「probe terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

The apparatus for mapping celomic surfaces 52 of patients is provided with a slender probe 30 having a longitudinal axis, which 30 has a terminal part adapted to be inserted into the celoms.例文帳に追加

患者の体腔面５２をマッピングする装置は、縦の軸線を有する細長いプローブ３０を備え、このプローブ３０は体腔内へ挿入するように適合させた末端部を有する。 - 特許庁

The lower measuring probe has a support member (rod-like guide) for horizontally supporting the measurement member at both the left/right sides (both the axial sides of the member to be measured) in the contact terminal.例文帳に追加

また、下測定子には、接触端子の左右両側（被測定部材の軸方向両側）に測定部材を水平支持するための支持部材（棒状ガイド）を備えられている。 - 特許庁

Based on the AFM observation, a four-terminal probe unit 1 is positioned to a measuring position of the sample, probes 11a-14a are brought into contact with the sample, and the electric characteristic is measured.例文帳に追加

そして、そのＡＦＭ観察に基づいて、４端子プローブユニット１を試料の計測位置に位置決めし、プローブ１１ａ〜１４ａを試料に接触させて電気特性を計測する。 - 特許庁

To provide a probe card reducing electric resistance between a contact and a connection terminal on a circuit board, the electric resistance having increased while repeating tests on the electric characteristics of electronic components.例文帳に追加

電子部品の電気的特性の試験を繰り返す中で増大した、接触子と回路基板上の接続端子との間の電気抵抗を低減することのできるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a contact probe suppressing drop in electric contact caused by shavings of an insulating film attached to a contact terminal when the insulating film formed on a surface to be measured is shaved off.例文帳に追加

被測定面上に形成された絶縁膜を、削りとる際に接触端子に付着した絶縁膜の削りかすによる電気接触性の低下を抑制したコンタクトプローブを提供する。 - 特許庁

When the arm 12 is shifted to a closing position, the probe pin 37 is made to contact with a contact terminal of the board 4, the board 4 is pushed down on the base 10 by the pushing member 40.例文帳に追加

アーム１２を閉じ位置に移動させたときに、プローブピン３７を基板４の接触端子に接触させるとともに、押圧部材４０により基板４を基台１０に押さえ付ける。 - 特許庁

To reduce a contact resistance between a probe terminal and a pad electrode by a contact of a low load without increasing an area of the pad electrode, thereby inspecting a semiconductor device stably.例文帳に追加

パッド電極の面積を大きくすることなく、低荷重の接触でプローブ端子とパッド電極との間の接触抵抗を小さくして、半導体装置を安定して検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a chlorophyll derivative that is a sugar chain probe in which a reducing terminal of the sugar chain has a cyclic structure and suitable for handling a synthetic sugar chain.例文帳に追加

本発明の課題は、糖鎖の還元末端が環状構造を持ち、合成糖鎖の取り扱いにも適した糖鎖プローブである、クロロフィル誘導体を提供することにある。 - 特許庁

The excessive current control circuit 1 has arranged on the probe card and inserted in an inductor 4, such as a coil between the power source unit 2 of the inspection device 2 and the power source terminal 10 of the element to be inspected 9.例文帳に追加

過電流制御回路１は、プローブカード上に配設され、検査装置の電源ユニット２−被検査素子９の電源端子１０間にコイル等のインダクタ４を挿入している。 - 特許庁

This electrostimulator 1 comprises a body 2, a pistol-shaped probe 3 to be connected to a terminal port 20 (refer to Fig. 2(A)) for a different electrode of the body, and an indifferent electrode 4 to be connected to a terminal port 21 (refer to Fig. 2(A)) for the indifferent electrode of the body.例文帳に追加

電気刺激装置１は、本体２と、この本体２の関電極用の端子口２０(図２(Ａ)参照)に接続されるピストル型のプローブ３と、前記本体２の不関電極用の端子口２１(図２(Ａ)参照)に接続される不関電極４とからなっている。 - 特許庁

In the temporally fitting condition, a probe 50 is inserted inside from the opened conduction inspection port 25, and is brought into electrical contact with a female side terminal metal fitting 40 in a cavity 21 so as to perform conduction inspection for the female side terminal metal fitting 40.例文帳に追加

