「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(155ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an objective lens including a built-in electric component and an electrode allowing electric connection to the outside, to provide an external connecting means allowing electric connection with the electrode of the objective lens, and to provide a microscope having them.例文帳に追加

電気的部品を内蔵し、外部との電気的接続を可能にする電極を有する対物レンズと、この対物レンズの電極と電気的接続を可能にする外部接続手段と、これらを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The separator is obtained by molding a conductive composition comprising graphite particles in which crystallites having a mean size of 1-5 μm are oriented at random when observed under a polarization microscope, and a resin (e.g. a phenolic resin or a polyphenylene oxide resin).例文帳に追加

偏光顕微鏡で観察したとき、平均サイズ１〜５μｍの結晶子がランダムに配向している黒鉛粒子と、樹脂（フェノール樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂など）とで構成された導電性組成物を成形し、セパレータを得る。 - 特許庁

Further as one embodiment, the scanning electron microscope includes a function to correct conditions and the like in an apparatus such as magnification, focus, measuring coordinate and the like varied in accordance with a sample electrification, based on the measured sample height and the sample electrification.例文帳に追加

また、その一態様として、測定された試料高さや試料電位に基づいて、試料帯電によって変動する装置条件（例えば倍率，フォーカス，観察座標等）を補正する走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

The microscope 110 has an excitation light input port 112 for capturing excitation light from the excitation light source 130 and an output port 113 for outputting fluorescence generated by the excitation light.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡１１０は、励起光源部１３０からの励起光を取り込むための励起光入力ポート１１２と、励起光により発生された蛍光を出力するための出力ポート１１３とを有している。 - 特許庁

This secondary electron image observation device 10 is provided with an irradiation system 15 having a structure for observing a sample while scanning it with an electron microscope and capable of irradiating the sample with at least either of an ultraviolet ray and an X-ray.例文帳に追加

試料に対して電子顕微鏡を走査しながら観察を行う構成を有し、紫外光、Ｘ線の、少なくともいずれかを照射可能な、照射系１５を具備している二次電子像観察装置１０を提供する。 - 特許庁

The converged electron beam 2 allowed to irradiate a semiconductor device 1 from a transmission electron microscope 4 transmits through the semiconductor device 1 as transmitted electron beam 3 to be allowed to be incident on a magnetic field deflecting type energy filter 7 through a slit 5.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡４から半導体装置１に照射された収束電子線２は、透過電子線３として半導体装置１を透過し、スリット５を介して磁場偏向型エネルギーフィルタ７に入射される。 - 特許庁

The microscope 1 provided with an illuminating optical system 5, an objective lens 6, and a spectroscope 14 is provided with an imaging optical system 12 taking an entrance aperture 14a of the spectroscope 14 and a pupil surface 7 of the objective lens as a conjugate pair.例文帳に追加

照明光学系５、対物レンズ６および分光器１４を備える顕微鏡１において、分光器１４の入射開口１４ａと対物レンズの瞳面７とを共役とする結像光学系１２を備えるようにする。 - 特許庁

To evade failure in X-ray analysis caused by coming-out from a sample position where an X-ray is efficiently taken in, when executing the X-ray analysis following to sample observation by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡による試料観察に引き続いてＸ線分析を実行する場合に、試料の位置がＸ線を効率良く取り込める位置から外れていることでＸ線分析が失敗してしまうことを回避する。 - 特許庁

The states of the gluten skeleton, the oil drop and the starch granule in the wheat flour product is clearly captured by an optical microscope, by executing double staining of staining respectively a lipid and a protein with different colors using different staining liquids.例文帳に追加

脂質と蛋白質をそれぞれ異なる染色液で別色に染色する二重染色を行なう事で、小麦粉製品中のグルテン骨格，油滴，澱粉粒の状態を光学顕微鏡により明確に捉える事ができる。 - 特許庁

Particles of a heteropoly acid salt catalyst of formula (1) are observed with an electron microscope, the diameters of the individual particles in a photograph in a randomly extracted visual field are measured, and the arithmetic mean of the diameters is adopted as the average particle diameter.例文帳に追加

