「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(157ページ目) - Weblio英語例文検索

If the mobile part 31 is so inclined or deformed that the extent of degradation in optical performance of the microscope may exceed an allowable range, auxiliary members 36 to 39 are brought into contact with the mobile part 31 to prevent deformation or inclination of the mobile part 31.例文帳に追加

顕微鏡の光学性能の低下量が許容範囲を越すほどに可動部３１が傾きかけたり変形しかけたりすると補助部材３６〜３９が可動部３１と接触して可動部３１の変形や傾きが阻止される。 - 特許庁

To provide a microscope capable of automatically setting transmitted illumination, epi-illumination, or transmitted epi-illumination even when a connected illuminating device is changed, while minimizing the number of control ports for an illuminating device.例文帳に追加

照明装置の制御ポートを最小限に抑えつつ、接続された照明装置が変更された場合でも自動的に透過照明、落射照明、或いは落射透過照明に設定することのできる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a plate for microscope specimen capable of economical and efficient use, that has proper workability and capable of using the residual liquid sample coating part, after a part of liquid sample coating parts has been used.例文帳に追加

作業性が良好であるとともに、一部の液体試料塗沫部を使用した後で残部の液体試料塗沫部を使用することが出来る、経済的かつ効率的な使用が可能な顕微鏡標本用プレートを提供する。 - 特許庁

To provide an optical system equipped with a focusing optical system capable of easily focusing with a simple constitution, dispensing with a mechanically complicated configuration for adjusting a pupil position, and to provide a laser microscope using the optical system.例文帳に追加

瞳位置の調整のための機械的に複雑な構成を必要とせずに簡単な構成で、フォーカシングを容易に行うことができるフォーカシング光学系を有する光学系およびこれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The lighting system for the microscope includes, at least one light source and a reflector for providing diffused lighting, and the reflector at least partially surrounds an observation beam path between a microscope objective mirror and an object to be observed; and the reflector, at least partially has elasticity and can be reversibly deformed from at least a first spatial form to at least a second spatial form.例文帳に追加

少なくとも一つの光源と、拡散照明をもたらすためのリフレクターとを備えて構成され、前記リフレクターが少なくとも部分的に、顕微鏡対物鏡と観察されるべき対象物との間の観察ビーム路を取り囲んでいる、顕微鏡用照明装置において、リフレクターは少なくとも部分的に弾性があって、且つ少なくとも第一空間的形態から少なくとも第二空間的形態へ可逆的に変形可能である、照明装置によって解決される。 - 特許庁

The optical observation apparatus 100 for an eye 22 includes a microscope 1 for observing the front side area of an eye 22, and a visualizing device 2 for the retina of the eye 22 which has at least one camera 21, wherein the retina visualizing device 2 is prepared as an auxiliary module in front of the microscope 1, is arranged at a positioning device 12 and can be positioned in front of the eye 22 through the positioning device 12.例文帳に追加

目（２２）の前側区域を観察するための顕微鏡装置（１）と、少なくとも１つのカメラを有する（２１）、目（２２）の網膜を視覚化する装置（２）とを備える、目（２２）を観察するための光学観察装置（１００）において、前記視覚化装置（２）は前記顕微鏡装置（１）の手前の補助モジュールとして構成されており、前記視覚化装置（２）は位置決め装置（１２）に配置されるとともに、前記位置決め装置（１２）を介して目（２２）の手前で位置決め可能である、光学観察装置である。 - 特許庁

To provide a thin sample preparing method which prevents an FIB (focused ion beam) processing from forming any hole and allowing any redeposition to originate in holes when forming a protection film in preparing a thin sample, in order to obtain a good image by using an electron microscope.例文帳に追加

ＦＩＢ加工で薄片試料を作製する際に保護膜形成時に穴が形成されず穴からリデポすることを防ぎ、電子顕微鏡にて良好な像を取得することのできる薄片試料作製方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a polishing device and a polished surface observing method using this where observation working efficiency does not so decrease even when repeating of polishing and observation of the polished member is diligently performed, the focal distance of a microscope may be constant, and the space is not taken.例文帳に追加

被研磨部材の研磨、観察の反復をこまめに行っても観察作業効率が余り落ちず、マイクロスコープの焦点距離は一定でよく、場所を取らない研磨装置及びこれを用いた被研磨面観察方法を得ることである。 - 特許庁

