加
構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法を提供する。 - 特許庁
The testing circuit 14 includes a variable ring oscillator, performs a series of parameter tests at a nominal operation frequency of the integrated circuit, and transmitting a test result to the testing unit 12 for analysis.例文帳に追加
試験回路14は、可変リング発振器を含み、集積回路の公称動作周波数での一連のパラメータ試験を実行し、試験結果を分析のために試験ユニット12に送信する。 - 特許庁
The apparatus 10 judges that the communication is allowed by the firewall unit 14 by the testing port number when the apparatus 10 receives the testing packet transmitted from the apparatus 18.例文帳に追加
試験用通信装置10では、通信装置18から送信された試験用パケットを受信したとき、その試験用ポート番号はファイアウォール装置14により通信が許可されていると判断する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing system capable of managing unitarily information of a cooling device provided in each semiconductor test unit, from a host computer for managing the semiconductor testing system.例文帳に追加
半導体試験システムを管理するホストコンピュータから、各半導体試験ユニットが備える冷却装置の情報を一元的に管理することを可能とした半導体試験システムを実現する。 - 特許庁
The Python unit testing framework, often referred to as ``PyUnit,'' is a Python language version of JUnit, by Kent Beck and Erich Gamma.JUnit is, in turn, a Java version of Kent's Smalltalk testing framework.例文帳に追加
このPython単体テストフレームワーク は``PyUnit''とも呼ばれ、Kent Beck とErich GammaによるJUnitのPython版です。 JUnitはまたKentのSmalltalk用テストフレームワークのJava版で、どちらもそれぞれの言語で業界標準の単体テストフレームワークとなっています。 - Python
TESTING MACHINE SUPPORT TABLE, TENSILE TEST METHOD OF FASTENER, UNIT FOR TENSILE TEST, AND METHOD OF PERFORMING MOUNTING CONSTRUCTION OF PROPERTY TO BUILDING STRUCTURE例文帳に追加
試験機支持台、締結具の引張試験方法、引張試験用ユニット、建築構造物への器物取付施工方法 - 特許庁
To provide a socket board circulating structure of a semiconductor device testing system capable of conveying a socket board to each test unit.例文帳に追加
各試験ユニットへソケットボードを搬送することができる半導体デバイステストシステムのソケットボード循環構造を提供する。 - 特許庁
When a hard component is detected in the water for testing water quality, the ion exchange resin R is regenerated with the regeneration unit 2.例文帳に追加
水質検査用水の硬度成分を検出したときに、再生ユニットを用いてイオン交換樹脂Rを再生する。 - 特許庁
To realize miniaturization and cost reduction of a semiconductor testing apparatus by reducing remarkably the number of interfaces of a measuring unit and a pattern memory.例文帳に追加
測定ユニットとパターンメモリとのインターフェイス数を大幅に削減し、半導体試験装置を小型化、低コスト化する。 - 特許庁
The laser ablation device 1 memorizes film thickness distribution information per unit time obtained from the thickness of each film respectively deposited on a substrate for testing in each of a plurality of testing positions in a preliminary stage in a memory unit in a storage part of a control means 70.例文帳に追加
レーザアブレーション装置1は、複数の試験位置の各々において、予工程にて試験用基板上にそれぞれ堆積された膜厚から得られた単位時間当たりの膜厚分布情報を制御手段70の記憶部に記憶する。 - 特許庁
To provide a portable endoscope apparatus capable of preventing damage of a light source unit due to increase in an internal pressure and testing airtightness of the light source unit after the assembling.例文帳に追加
内圧上昇による光源ユニットの破損を防ぐとともに、光源ユニットの組立後の気密性を検査することができる携帯型内視鏡装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device for a semiconductor chip, capable of testing correctly an object to be tested, by simple regulation, even when a kind or state of the object to be tested varies, or even when one part of a contact unit develops trouble.例文帳に追加
被試験物の状態や種類が変化し、または、コンタクトユニットの一部が故障しても、簡単な調整で、被試験物を正しく試験することができる半導体チップの試験装置を提供する。 - 特許庁
In the traction testing device, the torque meter 70 is increased in rigidity, the spindle unit 12 is made to cope with a high load, resonance with a testing machine is restrained, and oil shearing force can be highly accurately determined.例文帳に追加
トルク計70を高剛性化し、スピンドルユニット12を高負荷対応として、試験機との共振を抑制し、オイル剪断力を高精度に求めることができるようにしたトラクション試験装置。 - 特許庁
The ultrasonic endoscope 100 has the ultrasonic testing mechanism 130 on the front end side of a front unit 114 of an insertion section 102 and an endoscope observation mechanism 140 on the base end side of the ultrasonic testing mechanism.例文帳に追加