仮嵌合状態においては、開放されている導通検査口２５よりプローブ５０を内部へ挿入してキャビティ２１内の雌形端子金具４０と電気的に接触させることにより雌側端子金具４０の導通検査を行うことができる。 - 特許庁

Therefore, because the probe pin can be easily and precisely inserted into a connector terminal hole 1a, not only whether an assembly of the terminal 2 is good or bad can be precisely tested, but also a conduction test can be appropriately performed, and as a result an inspection work is improved by that share.例文帳に追加

そのため、コネクタ端子孔１ａにプローブピンを容易にかつ的確に差し込むことができるので、端子２の組み付けの良否を的確に検査できるばかりでなく、導通検査をも的確に行うことができ、それだけ検査作業が向上する。 - 特許庁

To eliminate the chipping of terminal electrodes, impurity adhesion and chip packaging trouble by electronic corrosion which occur in the inspection by preventing the abutment of an inspection probe on the electrode pads to be packaged with the chip without using highly advanced technology necessary for the narrower pitch of the terminal electrodes.例文帳に追加

端子電極の狭ピッチ化で必要となる高度な技術を使わずに、チップ実装する電極パッドに検査プローブが当たらないようにして、検査時に発生する端子電極削れ、不純物付着、電極腐食によるチップ実装不具合をなくする。 - 特許庁

An output file generation part 115 generates output data obtained by allocating the probe needle number to an element terminal name of the net list, and an output processing part 180 displays the output data on a display part 190.例文帳に追加

また、出力ファイル生成部１１５は、ネットリストの素子端子名にプローブ針番号が割り当てられた出力データを生成し、出力処理部１８０は出力データを表示部１９０へ表示する。 - 特許庁

A control box 1 is connected with a belt electrode 3, a tights electrode 4 and an ultrasonic beauty probe 5 via a connector C and a cable 2, and is connected with an AC adapter 7 via an external power source terminal 6.例文帳に追加

コントロールボックス１にコネクタＣとケーブル２を介して、ベルト電極３とタイツ電極４および超音波美容プローブ５を接続し、外部電源端子６を介してＡＣアダプタ７を接続する。 - 特許庁

In the connector inspection device 10 defined as an inspection position, the water-proof plug 3 is fixed into a housing 1 by a pressing unit 34, and conductivity inspection of a terminal 2 in the housing 1 is carried out with the probe 41.例文帳に追加

検査ポジションとされたコネクタ検査装置１０は、押圧子３４によって防水栓３がハウジング１に嵌入されるとともに、プローブ４１によってハウジング１内の端子２の導通検査を行なう。 - 特許庁

Since the probe terminal 40 and the pad 30 are fixed in the contact state, the pad 30 is not damaged, and the whole wafer 20 is covered by a strong mechanical structure to thereby always protect the wafer 20.例文帳に追加

プローブ端子４０とパッド３０は接触状態のまま固定されているため、パッド３０は傷つかず、また、ウエハ２０の全体は頑丈な機械的構造体によって覆われ、ウエハ２０は常に保護される。 - 特許庁

As a correction value used for the correction, a correction amount for correcting the contact position between the stylus tip and electrode is previously calculated and obtained based on the relation between inspection times and displacement amounts of the probe terminal depending upon inspection temperature.例文帳に追加

補正に用いる補正値として、検査時間と検査温度によるプローブ端子の変位量との関係から、針先と電極の接触位置を補正するための補正量を予め計算して求める。 - 特許庁

A quality monitor section 14 transmits a probe to a packet transfer apparatus 4 or a receiver side terminal 2 and calculates one or more among a network band, a packet loss rate, and a packet response time depending on the response.例文帳に追加

品質監視部１４はパケット転送装置４または受信側端末２にプローブを送信し、その応答によりネットワーク帯域、パケット損失率、パケット応答時間の内１つ以上を算出する。 - 特許庁

Facing the terminal 38a of the inspection object side connector 38 inserted into the guide hole 26b, the probe 54 is arranged on the pin-block 24 in an axial direction of the moving direction of the floating guide 26.例文帳に追加

ガイド孔２６ｂに嵌合挿入された被検査側コネクタ３８の端子３８ａに臨んで、ピンブロック２４にフローティングガイド２６の接近分離方向を軸方向としてプローブ５４を配設する。 - 特許庁