すなわち、電子顕微鏡で式（１）のヘテロポリ酸塩触媒粒子を観察して、無作為に抽出した視野の写真から粒子１つ１つの直径を測定して、その直径の相加平均を平均粒子径とする。 - 特許庁

The microscope system is also provided with a motor 10 for moving the objective lens 5 along the optical axis, and a controller 13 for adjusting a relative distance between the leading end part of the objective lens 5 and the sample table 3 by controlling the motor 10.例文帳に追加

顕微鏡装置は更に、対物レンズ５を光軸に沿って移動させるモーター１０と、モーター１０を制御して対物レンズ５の先端部と試料台３との間の相対距離を調節するコントローラー１３とを有している。 - 特許庁

Meanwhile, in the image processing device 5, a partial image extraction part 571 acquires the plurality of oblique illumination sample images photographed by the microscope 3, and extracts partial images from the respective oblique illumination sample images, based on the brightness distribution thereof.例文帳に追加

一方、画像処理装置５では、部分画像抽出部５７１が、顕微鏡３で撮像された複数の偏斜標本画像を取得し、各偏斜標本画像からその明るさの分布に基づいて部分画像を抽出する。 - 特許庁

When characterization of the tip of a diamond probe 1 for machining is needed, a high resolution scanning electron microscope observation at a high accelerating voltage is performed for the tip of the diamond probe 1 in use for machining under a water vapor atmosphere.例文帳に追加

加工用ダイヤモンド探針１の先端のキャラクタリゼーションが必要なときは使用している加工用ダイヤモンド探針1の先端を水蒸気雰囲気下での高加速電圧の高分解能走査電子顕微鏡観察を行う。 - 特許庁

The probe array can be used to produce traces of diffusively transferred chemicals with sub-1 micrometer resolution, and can function as an arrayed scanning probe microscope for subsequent reading of the variation of transferred patterns.例文帳に追加

プローブアレーは、拡散移転される化合物のトレースを、サブ１マイクロメートル解像度で生成するために使用されることができ、続いて移転されたパターンの変化を読み取る配列走査プローブ顕微鏡として機能することができる。 - 特許庁

In this electron microscope, the electrons are applied to a sample on the basis of the predetermined image observing condition, and a desired position of the sample can be observed with a desired observing magnification by detecting the secondary electrons or reflected electrons.例文帳に追加

電子顕微鏡は、所定の像観察条件に基づいて電子を試料に照射し、二次電子または反射電子を検出することで、試料の所望の位置を所望の観察倍率にて像観察することが可能である。 - 特許庁

To provide a stereoscopic observation apparatus capable of attaining both functions of a stereoscopic endoscope and a stereoscopic microscope while preventing the endoscope from becoming large in size, and also, capable of easily and quickly switching the functions.例文帳に追加

内視鏡が大型化することを防止しながら立体視内視鏡と立体視顕微鏡との両方の機能を併せ持つことができ、かつその切り替えを容易かつ迅速に行なうことができる立体視観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electric field modulation spectrum near-field optical microscope devised to analyze linear and nonlinear physical characteristics by obtaining a spectrum as optical responsiveness by electric field modulation in a local region of an nm order.例文帳に追加

ｎｍオーダの局所領域において電場変調による光学応答性としてのスペクトルを得、線形及び非線形の物理特性を解析するようにした電場変調スペクトル近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In addition, the manufactured glass substrate has a minute wave height (NRa) not larger than 0.15 nm measured on its surface by means of a three dimensional surface structure analyzing microscope through setting the measurement wave length (λ) to be 0.2-1.4 mm.例文帳に追加

また、製造されたガラス基板は、三次元表面構造解析顕微鏡を用い、測定波長（λ）を０．２〜１．４ｍｍに設定して測定された表面の微小うねりの高さ（ＮＲａ）が０．１５ｎｍ以下とされている。 - 特許庁