To provide a contact type atomic force microscope capable of rapidly obtaining a stable image of surface shape of a specimen in a state of an atmospheric pressure not in environmental control when the surface shape is measured by a contact mode having high sensitivity for irregularities.例文帳に追加

環境制御がされていない大気圧の状態にある試料の表面形状を、凹凸に対する感度の高いコンタクトモードによって測定するとき、吸着力の影響を回避して安定した表面形状像を迅速に得る。 - 特許庁

In this abnormality detection method, when an abnormality occurs at a specific position of a device and the abnormal state is a level A, the address of a service center for the device and the address of an operator of an scanning electron microscope are selected by a format conversion unit 5 and a destination selection unit 7.例文帳に追加

装置の特定箇所で異常が発生し、その異常状態がレベルＡであった場合、フォーマット変換ユニット５と転送先選択ユニット７により、装置のサービスサイトのアドレスと、走査電子顕微鏡のオペレータのアドレスが選択される。 - 特許庁

To provide an image generation device capable of generating a wide-range high-definition fluorescence tiling image having high positioning accuracy obtained by a low magnification image and a fluorescence image having magnification higher than that of the low magnification image of a sample and to provide a microscope device having the image generation device.例文帳に追加

標本の低倍画像と低倍画像より高倍の蛍光画像とから位置決め精度が高く、広い範囲の高精細な蛍光タイリング画像を生成することができる画像生成装置と、これを有する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

When the imaging process for the slide glass SG is completed, the microscope system 1 ejects the slide glass SG from the stage 15 with the ejection arm 36, and then sets a fresh slide glass on the stage 15 with the supply arm 35.例文帳に追加

そして顕微鏡システム１は、スライドガラスＳＧの撮像処理が完了すると、排出アーム３６によりステージ１５から当該スライドガラスＳＧを排出させた後、直ちに供給アーム３５により新たなスライドガラスを当該ステージ１５に設置させる。 - 特許庁

The diaphragm 12 is arranged at a position nearer to the imaging apparatus side by as long as 2/3 or more of a distance from a shoulder position 11a in the microscope attaching part 11 to a shoulder position 13a in the imaging apparatus attaching part 13 as seen from the object side.例文帳に追加

絞り１２が、物体側からみて顕微鏡取り付け部１１内の胴付き位置１１ａから撮像装置取り付け部１３内の胴付き位置１３ａまでの間の距離の２／３の位置以上撮像装置側に寄った位置に配置される。 - 特許庁

An image acquisition device for acquiring the image of a specimen 30 includes a measurement device 2 for measuring the surface shape of the specimen 30 and a microscope 1 for imaging the specimen 30 based on the surface shape measured with the measurement device 2.例文帳に追加

被検物３０の画像を取得する画像取得装置は、被検物３０の表面形状を計測する計測装置２と、計測装置２で計測した表面形状に基づいて被検物３０の像を撮像する顕微鏡１とを備える。 - 特許庁

This microscope is equipped with an input device 34 for designating a limited tracking domain where a probe 11 is moved following moving atoms, and a control operation device 33 for controlling switches 31, 32 for switching on/off an output signal from feedback circuits 23, 24.例文帳に追加

探針１１が移動原子に追随して移動する限界の追跡領域を指定する入力装置３４と、フィードバック回路２３と２４からの出力信号をＯＮ／ＯＦＦするスイッチ３１と３２を制御する制御演算装置３３を備える。 - 特許庁

To provide a multistage and multiplex magnetic pole lens system, used in an energy analyzer for an electron microscope and an electron energy analyzer using the same, for simplifying the alignment of the center axes of a plurality of axially symmetrical lens systems to the track of a beam, as much as possible.例文帳に追加

電子顕微鏡用のエネルギーアナライザーに用いる多段多重磁極子レンズ系及びそれを用いた電子エネルギー分析器において、複数の軸対称レンズ系の中心軸を、ビームの軌道に合わせる調整をできるだけ簡便にする。 - 特許庁

To provide a microscope unit in which the relative distance between an objective lens and a work can be kept constant by changing a main body attachment or main body assembling when a revolver is attached/detached even after the main body is attached to an equipment having been installed once.例文帳に追加