A user terminal 52-1 respectively transmits probe requests 63-1, 63-2 including index request information indicative of a request of a prescribed index to a corresponding access point 51-1 or 51-2.例文帳に追加

ユーザ端末５２−１は、所定の指標を要求することを表す指標要求情報を含むプローブ要求６３−１，６３−２を、対応するアクセスポイント５１−１または５１−２にそれぞれ送信する。 - 特許庁

The gene encoding the elastase-inhibiting protein is obtained from a cDNA library prepared from mantle tissue of pearl oyster by using an oligonucleotide corresponding to an amino acid sequence near the N-terminal of the protein as a probe.例文帳に追加

そのタンパク質のN末端付近のアミノ配列に対応するオリゴヌクレオチドをプローブとして用いて、アコヤ貝の外套膜組織から調製されるｃDNAライブラリーより、エラスターゼ阻害タンパク質をコードする遺伝子。 - 特許庁

An mRNA is purified by utilizing a probe containing a poly(T) sequence immobilized on a first carrier to prepare a cDNA library, and a primer binding site 1 for individual amplification is inserted into the terminal of the cDNA on the carrier.例文帳に追加

第１担体上に固定化されたpoly(T)配列を含むプローブを利用してmRNAを精製し、cDNAライブラリーの調製を行い、個別増幅用のプライマー結合部位1を担体上cDNAの末端に挿入する。 - 特許庁

Besides, any one of signals of vertically and horizontally polarized wave received by a first substrate probe 2 and a second substrate probe 3 is selected by a switching signal from a CS tuner and that selected signal is converted to the signal of the IF band and sent from an output terminal 17 to the CS tuner.例文帳に追加

また、第１の基板プローブ２及び第２の基板プローブ３により受信した垂直偏波あるいは水平偏波の信号をＣＳチューナからの切換え信号により選択し、その選択された信号を中間周波数帯の信号に変換して出力端子１７からＣＳチューナに送出する。 - 特許庁

At the temporary lock position, a conduction inspecting detection probe 60 is inserted from the front side into the tool insertion hole 52 of the front wall member 50 and the detection probe 60 can contact the front face of a detection plate 46 which is formed on the body 41 of the female terminal fitting 40 separately from the elastic contact piece 45.例文帳に追加

仮係止位置では、前方から導通検査用の検知プローブ６０が前壁部材５０の治具挿通孔５２に挿入され、検知プローブ６０が雌端子金具４０の本体部４１において弾性接触片４５とは別位置に形成された検知板４６の前面に接触可能とされる。 - 特許庁

A control center 7 side generates road traffic information for specifying a unit road section where traffic jam occurs by analyzing probe information uploaded from an on-vehicle terminal 1 of a plurality of probe cars, and transmits the road traffic information from a broadcasting station 9 by terrestrial digital broadcasting.例文帳に追加

管理センタ７側では、複数のプローブカーの車載端末１からアップロードされたプローブ情報を解析することにより、交通渋滞している単位道路区間を特定可能な道路交通情報を生成し、その道路交通情報を、放送局９から地上波デジタル放送などにより送信する。 - 特許庁

The probe part 30 of the vehicle terminal does not collect probe information for a prescribe period during which the vehicle is in an abnormal state, for example, a state in which a vehicle-speed sensor outputs an abnormal value due to the sudden start and stop of a vehicle, an extreme steering operation, reversing, idling of wheels, slip or sliding.例文帳に追加

車両端末のプローブ部３０は、車両の急発進、急停止状態、極端なステアリング操作状態、リバース走行、あるいは車輪の空転、スリップまたは滑走状態時の車速センサのようにセンサ出力が異常値状態であるときなど、所定の車両状態の期間はプローブ情報の収集を行わない。 - 特許庁

In the inspection position, a part of the front edge of a connection part 28S of a small female terminal 26S housed in a small cavity 24S behind the corresponding small cavity 24S in the insertion direction faces each small terminal insertion opening 75S, and the small terminal insertion opening 75S is also used as an inspection opening for inserting a probe 80 for continuity inspection therein.例文帳に追加