超音波内視鏡100では挿入部102の先端部本体114の先端側に超音波検査機構130,それより基端側に内視鏡観察機構140が設けられている。 - 特許庁
The POS probe unit 10 for testing is connected to one end of a POS (PPP Over SONET/SDH) channel N, and a frame generator 20 for transmitting a testing frame to the POS channel N is connected to another end.例文帳に追加
POS(PPP Over SONET/SDH)回線Nの一端には試験を行うPOSプローブ装置10が接続され、他端には試験フレームをPOS回線Nに送信するフレーム発生装置20が接続されている。 - 特許庁
The engine testing device 10 comprises a shaft 20; a motor 42 for rotating the shaft 20; and a chuck unit 50.例文帳に追加
本発明に係るエンジン試験装置10は、主軸20と、主軸20を回転させるモータ42と、チャックユニット50を備える。 - 特許庁
To provide a testing method for accurately detecting the contact state between unit coils composing stator coils in each phase.例文帳に追加
各相のステータコイルを構成する単位コイル間の接触状態を精度よく検出するための試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a compliant electrical contact which has a low self-inductance in a high frequency for connecting an IC on an IC testing unit.例文帳に追加
IC試験装置にICを接続するための高周波で低い自己インダクタンスを有する柔軟電気接点の提供。 - 特許庁
A failure processing circuit in the testing unit is used to count the number of samples, wherein input signal is in a logic HI state.例文帳に追加
テスタの中の不良処理回路は、入力信号が論理HI状態にあるサンプルの数を数えるために用いられる。 - 特許庁
To prohibit over-write-in and over-erasure of data with a bit unit in testing a function of a memory device such as a flash memory or the like.例文帳に追加
フラッシュメモリ等のメモリデバイスの機能試験に際し、ビット単位でデータの過剰書込み及び過剰消去を禁止する。 - 特許庁
The display having the nightglow and the bill testing functions of this invention comprises a microcontroller, a push key unit and an ultraviolet light emitter.例文帳に追加
本発明の夜光及び紙幣試験機能を有するディスプレイは、マイクロコントローラと、プッシュキーユニットと、紫外光発射器と、を含む。 - 特許庁
To provide a substrate unit for reliability test capable of testing the reliability of a plurality of array light sources, at low cost.例文帳に追加
低コストで複数のアレイ光源の信頼性を試験することを可能とする信頼性試験用基板ユニットを提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing a continuity between devices for searching a port number in which a communication is allowed/interrupted by a firewall unit.例文帳に追加
ファイアウォール装置により通信が許可/遮断されているポート番号を調査する装置間導通試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide power supply unit and testing apparatus for measuring power supply current which flows through a target device, without being affected by the dielectric absorption current in a bypass capacitor.例文帳に追加
バイパスコンデンサにおける誘電体吸収電流の影響を除去して、対象デバイスに流れる電源電流を測定する。 - 特許庁
The vehicle testing apparatus 30 includes an actuator 40; a pneumatic-pressure-generating device 70; a pneumatic-pressure control device 71; and a control unit 72.例文帳に追加
車両試験装置30は、アクチュエータ40と、空圧発生装置70と、空圧制御装置71と、制御装置72とを備える。 - 特許庁
To provide a contact conduction unit applicable to a testing device or the like, having an elongated using lifetime and improved reliability.例文帳に追加
使用寿命が延長すると共に信頼性が向上し、試験装置等に適用することのできる接触通電装置を提供する。 - 特許庁
To prepare operating-component data that allow to execute the same key-operation testing as that of executed by a skilled worker in a short period of time for each operation unit.例文帳に追加
熟練者と同じキー操作試験を操作単位毎に短時間で行うことを可能にする操作部品データを作成する。 - 特許庁
A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a protection device for protecting attack to a communication device.例文帳に追加
試験装置900は、通信装置に対する攻撃を防御する防御装置として機能する通信制御装置10を試験する。 - 特許庁
To provide an electronic component unit capable of performing continuity test, without a continuity testing conductor in contact with a clip piece in a terminal fitting.例文帳に追加
端子金具の挟持片に導通試験用導体を接触させることなく導通試験を行える電気部品ユニットを提供する。 - 特許庁
The drainage testing device (1) of an indoor unit of an air conditioner uses a powder source voltage different from the rated voltage of the air conditioner.例文帳に追加
空気調和機の定格電圧とは異なる電源電圧を用いる、前記空気調和機の室内機のドレン排水試験装置(1)。 - 特許庁
An electrical characteristics test using a BGA-type IC is made by making the outer leads 5a have continuity temporarily with electrodes for the test of a testing unit.例文帳に追加
