「probe terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

CONTACT TERMINAL FOR MEASUREMENT, MEASURING DEVICE, PROBE CARD SET, WAFER PROBER DEVICE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

測定用コンタクト端子、測定装置、プローブカードセット、ウエハプローバ装置、及び試験装置 - 特許庁

To provide a probe which can resist deformation even when the terminal of the probe is repetitively pressed to a pad and suppress the displacement of a terminal in height and position, and to provide a semiconductor inspection device having this probe.例文帳に追加

プローブ針の端子部を繰り返しパッドに押し当ててもプローブ針が変形しにくく、端子部の高さずれや位置ずれなどを抑制できるプローブ針と、これを備えた半導体装置の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of suppressing temperature fluctuations in a probe and a terminal in a semiconductor element, while preventing generation of heat of the semiconductor element and the probe, in the probe card for inspecting the semiconductor element.例文帳に追加

半導体素子を検査するプローブカードにおいて、半導体素子及びプローブの発熱を防ぐとともに、プローブ及び半導体素子内の端子の温度のばらつきを抑えることができるプローブカードを提供する。 - 特許庁

A coaxial probe 51 of the probe connector 1 includes the center terminal 52 electrically connected to the axial terminal 162 of the coaxial plug 161 and the substrate 2, and an exterior terminal 61 made coaxial with the center terminal 52 and electrically connected to the outer peripheral terminal 163 and the substrate 2.例文帳に追加

プローブコネクタ１の同軸プローブ５１は、同軸プラグ１６１の軸端子１６２および基板２と電気的に接続される中心端子５２と、中心端子５２と同軸とされて、周端子１６３および基板２と電気的に接続される外端子６１とを含む。 - 特許庁

To accurately align a probe terminal provided at a probe seat with an inspection electrode formed at a semiconductor wafer.例文帳に追加

プローブシートに設けられているプローブ端子と半導体ウエハに形成されている検査用電極とを正確に位置合わせできるようにする。 - 特許庁

In the probe connector 1, the coaxial plugs 161 including the axial terminal 162 and the outer peripheral terminal 163 and a substrate 2 are connected.例文帳に追加

プローブコネクタ１は、軸端子１６２および周端子１６３を含む同軸プラグ１６１と基板２とを接続する。 - 特許庁

This probe card 11 is equipped with a first conductive terminal 14 and a transmission-reception circuit 16.例文帳に追加

プローブカード１１は、第１導電性端子１４と送受信回路１６とを備える。 - 特許庁

A probe pin 10, as an external connection terminal, is pressure-fitted into the insertion hole 2d.例文帳に追加

外部接続端子としてのプローブピン１０が挿入孔２ｄ内に圧入されている。 - 特許庁

To reduce the inductance of a probe pin which is in contact with the GND terminal of a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスのＧＮＤ端子に接触するプローブピンのインダクタンスを低減する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and low contact probe terminal having satisfactory electrical characteristics.例文帳に追加

安価、低背でかつ電気特性の良いコンタクトプローブ端子を提供することを目的とする。 - 特許庁

A dent 2 is often formed in the membranous probe surface right above this contact terminal 5.例文帳に追加

この接触端子５直上に膜状プローブ表面の窪み２ができることも多い。 - 特許庁

To provide a coaxial connector capable of wiping in a terminal with a coaxial structure such as a probe.例文帳に追加

プローブなどの同軸構造の端子においてワイピングができる同軸コネクタを提供する。 - 特許庁

OPERATION TEST SYSTEM, AND JIG AND METHOD FOR ADJUSTING POSITION OF PROBE TERMINAL例文帳に追加

動作試験装置、プローブ端子の位置調整用治具及びプローブ端子の位置調整方法 - 特許庁

A pad P1 of the output terminal of cathode voltage Vss is probed by a probe 304.例文帳に追加

カソード電圧Ｖｓｓの出力端子のパッドＰ１に、プローブ３０４でプロービィングしている。 - 特許庁

The probe terminal consists of an upper terminal (1), a lower terminal (2), and a coil spring (3) which is used as a configuration in which the upper terminal (1) and the lower terminal (2) are constructed, to mutually interlace inside the coil spring (3) in an inverted manner.例文帳に追加

プローブ端子は上端子（１）、下端子（２）及びコイルスプリング（３）より構成されコイルスプリング（３）の内部に上端子（１）と下端子（２）とが互いに逆さまにくみ合わさった形態として用いられる。 - 特許庁

When a probe 2 of a measuring instrument is brought into contact with a lead terminal 3 being led from a package 1, a support part for the probe for controlling the misalignment of the probe 2 is formed in the package 1.例文帳に追加

パッケージ１から導出されるリード端子３に測定器のプローブ２を接触させた際に、プローブ２の位置ずれを規制するためのプローブ用支持部をパッケージ１に形成した。 - 特許庁