この検査位置では、小端子挿入口７５Ｓには、対応する小キャビティ２４Ｓよりも差込方向の後方の小キャビティ２４Ｓに収容された小雌端子２６Ｓの接続部２８Ｓにおける前縁の一部が臨み、同小端子挿入口７５Ｓが、導通検査用のプローブ８０が挿入される検査口に兼用される。 - 特許庁

To provide a mechanism for assembling plane array type contactor that solves the reduction of space of an input terminal in contact with a pad of the probe and can secure occupied space of an appropriate deformation part when the circuit terminal interval becomes small like an electronic circuit constituted in an integrated circuit or the like.例文帳に追加

集積回路等に構成される電子回路のように回路端子間隔が小さくなった場合、プローブのパッドに接触する入力端子の空間が小さくなること解決し、適切な変形部分の占有空間を確保できる面配列式接触子組立の機構を提供すること。 - 特許庁

The conducting cord 2 to be connected to each terminal of the terminal 1 of an inspection device for inspecting the electric characteristic of a matter to be inspected 7 and the probe needle 3 to abut on the electrode pad 7a of the matter 7 are integrally formed of a copper-silver alloy wire rod which is the continued same material or the like.例文帳に追加

被検査物７の電気的特性を検査する検査装置のターミナル１の各端子に接続される導電コード２と、被検査物７の電極パッド７ａに当接するプローブ針３とは、連続した同一材料である銅銀合金線材等により一体形成されている。 - 特許庁

In a probe 100 equipped with a terminal 110 in contact with an electrode of the semiconductor element, a plurality of overcoat layers 121, 122; 131-133, 141; 143; 152, 153 composed of materials including different platinum group elements are formed on the surface of the substrate 111 of the terminal 110.例文帳に追加

半導体素子の電極と接触する端子部１１０を備えたプローブ１００において、端子部１１０の基材１１１の表面に、異なる白金族系元素を含む材料からなる複数の被膜層１２１、１２２；１３１〜１３３；１４１、１４３；１５２、１５３を形成したことを特徴とする - 特許庁

A method for inspecting the printed circuit board makes the printed circuit board for mounting the semiconductor integrated circuit coping with boundary scanning, pass through a thermal impact chamber 2 to give thermal impact so as to push a probe 37 for a wiring pattern in the printed circuit board connected to an input terminal and an output terminal of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バウンダリスキャン対応の半導体集積回路が実装されたプリント基板を熱衝撃室２を通過させて熱衝撃を与え、半導体集積回路の入力端子及び出力端子に接続されるプリント基板内配線パターンに対してプローブ３７を押し当てる。 - 特許庁

Each forward contact section 36 of both the end contact-type multiple pin loop probe 30 comes into contact with each terminal pad of a liquid crystal panel 12, and each backward contact section 38 comes into contact with a relay wire 44 in front of the relay unit.例文帳に追加

両端接触型の多ピンループプローブ３０の各前方接触部３６は液晶パネル１２の各端子パッドに接触し、各後方接触部３８は中継ユニットの前方端の中継ワイヤ４４に接触する。 - 特許庁

Each of the probe pins 41 to 4n for supplying a driving (data) signal is arranged at intervals three times as large as the terminal pitch Tp of driving (data) signal input terminals R1, G1, B1 to Rn, Gn, and Bn of the liquid crystal panel 1.例文帳に追加

駆動（データ）信号を供給するための各プローブピン４１〜４ｎは、液晶表示パネル１の駆動（データ）信号入力端子Ｒ１，Ｇ１，Ｂ１，…，Ｒｎ，Ｇｎ，Ｂｎの端子ピッチＴｐの３倍で配設されている。 - 特許庁

A measuring probe 1 is provided with a tip part 3a which has conductivity and locks up with a terminal to be measured, and an insulating external cylinder part 2 which covers the tip part 3a, and protrudes more front than the tip part 3a.例文帳に追加

導電性を有するとともに、被計測端子１４と係合可能な先端部３ａと、先端部３ａを覆うとともに、先端部３ａよりさらに前方に突出した絶縁性外筒部２とを備える。 - 特許庁

To provide a probe, which can surely and easily establish Kelvin connection on an electrode surface, even if an object to be measured becomes minute, and which can accurately and easily perform four-terminal measurement, even if it is on-board.例文帳に追加