このBGA型ICの電気的特性試験は、アウターリード5aと試験装置のテスト用電極を一時的に導通させて行う。 - 特許庁
A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 for performing prescribed processing concerning input communication data for output.例文帳に追加
試験装置900は、入力された通信データに対して所定の処理を実行して出力する通信制御装置10を試験する。 - 特許庁
An assembly test is performed by connecting the governor ASSY 14 and a second cable unit 58, by switching an inner relay of a relay unit 52, and by giving the simulation signal by program processing of the testing device 34.例文帳に追加
ガバナASSY14と第2ケーブルユニット58とを接続し、リレーユニット52の内部リレーを切り替え、検査装置34のプログラム処理により模擬信号を与えてアッセンブリ検査を行う。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device having a unit power supply automatic control function automatically measuring the ripple voltage of each unit power supply and checking whether the ripple voltage is within an allowable limit or not.例文帳に追加
自動的に各ユニット電源のリップル電圧を測定してリップル電圧が許容範囲にあるかをチェックするユニット電源自動管理機能を備えた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
The voltage regulator circuit, capable of regulating voltages at a plurality of voltage sources has a testing control unit, a multiplexer, a comparator and a BIST (built-in self test) unit.例文帳に追加
電圧調整回路として、試験制御装置とマルチプレクサとコンパレーターとBIST装置とを備える、複数の電圧源の電圧を調整できる電圧調整回路を用いる。 - 特許庁
The base station unit 1 compares the message ID, made by the maintenance center 3 with that by the base station controller 2, assigns a testing path corresponding to the resource ID, when they match and performs the testing.例文帳に追加
基地局装置1において、保守センタ3および基地局制御装置2によって通知されたメッセージIDを比較し、一致している場合にリソースIDに応じた試験経路を割り当て、試験を実施する。 - 特許庁
This testing device is equipped with a plurality of test modules for testing a plurality of devices to be tested, and the central processing unit for controlling test operation of the plurality of test modules based on a designated operation mode.例文帳に追加
複数の被試験デバイスの試験を行う複数の試験モジュールと、指定された動作モードに基づいて複数の試験モジュールの試験動作を制御する中央処理装置とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁
The system for generating cryptographic keys includes: a calculation unit for reconstructing a large number of small primes; a sieving unit for checking the divisibility of an integer by small primes; a recoding unit for changing the representation of an integer; and a primality testing unit.例文帳に追加
暗号鍵の生成システムは、多数の小さい素数を再構成するための演算ユニット、小さい素数によって整数が割り切れるかを点検するための篩ユニット、整数の表現を変えるための再符号化ユニット、及び素数性判定テストユニットを備える。 - 特許庁
This device is prepared for each testing module, and has a module memory unit which stores at least either diagnostic data or correction data, performs at least one of diagnosis and correction of the testing module, and stores the diagnostic data or correction data in the module memory unit.例文帳に追加
本装置は、試験モジュールごとに設けられ、診断データまたは校正データの少なくとも一方を格納するモジュール記憶部を設け、試験モジュールの診断または校正の少なくとも一方を行い、診断データまたは校正データをモジュール記憶部に格納することを特徴とする装置である。 - 特許庁
A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.例文帳に追加
テスタ部31は、被検査LSIと同じLSIが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード1枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット32と、テスト用ユニットを動作制御するPC33と、テストプログラム34を有する。 - 特許庁
The device for inspecting solder material is equipped with a storage unit 14 where teacher data that a print processing time required for performing print processing by the use of a testing solder material is correlated with deterioration data on the testing solder material in the print processing time are previously stored, and a control unit 13.例文帳に追加
半田材検査装置は、試験用半田材を用いて印刷処理を実行したときの印刷処理時間と、上記印刷処理時間における試験用半田材の劣化度データとを対応付けた教師データを予め記憶した記憶部14と、制御部13とを備える。 - 特許庁
To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.例文帳に追加
単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a POS probe unit which can severely test a communication state at each sampling period and to provide a testing system of the same.例文帳に追加
サンプリング期間毎の通信状況を厳密に試験することができるPOSプローブ装置及び当該装置の試験システムを提供する。 - 特許庁
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