「probe terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

In a frictional joining, wherein both materials 1, 1 are mutually joined in a body while rotating a probe 3 of a rotor 2 along the joining line between the metal materials 1, 1 in a buried state, screw working is applied to a terminal hole 10 generated by drawing the probe 3 in the joining terminal to form a screw hole 11.例文帳に追加

金属材1,1同士の接合線に沿って回転子2のプローブ3を埋入状態で回転しつつ進行させて両金属材1,1同士を接合一体化する摩擦攪拌接合に際し、接合終端部において前記プローブ3の引抜きによって生じる終端穴10に、ネジ加工を施してネジ穴11を形成する。 - 特許庁

A probe contact portion 20g of the movable terminal 20 is displaced downward by insertion of the central contact 31 and the contact point 20h is released from contact with the fixed terminal electrode 25 by reversely rotating the movable contact 20e with a lever fulcrum 20f as fulcrum when the probe 30 is mounted.例文帳に追加

プローブ３０の装着時において、可動端子２０は中心コンタクト３１の進入によってプローブ接触部２０ｇが下方に変位すると共に、該変位方向とは逆方向にばね可動部２０ｅがてこ支点部２０ｆを支点として反転して接点部２０ｈが固定端子電極２５との接触を解除する。 - 特許庁

Likewise, there is measured a substrate resistance Ri located between the tip end 27A of a probe 27 that is one terminal of an insulation resistance meter 26 brought into contact with the tip end 2A of the ceramic heater 2 and the other terminal connected to the terminal 7A of the ceramic heater 2.例文帳に追加

また同様に、セラミックヒータ２の先端部２Ａに接触された絶縁抵抗計２６の一方の端子であるプローブ２７の先端部２７Ａと、セラミックヒータ２の端子部７Ａに接続された他方の端子との間の基体抵抗値Ｒｉを測定する。 - 特許庁

An overlapping surface 20b of a movable terminal 20 made of metal plate is adhered on a surface of an insulating substrate 10 by bending of a spring movable portion 20e and a contact point 20h of the movable terminal 20 is pressed and contacted to a fixed terminal electrode 25 when the probe 30 is not mounted.例文帳に追加

金属板からなる可動端子２０は、プローブ３０の非装着時において、ばね可動部２０ｅの撓みによって合わせ面部２０ｂが絶縁基板１０の表面に密着すると共に接点部２０ｈが固定端子電極２５に圧接している。 - 特許庁

A semiconductor device comprises: a plurality of data input/output terminals DQ0 to DQn and a strobe terminal DQS which are electrically connected in common by a test probe 6a; a command address terminal CA connected to the test probe 6b; and an output control circuit 31 for performing selection of data output circuits 10 to 1n on the basis of a signal input to the command address terminal CA.例文帳に追加

試験プローブ６ａによって電気的に共通接続される複数のデータ入出力端子ＤＱ０〜ＤＱｎ及びストローブ端子ＤＱＳと、試験プローブ６ｂに接続されるコマンドアドレス端子ＣＡと、コマンドアドレス端子ＣＡに入力される信号に基づいて、データ出力回路１０〜１ｎの選択動作を行う出力制御回路３１と、を備える。 - 特許庁

The probe card includes a board 10 and an external connection terminal 1 arranged on the board 10, and the external contact terminal 1 is separated from the main body of the board 10 by means of conductors 3, 4 installed to the board.例文帳に追加

基板１０と、該基板１０上にある外部接続端子１とを含んでなり、該外部接触端子１が該基板に取り付けられた導電体３，４により該基板１０の本体から分離されているプローブカード。 - 特許庁

The current from an input transmission line 10 flows via the input terminal 22 of a current probe 20 and the primary winding Wp and the output terminal 24 of a high-frequency transformer T1 to an output transmission line 30.例文帳に追加

入力伝送線１０からの電流は、電流プローブ２０の入力端子２２，高周波数トランスＴ１の１次巻線Ｗｐ及び出力端子２４を介して、出力伝送線３０に流れる。 - 特許庁

The O-mannose sugar chain probe includes an alkyl chain having in its terminal an amino group, a salt of an amino group, an azido group or a thiol group, bonded to the reducing terminal of the O-mannose sugar chain via an oligoethylene glycol chain.例文帳に追加

