「diffraction instrument」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING X-RAY DIFFRACTION INSTRUMENT例文帳に追加

Ｘ線回折装置の制御方法及び制御装置 - 特許庁

INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

Ｘ線回折測定装置およびＸ線回折測定方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION MEASURING INSTRUMENT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

Ｘ線回折測定装置およびＸ線回折測定方法 - 特許庁

X-RAY DIFFRACTION MEASURING INSTRUMENT EQUIPPED WITH DEBYE-SCHERRER OPTICAL SYSTEM AND X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

デバイシェラー光学系を備えたＸ線回折測定装置とそのためのＸ線回折測定方法 - 特許庁

ALIGNING METHOD, POINT DIFFRACTION INTERFERENCE MEASURING INSTRUMENT, AND HIGH-ACCURACY PROJECTION LENS MANUFACTURING METHOD USING THE SAME INSTRUMENT例文帳に追加

アライメント方法、点回折干渉計測装置、及び該装置を用いた高精度投影レンズ製造方法 - 特許庁

FRESNEL ZONE PLATE, AND INSTRUMENT AND METHOD FOR MEASURING X-RAY DIFFRACTION例文帳に追加

フレネルゾーンプレートおよびＸ線回折測定装置ならびにＸ線回折測定方法 - 特許庁

Three techniques of electron diffraction, microscopy and EELS can be combined in a single instrument without sacrifice of performance. 例文帳に追加

電子回折、顕微法、EELSの3つの技法は、性能の犠牲なしに1つの装置の中に結合できる。 - 科学技術論文動詞集

To provide a spectroscopic instrument and detector that are improved in wavelength resolution and diffraction efficiency, and a method for manufacturing the spectroscopic instrument, etc.例文帳に追加

波長分解能と回折効率をともに向上できる分光装置、検出装置及び分光装置の製造方法等を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and an instrument for measuring diffusion of a biosubstance by a transient diffraction grating method.例文帳に追加

過渡回折格子法による生体物質の拡散測定方法及び装置を提供しようとする。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction measuring instrument equipped with a Debye-Scherrer optical system eliminating the shading due to a conventional analyzer and excellent in resolving power, and a X-ray diffraction measuring method therefor.例文帳に追加

従来のナライザによるけられ（遮蔽）を解消し、分解能に優れたデバイシェラー光学系を備えたＸ線回折測定装置とそのための方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a measuring instrument for array waveguide diffraction grating which can measure the accurate optical path length of an array waveguide diffraction grating to light of 1.5 μm in wavelength.例文帳に追加

アレイ導波回折格子の波長１．５μｍの光に対する正確な光路長を測定することができるアレイ導波回折格子の測定装置を提供する。 - 特許庁

To adjust a position and an inclination of each diffraction grating without using a highly precise measuring instrument in a radiography system for taking a phase contrast image by using a plurality of diffraction gratings.例文帳に追加

複数枚の回折格子を使用して位相コントラスト画像を撮影する放射線撮影システムにおいて、高精度な測定器を使用せずに各回折格子の位置や傾きを調整する。 - 特許庁

A mark-off line 2 is provided to the substrate 1 in parallel to a crystal azimuth for performing an OF process by use of an X-ray diffraction instrument.例文帳に追加

この基板１に対し、Ｘ線回折装置を用いてＯＦ加工を施す結晶方位に平行なケガキ線２を付ける。 - 特許庁

To provide an instrument for measuring a defect of periodic structure in a inspected object, without depending on a method of detecting diffraction light of specified order, when the diffraction light of the each order is generated at a small angle.例文帳に追加

各次数の回折光が小さい角度で生じる場合、特定の次数の回折光を検出する方法によらず、被検査物の周期構造の欠陥を検出する装置を提供すること。 - 特許庁

This instrument is applied to a physical quantity measurement system which has more than one Bragg diffraction grating formed in an optical fiber on which a measurement light is made incident and detects the wavelength of the reflected light from each Bragg diffraction grating to measure physical quantities at the position of the Bragg diffraction grating.例文帳に追加

測定光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムに適用される。 - 特許庁

To provide a near field rotatory polarization measuring instrument having a spatial resolution of light diffraction limit or more.例文帳に追加

