「probe terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE UNIT FOR FOUR-TERMINAL MEASUREMENT例文帳に追加

四端子測定用のプローブユニット - 特許庁

DISPLAY METHOD OF TERMINAL OR PROBE PIN, PROBE DEVICE, AND PROBE CARD INSPECTION DEVICE例文帳に追加

端子又はプローブピンの表示方法、プローブ装置、及びプローブカード検査装置 - 特許庁

CONTACT PROBE AND METHOD FOR MAKING THE CONTACT PROBE CONTACT SOLDER TERMINAL例文帳に追加

コンタクトプローブ及びコンタクトプローブを半田端子に接触させる方法 - 特許庁

PROBE INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM, ON-VEHICLE TERMINAL, AND PROBE INFORMATION MANAGEMENT APPARATUS例文帳に追加

プローブ情報管理システム、車載端末、およびプローブ情報管理装置 - 特許庁

CIRCUIT BOARD AND CIRCUIT BOARD WITH PROBE TERMINAL例文帳に追加

回路基板およびプローブ端子付き回路基板 - 特許庁

To restrain abrasion of terminal fittings and a conducting probe.例文帳に追加

端子金具や導通プローブが摩耗するのを抑制する。 - 特許庁

A probe information gathering server 2 gathers probe information generated by many portable terminal devices 6, and stores the probe information in a probe information DB 231 while relating the probe information to device IDs of the respective portable terminal devices 6.例文帳に追加

プローブ情報収集サーバ２は、多数の携帯端末装置６で生成されたプローブ情報を収集し、各携帯端末装置６の装置ＩＤに関連付けて、プローブ情報ＤＢ２３１に格納する。 - 特許庁

PROBE CONTROL SYSTEM AND TRANSMITTING TERMINAL FOR EXECUTING THE SAME例文帳に追加

フロー制御方式およびそれを実行する送信端末 - 特許庁

A probe card in an inspection apparatus includes probe needles for Kelvin contacts each comprising a coil type probe needle and a pogo pin type probe needle disposed in the inside thereof, and a probe needle for two-terminal measurement.例文帳に追加

検査装置のプローブカードは、コイル型プローブ針とその内側に配置されたポゴピン型プローブ針とで構成されたケルビンコンタクト用プローブ針および２端子測定用プローブ針を備えている。 - 特許庁

A connection terminal 41 of a high voltage probe 40 for a power detection means 50 is removably connected to the probe mounting terminal 30.例文帳に追加

プローブ取付端子３０に、検電手段５０用の高電圧プローブ４０の接続端子４１を抜き差し可能に接続する。 - 特許庁

PROBE TERMINAL AND METHOD FOR MEASURING MEASURED OBJECTS USING THE SAME例文帳に追加

プローブ端子及びこれを用いた被測定物の測定方法 - 特許庁

A probe group 3 to be contact an output terminal group 10 is prepared in a probe-fixing domain 7a of the side of an input terminal group 9.例文帳に追加

入力端子群９側のプローブ固定領域７aに、出力端子群１０と接触するプローブ群３を配置する。 - 特許庁

TERMINAL DEVICE, ANALYSIS SERVER, PROBE INFORMATION ANALYSIS SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

端末装置、分析サーバ、プローブ情報分析システムおよび方法。 - 特許庁

To provide a probe card for reliably bringing an electrode terminal into contact with an examination probe for the narrow-pitched electrode terminal.例文帳に追加

狭ピッチ化された電極端子に対しても、その電極端子と検針とを確実にコンタクトできるプローブカードを提供する。 - 特許庁

The prober is provided with an inclination-absorbing means for absorbing an inclination between the probe needle 7 and the terminal due to a stylus pressure of the probe needle 7, thereby correctly bringing the probe needle in touch with the terminal.例文帳に追加

プローブ針７の針圧による、プローブ針７と端子２２，２３との間の傾きを吸収し、互いに正確に接触させる傾き吸収手段を備えた。 - 特許庁

The probe pin 7 is a probe pin of a probe card used for inspecting of a semiconductor device and has a base section 25, and a contacting terminal part 26.例文帳に追加

プローブピン７は、半導体装置の検査に用いられるプローブカードのプローブピンであって、ベース部２５と、接触端子部２６とを備える。 - 特許庁

To provide a probe card capable of accurately connecting a probe needle to a terminal of a semiconductor device and facilitating the maintenance.例文帳に追加