To enable an uneven shape corresponding to an interest region extracted from two-dimensional distribution of another physical quantity to easily and correctly be understood in a two-dimensional distribution image of a height of predetermined range obtained with an SPM (scanning probe microscope).例文帳に追加

ＳＰＭで得られた所定範囲の高さの２次元分布画像において、他の物理量の２次元分布に基づいて抽出される関心領域に対応する凹凸形状などを容易に且つ的確に理解できるようにする。 - 特許庁

To offer an auxiliary illuminating arrangement for a slit lamp in which the entire image of the eye of a patient including an image of slit light is fetched from an imaging device by a video capture means without causing the patient to sense almost no dazzle and preventing operation of a slit lamp microscope.例文帳に追加

患者に眩しさを殆ど感じさせず、かつ細隙灯顕微鏡の操作を妨げることなく、ビデオキャプチャー手段によって、撮像装置からスリット光の像を含む患者の眼の全体の画像が取り込まれるようにする。 - 特許庁

To obtain a scanning Kelvin probe microscope in which a frequency component not required to detect potential information on the surface of a sample to be measured is suppressed and in which the S/N ratio of the potential information on the surface of the sample is enhanced.例文帳に追加

走査型ケルビンプローブ顕微鏡において、試料表面の電位情報を検出する場合に不要となる周波数成分を抑圧し、測定される試料表面の電位情報のＳ／Ｎを向上させることを目的とする。 - 特許庁

As for formation of a buried plug in formation of a wiring contact part, a buried plug is formed by using a conductive material and inspection of burying height by means of a scanning electron microscope is made possible by electrical conductivity of the buried plug.例文帳に追加

配線コンタクト部の形成における埋め込みプラグの形成について、導電性材料を用いて埋め込みプラグを形成し、埋め込みプラグの導電性によって走査型電子顕微鏡による埋め込み高さの検査を可能とする。 - 特許庁

Further, by performing cooling at a cooling rate equal to or higher than water cooling from the temperature range of from a β transformation point -100°C to a β single phase region upper limit, an optical microscope structure has 45% or less of pro-eutectoid α phase.例文帳に追加

さらに、β変態点−１００℃からβ単相域上限の温度範囲より水冷以上の冷却速度で冷却することにより、光学顕微鏡組織の初析α相が４５％以下であることを特徴とする。 - 特許庁

A control part 121 has a storage part for storing parameters for at least two or more samples 102, where each parameter controls the operation of a microscope apparatus and is allowed to correspond to each sample 102 to be observed.例文帳に追加

制御部１２１は、顕微鏡装置の動作を制御するパラメータであって観察対象のサンプル１０２毎に対応付けられている当該パラメータを、少なくとも２つ以上のサンプル１０２について記憶しておく記憶部を有している。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for avoiding the trouble of sample stand changing, and accurately measuring the temperature depending characteristic of physical properties by tracing measurement of the temperature variation on an identical measurement point and an identical measurement area.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、試料を測定する際、試料台の交換の手間をなくすとともに、同一測定ポイント同一測定領域の温度変化を追跡測定し、物性の温度依存特性を正確に測定すること。 - 特許庁

The microscope mount 5 comprises a horizontally arranged base part 40, a strut part 20 erected on the base part 40, and an arm part 30 provided at a tip of the strut part 20 in parallel to the base part 40.例文帳に追加

顕微鏡用架台５は水平方向に配置されたベース部４０と、このベース部４０に対して直立して設けられた支柱部２０と、この支柱部２０の先端部にベース部４０と平行に設けられたアーム部３０とを有している。 - 特許庁

An electrically driven zoom lens barrel 23 of the optical microscope 20 is arranged so as to extend in a Z axis direction at a side of a sample mounting stand 30, and an optical axis conversion mirror is arranged at an upper end part of the electrically driven zoom lens barrel 23.例文帳に追加

光学顕微鏡２０の電動ズーム鏡筒２３は、試料載置台３０の側方においてＺ軸方向に延びるように配置され、光軸変換ミラーは電動ズーム鏡筒２３の上端部に配置されている。 - 特許庁