被設置機器に本体を一旦取り付けた後でも、レボルバの着脱を行う場合、本体取付あるいは本体組合せを変えることで対物レンズとワークとの相対距離を一定に保つことができる顕微鏡ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope provided with a highly reliable holding and dismounting mechanism allowing a sample to be changed on a sample table and a sample transfer device which allow the sample table to be easily be extracted from a sample changing chamber and replaced.例文帳に追加

本発明の目的は、試料台に於いて、試料が確実に、かつ、信頼性の高い保持脱着機構と、試料交換室から試料台が容易に取り外し交換できる試料移送装置を備えた走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

In the particle diameter distribution measuring method, scattered beams of light, which are scattered by particle groups contained at respective depths, are continuously condensed from the different depths of the cell 2 by moving the condensing region of a dark-field microscope 4.例文帳に追加

本発明に係る粒子径分布測定方法は、暗視野顕微鏡４の集光領域を移動させることによって、セル２の異なる深度から各深度に含まれる粒子群によって散乱される散乱光を連続して集光する。 - 特許庁

To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor.例文帳に追加

ＦＩＢ加工により作製した断面ＴＥＭ観察用試料の、低取り出し角のＸ線分析器によるＥＤＸ分析においても、高いＸ線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。 - 特許庁

The optical microscope 100 is equipped with a refractive power variable lens 20, a refractive power changing mechanism 30 and a lens driving mechanism 40, and a microplate M in which the sample S is stored together with the culture solution is placed on an XY moving stage 6.例文帳に追加

光学顕微鏡１００には、屈折力可変レンズ２０、屈折力変更機構３０およびレンズ駆動機構４０とが備えられ、マイクロプレートＭは、標本Ｓを培養液とともに収容し、ＸＹ移動ステージ６上に載置されている。 - 特許庁

The detection position of a photoelectron microscope 4 for detecting a graduation of a line measure 5 provided to the slider 16 and a fixed reflector 21 positioned at an end part of the reference optical path 24 are arranged on the same straight line in the moving direction of the slider 16.例文帳に追加

スライダ１６に設けられた線度器５の目盛を検出する光電顕微鏡４の検出位置と参照光路２４の端部に位置する固定反射鏡２１をスライダ１６の移動方向において同一直線上に配置する。 - 特許庁

This objective lens 810 of a microscope in the culture observation device is provided by positioning its tip end part at the inside of a culturing space 202, and the rest of its part at the inside space 156 of a culturing device sub-main body at a lower temperature than that of the culturing space 202.例文帳に追加

培養観察装置内の顕微鏡の対物レンズ８１０は、先端部分が培養空間２０２内に位置し、残りの部分は培養空間２０２より低湿度の培養装置副本体の内部空間１５６内に位置している。 - 特許庁

The optical arrangement for a microscope is equipped with the beam splitter (1) arranged in a divergent and/or convergent beam path for separating an illumination light (2) that is produced by an illumination source from a detection light (3) that is emitted by a sample being tested.例文帳に追加

照明源によって発生した照明光（２）と検査対象である試料から出る検出光（３）とを分離させるように発散光路および／または収束光路内に配置されるビームスプリッター（１）を備えた顕微鏡用光学装置。 - 特許庁

To obtain a microscope objective lens which can be used not only for the light of wavelength 248 nm but also for the ultraviolet rays of short wavelength 193 nm to 157 nm by making each of all the lens components constituting 1st and 2nd lens groups a single lens arranged separated with air spacing with each other and making the objective lens satisfy specified conditions.例文帳に追加

倍率が１００倍程度で、開口数が０．９程度の大口径で、２４８ｎｍの波長光のみならず、１９３ｎｍや１５７ｎｍの短波長の紫外光でも利用することのできる顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

The computing unit 8 analyzes an image imaged by a microscope 6, it finds the peripheral length and the area on the projection image of each spherical particle 22, and a surface index S_i which affects the acoustic radiating force of each particle is computed by using them.例文帳に追加

さらに、演算装置８は、マイクロスコープ６で撮像された画像を解析し、球形状の各粒子２２の投影像の周長や面積を求め、これらを用いて個々の粒子の音響放射力に影響を与える表面指数Ｓ_iを演算する。 - 特許庁

To obtain a transmission electron microscope which measures and indicates an amount and directions deviations in a visual field of a reference image recorded after an arbitrary set time relative to a recorded image in a real time and a high degree of accuracy and automatically corrects for the deviations in visual field.例文帳に追加