Ｏ−マンノース型糖鎖の還元末端に、オリゴエチレングリコール鎖を介して、末端にアミノ基、アミノ基の塩、アジド基、またはチオール基を有するアルキル鎖を結合してなるＯ−マンノース型糖鎖プローブ。 - 特許庁

To provide a high-frequency probe which reduces signal reflection in an arbitrary terminal interval in a changeable range, and can perform accurate measurement with less error, by minimizing a change in impedance resulting from changing the interval between the terminals of a probe.例文帳に追加

プローブの端子間隔変さらに伴うインピーダンス変化を最小にすることにより、変更可能な範囲の任意の端子間隔において信号反射の少なくし、誤差の少ない的確な測定を行うことができる高周波プローブを提供する。 - 特許庁

A through-hole 32 is formed on a wiring board 30, and a contact probe 34 is inserted into the through hole 32, and fixed and electrically connected, and a plunger 34a projecting from the contact probe 34 is allowed to abut on the inspection terminal 22 of the inspection device 20.例文帳に追加

配線基板３０にスルーホール３２を設け、スルーホール３２にコンタクトプローブ３４を挿入固定するとともに電気的接続し、コンタクトプローブ３４から突出するプランジャー３４ａを被検査装置２０の検査用端子２２に当接させる。 - 特許庁

In the piezoelectric device, the surface of a circuit element 106 of the integrated circuit is covered with an insulating film 108, the insulating film 108 under a part of an electrode terminal (terminal for manufacturing) 111 of the integrated circuit for manufacturing is removed, and a probe or the like is directly brought into contact with the electrode terminal 111 from the outside.例文帳に追加

集積回路の回路素子１０６面は絶縁膜１０８で覆われ、製造用として集積回路の電極端子（製造用端子）１１１部分の下にある絶縁膜１０８は除去されて、この電極端子１１１に外部からプローブ等を直接コンタクト可能な構成とする。 - 特許庁

A response signal outputted from the output terminal based on a control signal inputted to the input terminal is detected by an electrostatic coupling probe 4 coupled electrostatically with the extension region 57a, and a decision is made whether the output terminal and the circuit output land are bonded or not.例文帳に追加

入力端子に入力された制御信号に基づいて出力端子から出力された応答信号を、延在領域５７ａと静電結合された静電結合プローブ４によって検知し、出力端子と回路出力ランドとが接合されているか否かを判定する。 - 特許庁

The probe card is characterized by including a substrate 11 supporting a probe pin 4 and an electromagnet 8 which, when the probe pin 4 supported by the substrate 11 contact a magnetic sensor terminal 74 of a single chip on a wafer 7, supplies magnetic force to a magnetic field sensing section 72 of the identical chip with the chip.例文帳に追加

上記目的を達成する本発明のプローブカードは、プローブピン４を支持する基体１１と、該基体１１に支持された、上記プローブピン４がウエハ７上の１つのチップの磁気センサ端子７４に接触したときにその１つのチップと同一のチップの磁界センシング部７２に磁力を与える電磁石８とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

Accumulating traffic trajectories of a plurality of probe cars 10 as probe information, an analysis terminal 200 determines that a road or an intersection of an analysis object has a traffic regulation by detecting presence or absence of the probe information indicating traffic travelling in a form against a traffic regulation being an analysis object such as a left or right turn prohibition.例文帳に追加

複数のプローブカー１０からの通行軌跡をプローブ情報として蓄積し、解析端末２００は、解析対象となる道路または交差点において、右左折禁止などの解析対象となる通行方法に違反する形で通行しているプローブ情報が存在するか否かを検出することで、当該通行規制が付されているか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a probe capable of matching the terminal of the impedance of a transmission line distributed in a circuit, without requiring taking into consideration the influence by a parasitic element or special devices.例文帳に追加

寄生素子による影響の考慮及び特別な装置を必要とせずに、回路内に配線された伝送線路のインピーダンスの整合終端が可能なプローブを実現する。 - 特許庁

This hand-held type measuring device is used by an operator so that the upper surface faces the upside and the front surface faces the front side, with a terminal on the rear surface to which a measuring probe line is connected.例文帳に追加

ハンドヘルド型測定装置は、後面の端子に測定プローブのラインを接続した状態で、上面が上、前面が手前となるようにオペレータによって使用される。 - 特許庁

When the probe 50 is installed, the center contact 51 presses down the projection 25a of the movable terminal 25, and thereby the contact parts 25c, 35b are separated resisting the magnetic force.例文帳に追加