プローブ針を精度よく半導体装置の端子に接続でき、かつプローブカードのメンテナンスを容易にする。 - 特許庁

This device is equipped with the probe 9 whose tip is in contact with a connector terminal 7, and a holder 11 for holding the probe.例文帳に追加

先端がコネクタの端子7に接触するプローブ9と、このプローブを保持するホルダー11とを備える。 - 特許庁

PROBE CONTACT TERMINAL OF LEAD WIRE IN PRINTED CIRCUIT BOARD INSPECTION JIG例文帳に追加

プリント配線板検査治具におけるリード線のプローブ接触端子 - 特許庁

PROBE FOR CONTINUITY TEST FOR PROTECTION GROUND TERMINAL EQUIPPED ON ELECTRICAL DEVICE例文帳に追加

電気機器が備える保護接地端子のための導通試験用プローブ - 特許庁

The probe unit includes a probe assembly to be brought into electrical contact with a terminal group including the signal terminal, which is disposed on a workpiece.例文帳に追加

被検査体に配設された、信号用端子を含む端子群に電気的に接触されるプローブ組立体を備えたプローブユニットである。 - 特許庁

A probe group 22 which comes into contact with a common terminal 11 has three probe pins 4L, 4C, and 4R arranged at intervals of the terminal pitch Tp.例文帳に追加

共通端子１１にコンタクトするプローブ群２２は、３本のプローブピン４Ｌ，４Ｃ，４Ｒが端子ピッチＴｐで配設されている。 - 特許庁

The probe card includes a substrate 101, the probe 102 provided on the substrate, and a contact terminal 103 provided at a position on the substrate where the contact terminal comes in contact with the probe when the probe becomes abnormal in shape.例文帳に追加

プローブカードは、基板１０１と、基板上に設けられたプローブ１０２と、基板上において、プローブに形状異常が生じた場合にプローブと接触する位置に設けられた接触端子１０３とを備える。 - 特許庁

To provide a laser probe that evenly distributes the energy force of laser light emitted from a terminal face of a laser probe toward an axial direction of the probe.例文帳に追加

レーザプローブの出射端面から照射されるプローブの軸方向のレーザ光のエネルギ強度分布を平坦にした、レーザプローブを提供する。 - 特許庁

The closer a contact terminal is located to the center of the probe substrate, the greater is the distance between an imaginary surface parallel to the probe substrate and the needlepoint of that contact terminal.例文帳に追加

プローブ基板と平行の仮想面から針先までの距離寸法は、プローブ基板の中心の側に位置する接触子ほど大きい。 - 特許庁

PROBE CONTACT TERMINAL OF COVERED LEAD WIRE IN PRINTED WIRING BOARD INSPECTION JIG例文帳に追加

プリント配線板検査治具における被覆リード線のプローブ接触端子 - 特許庁

To learn to what signal measurement terminal of a measuring instrument body a probe is connected on the probe side.例文帳に追加

プローブが測定器本体のどの信号測定端子に接続されているかを、プローブ側で分かるようにする。 - 特許庁

An electric characteristic of a MOSFET is measured by making a probe terminal 15 contact to the terminal contact portion 12 of the measurement terminal 10, and making the probe terminal contact to the gate electrode and the source electrode.例文帳に追加

測定用端子１０の端子接触部１２にプローブ端子１５を接触させるとともに、ゲート電極およびソース電極にプローブ端子を接触させて、ＭＯＳＦＥＴの電気的特性を測定する。 - 特許庁

CONTACT TERMINAL, ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE CARD EQUIPPED WITH THE CONTACT TERMINAL, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

接触端子およびその製造方法並びにその接触端子を備えるプローブカードおよび電子機器 - 特許庁

An electric power source terminal, a grounding terminal and a signal line terminal other than the high-frequency signal terminal of the inspecting object 1 are connected by an extendable probe pin 2a.例文帳に追加

被検査体１の高周波信号端子以外の電源端子、グランド端子、信号線端子は、伸縮可能なプロ一ブピン２ａによって接続される。 - 特許庁

To provide a probe for inspection having probe-side terminal pitches lessened and used for satisfactorily inspecting an inspecting object apparatus.例文帳に追加

