「integrated method」に関連した英語例文の一覧と使い方(111ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide the manufacturing method of an integrated semiconductor optical device which improves the characteristics and performance of the device.例文帳に追加

デバイスの特性および性能を向上することのできる集積型半導体光デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor integrated circuit device capable of screening according to a power source current at the time of standing still.例文帳に追加

静止時、電源電流によるスクリーニングが可能な半導体集積回路装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an integrated circuit, in which a polishing head is used with a polishing device.例文帳に追加

本発明は、研磨装置において研磨用ヘッドを使用して集積回路を製造するための方法を提供する。 - 特許庁

As an attaching method, just by fixing an exclusive joint material after insertion, the handrail body is integrated and becomes strong.例文帳に追加

取付方法としても差し込み後に、専用の継手材を固定するだけで手摺本体が一体化し強固な物となる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an integrated circuit which has a improved fuse structure and a laser fuse link.例文帳に追加

改良されたヒューズ構造部およびレーザ・ヒューズ・リンクを有する集積回路を製作するための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of programming a memory device of a one-time programmable type and an integrated circuit incorporating the memory device.例文帳に追加

ワンタイム・プログラマブル・タイプのメモリ素子をプログラミングする方法および該メモリ素子を組み込む集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a designing method of a semiconductor integrated circuit that can be designed quickly.例文帳に追加

本発明は、短期間で設計することが可能な半導体集積回路の設計方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a non-volatile memory element which can be easily and highly integrated and has high reliability, and a manufacturing method thereof.例文帳に追加

高集積化が容易で、且つ高い信頼性を有する不揮発性メモリ素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an microminiature integrated structural body capable of removing or reducing residual stress considerably.例文帳に追加

残留応力を除去し又は相当に低減し得る超小型集積構造体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To improve a hybrid integrated circuit device in reliability by a method wherein a semiconductor bonded to a heat sink is enhanced in heat dissipating.例文帳に追加

ヒートシンクにダイボンディングされた半導体の放熱効果を向上させて信頼性を改善することを目的とする。 - 特許庁

In the testing method of the semiconductor integrated circuit for detecting a short between pins of the semiconductor integrated circuit having a plurality of pins, the IC tester or the semiconductor integrated circuit generates a pulse or step signal in a desired pin of the semiconductor integrated circuit, and the IC tester determines a short between pins based on the waveform from the pin of the semiconductor integrated circuit adjacent to the desired pin.例文帳に追加

本発明は、複数のピンを有する半導体集積回路のピン間ショートを検出する半導体集積回路の試験方法において、ＩＣテスタまたは半導体集積回路が、半導体集積回路の所望ピンにパルスまたはステップ信号を発生し、ＩＣテスタが、所望ピンに隣接する半導体集積回路のピンからの波形によりピン間ショートの判定を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

In this method, an intermediate setting file for storing setting information of each setting file, a forming method of a setting screen, and a forming method of a setting file is prepared so as to give them to a setting file integrated base.例文帳に追加

各設定ファイルの設定情報や設定画面の作成方法、設定ファイルの作成方法を格納する中間設定ファイルを用意し、設定ファイル統合基盤に与える。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR THIN FILM, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM TRANSISTOR AND THIN FILM TRANSISTOR, INTEGRATED CIRCUIT, ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

半導体薄膜の製造方法、半導体装置の製造方法及び半導体装置、薄膜トランジスタの製造方法及び薄膜トランジスタ、集積回路、電気光学装置、電子機器 - 特許庁

METHOD FOR IDENTIFYING NF1 SPECIFIC PROTEIN BY INTEGRATED PROTEOMICS, METHOD FOR INHIBITING NF1 SPECIFIC PROTEIN EXPRESSION, AND METHOD FOR USING NF1 SPECIFIC PROTEIN AS TUMOR MARKER AND THERAPEUTIC TARGET例文帳に追加

融合プロテオミクスによるＮＦ１特異的タンパク質の同定方法、ＮＦ１特異的タンパク質発現抑制方法、ＮＦ１特異的タンパク質の腫瘍マーカー及び治療ターゲットとしての使用方法 - 特許庁

To provide a testing method capable of checking the characteristic of a DLL circuit resulting from an internal operation of an integrated circuit device having a built-in DLL circuit, and to provide an integrated circuit device allowing the test.例文帳に追加

ＤＬＬ回路を内蔵する集積回路装置の内部動作に起因するＤＬＬ回路の特性をチェックできる試験方法及びかかる試験ができる集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high-reliability design method, or the like, of an integrated circuit device, in which a simulation with a higher degree of precision is performed, in an integrated circuit device where a digital circuit and an analog circuit are mounted, in a mixed manner.例文帳に追加

デジタル回路とアナログ回路を混載する集積回路装置において、より精度の高いシミュレーションを実行し、信頼性の高い集積回路装置の設計方法等を提供すること。 - 特許庁