Also, while the main switch S1 is provided on the operation panel 21 of a stand main body 1, since the sub switch S2 is provided on the lower part of a distal end link 5 close to the operation microscope, the doctor can easily press the sub switch S2 during the operation.例文帳に追加

また、メインスイッチＳ１はスタンド本体１の操作パネル２１に設けられているが、サブスイッチＳ２は手術顕微鏡から近い先端リンク５の下部に設けられているため、手術中にドクターがサブスイッチＳ２を押し易い。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a plate-like transparent body and a method thereof capable of detecting a minute defect with a length of about 10 μm in a major axis which is present on a surface of the plate-like transparent body without microscope inspection.例文帳に追加

板状透明体の表面に存在している長径１０μｍ程度の微細傷を、顕微鏡精査を行うことなく検出することができる板状透明体の欠陥検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

On the other hand, when the conversion block is moved along the holder to stop at a second position, focusing is implemented to the contrast mask by using the high-power microscope on the conversion block after which high-power micro-inquest and indicator-adjusting work become possible.例文帳に追加

また、変換ブロックをホルダに沿って移動させ並びに第２位置に停止させる時、変換ブロック上の高倍率顕微鏡で対比マスクにピントを合わせ、これにより高倍率の顕微検視と調針作業を行なう。 - 特許庁

To provide an electron microscope usable not only as one which has a WDX with a big constraint of its installation position but as one which can mount a large-sized testpiece and has a large shifting and observation range of a testpiece size.例文帳に追加

取付位置の制約の大きいＷＤＸを備える電子顕微鏡としても、搭載できる試料のサイズや試料の移動範囲および観察範囲の大きい電子顕微鏡としても利用できる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A mask holder 12 is finely adjusted and positioned by using a microscope mounted on a sample stand 11 in a state that a reflection mirror 14 is removed and a long wave-length cut filter 13b is pulled out of a filter holder 13.例文帳に追加

反射鏡１４を取り除いた状態で、フィルタホルダ１３から長波長カットフィルタ１３ｂを引き出した状態にした後、サンプル台１１に設けられた顕微鏡１３を使ってマスクホルダ１２を微調整して位置決めを行う。 - 特許庁

The biological tissue 8 is irradiated with an ultrasonic wave in a two-dimensional scanning fashion by using a pulse-excitation type ultrasonic microscope 2, and an acoustic impedance is computed based on the intensity of a reflected wave from the surface of the biological tissue 8.例文帳に追加

パルス励起型超音波顕微鏡２を利用して超音波を二次元走査しながら生体組織８に照射し、その生体組織８の表面からの反射波の強度に基づいて音響インピーダンスを算出する。 - 特許庁

By measuring the phase transition temperature of the compound (XA-1) with a texture observation by using a polarizing microscope, in the time of elevating temperature, it shows a smectic phase from 101 to 133°C, and also shows a nematic phase from 133 to 146°C.例文帳に追加

得られた化合物（ＸＡ−１）の相転移温度を偏光顕微鏡によるテクスチャー観察によって行うと、昇温時において、１０１℃から１３３℃までスメクチック相を呈し、１３３℃から１４６℃までネマチック相を呈する。 - 特許庁

A specimen transfer system S used for a semiconductor scanning electron microscope is equipped with a specimen chamber 1, a specimen replacing chamber 2, a loading board 11, a specimen transfer path, a transfer means of the specimens 13, and a control device of controlling the transfer means.例文帳に追加

半導体用走査電子顕微鏡用の試料搬送システムＳは、試料室１、試料交換室２、ロードポート１１、試料搬送経路、試料１３の搬送手段、搬送手段を制御する制御装置を備えている。 - 特許庁

To provide a microscope photographic system reducing a convergence time of automatic exposure without increasing light intensity of a light source, to provide an image input device, to provide an automatic exposure method, and to provide a program.例文帳に追加

本発明では光源の光量を増加させることなく自動露出の収束時間を短くすることが出来る顕微鏡撮影装置、画像入力装置、自動露出方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

