「probe terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

A portable terminal device 4 transmits probe information comprising GPS positional information and positioning time information to a center device 2.例文帳に追加

携帯端末装置４はＧＰＳ位置情報及び測位時刻情報からなるプローブ情報をセンタ装置２へ送信する。 - 特許庁

A terminal end of the probe 17, having a contactor 17a at the tip is fixed to a spindle 16 via a piezoelectric element 18.例文帳に追加

接触子１７ａを先端に有するプローブ１７の末端は、スピンドル１６にピエゾ素子１８を介して固定されている。 - 特許庁

By a probe data division part 34 and an orthogonal component decomposition part 35, an in-vehicle terminal device 30 performs division of the probe data and the decomposition of the orthogonal component using principal component score vector acquired from the center device 10 and aims to reduce the probe data to be uplinked.例文帳に追加

車載端末装置３０は、プローブデータ分割部３４と直交成分分解部３５により、センタ装置１０から取得した主成分得点ベクトルを用いてプローブデータの分割と直交成分分解を行い、アップリンクするプローブデータの削減を図る。 - 特許庁

The probe device 10 includes: the conductive probe body 14 having at a tip end a contact part 38 where a plane in contact with a terminal 102 of the body 100 to be inspected is formed; and a support unit 28 movably supporting the probe body 14 in the axial direction.例文帳に追加

プローブ装置１０は、被検査体１００の端子１０２に接触する平面が形成された接触部３８を先端に有する導電性のプローブ本体１４と、プローブ本体１４をその軸線方向に移動可能に支持する支持部２８を備える。 - 特許庁

To improve mechanical characteristics, including tensile strength and fatigue strength, in a probe for measuring the electrical characteristics of an electronic circuit to be measured, by bringing the probe into contact with a terminal part thereof, with the probe being used fixed to a support substrate on which a circuit is formed.例文帳に追加

回路が形成された支持基板に取り付けて用いられ、被測定電子回路の端子部に接触させてその電気的特性を測定するためのプローブにおいて、引張り強さや疲労強度等の機械的特性をより向上させることを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for amplifying a nucleic acid, by which a specimen elongated over the almost all length of a template nucleic acid can be prepared, and high detection sensitivity for a detection probe at a site near to the 3'-terminal side of the detection probe without being affected by the selected position of the probe can be achieved.例文帳に追加

鋳型核酸に対してほぼ全長伸長した検体を調整することが可能となり、検出用プローブの選択位置に影響されず、その３’末端側の近い部位に検出用プローブに対しても高い検出感度を達成する - 特許庁

As the horizontal movement of a coaxial inspection probe 50 is restricted by a positioning through hole 68a of a small-diameter positioning plate 68, a first probe 30 of the coaxial inspection probe is prevented from contacting an outer conductor 26 of a coaxial terminal 20.例文帳に追加

小径の位置決めプレート６８の位置決め通孔６８ａにより同軸検査プローブ５０の水平方向の移動が規制されるので、同軸検査プローブの第１プローブ３０が同軸端子２０の外導体２６へ接触することを防ぐことができる。 - 特許庁

In the probing test at the second time, a semiconductor chip 1 is moved in the width direction of the first terminal 21 only by the arrangement space P_1 of the first terminal 21, so that the probe 31 is made to touch a first terminal 21b of even numbered terminals.例文帳に追加

二回目のプロービングテストは、第１端子２１の配置間隔Ｐ_1 分だけ半導体チップ１を第１端子２１の幅方向に移動して行い、プローブ３１を偶数番目の第１端子２１ｂに接触ささせる。 - 特許庁

To provide a probe card excellent in contactability and capable of corresponding flexibly to plural rows of electrodes and having a simple support structure of a probe terminal.例文帳に追加

従来の垂直針タイプのプローブカードの場合には、図４に示すように垂直針１１を支持するために複数の案内板１２、１３、１４が必要で、垂直針１１の支持構造が複雑である。 - 特許庁

To collect probe information on each predetermined moving object or only on the predetermined moving object, such as an automobile or a (walking) person, when collecting probe information produced in a portable terminal device.例文帳に追加

携帯端末装置で生成されたプローブ情報を収集するときに、自動車、人（徒歩）など特定された移動体毎、または特定された移動体のみのプローブ情報を収集できるようにする。 - 特許庁

