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cu layerの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1185



例文

The barrier layer is laminated on the element attaching part 3 and the diffusion of Cu composing the element attaching part 3 to the cover layer is suppressed by the barrier layer.例文帳に追加

バリア層を素子取付け部3に積層し、この層で素子取付け部3をなしたCuのカバー層への拡散を抑制する。 - 特許庁

The surface of the Cu layer 18 is retreated from areas of the surface of the layer 18 other than areas for formation of the wiring layer 18 to form recesses 20.例文帳に追加

Cu配線層18の表面を配線層18形成部分以外の表面より後退させて凹部20を形成する。 - 特許庁

Additionally, the transparent thin-film electrode includes an intermediate insertion layer between the Cu-based conductive layer and the metal capping layer.例文帳に追加

また、本発明は、前記Cu系導電層と前記金属キャッピング層間に中間挿入層を含む透明薄膜電極である。 - 特許庁

The Ni layer and the Cu layer are mutually diffused to produce an outer layer 5 comprising cupronickel to make this wire 1 for an interdental brush.例文帳に追加

その後、Ni層3とCu層4とを相互拡散させ、キュプロニッケルからなる外層5を生成して、歯間ブラシ用ワイヤ1と成す。 - 特許庁

例文

The method also includes a step of forming a Cu layer 7 there, a step of removing the surface of the Cu layer 7 by first chemical mechanical polishing, and further a step of removing the surface 6a of the barrier metal layer by second chemical mechanical polishing.例文帳に追加

そこにCu層7を形成して第1の化学機械研磨によってCu層7表面を除去し、さらに第2の化学機械研磨によってバリアメタル層表面6aを除去する。 - 特許庁


例文

To reduce the concentration of Mn remaining in a Cu layer and to reduce the specific resistance when a diffusion barrier film including Mn is formed by self-forming reaction at an interface between the Cu layer and an insulating layer.例文帳に追加

Cu層と絶縁膜の界面に自己形成反応により、Mnを含む拡散バリア膜を形成する際に、Cu層中に残留したMnの濃度を低減し、比抵抗を低減する。 - 特許庁

A Y-Ba-Cu-O system thin film laminate is provided, which has a LaNiO_3 thin film layer formed on the surface of a substrate material and a Y-Ba-Cu-O system thin film layer formed on the LaNiO_3 thin film layer.例文帳に追加

基板材料の表面に形成したLaNiO_3薄膜層と、当該LaNiO_3薄膜層の上に形成されたY−Ba−Cu−O系薄膜層を有することを特徴とする。 - 特許庁

In the plating step, the Cu plating layer 6 and the Zn plating layer 7 are formed on the surface of the metallic base wire 3 so that a Cu content can be 51 to 61 wt.% of the brass plating layer 4 after having been solidified.例文帳に追加

このとき、凝固後のブラスめっき層4のCu含有比が51〜61wt%となるように、金属素線3の表面にCuめっき層6及びZnめっき層7を形成する。 - 特許庁

In the method for producing a copper alloy strip, plating of an Ni layer 2 is applied to the surface of a Cu alloy base material 1, successively, Cu plating of a Cu layer 3 and Sn plating of an Sn layer 4 are applied thereto in such a manner that the ratio of the Sn plating thickness/the Cu plating thickness is controlled to ≤6, and thereafter, reflowing treatment is performed.例文帳に追加

銅合金条の製造方法において、Cu合金母材1の表面にNi層2のめっきを施した後、続いてCu層3のCuめっき、Sn層4のSnめっきを、Snのめっき厚さ/Cuのめっき厚さ比が6以下となるように施した後、リフロー処理を行う。 - 特許庁

例文

The middle layer can be selected from the group of Cu, Hg, Ag, Pt, and Au.例文帳に追加

中間層は、Cu、Hg、Ag、PtおよびAuのグループから選択することができる。 - 特許庁

例文

A wiring body layer 46 with Cu as a main component is buried in the aperture 42.例文帳に追加

開口部42内にCuを主成分とする配線本体層46が埋め込まれる。 - 特許庁

Reaction of Nb in Cu advances further, and increases the superconductive layer of Nb_3Sn.例文帳に追加