This production method comprises forming and sintering the mixture of powdery copper and cuprous oxide powder to make an integrated sintered material, and then hot pressing the integrated sintered material to obtain a formed body having a prescribed shape.例文帳に追加

銅粉と亜酸化銅粉の混合物に成型および焼結処理を施して焼結一体化物とした後、この焼結一体化物に熱間プレス加工を施して所定の形状の成型体とする。 - 特許庁

To provide a laminated wiring board where the flip chip of an integrated circuit chip can easily be mounted, and a distance from a resistor and a capacitor from the integrated circuit chip can be shortened, and to provide a manufacturing method of the board.例文帳に追加

集積回路チップのフリップチップ実装が容易で、集積回路チップから抵抗やコンデンサまでの距離を短くすることの可能な積層配線基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device using a non-lead material, in a semiconductor integrated device formed with a circuit portion and a sensor portion on the same substrate; and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

回路部とセンサ部を同一基板上に形成した半導体集積装置において、非鉛材料を使用した半導体集積装置を提供するとともに、その作製方法を提供する。 - 特許庁

The method includes a step for providing the built-in microcontroller (103) on the same die as the integrated circuit, and a step for monitoring and controlling the VLSI environment of the integrated circuit by use of the built-in microcontroller (103).例文帳に追加

この方法は、組み込み型マイクロコントローラ(103)を集積回路と同じダイ上に設けるステップと、該組み込み型マイクロコントローラ(103)を用いて集積回路のＶＬＳＩ環境を監視制御するステップとを含む。 - 特許庁

To provide an operation mode setting device for improving adaptability to malfunction caused by a state change of a clock, and a semiconductor integrated circuit including the same, and a control method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

クロックの状態変化による誤動作に対する適応性を向上させる動作モード設定装置、それを含む半導体集積回路および半導体集積回路の制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new integrated fluid circuit having a reaction chamber to be heated, and also to provide a new method for transferring heat to the reaction chamber to be heated in the integrated fluid circuit.例文帳に追加

新規な加熱される反応チャンバを有する統合された流体回路、および統合された流体回路中の加熱される反応チャンバに熱を移動させる新規な方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which a countermeasure to avoid antenna effects is taken, and a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device in which the countermeasure can be readily taken to avoid the antenna effects.例文帳に追加

アンテナ効果回避対策を施した半導体集積回路装置、及びアンテナ効果回避対策を容易に施すことができる半導体集積回路装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a layout method of an integrated circuit device that allows a layout design of the integrated circuit device to be executed with less man-hours and in a short period of time, and further to provide a layout device, a program, an information storage medium and the like.例文帳に追加

少ない工数で、短期間に集積回路装置のレイアウト設計が可能な集積回路装置のレイアウト方法、レイアウト装置、プログラム及び情報記憶媒体等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating a semiconductor integrated circuit, capable of performing at high speed both detection of a defective transistor in a large scale semiconductor integrated circuit and measurement of characteristics of the defective transistor.例文帳に追加

大規模な半導体集積回路における不良トランジスタの検出と、不良トランジスタの特性の測定とを高速で行うことができる、半導体集積回路評価方法を提供する - 特許庁

To provide a screening method and a screening device for integrated circuit devices capable of detecting failures in the integrated circuit devices prior to the actualization of failures and removing initial failures in a short time.例文帳に追加

故障が顕在化する前に集積回路装置の故障を検出可能にすると共に、初期不良を短時間で除去することができる集積回路装置のスクリーニング方法及び装置を提供する。 - 特許庁

With the method, simple devices can be integrated into a dynamic machine (DM) so as to provide an end user with integrated access and management methods, thereby providing true flexibility and convenience.例文帳に追加

単純なデバイスを、この方法を介してダイナミック・マシン（ＤＭ）に組み立てて、統合されたアクセス方法および管理方法をエンドユーザに提供し、したがって、真の便宜および柔軟性をもたらすことができる。 - 特許庁

To provide an SOI semiconductor integrated circuit device for easily providing body potential contact in a horizontal form for allowing different conductivity type drains to be adjacent, and to provide a method for manufacturing the SOI semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

異なる導電型のドレイン同士を隣接させる横置き形態でボディー電位コンタクトを簡便に設けることが可能なＳＯＩ半導体集積回路装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an interactive method using an electronic computer whereby distributed information is integrated or integrated information is summarized so that the information is bundled according to the scene of conversation to provide natural conversation.例文帳に追加

本発明は、分散した情報を統合し又は統合した情報を要約することで情報を対話のシーンに合わせてまとめて自然対話を行う電子計算機による対話方法を提供する。 - 特許庁

To provide a design method of a semiconductor integrated circuit and a design support apparatus of the semiconductor integrated circuit suitable for preventing a wiring length from becoming long at the time of design change.例文帳に追加