記録した登録画像に対し、任意の設定時間後に記録した参照画像の２つの画像間の視野ずれ量および方向をリアルタイムで高精度に計測，表示し、視野ずれを自動的に補正する透過型電子顕微鏡を得る。 - 特許庁

The microscope specimen chamber comprises a case 11, a cavity chamber 12 arranged in the case 11, an isolation plate 14 to divide the inside of the case 11, a vapor chamber 16 formed at the outside of the cavity chamber 12, and a cushion chamber 18 formed at the outside of the vapor chamber16.例文帳に追加

ケース１１と、ケース１１の内部に配置される腔室１２と、ケース１１内部を分割する隔離板１４と、腔室１２の外部に形成される蒸気室１６と、蒸気室１６の外部に形成される緩衝室１８とを備える。 - 特許庁

In this method, a micro phase separation structure film is irradiated with normal-pressure plasma, and the film is etched up to a part allowing confirmation of the micro phase separation structure, and then the surface is observed by an atomic force microscope (AFM), to thereby confirm the micro phase separation structure.例文帳に追加

ミクロ相分離構造膜に、常圧プラズマを照射し、ミクロ相分離構造が確認可能な部分まで膜をエッチングした後、表面を原子力間顕微鏡（ＡＦＭ）で観察することによりミクロ相分離構造を確認する方法である。 - 特許庁

By forming the opening parts in the opaque layer of the substrate and wiring in such a way that the conductors may traverse the opening parts, it is possible to simultaneously observe a traverse part of a conductor traversing an opening part and the specimen observed from the opening part with a microscope.例文帳に追加

基板の不透明層に開口部を形成し導線が開口部を横断するように配線することにより、開口部を横断している導線の横断部と、開口から観察される検体とを顕微鏡で同時に観察することができる。 - 特許庁

To provide a microscope for operation capable of being driven substantially in an XY plane relative to a plane to be observed even when the mirror body is in any condition by constituting a visual field moving means capable of being driven around two tilted axes.例文帳に追加

２つの傾斜軸まわりに駆動可能な視野移動手段を構成することで、鏡体がどういった観察状態にあっても、観察面に対して略ＸＹ平面に駆動可能となる手術用顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a microscope which can suppress the occurrence of flares caused by the intermediate optical system (e.g. a variable magnification optical system) provided between the objective lens and the focusing lens and can make the sample illuminating direction coincide with the observation direction.例文帳に追加

対物レンズと結像レンズとの間に設けた中間光学系（例えば変倍光学系）に起因するフレアの発生を抑えることができ、かつ、標本に対する照明方向を観察方向と揃えることもできる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope has a light source 1, a condenser lens 5, an opening 6a arranged in the front side focal position of the condenser lens 5, an objective lens 7 and a modulator 14 which is arranged in a position approximately conjugate with the opening 6a and has a region of transmittance T(%).例文帳に追加

光源１と、コンデンサレンズ５と、コンデンサレンズ５の前側焦点位置に配置された開口６aと、対物レンズ７と、開口６aと略共役な位置に配置されていて透過率Ｔ（％）の領域を持つ変調器１４とを備えている。 - 特許庁

To provide a three-dimensional image acquisition apparatus and its method optimal for an observation device such as a microscope, which uses biological materials such as nearly transparent cells in an undyed state as samples and visualizes low-contrast samples, and provide a processing apparatus using the same.例文帳に追加

透明に近い細胞などの生体材料を非染色状態で試料とし、コントラストの低い試料を可視化する顕微鏡などの観察装置に最適な三次元画像取得装置およびその方法とこれを利用した加工装置の提供。 - 特許庁

The colloidal silica is produced from active silicic acid as an original material in the presence of an alcohol, and contains the alcohol and a group of silica particles in various nonspherical shapes wherein a ratio of long length diameter/short length diameter observed by a transmission electron microscope is 1.2-6.例文帳に追加

アルコールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、アルコールを含有し、透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜６である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 guides the exciting light emitted from a light source part 2 to an objective optical system 6 by a light separation means 3 and irradiates a sample 12 arranged in the focal position on the side of the sample 12 of the objective optical system 6.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、光源部２から射出された励起光を光分離手段３により対物光学系６へ導き、対物光学系６の試料１２側の焦点位置に配置された試料１２に照射する。 - 特許庁