プローブ５０が装着されると、中心コンタクト５１が可動端子２５の突起部２５ａを押圧することによって接点部２５ｃ，３５ｂが磁力に抗して解離する。 - 特許庁

To prevent the occurrence of connection failure by electrically connecting a probe terminal and a bump of a semiconductor chip with highly precise alignment and at a constant and sufficient pressing force.例文帳に追加

高精度な位置合わせ、および、均一かつ十分な押圧で、プローブ端子と半導体チップのバンプとを電気的に接続することにより、接続不良の発生を防止する。 - 特許庁

The interference on a reverse link, caused by the moving terminal trying to make access, is reduced by limiting the access probe, when an overload state exists.例文帳に追加

過負荷状態が存在するときにはアクセス・プローブを制限することで、アクセスを試みる移動端末によって引き起こされる逆方向リンク上の干渉を減らすことができる。 - 特許庁

Upon receiving a fast access indicator (406) in response to a fast access probe (404), an access terminal starts transmitting a traffic channel signal (408) containing data rate control (DRC) information.例文帳に追加

高速アクセスプローブに応答して高速アクセスインジケータを受信すると、アクセスターミナルはデータレート制御（ＤＲＣ）情報を含むトラフィックチャネル信号を送信し始める。 - 特許庁

To provide an inspection probe of high inspecting accuracy corresponding to a narrow pitch and multi-pin of a lead terminal of a semiconductor package and the like, and to provide an inspection holder using the same.例文帳に追加

半導体パッケージ等のリード端子の狭ピッチ、多ピン化に対応した検査精度に優れた検査プローブ及びこれを用いた検査治具を提供することを目的とする。 - 特許庁

The lower surface of a contactor 11 is joined to the joint member 15 so that the tip of a probe 10 penetrating the contactor 11 comes into contact with the connecting terminal 14 (Fig.3(d)).例文帳に追加

コンタクタ１１を貫通するプローブ１０の先端が接続端子１４に接触するように、コンタクタ１１の下面と接合部材１５を接合する（図３（ｄ））。 - 特許庁

To change a control command of a CPU 5 by use of a USB connector 35 without opening a cabinet to bring a probe into contact with a test point connected to a terminal of the CPU.例文帳に追加

キャビネットを開いてＣＰＵの端子と接続されたテストポイントにプローブを接触させることなく、ＵＳＢコネクタ３５を利用してＣＰＵ５の制御コマンドを変更する。 - 特許庁

To quickly avoid troubles due to erroneous wiring caused in a lead wire 3 connecting a probe P and a terminal T of a connector 4 together.例文帳に追加

探針Ｐとコネクタ４との端子Ｔとの間を接続する導線３に誤配線が生じたとき、その誤配線による不都合を迅速に回避できるようにする。 - 特許庁

To provide a probe device for electric circuit inspection capable of connecting easily a connector to the terminal of a tester, when inspecting circuit operation of an inspection object having the connector.例文帳に追加

コネクタを有している被検査物の回路動作の検査を行う時に、コネクタとテスタの端子の接続が容易に行える電気回路検査用プローブ装置の実現。 - 特許庁

To bring a sharp probe into contact with each part to be measured including a via detection terminal on a circuit board surface layer, and to easily detect the high-frequency potential quantity thereon.例文帳に追加

回路基板表層における、ビア検出端子を含む被測定部位各々に対し先鋭探針を接触させ、そこでの高周波ポテンシャル量を容易に検出すること。 - 特許庁

An insertion hole 72 and an insertion path 73 into which, a probe 80 for conductivity test is inserted, is formed coaxially with an insertion opening 22 of respective terminal housing chambers 21.例文帳に追加

隆起部７０には、導通検査用のプローブ８０を挿通する挿通孔７２と挿通路７３が、各端子収容室２１の挿入口２２と同心に形成される。 - 特許庁

To provide a connection-use board capable of inspecting two or more kinds of semiconductor devices by using the same probe card, and capable of preventing a probe pin from hardly connecting with an external connection terminal even in the case a plurality of external connection terminals are spaced widely from another.例文帳に追加

複数種類の半導体装置を同一のプローブカードで検査することができ、かつ複数の外部接続端子の相互間隔が大きくてもプローブピンと外部接続端子が電気的に接続できなくなることを抑制できる接続用基板を提供する。 - 特許庁