When an antenna probe 200 is connected to a mobile telephone device 100, a probe guide 7 guides the antenna probe 200, and introduces a detecting needle part 10 in the direction of fitting to the connector terminal 3.例文帳に追加

移動電話装置１００にアンテナプローブ２００を接続する際、プローブガイド７は、アンテナプローブ２００を案内し、検針部１０がコネクタ端子３と嵌合する方向に導く。 - 特許庁

When the probe part 1 of an inspection probe A3 is brought into contact with the terminal (not indicated in the figure) of a component to be inspected, the probe part 1 is brought surely into contact by the urging force of a spring part S1.例文帳に追加

検査用プローブＡ３の探針部１を被検査部品の端子（不図示）に接触させた場合、該探針部１はスプリング部Ｓ１の付勢力によって確実に接触される。 - 特許庁

A vehicle terminal 10 of a moving vehicle 1 is provided with a probe part 30, which sequentially collects probe information on traveling environments, and a traffic information center 2 accumulates the probe information transmitted from the vehicle terminal 10 in a server 3.例文帳に追加

移動車両１の車両端末１０に走行環境に関するプローブ情報を逐次収集するプローブ部３０を備え、交通情報センタ２では車両端末１０から送信されるプローブ情報をサーバ３に蓄積する。 - 特許庁

The signal terminal 4a of a probe terminal is connected to one input terminal of an NAND gate 17 in an inside of the chip, in the semiconductor chip 2.例文帳に追加

半導体チップ２において、プローブ端子である信号端子４ａはチップ内部でＮＡＮＤゲート１７の一方の入力端子に接続される。 - 特許庁

A first probe 7 introduced from the terminal connecting port of a connector retained by a connector holder 3, and a second probe 14 that is arranged in a direction orthogonally crossing the first probe 7 and can be displaced relatively to the first probe are provided.例文帳に追加

コネクタホルダ３に保持されたコネクタの端子接続口から導入される第１プローブ７と、上記第１プローブ７と直交する方向に配置され、当該第１プローブと相対的に変位可能な第２プローブ１４とを設ける。 - 特許庁

The first probe and the second probe are electrically connected to a terminal of a device to be inspected provided on a first face side and to a terminal of an inspection device provided on a second face side.例文帳に追加

第1プローブ及び第2プローブは、第1面側に設けられる被検査デバイスの端子及び第2面側に設けられる検査装置に接続された端子と電気的に接続する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of keeping highly needle location accuracy of probe pins to the external terminal of a semiconductor wafer or the connection terminal of a substrate, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

半導体ウエハの外部端子又は基板の接続端子に対するプローブピンの針位置精度を高く維持することのできるプローブカード及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card that allows a probe pin to be reliably connected to a terminal of a semiconductor element and has small impedance mismatching.例文帳に追加

プローブピンの半導体素子の端子への接続が確実に行なえるとともに、インピーダンスの不整合が小さいプローブカードを提供することにある。 - 特許庁

A primary acoustic transducer 47 at the terminal part of the probe 30 is adapted to emit sound waves while the probe 30 stays in the celoms.例文帳に追加

プローブ３０の末端部の一次音響トランスデューサ４７は、プローブ３０が体腔内に在る間に音波を発射するように適合させる。 - 特許庁

To provide a probe card for reliably bringing a narrow-pitched electrode terminal into contact with an examination probe and for preventing adjacent examination probes from being short-circuited.例文帳に追加

狭ピッチ化された電極端子と検針とを確実にコンタクトでき、隣り合う検針同士がショートすることの無いプローブカードを提供する。 - 特許庁

To reduce a resistance value between a wiring layer of a wiring board and a probe terminal of an inspecting board, and the variation of the resistance value, to stabilize continuity between the wiring layer and the probe terminal, and to secure satisfactory contact of an inspecting electrode of a semiconductor wafer with the probe terminal.例文帳に追加

配線基板の配線層と検査用基板のプローブ端子との間の抵抗値の低減及び抵抗値のばらつきを低減すると共に、配線層とプローブ端子との導通の安定化及び半導体ウェハの検査用電極とプローブ端子との良好な接触を確保する。 - 特許庁

The probe includes a probe terminal 10 and an end section 20 that is positioned at the end of the probe terminal 10, has at least one sharp vertex 40, and is connected to the external connection terminal of a semiconductor device, and the end section 20 is extended in non-vertical direction to the extension direction of the probe terminal 10 and has a rod 30 which is harder than the other portions of the end section 20.例文帳に追加

プローブ端子１０と、プローブ端子１０の先端に位置し、少なくとも１つの鋭角な頂点４０を有しており、半導体装置の外部接続端子に接続する先端部２０と、を有し、先端部２０は、プローブ端子１０の延伸方向と非垂直方向に伸びていて、先端部２０の他の部分よりも硬い棒状物３０を有するプローブを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TERMINAL-LABELED PROBE ARRAY, AND METHOD FOR EVALUATING TARGET MATERIAL QUANTITY USING THE SAME例文帳に追加