被測定物が極小化しても、その電極面において確実且つ容易にケルビン接続を行うことができ、またオンボードであっても、四端子測定を高精度且つ簡単に行うことができるプローブを提供する。 - 特許庁

An action history creation part 13 distinguishes between a moving time zone and a staying time zone in reference to a probe database 21 including a position, noise, an illuminance and time detected by a user terminal device 5 to specify the staying place.例文帳に追加

行動履歴作成部１３は、ユーザ端末装置５が検出した位置、騒音、照度及び時刻を含むプローブデータベース２１を参照して、移動時間帯と滞留時間帯とを識別し、滞留場所を特定する。 - 特許庁

Besides, near the terminal portion of the operating part 5 on the side of the inserting part 4, a channel mouthpiece 18 is provided for feeding the liquid or the like by inserting a treatment tool such as biopsy forceps or laser probe or by connecting an adapter 3, a syringe 2 and the like.例文帳に追加

また、操作部５の挿入部４側端部近傍には生検鉗子やレーザープローブ等の処置具を挿入したり、アダプタ３、シリンジ２等を接続して送液等を行うチャンネル口金１８が設けられている。 - 特許庁

The support part for the probe is a recessed part 4 that is formed at a side-surface part 6 of the package 1 with a lead terminal 3 of a semiconductor device as a bottom surface, or a projection part that is formed at the side- surface part 6 of the package 1 between the lead terminals 3.例文帳に追加

プローブ用支持部は、パッケージ１の側面部６に形成され、半導体装置のリード端子３を底面とする凹部４、またはリード端子３間のパッケージ１の側面部６に形成された凸部５である。 - 特許庁

To provide a voltage probe capable of performing comfortable real- time trace at the development time, without disposing a special connection terminal for monitoring on an LSI itself, and without enlarging the LSI scale for mass production.例文帳に追加

ＬＳＩ自体に、モニタ用として特別の接続端子を配設することなく、量産用のＬＳＩ規模を大きくせず、かつ、開発時には快適なリアルタイムトレースを行うことのできる電圧プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a probe, and an inspection device using it which enhance the degree of freedom of the arrangement of test terminals in an inspecting object, and also facilitate handling of inspection of a plurality of kinds of boards whose terminal positions for testing are different.例文帳に追加

検査対象物におけるテスト端子配置の自由度が増し、また、テストを行う端子位置の異なる複数種類の基板検査への対応も容易になるプローブ及びこれを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

Then, a measuring terminal 22 provided in one end part of a contact probe 20 is brought into contact respectively with the center conductor 10a exposed in the cut end face 14 of the coaxial cable 10 and the shield conductor 10c.例文帳に追加

次に、同軸ケーブル１０の切断端面１４に露出する中心導体１０ａとシールド導体１０ｃとに、コンタクトプローブ２０の一方の端部に設けられた測定端子２２をそれぞれ接触させる。 - 特許庁

To provide a jig for wire probe that can prevent a dent from occurring to a contact terminal of an inspected substrate or on an electrode surface of an electrode substrate and can improve quality loss of the inspected substrate and shortened lifetime of the electrode substrate.例文帳に追加

被検査基板の接触端子や電極基板の電極表面に打痕が生じるのを防止し、被検査基板の品質低下や電極基板の短寿命化を改善できるワイヤープローブ用治具を提供する。 - 特許庁

A circuit board 2 is arranged in a waveguide 1 having a slope 1a in its inside so that the circuit board 2 is in parallel with the pipe axis of the waveguide 1, a first probe 12 and a first short circuit terminal 10 are inserted into the waveguide 1.例文帳に追加

内部に傾斜面１ａを有する導波管１に対して回路基板２をその管軸と平行に配設し、この導波管１の内部に第１のプローブ１２と第１の短絡端末１０を挿入する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric device which enables a measurement probe to contact with a terminal for piezoelectric vibration element measurement and stably measures the piezoelectric vibration element when the size of the piezoelectric device is reduced.例文帳に追加

圧電デバイスが小型化された場合にも、圧電振動素子測定用端子に測定用プローブを当てることができ、安定して圧電振動素子を測定することができる圧電デバイスを提供することを課題とする。 - 特許庁