By a stage height driving unit 17, after arranging the IC terminal 15 of a chip area 13 to perform inspection by horizontally moving the stage 9 to a position corresponding to the probe terminal 25, the stage 9 is elevated to a prescribed height.例文帳に追加

ステージ高さ駆動ユニット１７によりステージ９を水平移動させて検査を行なうチップ領域１３のＩＣ端子１５をプローブ端子２５に対応する位置に配置した後、ステージ９を所定の高さ位置まで上昇させる。 - 特許庁

When a sharp probe 311 of a primary side cylindrical metal conductor 31 is brought into contact with a potential detection terminal 21, a via detection terminal 21 or the like on the circuit board 1, an antenna current flows in the primary side cylindrical metal conductor 31.例文帳に追加

１次側棒状金属導体３１の先鋭探針３１１を回路基板１上のポテンシャル検出端子２１やビア検出端子２２等に接触させれば、１次側棒状金属導体３１にはアンテナ電流が流れる。 - 特許庁

This probe unit is characterized by being equipped with a substrate having an electrode with its contact mounting surface plated with gold (Au), a contact having a terminal part plated with tin (Sn), and a gold-tin join part where the electrode is joined to the terminal part.例文帳に追加

接触子装着面に金（Ａｕ）メッキされた電極を有する基板と、錫（Ｓｎ）メッキされた端子部を有する接触子と、該電極と該端子部を接合する金−錫接合部とを備えたことを特徴とするプローブユニット。 - 特許庁

The probe 2 comprises a body part 30 consisting of an inner line 21 and an outer tube 23 arranged around it through an insulating layer 22; a signal terminal 26 extended from the inner line 21, and an earth terminal 27 arranged on the outer tube 23.例文帳に追加

プローブ２は，内線２１とその周囲に絶縁層２２を介して配設された外管２３とよりなる本体部２０と，内線２１から延設された信号端子２６と，外管２３に配設された接地端子２７とを有する。 - 特許庁

At the time of a connection inspection, if a terminal metal fitting and a probe pin 14 come into touch with each other, not only is the terminal metal fitting of the connector 2 in a good fit state and the like, but also the coat member 3 is set properly to the housing.例文帳に追加

導通検査時に、端子金具２２とプローブピン１４との接触があったときは、コネクタ２の端子金具２２の装着状態等が良いことだけではなく、被覆部材３がハウジング２１に適切に装着されているとされる。 - 特許庁

The insulating resistance IR is measured by a measuring instrument by contacting the measuring probe to a terminal electrode 3 for signal and the terminal electrode 5 for grounding, and by applying the direct-current voltage from the direct current power supply between the measuring probes.例文帳に追加

絶縁抵抗ＩＲは、信号用端子電極３と接地用端子電極５とに測定プローブをそれぞれ接触させ、測定プローブ間に直流電源から直流電圧を印加して、測定器により測定する。 - 特許庁

The operational power is supplied, by pressing the power terminal 5 of the probe against a power input terminal 4 to apply an operational voltage for making respective gate electrodes of P-channel transistors from 3-1 to 3-n independently execute on-operations and off-operations.例文帳に追加

電源入力端子４にプローブの電源端子５を押し当てて動作電源を供給し、Ｐチャネルトランジスタ３−１〜３−ｎの各ゲート電極に個別にオン動作とオフ動作とを行わせる動作電圧を印加する。 - 特許庁

To provide a probe in which a wiring pattern and a contact terminal sufficiently resist a peeling force in an inspection, which sufficiently resists a cleaning operation using a solvent such as ethanol or the like or a proper detergent, which increases a strength of a bonding place of the contact terminal to the wiring pattern and which prevents the contact terminal from falling and to provide a method of manufacturing the probe.例文帳に追加

配線パターンや接触端子が検査に際しての引き剥がし力に対して十分に耐え得ると共にエタノール等の溶剤や適当な洗剤を用いるクリーニングに対しても十分に耐え得ることができ、しかも、接触端子と配線パターンとの接合箇所の強度を高めることができて接触端子の脱落防止化を図ることができるプローブ及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

A resistance measuring device 100 which is a resistance measuring device with four-terminal method includes a probe 2, having flexibility, of a voltage measuring system and a probe 3, also having flexibility, of a current measuring system, and both probes are wound up to a lead 12a of a coil which is an inspection body from the opposite directions respectively.例文帳に追加