A processor 4 of probe information for performs processing to calculate the passage time of the terminal of links l1 to l3 by using the location x and time i of a vehicle 5 included in probe information S3.例文帳に追加

本発明は、プローブ情報Ｓ３に含まれる車両５の位置ｘ及び時刻ｉを用いて、リンクｌ１〜ｌ３の始終端の通過時刻を求める処理を行うプローブ情報の処理装置４に関する。 - 特許庁

The NFC reader/writer 130 of the radio communication terminal 100A, 100B communicates a password and frame information (beacon, probe request, probe response and the like) required for performing wireless LAN connection setting (WPS).例文帳に追加

無線通信端末１００Ａ，１００ＢのＮＦＣリーダライタ１３０は、無線ＬＡＮの接続設定（ＷＰＳ）を行う際に必要な、パスワード、フレーム情報（ビーコン、プローブリクエスト、プローブレスポンス等）の通信を行う。 - 特許庁

Each probe terminal 40 erected on a probe stand 50 is brought into contact with all pads 30 necessary for evaluation of the chip on a semiconductor wafer 20, and fixed, while maintaining the contact state.例文帳に追加

半導体ウエハ２０上のチップの評価に必要な全てのパッド３０に対し、プローブ台５０に立設されたプローブ端子４０の各々を接触させ、その接触状態を維持したまま固定する。 - 特許庁

To provide a measuring probe capable of achieving efficient and easy measurement operation by allowing the probe to be in contact with a measuring object without unnecessarily exposing a terminal part.例文帳に追加

端子部を不必要に露出させることなく、計測対象物に接触させることができるようにして、効率のよい、また、容易な計測作業を実現することのできる計測プローブを提供すること。 - 特許庁

The rear end side from the groove 20 of the probe pin 10 is bonded to a connection terminal 11a of a contactor 11, and the tip part side of the probe pin 10 is bent to the lower side having a wafer W from the groove 20 part.例文帳に追加

プローブピン１０の溝２０より後端部側をコンタクタ１１の接続端子１１ａに接合し，プローブピン１０の先端部側は，溝２０の部分からウェハＷのある下側に折り曲げられる。 - 特許庁

A current signal exceeding a rated current is transmitted to a circuit inside the mobile terminal 1 from a probe 21 in a state that the probe 21 is connected to an input/output connector 11 of the mobile terminal 1 such as the cellphone to non-recoverably destroy the circuit inside the mobile terminal, so that the data are easily and certainly erased.例文帳に追加

携帯電話等の携帯端末１の入出力コネクタ１１にプローブ２１を接続した状態で、プローブ２１から携帯端末１内の回路に対し、定格を超える電流信号が送信され、携帯端末内の回路を復元不能に破壊する事が出来、容易かつ確実にデータを消去する。 - 特許庁

Compared with another device where such the terminal is formed on a flat surface, such the device 10 can more easily bring a probe into contact with the terminal 8-i by inserting the probe into the opening 14-i and hence inspection can more easily be performed.例文帳に追加

このような装置１０は、平坦な面にこのような端子が形成される他の装置に比較して、プローブを開口部１４−ｉに挿入することによりそのプローブをより容易に端子８−ｉに接触させることができ、より容易に検査されることができる。 - 特許庁

A high frequency signal reaches to the wiring 23a and the high frequency property according to the state of the surface of the plating is obtained by making terminals 26a, 26b and the wiring 23a contact with the probe terminal 51, and terminals 31a, 31b and the wiring 23a contact with the probe terminal 52, separately.例文帳に追加

端子２６ａ，２６ｂ及び配線２３ａにプローブ端子５１を、端子３１ａ，３１ｂ及び配線２３ａにプローブ端子５２をそれぞれ接触させ、配線２３ａに高周波信号を伝達し、そのめっきの表面状態に応じた高周波特性を得る。 - 特許庁

Therefore it is not necessary to bring a probe needle into contact with the terminal 3a for output signal corresponding to the output buffer circuit 8a because the output signal S1 is supplied to the semiconductor test device through the probe needle contacted with the terminal 3c for output signal.例文帳に追加

これにより、出力信号用端子３ｃに接触されたプローブ針を介して半導体試験装置に出力信号Ｓ１が供給されるので、出力バッファ回路８ａに対応する出力信号用端子３ａにプローブ針を接触させなくても良い。 - 特許庁