While observed from outside through an optical microscope or CCD camera, the distance 201 between the end surface of the tube 52 and the end surface of the tube 51 and the distance 202 between the end surface of the tube 52 and the end surface of the tube 53 are set by passive alignment by mutually sliding the tubes.例文帳に追加

また光分波器の調心組立方法としては、各構成要素を対応する透明状チューブにそれぞれ取り付けた後、それら透明状チューブを相互に摺動させることを含む、パッシブアライメントで可能である。 - 特許庁

In this manner, the lens barrel is directly mounted to the observation target, and therefore, even the observation target that cannot be housed in the sample chamber of a conventional electron microscope can be observed as it is without processing it.例文帳に追加

こうして鏡筒を観察対象物に対し直接マウントすることで、従来では試料室に入りきらない観察対象物であっても加工を施すことなく現状状態そのままで観察を行うことができるようになる。 - 特許庁

When the analyzing area for the scanning atom probe(SAP) is selected, the tip of the extraction electrode for the SAP is used as a probe for a scanning tunneling microscope(STM), and the shape of the sample is plotted thereby, to select the analyzing area.例文帳に追加

走査型アトムプローブ（ＳＡＰ）の分析領域を選定する際、該ＳＡＰの引出電極の先端を走査型トンネル顕微鏡(ＳＴＭ)の探針として用い、試料の表面形状を描き出させて分析領域を選定する。 - 特許庁

These generation parts are scanned by a probe 212 of the magnetic force microscope to measure the intensity of the generated magnetic fields, thereby calculating, from measurement results, measurement distances corresponding to the sizes of the respective generation parts in the scanning direction.例文帳に追加

これらの磁界発生部上を磁気力顕微鏡のプローブ２１２によりスキャンして、発生する磁界強度を測定し、測定結果からスキャン方向におけるそれぞれの磁界発生部のサイズに対応する測定距離を算出する。 - 特許庁

A light source 40 of the microscope device is provided on the pupil surface 8 of an objective lens 3 or on a plane 23 conjugated with the pupil surface, and a support means 40 for supporting the light source 40 on the surface/plane is used as the space filter.例文帳に追加

顕微鏡装置の光源４０を、対物レンズ３の瞳面８又はこの瞳面と共役な平面２３上に設け、これらの面上にこの光源４０を支持するための支持手段４０を空間フィルタとして使用する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence illuminator, capable of rapidly irradiating only an optional designated area from an acquired image with total reflection fluorescence illuminating light, optionally varying the intensity of irradiated light and added to a microscope.例文帳に追加

取得画像から任意の指定領域にのみ全反射蛍光照明光を速やかに照射可能で、かつ照射光の強度を任意に可変できる顕微鏡に付加される全反射蛍光照明装置を提供する。 - 特許庁

Since a zoom optical system 10 of a normal light path A is formed horizontally, and a high-power optical path C is formed horizontally outside the zoom optical system 10, thereby reducing the vertical size H1 of a microscope body.例文帳に追加

通常光路Ａのズーム光学系１０を水平に形成し、高倍率光路Ｃをそのズーム光学系１０の水平方向外側にそれぞれ形成したため、顕微鏡本体の上下寸法Ｈ１を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a photodetector capable of obtaining a proper image data corresponding to observation conditions in response to the change of the observation conditions of a sample automatically and a scanning type confocal microscope with the photodetector.例文帳に追加

試料の観察条件の変化に自動的に対応して、その観察条件に応じた適切な画像データを取得することが可能な光検出回路および該光検出回路を備えた走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The microscope 1 calculates an AF evaluation value expressing the contrast based on a brightness signal Y in an AF detecting frame AA of a selected area selected partially in an image corresponding to an image picked-up imaging area CA.例文帳に追加

顕微鏡１は、撮像される撮像領域ＣＡに対応する画像において、部分的に選択された選択領域であるＡＦ検出枠ＡＡにおける輝度信号Ｙから、コントラストを表すＡＦ評価値を算出する。 - 特許庁