本発明の目的は光の回折限界以上の空間分解能を有する近接場旋光測定装置を提供することにある。 - 特許庁

In this way, since lenses or the diffraction lattices are not used, the concentration measuring instrument of hemoglobin can be made compact and the complexities of measurement in immunological method is reduced; and a small-sized stable concentration measuring instrument of hemoglobin of high accuracy or a HbA1c measuring instrument can be realized.例文帳に追加

このように、レンズや回折格子を使用しないため装置の小型化が可能で免疫法のように測定の煩雑さも少なく、小型で安定した高精度なヘモグロビン濃度測定装置或いはＨｂＡ１ｃ測定装置を実現することができる。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL ELEMENT, THE OPTICAL ELEMENT, INSPECTION DEVICE LOADED WITH THE ELEMENT, AND EXPOSURE DEVICE AND POINT DIFFRACTION TYPE INTERFERENCE MEASURING INSTRUMENT PROVIDED WITH THE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

光学素子の製造方法、光学素子、該素子を搭載した検査装置、該検査装置を備えた露光装置及び点回折型干渉計測定装置 - 特許庁

To provide an instrument and a method of high precision and high sensitivity for measuring X-ray diffraction having 0.1 μm order of spatial resolution.例文帳に追加

０．１μｍオーダの空間分解能を有する高精度・高感度なＸ線回折測定装置およびＸ線回折測定方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain a small-sized zoom lens having a good performance over the whole zooming region and the whole object distance by using a diffraction optical element, and to obtain an optical instrument using the zoom lens.例文帳に追加

回折光学素子を利用し、全ズーム域・全物体距離にわたって良好な性能を有する小型のズームレンズ及びそれを用いた光学機器を得ること。 - 特許庁

This wavelength measuring instrument guides the light from a wide-band light source to Bragg diffraction gratings through an optical fiber, makes reflected lights from the Bragg diffraction gratings on an array waveguide diffraction grating, and measures the wavelengths of the reflected lights from the logarithm of the ratios of photocurrents generated by couples of photodetecting elements provided at output channels of the array waveguide diffraction grating.例文帳に追加

広帯域光源からの光を光ファイバを介して複数のブラッグ回折格子に導き、各ブラッグ回折格子からの反射光をアレイ導波路回折格子に入射させ、このアレイ導波路回折格子の複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子による光電流の比の対数に基づいて前記反射光の波長を測定する波長計測装置に関する。 - 特許庁

To provide an airtight sample holder for x-ray diffraction measurement which is a holder to be used for holding a measurement target sample in a measurement instrument in an airtight state in x-ray diffraction measurement and is capable of easily setting a sample and preventing occurrence of such a problem that diffraction from a portion such as an x-ray transmission window other than the sample may be detected.例文帳に追加

Ｘ線回折測定において測定対象試料を気密状態で測定装置内に保持するために使用されるホルダーであって、試料のセットが容易で、かつＸ線透過窓等の試料以外の部分からの回折を検出する問題も生じさせないＸ線回折測定用気密試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

To provide an optical displacement measuring instrument that uses coherent parallel light with fewer optical components and achieves resolution being equal to or higher than the period of a diffraction lattice for optical displacement measurement.例文帳に追加

少ない光学部品で可干渉平行光を用い、光学的に変位測定用回折格子の周期以上に高い分解能を実現する光学式変位測定装置を提供する。 - 特許庁

The instrument with function of both the X-ray diffraction (XRD) and the X-ray fluorescence (XRF) measurement deploys an X-ray source 10 generating the incident X-ray beam aiming at samples on a sample stand.例文帳に追加

X線回折XRDおよびX線蛍光測定XRFの両方の機能をもつ機器が、試料台上の試料に向けられる入射X線ビームを生成するX線源１０を配置している。 - 特許庁

To provide a lattice cycle measuring instrument capable of accurately measuring the lattice cycle of a diffraction lattice having a fine cycle structure over a wide range in a short time.例文帳に追加

広範囲に微細な周期構造を有する回折格子の格子周期を短時間で正確に計測することができる格子周期計測装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The apparatus is constituted so as to arrange a diffraction grating at a desired position to an objective lens by arranging a piezo-electric element for moving the diffraction grating in the direction of focusing the transmission light from the objective lens in the optical pickup to be inspected, and driving the piezo-electric element based on data from an optical measuring instrument.例文帳に追加