Cu中のNbはさらに反応が進み、Nb_3Snの超電導層を増加させる。 - 特許庁

Finally, the printed region on the Cu layer is removed by means of a peroxodisulfate etching bath.例文帳に追加

最後にCu層の印刷領域を、ペルオキソジスルファート・エッチング浴を使用して除去する。 - 特許庁

In the contact hole 18, a Cu seed layer 17a is formed only near the bottom part.例文帳に追加

コンタクトホール18において、底部近傍にのみCuシード層17aが形成されている。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an electronic device having anticorrosion effect to a Cu layer.例文帳に追加

Cu層に対する防食効果を有する電子装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Thus, an upper part 2a of the side of the Cu electrode layer 2 is formed in a forward taper shape.例文帳に追加

これにより、Cu電極層2の側面上部2aを順テーパ形状とする。 - 特許庁

The Cu film 12F is a thin film which does not have a passage pattern functioning as a barrier rib layer.例文帳に追加

Cu膜12Fは隔壁層として機能する流路パターンを持たない薄膜である。 - 特許庁

Dielectric paste is applied so as to cover a Cu wiring layer on a ceramic base.例文帳に追加

セラミック基板1上のCu配線層12を覆うように誘電体ペーストを塗布する。 - 特許庁

The metal layer 3 contains elements such as Cu, Ni, Au, Pd, etc., and is formed by plating and sticking.例文帳に追加

メタル層3は、Cu、Ni、Au、Pd等であり、メッキ及び貼付けにより形成する。 - 特許庁

The absorption layer 4 is made typically of a compound containing Cu, In and Se.例文帳に追加

光吸収層4は典型的にはCu、InおよびSeを含む化合物からなる。 - 特許庁

The foundation electrode layer 15 includes a metal which can be diffused in Cu and a ceramic binding material.例文帳に追加

下地電極層15は、Cuに拡散し得る金属と、セラミック結合材とを含む。 - 特許庁

Outside of the reaction part 1B, an outer layer part composed of Cu or the like may be provided.例文帳に追加

反応部1Bの外側に、Cuなどよりなる外層部を設けるようにしてもよい。 - 特許庁

The manufacturing method for the substrate for the power module has a first plating process, in which an NiP plating layer 6 is formed by carrying out an NiP electroless plating on the metallic substrates 2 and 3, and a Cu attaching process in which Cu atoms are attached on the NiP plating layer to form a Cu atom layer 7.例文帳に追加

金属基板2、3上にNiP無電解メッキを施してNiPメッキ層6を形成する第1のメッキ工程と、前記NiPメッキ層上にCu原子を付着させてCu原子層7を形成するCu付着工程とを有する。 - 特許庁

The wiring pattern 3 for the signal wire, of a specific height t_1 is formed on a Cu layer 6 of a bilayer tape 7 composed of a base 5 and the Cu layer 6, and the wiring pattern 15 for ground, of a height t_2 (>t_1) is formed on the Cu layer 6 of the other bilayer tape 14.例文帳に追加

基板5とCu層6からなる2層テープ7のCu層6上に所定高さt1 の信号線用の配線パターン3を形成すると共に、他の2層テープ14のCu層6上に高さt2 (>t1 )のグランド用の配線パターン15を形成する。 - 特許庁

Furthermore, when a film of Cu layer/Cu alloy layer/Cu plated buried layer 6 is formed, by conducting this at a room temperature, with the result that a close adhesion between the respective laminated layers have full strength, and a leveling process by a CMP in a next step can be executed.例文帳に追加

またCu層/Cu合金層/Cuメッキ埋め込み層の成膜時の基板温度は何れも室温で行うことで、各積層間の密着性は十分な強度をもつものとなり、次工程のCMPによる平面化処理を実施することができる。 - 特許庁

As a recording layer with a thickness of 2-4 nm, a first reaction layer the main component of which is Si, a second reaction layer the main component of which is Cu, and a barrier layer the constitutent of which comprises an element which does not form an alloy with Si and Cu and are provided between the first reaction layer and the second reaction layer.例文帳に追加

