「in process test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

METHOD FOR ESTIMATING TEST PROCESS PERIOD IN SOFTWARE DEVELOPMENT例文帳に追加

ソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法 - 特許庁

A test signal generating circuit 11 generates a test signal in a process of waveform adjustment.例文帳に追加

テスト信号発生回路１１は、波形調整の過程において、テスト信号を発生させる。 - 特許庁

First, a combination test confirmation extraction process 102 retrieves and extracts a process matching an input combination test confirmation process from program test patterns in a file 106.例文帳に追加

まず、組み合わせテスト確認抽出処理102は、入力された組み合わせテスト確認処理と一致する処理を、ファイル106内のプログラムテストパターンから検索・抽出する。 - 特許庁

METHOD, SYSTEM, AND SOFTWARE FOR EVALUATING ADJUSTMENT FACTOR IN TEST PROCESS OR MONITOR PROCESS例文帳に追加

試験プロセス又は監視プロセスにおいて調整因子を評価する方法、システム及びソフトウェア - 特許庁

To provide a method for estimating a test process period in software development capable of accurately calculating a test process period based on the information of the number of finished test items and the number of discovered errors until a cretin point of time in a test process.例文帳に追加

試験工程のある時点までの消化試験項目数と発見エラー数の情報に基づいて試験工程期間を適確に算出し得るソフトウェア開発における試験工程期間見積り方法を提供する。 - 特許庁

To enable shortening a test process in a semiconductor storage and to enable reducing power consumption in a burn-in test process.例文帳に追加

半導体記憶装置における検査工程を短縮できるようにし、また、バーンイン検査工程において、消費電力を低減できるようにする。 - 特許庁

A test pattern generation process 103 extracts and arranges an execution condition for the process extracted in the process 102 or a data operation retrieval process 104 from a program test patterns list, generates one test pattern and adds an ID thereto.例文帳に追加

テストパターン作成処理103は、処理102又はデータ操作検索処理104で抽出された処理の実行条件を、プログラムテストパターンの一覧から抽出・整理し、1つのテストパターンを作成し、IDを付与する。 - 特許庁

On the basis of correlation between information about the product and a test results of the second test process, the standard in the first test process is adjusted.例文帳に追加

そして、製品に関する情報と第２の検査工程の検査結果との相関関係に基づいて、第１の検査工程における基準を調整する。 - 特許庁

To obtain a wafer marking device being used in semiconductor wafer test process.例文帳に追加

半導体ウエハテスト工程にて使用されるウエハマーキング装置を得る。 - 特許庁

A test method has plural test flows corresponding to an estimated result of a process in a post-process test after assembly of a semiconductor memory, and a test flow is selected in accordance with an estimated result of a process measured by an estimation pattern at the time of a post-process test.例文帳に追加

検査方法は、半導体記憶装置の組立後の後工程検査において、プロセスの出来ばえ評価結果に対応する複数の検査フローを有し、後工程検査時に評価パターンにて測定したプロセスの出来映え評価結果に応じて検査フローを選択している。 - 特許庁

To simplify a burn-in test process in a wafer state, thus providing a compact device.例文帳に追加

ウェハ状態でのバーンイン試験の工程を簡素化し、装置のコンパクト化を計る。 - 特許庁

In a test pattern measuring process (ST12), the size of a test pattern transferred onto a wafer is measured.例文帳に追加

テストパターン測定工程ＳＴ１２において、ウェハ上に転写されたテストパターンの寸法を測定する。 - 特許庁

In the above case, the memory test is carried out through a sheet process sequence, in which the test is started from a test board where packing semiconductor devices is finished, and semiconductor devices are removed from a test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁

To obtain abnormality judging equipment and method being used in wafer test process.例文帳に追加

ウエハテスト工程にて使用される異常判定装置及びその方法を得る。 - 特許庁

To reduce a manufacturing cost and to shorten a manufacturing process in a process from an airtightness test to shipment.例文帳に追加

気密試験から出荷までの工程において、製造コストの低減と製造工程の短縮化を図る。 - 特許庁

This method has a process of performing one or more test cycles of an LBIST system in a device during the test.例文帳に追加

この方法は、テスト中のデバイス内のＬＢＩＳＴシステムの１つ以上のテストサイクルを行う工程を具備する。 - 特許庁

An image pickup signal obtained by test image pickup is stored in a digital process 108.例文帳に追加

テスト撮像で得られた撮像信号はディジタルプロセス１０８に格納される。 - 特許庁

To enable decision on quality of an overcurrent detection function in a wafer test process.例文帳に追加

ウエハテストの工程で過電流検出機能の良否判定を可能にする。 - 特許庁

Information and a reference value input and calculated in the engineering process are processed by a process control part, the process control part calculates all the tests to be executed by the test module and results obtained in the test process by the test module are provided to the process control part.例文帳に追加

エンジニアリングプロセス内に入力され、算出される情報及び基準値は、プロセス制御部によって処理され、プロセス制御部は、テストモジュールによって実行されるべき全てのテストを算出し、テストモジュールによりテストプロセスで得られた結果は、プロセス制御部に提供される。 - 特許庁

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁

In this situation, if you run the test case when there is already a running process instance initiated by the same test case,the second process instance will not be initiated and the test will fail.例文帳に追加

この状況で、同じテストケースによって開始された実行中のプロセスインスタンスがすでにあるときにテストケースを実行した場合、2 番目のプロセスインスタンスは開始されず、テストは失敗します。 - NetBeans