抵抗測定装置１００は，４端子法による抵抗測定装置であって，可撓性を有する電圧測定系のプローブ２と，同じく可撓性を有する電流測定系のプローブ３とを備え，両プローブを互いに逆方向から被検体であるコイルのリード１２ａに巻き掛けている。 - 特許庁

Electrode pads 2, 3 formed in each chip area 1A over a wafer are in a relation of A≤B<2A, when it is assumed that the area of the electrode pad 3 with which the probe needle for a Kelvin contact comes into contact and the area of the electrode pad 2 with which the probe needle for two-terminal measurement comes into contact are B and A, respectively.例文帳に追加

ウエハのチップ領域１Ａに形成された電極パッド２、３は、ケルビンコンタクト用プローブ針が接触する電極パッド３の面積をＢ、２端子測定用プローブ針が接触する電極パッド２の面積をＡとしたとき、Ａ≦Ｂ＜２Ａの関係にある。 - 特許庁

A probe section in contact with a contact terminal of an inspection object is formed in the upper part, and a spring section for providing elastic force is integrally extended in the lower part of the probe section, thereby making current flow from the inspection object to the lower part of the spring section.例文帳に追加

上部には、検査対象物の接触端子に接触する探針部が形成され、前記探針部の下部には弾性力を提供するスプリング部が一体に延設されることにより、検査対象物から前記スプリング部の下部に電流が通ずるように構成される。 - 特許庁

The probe 3 includes a cantilevered beam section 31 along the support substrate 4, a base section 32 formed at a fixed end of the beam section 31 and conducted to an external terminal 24 of the main substrate 2 through the probe insertion hole, and a contact section 33 formed at a free end of the beam section 31.例文帳に追加

プローブ３は、支持基板４に沿う片持ち梁構造のビーム部３１、ビーム部３１の固定端に形成され、プローブ挿通孔を通ってメイン基板２の外部端子２４と導通させたベース部３２及びビーム部３１の自由端に形成されたコンタクト部３３を有する。 - 特許庁

To provide a wire type probe that can obtain an arbitrary elastic pressure-welded force to a circuit terminal regardless of the bending deformation characteristics of a wire, at the same time can reduce wire length and resistance, and is obtained by improving a wire probe for preventing wire materials from being deteriorated.例文帳に追加

ワイヤの曲げ変形特性によらずに、回路端子に対する任意の弾性圧接力を得ることができるとともに、ワイヤの長さを短くして、抵抗値を低くすることができ、かつワイヤの材料の劣化が生じにくいワイヤプローブの改良としてのワイヤ型プローブを提供する。 - 特許庁

The nucleic acid-detecting probe examines an amount of specific target genes present in a sample by simultaneously hybridizing a first probe 1 having one terminal end fluorescently labeled with respect to the target nucleic acid and a second probe 2 having the other end labeled by a quencher 6, and observing a quenching phenomenon by an interaction of a fluorescent body 5 with the quencher.例文帳に追加

標的核酸に対して，一方の末端が蛍光標識された第一プローブ１と，他方の末端がクエンチャー６で標識された第二プローブ２とを同時にハイブリダイズさせ蛍光体５とクエンチャーの相互作用による消光の様子を観察することにより，試料中に存在する特定の標的遺伝子量を調べることを特徴とする核酸検出プローブ。 - 特許庁

The system verification of the laminated LSI chip 1 is conducted by making a probe pin 31 connected to a through-electrode terminal on the surface of the uppermost layer chip of the laminated LSI chip 1, which has a through-electrode 11 as a system bus.例文帳に追加

貫通電極１１をシステムバスとする積層LSIチップ１の最上層チップ表面の貫通電極端子にプローブピン３１を接続させて、積層LSIチップ１のシステム検査を行う。 - 特許庁

To provide a contact inspection jig which resolves a problem in which it is difficult for a guide hole guiding a plunger of a probe to respond to pitch narrowing and multipolarization of a terminal or an electrode because of necessity of complicated hole machining.例文帳に追加

プローブのプランジャを案内するガイド孔は、面倒な孔加工を必要とするため、端子又は電極の狭ピッチ化及び多極化に対応するのが困難となっている。 - 特許庁

To provide a measuring device which can prevent positional slippage of a measuring object in relation to a measuring probe and also can respond to various electronic components different in a mode of a lead terminal.例文帳に追加

被測定物が測定プローブに対して位置ずれすることを防止できると共に、リード端子の態様が異なる様々な電子部品に対応することができる測定装置を提供する。 - 特許庁