末端標識プローブアレイの製造方法、並びにそれを用いた標的物質量の評価方法 - 特許庁

A conductive particle 45 is deposited at least on the end face of the probe terminal 42.例文帳に追加

プローブ端子４２の少なくとも先端面に、導電性を有する粒子４５が付着している。 - 特許庁

If a data terminal performs parameter setting upon a wireless LAN card, a probe request is transmitted to an access point.例文帳に追加

データ端末が無線ＬＡＮカードにパラメータ設定をすると、アクセスポイントへプローブリクエストを送信する。 - 特許庁

To provide a probe device capable of coping with inspection for terminal electrodes mounted at a narrower pitch.例文帳に追加

より狭ピッチで設けられた端子電極の検査に対応可能なプローブ装置を提供する。 - 特許庁

A transmission terminal 10 includes a packet transmission unit 15 which periodically transmits a probe packet to the reception terminal 20, a probe packet reception unit 16 which receives a response packet showing that the probe packet is received from the reception unit 20, and a control unit 17.例文帳に追加

送信端末１０は、プローブパケットを定期的に受信端末２０へ送信するパケット送信部１５と、プローブパケットを受信したことを示す応答パケットを受信端末２０から受信するプローブパケット受信部１６と、制御部１７と、を備える。 - 特許庁

By such constitution, the dimension 1 of projection of the probe 5 and the dimension d between the probe 5 and the terminal 6 are kept with high accuracy, and the deterioration of the conversion characteristics of the probe 5 can be prevented.例文帳に追加

このような構成により、プローブ５の突出寸法ｌやプローブ５と終端部６間の寸法ｄが高精度に維持され、プローブ５の変換特性の劣化を防止することができる。 - 特許庁

A flat head 12 as a probe contact terminal and a dish-shaped neck section 13 are formed at an end of the lead wire 11 adjacent to a probe 15 by press working.例文帳に追加

リード線１１のプローブ１５の隣接端部に、プレス加工によって、プローブ接触端子としてのフラットヘッド１２とともに、皿形のネック部１３を形成する。 - 特許庁

A probe neighboring end portion of the covered lead wire 11 is pressed in an axial direction from an end, thereby forming a flange head type probe contact terminal 12a.例文帳に追加

被覆リード線１１のプローブ隣接端部を端から軸方向にプレスすることにより、フランジヘッド状のプローブ接触端子１２ａを形成する。 - 特許庁

A probe 56 of the section 50 verifies continuity of the connector 1, by bringing the probe into contact with a terminal fixed to a housing 2 mounted in the holder 30.例文帳に追加

検査部５０のプローブ５６は、コネクタホルダ３０に装着されたハウジング２に固定される端子と接触することで、コネクタ１の導通検査を行なう。 - 特許庁

To provide a terminal and the like preventing transmission of a wasteful probe request from the terminal for detecting a stealth access point.例文帳に追加

ステルスアクセスポイントを検出するために、端末が無駄なプローブ要求を送信しないようにすることができる端末等を提供する。 - 特許庁

The first signal transmission line can be connected to a signal terminal of a high-frequency probe, and the pair of first ground terminal electrodes can be connected to a pair of ground terminals of the high-frequency probe.例文帳に追加

第１信号伝送線路には高周波プローブの信号端子が接続可能であり、一対の第１接地端子電極には、高周波プローブの一対の接地端子が接続可能である。 - 特許庁

When so, a Probe response transmission part 22 sends the SSID to the wireless user terminal 10.例文帳に追加

含まれていると、Ｐｒｏｂｅレスポンス送信部２２が、無線利用者端末１０にＳＳＩＤを送信する。 - 特許庁

To provide a relay connector in which a probe 54 is made to butt with a terminal 38a of an inspection object side connector 38.例文帳に追加

被検査側コネクタ３８の端子３８ａにプローブ５４を当接させる中継コネクターを提供する。 - 特許庁

A four-terminal probe sheet resistometer is set between titanium layers 24, 28 of the semiconductor wafer 20 to measure temp.例文帳に追加

半導体ウェーハ２０の各チタン層２４、２８間に４端子針シート抵抗測定機をセットして行う。 - 特許庁

A contact terminal 5 is disposed over a membranous probe formed over a quadrangular prismatic trapezoidal shaped hole.例文帳に追加

膜状プローブ上に設けられた四角錐台形状の穴の上に接触端子５が形成される。 - 特許庁

To provide a low profile type contact probe which does not require spring properties for the terminal itself.例文帳に追加

端子自体にはバネ性を必要としない低背タイプのコンタクトプローブを提供することを目的とする。 - 特許庁

The relay unit 40 has a function for converting a loop probe pitch to the terminal pitch of a TAB substrate 14.例文帳に追加

中継ユニット４０は、ループプローブピッチをＴＡＢ基板１４の端子ピッチに変換する機能を有する。 - 特許庁