One of the probes for a voltage measurement device is inserted through this intermediate terminal hole 23 to make contact with the front end of the intermediate terminal 21, and the other probe is inserted through a power supply terminal hole 10 so as to make contact with a power supply terminal 11.例文帳に追加

そして、この中間端子孔２３から電圧測定器の一方のプローブを挿入して中間端子２１の前端部に接触させるようにし、他方のプローブを電源端子孔１０から挿入して電源端子１１に接触させるようにする。 - 特許庁

A probe card includes a force terminal 105 to which first supply voltage is supplied, a probe needle 101 which supplies voltage based on the first supply voltage to a semiconductor integrated circuit being an inspection object, and the fuse 102 which is connected in series on a signal line connecting the force terminal 105 and the probe needle 101.例文帳に追加

本発明にかかるプローブカードは、第１の電源電圧が供給されるフォース端子１０５と、検査対象である半導体集積回路に対し第１の電源電圧に基づいた電圧を供給するプローブ針１０１と、フォース端子１０５とプローブ針１０１とを接続する信号線上に直列に接続されたヒューズ１０２と、を備える。 - 特許庁

To provide a four-terminal inspection method and a four-terminal inspection jig using a single-sided transfer probe allowing to inspect breaks and via defects between both sides of a substrate by a simple apparatus structure with high precision.例文帳に追加

片面移動式プローブを用いた４端子検査方法及び４端子検査用治具に関し、簡単な装置構成で基板表裏間の断線・ビア欠陥を高精度で検査する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of suppressing the reduction in conductivity of a terminal and a probe needle even when an oxide film and a foreign substance exist on the surface of the terminal of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の端子の表面に酸化膜や異物が存在する場合でも、端子とプローブ針の導通性の低下を抑制できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an endoscope, ensuring that the terminal of an optical strand satisfactorily supports a terminal lumen cover in every operating status of an endoscope, especially a catheter probe.例文帳に追加

内視鏡特にカテーテルプローブのあらゆる操作状況において、光学ストランドの末端が末端ルーメンカバーを充分に支持することを保証する内視鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a probe card provided with a contact capable of preventing a terminal surface of an IC chip from being flawed by contact, and capable of securing a sufficient contact area and contact pressure to a terminal.例文帳に追加

ＩＣチップの端子表面に接触傷を付けることがなく、端子との間で十分な接触面積と接触圧力を確保できる接触子を備えたプローブカードを提供する。 - 特許庁

The access point 51-1 transmits a probe response 64-1 including an index corresponding to index request information included in a received probe request 63-1 and the access point 51-2 transmits a probe response 64-2 including an index corresponding to the index request information included in the received probe request 63-2 to the user terminal 52-1, respectively.例文帳に追加

アクセスポイント５１−１は、受信したプローブ要求６３−１に含まれる指標要求情報に対応する指標を含むプローブ応答６４−１を、アクセスポイント５１−２は、受信したプローブ要求６３−２に含まれる指標要求情報に対応する指標を含むプローブ応答６４−２を、ユーザ端末５２−１にそれぞれ送信する。 - 特許庁

The probe connected to the RF signal terminal of the contact probe IC is fixed to form a hollow part 41a with respect to the insertion hole 21, and is formed to be brought into the coaxial probe 41 formed in a prescribed impedance using the contact probe 1 as the center conductor and using an inner wall of the insertion hole 21 as an outer conductor.例文帳に追加

このコンタクトプローブＩＣのＲＦ用信号端子と接続されるプローブは、挿入孔２１との間に中空部４１ａが形成されるように固定され、かつ、コンタクトプローブ１を中心導体とし、挿入孔２１の内壁を外部導体とする所定のインピーダンスに形成された同軸プローブ４１になるように形成されている。 - 特許庁

To provide a wiring board for a probe card and the probe card using the same which, in a heat load test, has a small position displacement between a measuring terminal disposed on the wiring board for the probe card and a measuring pad formed on the surface of a Si wafer and can be suitably used for electrical characteristics inspection.例文帳に追加