プローブ側端子ピッチを小さくすることができ、検査対象機器を良好に検査できる検査用プローブを提供する。 - 特許庁

A prescribed amount of current is fed to each probe terminal 25 by a current feeding and voltage measuring part 31 and a voltage change due to the contact of the IC terminal 15 and the probe terminal 25 is monitored.例文帳に追加

電流印加電圧測定部３１により各プローブ端子２５に所定の電流を印加し、ＩＣ端子１５とプローブ端子２５の接触に起因する電圧変化を監視する。 - 特許庁

To improve the throughput by decreasing the frequency to clean the probe tip of a power terminal of a probe, in which there is no need to take into account the current amount which flows from the power terminal of the probe.例文帳に追加

プローブの電源端子から流れる電流量を考慮する必要がなく、プローブの電源端子の針先を掃除する頻度を少なくしてスループットの向上が図れるようにすること。 - 特許庁

A probe information collecting server 2 collects probe information (positional information, time information) generated by a plurality of portable terminal devices which are not illustrated and stores the probe information in an internal probe information DB.例文帳に追加

プローブ情報収集サーバ２は、図示されていない多数の携帯端末装置で生成されるプローブ情報（位置情報、時刻情報）を収集し、内部のプローブ情報ＤＢに保存する。 - 特許庁

In a front probe 22a and a rear probe 22b for forming the inspection probe, the front probe is always energized at least in the connector direction so as to separate from the rear probe via clearance, and at inspection time, the front probe contacts the rear probe when retreating against energization by butting against the cable terminal C1 in a connector C.例文帳に追加

検査プローブを形成している前方プローブ２２ａと後方プローブ２２ｂとは、常時間隙を介して後方プローブから離間されるように前方プローブが少なくともコネクタの方向に付勢され、検査時前方プローブがコネクタＣ内の電線端子Ｃ１に突き当たり付勢に抗して後退したとき後方プローブと接触する。 - 特許庁

A center device 1 acquires probe data received from an in-vehicle terminal device 5.例文帳に追加

センタ装置１は、車載端末装置５から受信したプローブデータを取得する。 - 特許庁

A probe device 10 extracts communication data between a portable terminal and a CSP 2.例文帳に追加

プローブ装置１０は、携帯端末とＣＳＰ２間の通信データを抽出する。 - 特許庁

To prevent deviation between the terminal of an inspection target plate and a probe, at hand-push inspection.例文帳に追加

手押し検査の際に、検査対象板の端子とプローブとのズレを防止する。 - 特許庁

The probe is brought into contact with a terminal of the electronic component supported by the support part.例文帳に追加

そして、支持部に支持された電子部品の端子にプローブを接触させる。 - 特許庁

To obtain a stable contact of an IC terminal and a probe terminal even in a semiconductor device in which the fluctuation of an IC terminal height is large.例文帳に追加

ＩＣ端子高さのばらつきが大きい半導体装置であっても安定したＩＣ端子とプローブ端子の接触を実現する。 - 特許庁

In order to measure a position of a terminal 4, the positioning server 1 of this invention transmits a position measurement probe message to the terminal 4.例文帳に追加

測位サーバ１は端末４の位置を測定するために、位置測定プローブメッセージを端末４に送信する。 - 特許庁

An arrangement space K_1 of a probe 31 for the first terminal 21 is made twice the arrangement space P_1 of the first terminal 21.例文帳に追加

第１端子２１用のプローブ３１の配置間隔Ｋ_1 を、第１端子２１の配置間隔Ｐ_1 の二倍とする。 - 特許庁

An arrangement space K_2 of a probe 32 for the second terminal 22 is made the same as with the arrangement space P_2 of the second terminal 22.例文帳に追加

第２端子２２用のプローブ３２の配置間隔Ｋ_2 を、第２端子２２の配置間隔Ｐ_2 と同じにする。 - 特許庁

A positioning server 1 transmits a location measurement probe message to a terminal 4 in order to measure the location of the terminal 4.例文帳に追加

測位サーバ１は端末４の位置を測定するために、位置測定プローブメッセージを端末４に送信する。 - 特許庁

The probe analysis unit 117 of a packet sending terminal 110 detects a burst loss on the basis of the receiving context of the probe packets.例文帳に追加

パケット送出端末１１０のプローブ解析部１１７は、プローブパケットの受信状況に基づいて、バーストロスを検知する。 - 特許庁