本発明は、検査対象の光ピックアップの対物レンズからの透過光のフォーカス方向に回折格子を移動させるピエゾ素子を設けて、光学測定機器からのデータに基づきピエゾ素子を駆動して、対物レンズに対して回折格子を所望の位置に配置するよう構成した。 - 特許庁

To eliminate lightening facilities for preventing instrument failure due to lightning by using an FBG (optical fiber Bragg diffraction grating) that is an optical detection element as the sensing section of an angle sensor to be assembled into a displacement gauge and an inclinometer.例文帳に追加

変位計や傾斜計に組み込む角度センサの受感部として、光学的検知素子であるＦＢＧ（光ファイバブラッグ回折格子）を用い、落雷による計器故障を防止するための避雷設備を不要にする。 - 特許庁

Then this optical displacement measuring instrument finds the phase difference between two diffracted lights Lb1 and Lb2 generated by the two coherent lights La1 and La2 to detect the relative movement position of the diffraction grating 11.例文帳に追加

そして、この光学式変位測定装置では、この２つの可干渉光Ｌａ１，Ｌａ２により生じる２つの回折光Ｌｂ１，Ｌｂ２の位相差を求めて、回折格子１１の相対移動位置を検出する。 - 特許庁

To provide a diffraction grating display body with a recorded latent image such that it is difficult to decide its presence and contents by normal viewing and the contents can easily be confirmed without using any special device nor decision instrument.例文帳に追加

通常の目視では所在や内容を判別することが困難で、なおかつ特別な装置や判別器具を用いることなく容易にその内容を確認することができる潜像を記録した回折格子表示体。 - 特許庁

As the catalyst, a γ-alumina having a crystal structure such that diffraction beams having an intensity of 100 or more at five diffraction angles 2 θ measured by an X-ray diffraction instrument, that is, at 33°±1°, 37°±1°, 40°±1°, 46°±1°, 67°±1° are generated is used.例文帳に追加

本発明に係る排ガスの処理方法は、フッ素含有化合物を含む排ガスを、前記排ガス中の固形物を分離した後に触媒を用いて処理する方法であって、前記触媒として、Ｘ線回折装置で測定した回折角２θのうち、３３゜±１゜、３７゜±１゜、４０゜±１゜、４６゜±１゜、６７゜±１゜の５つの角度で強度１００以上の回折線が出現する結晶構造を有するγ−アルミナを用いることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a laser beam diffraction/scattering particle size distribution measuring instrument using a prismatic cell capable of reducing a sample amount, and provided with a temperature regulation mechanism capable of uniforming and regulating a temperature in the whole cell.例文帳に追加

サンプル量を少なくすることができる角柱セルを用いるとともに、セル全体の温度が均一かつ調整することが可能な温度調整機構を備えたレーザ光回折／散乱式粒度分布測定装置を提供する。 - 特許庁

To crystallize with a minute amount of a sample using a gel counter diffusion method, and to mount a crystal producing instrument as it is without taking out crystal to the sample holder of an X-ray diffraction device.例文帳に追加

ゲル・カウンタ・ディフュージョン法を用いて微量のサンプルで結晶化を実施できて、かつ、結晶を取り出すことなく結晶作製器具をそのままの状態でＸ線回折装置の試料ホルダーに取り付けることができるようにする。 - 特許庁

Monitoring lights λc_1-λc_8 having wavelengths different each other input from the light input part 4 are reflected by the first light wavelength photomultiplexing and demultiplexing filter 5, and are photodemultiplexed by an array waveguide diffraction grating type wavelength photomultiplexing and demultiplexing instrument 8.例文帳に追加

光入力部４から入力される互いに異なる複数の波長を持った監視光λｃ_１〜λｃ_８を第１の光波長合分波フィルタ５で反射し、アレイ導波路回折格子型波長合分波器８により分波する。 - 特許庁