To provide a mesh for accurate and highly reproducible observation of a test piece in a drawing process and further a test piece through the drawing process to a contraction process, and a method of observation of a test piece using the mesh.例文帳に追加

延伸過程にある試験片、さらに延伸過程から収縮過程にある試験片の精密で再現性よい観察を可能にするメッシュ及び該メッシュを用いた試験片の観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method in which a defect relieving process using an anti-fuse and a time required for its test process can be shortened.例文帳に追加

アンチヒューズを用いた不良救済工程及びそのテスト工程に要する時間を短縮できる半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test voltage is applied to the accumulation capacities in the element substrate (process S1).例文帳に追加

上記素子基板において、蓄積容量に試験電圧を印加する（工程Ｓ１）。 - 特許庁

The manufacturing method of the product includes: a creation process for creating the product; a first test process for testing the product; and a second test process for testing a part of products that meet a standard in the first test process.例文帳に追加

製品の製造方法において、製品を作製する作製工程と、この製品を検査する第１の検査工程と、第１の検査工程において基準を満たした製品のうち、一部の製品について検査する第２の検査工程と、を設ける。 - 特許庁

Whether a test command from a test command output device has been received or not is confirmed in a variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

変動パターンコマンド受信待ち処理にて、テストコマンド出力装置からのテストコマンドを受信したか否か確認する。 - 特許庁

A probe reacting with a biosubstance is immobilized in the test site, in a following process.例文帳に追加

テストサイト１１２には、後の工程において、生体関連物質と反応するプローブが固相化される。 - 特許庁

To provide semiconductor test equipment and a semiconductor test method which can conduct a test for defects with high accuracy in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程における欠陥検出検査を高精度で行うことが可能な半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

In an erase process to erase the test write data recorded in the test area, CW erase is performed (a step S104) and reproduction of the test write data is attempted (a step S106).例文帳に追加

テストエリアに記録された試し書きデータを消去する消去工程では、ＣＷイレーズを行い（ステップＳ１０４）、試し書きデータの再生を試行する（ステップＳ１０６）。 - 特許庁

To prevent damaging of a test device in a test process, by cutting off damaging due to separating in a transfer process, since a semiconductor element is not normally installed in an insert.例文帳に追加

半導体素子がインサートに正常に装着されないことにより、移送される過程で離脱して破損することを遮断し、更に、テスト過程でテスト装置を損傷させるのを防止する。 - 特許庁

Irradiation is sensed by a test module for monitoring a weathering test process from an improved location, in the manner in which the specimens are exposed to irradiance.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

SYSTEM ALLOWING SHEAR BOX TO FREELY ROTATE IN SHEARING PROCESS OF SINGLE SHEAR TEST例文帳に追加

一面せん断試験のせん断過程において自由にせん断箱が回転できるシステム - 特許庁

To test mechanical excitation without any electrical contact in the initial manufacturing process.例文帳に追加

初期の製造工程において、電気的な接触なくとも機械的励起の試験を行う。 - 特許庁

In the sixth process, wafer probing 5 is performed for an electrical property test of semiconductor wafer.例文帳に追加

第６工程で、半導体ウエハの電気的特性試験のためにウエハプロービング５をする。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

Next, the metal test piece 2 in which the plating layer 3 is formed is embedded in resin 4 to obtain a metal test piece 2 in a resin embedding and grinding process.例文帳に追加

次いで、メッキ層３を形成した金属試験片２を樹脂埋め込み・研磨工程により樹脂４に埋め込んだ金属試験片３をうる。 - 特許庁

In this method of manufacturing the high-purity gas-filled vessel, the high-purity gas-filled vessel is pressured in a test by hydraulic pressure in a pressure test process.例文帳に追加

高純度ガス充填容器の製造方法において、耐圧試験工程では、高純度ガス充填容器に対して水圧による耐圧試験を行う。 - 特許庁

To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.例文帳に追加

ＰＬＬ回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁

Each Test Case in the Composite Application project will attempt to send the input message to the target process when you invoke the Test action.例文帳に追加

「テスト」アクションを呼び出すと、複合アプリケーションプロジェクト内の各テストケースが入力メッセージをターゲットプロセスに送信しようとします。 - NetBeans

ASYNCHRONOUS CODE TEST METHOD, COMPUTER PROGRAM PRODUCT, COMPUTER SYSTEM, AND PROCESS (ASYNCHRONOUS CODE TEST IN INTEGRATED DEVELOPMENT ENVIRONMENT (IDE))例文帳に追加

非同期コード・テスト方法、コンピュータ・プログラム製品、コンピュータ・システムおよびプロセス（統合開発環境（ＩＤＥ）における非同期コード・テスト） - 特許庁

To output a test result to the outside in a short time of a wafer test in a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit including a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリを含む半導体集積回路の製造工程におけるウェハテストにおいて、短時間にテスト結果を外部に出力させる。 - 特許庁

To accurately and timely manage the progress state of a test process without arranging a full-time manager for managing the progress state of a test process in each group.例文帳に追加

各グループ毎にテスト工程の進捗状況を管理する専任の管理者を配置することなく、テスト工程の進捗状況を正確にかつタイムリーに管理する。 - 特許庁

At the start of a test process, the information of test item inputted to a test terminal 1 is transferred to a test management server 3 through a host computer 2 and registered in a progress management DB 5 by a test registering function 33 of the server 3.例文帳に追加

テスト工程開始時には、テスト端末機１に入力されたテスト項目の情報を、ホストコンピュータ２を介してテスト管理サーバ３に転送し、テスト管理サーバ３のテスト登録機能３３により進捗管理ＤＢ５に登録する。 - 特許庁

Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