記録層として、主成分がSiである第1反応層、主成分がCuである第2反応層および第1反応層と第2反応層の間に構成元素がSi及びCuと合金を形成しない元素からなる厚み2nm以上4nm以下のバリア層を設ける。 - 特許庁

When forming a BTA-Cu compound layer made of a BTA-Cu compound on the surface of a wiring layer 7 by dipping the wiring layer 7 in a BTA solution 22, voltage is applied with the wiring layer 7 as an anode.例文帳に追加

配線層7をBTA溶液22に浸漬させ、この配線層7表面に、BTA−Cu化合物からなるBTA−Cu化合物層を形成するにあたって、この配線層7をアノードとして電圧を印加する。 - 特許庁

The nonmagnetic layer 2 is made of Cu, a first magnetic layer 3A and a second magnetic layer 3B are made of CoFeB, and a first insulating layer 4A and a second insulating layer 4B are made of MgO.例文帳に追加

非磁性層2はCuからなり、第1磁性層3A及び第2磁性層3BはCoFeBからなり、第1絶縁層4A及び第2絶縁層4BはMgOからなる。 - 特許庁

A wiring layer HL of a top layer having a Cu layer 107 embedded in a trench hole 108 and a via hole 109 is formed on a wiring layer LL of a lower layer by the damascene method.例文帳に追加

下層の配線層LLの上に、トレンチホール108及びビアホール109に埋め込まれたCu層107を有する最上層の配線層HLをダマシン法により形成する。 - 特許庁

When flexibility is emphasized in particular, a plate thickness of the Cu coating steel plate 20 including the Cu coating layer 12 is 0.02-2.00 mm.例文帳に追加

特にフレキシブル化を重視する場合は、Cu被覆鋼板20のCu被覆層12を含む板厚は例えば0.02〜2.00mmである。 - 特許庁

The electrolyte layer 3 is formed of Li_2S-P_2S_5 based solid electrolyte, the electrode extraction part 20 is formed of a Cu foil, and the insulating film 25 is formed of Li_2CO_3.例文帳に追加

電解質層3はLi_2S‐P_2S_5系固体電解質で形成され、また、電極取り出し部20はCu箔で形成され、絶縁膜25はLi_2CO_3で形成されている。 - 特許庁

Due to Cu layer not being formed, a cylindrical electrode film 6 whose electrical resistance value is low, without precipitation of Cu oxide, is provided.例文帳に追加

Cu層が形成されていないことにより、Cu酸化物の析出のない、かつ、電気抵抗値が小さい筒状電極膜6が得られる。 - 特許庁

To enhance characteristics of a sliding member by sufficiently exerting characteristics of a solid lubricating coating layer applied to Al-based and Cu-based bearing alloy surfaces.例文帳に追加

Al系及びCu系軸受合金表面に施される固体潤滑コーティング層の特性を十分に発揮させ、摺動部材の特性を高める。 - 特許庁

The W cap film is formed selectively on the surface of the Cu wiring film after a pre-treatment, and an upper-layer Cu wiring is further manufactured.例文帳に追加

前処理後、Cu系配線膜表面上に選択的にWキャップ膜を形成し、その後さらに上層Cu配線を製作する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device manufacturing method capable of preventing the generation o a projection on a copper (Cu) wiring layer and preventing the diffusion of Cu.例文帳に追加

銅(Cu)配線層の突起の発生を防止してCuの拡散を防止することができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

At the outer circumferential portion of the bottom faces of the concave portions 10 to 13 on the metallization layer 9, the metallization layer 9 and a Cu-plating layer undergoing metal reaction.例文帳に追加

そして、金属層9の凹部10〜13底面の外周部では、金属層9とCuメッキ層19とが金属反応している。 - 特許庁

The electromagnetic shield layer 15 is composed of a first electromagnetic wave shield layer 17 formed of Cu, and a second electromagnetic wave shield layer 19 formed of Ni.例文帳に追加

電磁波シールド層15は、Cuから成る第1電磁波シールド層17と、Niから成る第2電磁波シールド層19とから構成される。 - 特許庁

On a wiring layer 11 in the opening region 15, a protruding part 16 comprising, for example, a Cu plated layer is formed.例文帳に追加