This X-ray diffraction device has in X-ray measuring instrument for acquiring data for a pole diagram, a memory for storing the measuring data acquired by the X-ray measuring instrument, a display device for displaying an image and an image data forming circuit for forming the image data displayed on the display device based on the data stored in the memory.例文帳に追加

極点図のためのデータを得るＸ線測定装置と、そのＸ線測定装置によって得られた測定データを記憶するメモリと、画像を表示する表示装置と、メモリに記憶されたデータに基づいて表示装置に表示するための画像データを生成する画像データ生成回路とを有するＸ線回折装置である。 - 特許庁

This focal distance measuring instrument is equipped with a light source unit 2 for generating a collimated beam, a diffraction grating 3 for deflecting the collimated beam at a deflection angle θ, and an imaging element 4 for detecting the position of a spot beam into which the deflected beam is formed through a tested lens TL.例文帳に追加

コリメート光を発生する光源ユニット２と、コリメート光を偏向角θで偏向させる回折格子３と、偏向した光が被検レンズＴＬを通して結像するスポット光の位置を検出する撮像素子４とを備えている。 - 特許庁

This EUV ray spectrum measuring instrument concerned in the present invention for measuring the spectrum of the EUV ray emitted from the divergent center of the EUV ray source has a driving mechanism for making a spectrum measuring means having a spectral diffraction element and a detector having spatial resolution along a spectral dispersion direction by the spectral diffraction element movable with respect to the divergent center.例文帳に追加

上記課題を解決するために、本発明に係るＥＵＶ光スペクトル測定装置は、ＥＵＶ光源の発散中心点から発散するＥＵＶ光のスペクトルを測定する装置であって、分光素子と該分光素子による分光方向に空間分解能を有する検出器を有するスペクトル測定手段を前記発散中心点に対して移動可能とする駆動機構を有することを特徴とする。 - 特許庁

The combination spectrograph is constituted to make respective wavelength dispersing directions of a parallel interferometer A of high wavelength dispersion and a diffraction grating B of low wavelength dispersion orthogonal each other, and a two-dimensional array type optical detecting part 50 is provided to detect light dispersed two-dimensionally by the spectrograph, so as to constitute the optical measuring instrument.例文帳に追加

高波長分散の平行干渉計（A）と低波長分散の回折格子（B）をそれぞれの波長分散方向が直交するように組合せ分光装置を構成し、分光装置で、２次元的に広がった光を２次元アレイ型光検出部（５０）を設け、光計測装置を構成する。 - 特許庁

To provide an optical disc inspecting instrument which accomplishes an inspection to determine whether the width and depth of a track groove of an inspection disc meet an allowable range or not based on the results obtained from the detection of primary to higher order diffraction light by a photo detector as generated when the inspection disc is irradiated with an inspection laser.例文帳に追加

検査レーザーを検査ディスクに照射したことにより生じる１次乃至高次回折光を１の受光素子で受光した結果から、検査ディスクのトラック溝幅及び深さが許容範囲を満たすものであるか否かを検査する光ディスク検査装置を提供する。 - 特許庁

The temperature measuring instrument includes an optical fiber 3 equipped with a plurality of diffraction grating sections 33 formed at intervals in its core 31, and pads 6 which bury at least parts where the grating sections 33 are formed of the optical fiber 3, and are fixed to the temperature measuring object 2.例文帳に追加

コア３１に複数の回折格子部３３が間隔をあけて形成された光ファイバ３と、光ファイバ３における少なくとも回折格子部３３の形成された部分が埋設されるとともに、温度の測定対象２に固定されるパッド６と、が設けられていることを特徴とする。 - 特許庁

The optical displacement measuring instrument 40 has optical paths of two coherent lights La1 and La2 formed obliquely to the direction perpendicular to the grating surface 11a of a diffraction grating 11, i.e., on a slanting surface m2, and irradiates the same point on the said grating surface 11a with the two coherent lights La1 and La2.例文帳に追加

光学式変位測定装置４０では、２つの可干渉光Ｌａ１，Ｌａ２の光路を回折格子１１の格子面１１ａに垂直な方向に対して傾いた方向、すなわち、傾斜面ｍ２上に形成して、この２つの可干渉光Ｌａ１，Ｌａ２を上記回折格子１１の格子面１１ａ上の同一点に照射する。 - 特許庁