設計変更を行うにあたって配線長が大きくなることを防止するのに好適な半導体集積回路の設計方法および半導体集積回路の設計支援装置を提供する。 - 特許庁

A method of forming an integrated circuit structure on a chip includes extracting an active layer from the design of the integrated circuit structure and forming a guard band conforming to the shape of the active layer.例文帳に追加

チップ上に集積回路構造を形成する方法は、集積回路構造の設計からアクティブ層を抽出することと、アクティブ層の形状に適合する保護バンドを形成することとを含む。 - 特許庁

ELECTIC FIELD ABSORPTION TYPE OPTICAL MODULATOR, SEMICONDUCTOR INTEGRATED ELEMENT WITH ELECTIC FIELD ABSORPTION TYPE OPTICAL MODULATOR, MODULE USING THEM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED ELEMENT WITH ELECTIC FIELD ABSORPTION TYPE OPTICAL MODULATOR例文帳に追加

電界吸収型光変調器、電界吸収型光変調器付き半導体集積素子、それらを用いたモジュール及び電界吸収型光変調器付き半導体集積素子の製造方法 - 特許庁

To store information in an SRAM block in a nonvolatile way, as regards a method for using a semiconductor integrated circuit provided with the SRAM block and the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明はＳＲＡＭブロックを備えた半導体集積回路の使用方法およびＳＲＡＭブロックを備えた半導体集積回路に関し、そのＳＲＡＭブロックに情報を不揮発的に記憶する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating the value of contact resistance in an integrated circuit system, which can measure integrated circuit electrically as to whether the value of contact resistance conforms to the specifications.例文帳に追加

本発明は集積回路を電気的に接触抵抗値が規格に合わないかを測定できる集積回路システムにおける接触抵抗値の評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an integrated type photovoltaic element, having satisfactory yield and at the same time, superior reliability in long use by preventing short- circuiting in a division groove, and to provide a method for manufacturing the integrated type photovoltaic element.例文帳に追加

分割溝におけるショートを防止することにより歩留まりが良好で、かつ長期使用時における信頼性の高い集積型光起電力素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric oscillator wherein the fixing strength between an integrated circuit element and a package is enhanced, the package the fixing strength of which to the integrated circuit element can be enhanced, and to provide a method of manufacturing the package.例文帳に追加

集積回路素子と収容器との固着強度の向上した圧電発振器、集積回路素子との固着強度を向上できる収容器、および収容器の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a control circuit of a power supply device achieved in the power saving of an integrated circuit and reducible in a delay time of the integrated circuit, and to provide the power supply device and its control method.例文帳に追加

集積回路の省電力化を図ることができると共に集積回路の遅延時間を短縮することができる電源装置の制御回路、電源装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which a plurality of circuits whose demanded values for circuit working speed and leakage current values are different are integrated on the same chip, and to provide a method of manufacturing it.例文帳に追加

要求される回路動作速度及びリーク電流値が互いに異なる複数の回路を同一チップ上に集積化した半導体集積回路及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scan path design method for detecting the failure of the whole semiconductor integrated circuit in a short period of time with less test patterns, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of functional macros.例文帳に追加

複数の機能マクロを装備する半導体集積回路において、より少ないテストパターンで短時間に半導体集積回路全体の故障検出が可能なスキャンパスの設計方法を得ること。 - 特許庁

To achieve a method of generating an identifier for identifying a semiconductor integrated circuit, even when a portion of the semiconductor integrated circuit has problems, without having to increase the chip area.例文帳に追加

チップ面積を増加させることなく、また、半導体集積回路の一部に不具合があるような場合であっても半導体集積回路を識別するための識別子の生成を行う方法を実現する。 - 特許庁

To provide a memory test method for a semiconductor integrated circuit in which a testing cost is reduced without providing an exclusive circuit for a memory test to perform a self-test of a memory incorporated in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたメモリの自己テストのためにメモリテスト専用回路を設けることなく、低コスト化を図った半導体集積回路のメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁

(2) An air-through method hot gas treatment is applied to the webs in their non-integrated states to thermally fuse the cross points of the fibers, thereby obtaining a fiber sheet in which the webs are integrated.例文帳に追加

（２）これらのウエブに対して、それらが一体化していない状態下に、エアスルー方式の熱風処理を施して繊維どうしの交点を熱融着させ、これらのウエブが一体化してなる繊維シートを得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device whose through wiring part can be made low in resistance and highly integrated without causing variation in transistor characteristic in a manufacturing stage, and its manufacturing method.例文帳に追加

製造工程においてトランジスタ特性の変動を招くことなく、貫通配線部の低抵抗化および高集積化が可能な半導体集積回路装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a designing method of a semiconductor integrated circuit by which the semiconductor integrated circuit with a small amount of wire routings, a small layout area and a small wire capacity can be achieved effectively.例文帳に追加

配線引き回しが少なく、レイアウト面積及び配線容量が小さい半導体集積回路を効率よく実現することが可能な半導体集積回路の設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