The controller 49 makes control so that the lighting timing of a PWM (Pulse Width Modulation) controllable LED (Light Emitting Diode) light source part 29 for illuminating the sample in the microscope 1 provided with a camera head 33 for imaging the sample, agrees with the exposure timing of the camera head 33.例文帳に追加

試料撮像用のカメラヘッド３３を備えた顕微鏡１における試料照明用のＰＷＭ制御可能なＬＥＤ光源部２９の点灯のタイミングを、カメラヘッド３３の露光のタイミングに合わせるように制御する制御装置４９。 - 特許庁

To provide a frequency detection device of a vibrator capable of being detected in a wide frequency detection range while highly holding detection sensitivity of a resonant frequency of the vibrator, an atomic force microscope, and a frequency detection method and a program of the vibrator.例文帳に追加

振動体の共振周波数の検出感度を高く保ったまま、広い周波数検出範囲で検出可能な振動体の周波数検出装置、原子間力顕微鏡、振動体の周波数検出方法およびプログラムを提供する。 - 特許庁

The second prism 18 is held to a second prism locking plate 41 which is movable in a direction of being closer to the first prism 17 and in a direction of being farther from the first prism 17, and to a second pressing plate 42, and the second prism 18 is moved while viewing the prism gap by a microscope 51.例文帳に追加

第１プリズム１７に近づく方向と遠ざかる方向に移動自在な第２プリズム係止板４１，第２押圧板４２に第２プリズム１８を保持し、顕微鏡５１でプリズム間隔を観察しながら第２プリズム１８を移動させる。 - 特許庁

The microscope apparatus 100 includes a surface light source sheet 20 which is so disposed that it can be disposed in contact with an observation sample-mounting implement 50 housing an observation sample, and which functions as a light source for irradiating the observation sample with light rays.例文帳に追加

本発明に係る顕微鏡装置１００は、観察試料を収容する観察試料載置具５０と当接配置可能なように配置され、観察試料に光線を照射する光源として機能するシート状の面状光源シート２０を備える。 - 特許庁

To provide a probe approach method for bringing a probe closer quickly, reliably avoiding the collision between the probe and the sample, and surely preventing the damage in the probe or the like when bringing the probe closer to the sample surface in a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で、試料表面に向かって探針を接近させるとき、探針を短時間で接近させ、かつ探針と試料の衝突を確実に避け、探針等の破損を確実に防止する探針接近方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of obtaining a good image with less aberration, even when the position of a pupil conjugate surface is fluctuated in the case of observing a phase object by relaying a pupil of an object lens and arranging a pupil modulation element on the pupil conjugate surface.例文帳に追加

対物レンズの瞳をリレーして、瞳共役面に瞳変調素子を配置して位相物体を観察する際に、瞳共役面の位置が変動しても、収差の発生が少ない良好な像が得られる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope for surgical operation which makes display of an index to a microscopic observation image only when an operator is needed and is capable of preventing the unnecessary index from hindering the microscopic observation image.例文帳に追加

本発明は、術者の必要なときのみ顕微鏡観察像への指標の表示を行ない、不必要な指標が顕微鏡観察像の妨げとなることを防止することができる手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

Consequently, it is possible to constitue a ceramic made raceway track without cutting work to a ceramic made member and is possible to incorporate it in electronic equipment (for example, an X-Y table of an electronic microscope and a semiconductor manufacturing device) for which its non-magnetism is required.例文帳に追加

したがって、セラミック製部材への切削加工を行うことなく、セラミック製の軌道を構成できる上に、非磁性であることが要求される電子機器(例えば、電子顕微鏡や半導体製造装置のＸ−Ｙテーブル)に組み込むことができる。 - 特許庁

On the silver paste consisting of silver powder as a filler, an organic agent and a solvent, the silver powder with an average particle diameter D_IA of primary particles obtained by image analysis of a scanning electron microscope image of 0.6 μm or less, is adopted.例文帳に追加

フィラーとしての銀粉と有機剤と溶剤とからなる銀ペーストにおいて、前記銀粉は、走査型電子顕微鏡像の画像解析により得られる一次粒子の平均粒径Ｄ_ＩＡが０．６μｍ以下である銀ペーストを採用する。 - 特許庁