開口領域15内の配線層11上に、例えば、Cuメッキ層から成る突出部16が形成される。 - 特許庁

It has a metal layer 4 containing a Cu or Zn layer 3 formed at least in a part on its outer periphery.例文帳に追加

外周部の少なくとも一部に、CuまたはZnからなる層3を含む金属層4が形成されている。 - 特許庁

In the opening region 29, a metal layer 34 for plating and a Cu plating layer 36 are laminated on the electrode 26 for connection.例文帳に追加

開口領域29では、接続用電極26上にメッキ用金属層34、Cuメッキ層36が積層される。 - 特許庁

The plated layer 22 is formed by plating the surface of the metallized layer 21 with Cu or Ag.例文帳に追加

メッキ層22は、焼成した下地メタライズ層21の表面にCuメッキ又はAgメッキにより形成したものである。 - 特許庁

The first lubricating layer 3A can be formed of pure copper and the second lubricating layer 3B can be formed of the Cu-Ni alloy.例文帳に追加

第1潤滑層3Aを純銅で、第2潤滑層3Bを前記Cu−Ni合金で形成することができる。 - 特許庁

To etch a Cu layer and a base layer by one treatment during reactive ion etching with iodine as a principal.例文帳に追加

ヨウ素を主体として反応性イオンエッチング時に、Cu層及び下地層を一回の処理でエッチングできるようにする。 - 特許庁

An inner layer is made of nanoparticles coated with Cu or Al, and an outer layer is made of nanoparticles coated with Cr.例文帳に追加

内層は、銅(Cu)あるいはアルミ(Al)で覆われたナノ粒子で、外層は、クローム(Cr)に覆われたナノ粒子である。 - 特許庁

To improve the reliability of a wiring layer and a via plug layer in regard to a semiconductor device with the wiring layer containing copper (Cu) and the via plug layer containing aluminum (Al).例文帳に追加

Cuを含有する配線層及びAlを含有するビアプラグ層を備える半導体装置に関し、配線層及びビアプラグ層の信頼性を向上させること。 - 特許庁

In the module, an Ni layer 5 is formed on a Cu layer 4 in the electrodes 12 and 13, a surface layer 6 is formed on the layer 5.例文帳に追加

これらの下部電極12及び上部電極13は、Cu層4の上に、Ni層5が形成され、更にNi層5の上に、表面層6が形成されて、構成されている。 - 特許庁

The conducting material has a Cu-Sn alloy covering layer consisting mainly of a Cu_6Sn_5 phase, and an Sn covering layer, which are formed in this order on the surface of a base material composed of a Cu alloy plate strip.例文帳に追加

Cu合金板条からなる母材の表面に、Cu_6Sn_5相を主体とするCu−Sn合金被覆層と、Sn被覆層がこの順に形成された導電材料。 - 特許庁

In the method of manufacturing the semiconductor device, a Cu wiring layer 13 is formed by electrolytic plating, and a resin film 14 is formed to cover the Cu wiring layer 13.例文帳に追加

本発明の半導体装置の製造方法では、電解メッキ法によりCu配線層13を形成し、Cu配線層13を被覆するように樹脂膜14を形成する。 - 特許庁

According to the method for manufacturing the semiconductor device, after forming the Cu layer 4 on an insulating film 2 for filling wiring grooves 1 in the insulating film 2 by electroplating, the surface of the Cu layer 4 is sputtered by using rare gas ions.例文帳に追加

絶縁膜2上に、絶縁膜2に形成された配線溝1を埋め込むCu層4を電気めっきで形成したのち、Cu層4の表面を稀ガスイオンを用いてスパッタする。 - 特許庁

例文

Cu wirings 24 protruding onto a third interlayer film 17 and the third interlayer film 17 are coated with a coating layer 31 made of PBO having characteristic of capturing Cu (Cu ion).例文帳に追加

第3層間膜17およびこの第3層間膜17上に突出するCu配線24は、Cu(Cuイオン)を捕獲する性質を有するPBOからなる被覆層31によって被覆されている。 - 特許庁




  
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