熱負荷試験時において、プローブカード用配線基板に設けられた測定端子とＳｉウェハの表面に形成された測定パッドとの位置ずれが小さく、電気特性の検査に好適に使用できるプローブカード用配線基板とこれを用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a ceramic wiring board for a probe card in which positional deviation of a measurement terminal provided to the ceramic wiring board for the probe card and a measurement pad formed on a Si wafer is small, and which rarely causes defective appearance due to adhesion of a foreign substances, and to provide the probe card using the same.例文帳に追加

熱負荷試験時において、プローブカード用セラミック配線基板に設けられた測定端子とＳｉウェハの表面に形成された測定パッドとの位置ずれが小さく、異物付着による外観不良の極めて少ないプローブカード用セラミック配線基板とこれを用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for electrically testing a semiconductor integrated circuit in a wafer state that enables a probe card terminal for a pad on a wafer to be manufactured collectively, can correspond with a plane arrangement, can be suspended independently, and can cope with a test under high- temperature conditions as the probe card.例文帳に追加

半導体集積回路をウエハ状態で電気的に試験するためのプローブカードにおいて、ウエハ上のパッドに対するプローブカード端子が一括で作製でき、平面配列に対応でき、独立懸架であり、なおかつプローブカードとして高温条件下の試験に対応できるものを提供する。 - 特許庁

Because a lance posture detecting pin 12 of the probe pin is metallic, the probe pin is not broken or damaged even if a lance 1b is hit by the lance posture detecting pin 12 of the probe pin by an insertion of a terminal 2 into an inaccurate position of a connector 1, and moreover the pin is formed with a high precision.例文帳に追加

プローブピンのランス姿勢検知ピン１２が金属製であるので、端子２がコネクタ１に不正確な位置に差し込まれることにより、プローブピンのランス姿勢検知ピン１２がランス１ｂと当たっても、折れたり破損したりすることがなくなり、その上、高精度に形成できる。 - 特許庁

An on-vehicle terminal 2 mounted on a probe car 1 transmits probe information collected by an information collecting part 5 via a DSRC system radio communication instrument 4, when the probe car 1 intrudes into an area communicable with a mobile radio station unit 9 mounted on a route bus 7.例文帳に追加

プローブカー１に搭載された車載端末２は、プローブカー１が路線バス７に搭載された移動無線局ユニット９と通信可能なエリアに進入したときに、情報収集部５により収集したプローブ情報を、ＤＳＲＣ方式の無線通信機４を通じて送信する。 - 特許庁

To provide a probe pin and its manufacturing method capable of sufficiently scrubbing a terminal of an electronic device by the tip of a contact part.例文帳に追加

接触部の先端が電子デバイスの端子を十分にスクラブすることのできるプローブピン及びプローブピン製造方法を提供する。 - 特許庁

A terminal device measures a present position of a vehicle, and transmits probe information including the measured present position to an information provision server.例文帳に追加

端末装置は、車両の現在位置を測位し、測位された現在位置を含むプローブ情報を情報提供サーバに送信する。 - 特許庁

A voltage output terminal is connected independently and electrically to each of a plurality of voltage measuring probes 172 arranged in a probe bar 17.例文帳に追加

プローブバー１７に配置された複数の電圧測定プローブ１７２のそれぞれに電圧出力端子を独立に電気的に接続する。 - 特許庁

To provide an inspection tool for a printed wiring board capable of securing stable contact between a probe pin and a terminal part of the printed wiring board.例文帳に追加

プローブピンとプリント配線板の端子部との安定した接触を確保することができるプリント配線板用検査治具を提供する。 - 特許庁

A probe mounting terminal 30 is provided to a power supply line 14 from a power source 10 to each electrode unit 23 in the plasma treatment device.例文帳に追加

プラズマ処理装置の電源１０から各電極ユニット２３への電力供給ライン１４にプローブ取付端子３０を設ける。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and inspection method for preventing occurrence of displacement of a probe needle from a connection terminal of an inspecting object.例文帳に追加

プローブ針と被検査対象の接続端子とのずれの発生を防止することができる検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

A probe pin 10 as an external connection terminal is press fitted into the its hole 2b, and the projecting part of an outer cylinder is engaged with the hole 9c.例文帳に追加

外部接続端子としてのプローブピン１０が挿入孔２ｂ内に圧入され、外筒の突起部が穴９ｃに係合している。 - 特許庁

A needle-shaped probe of a memory writing jig 15 is made to contact with a writing terminal 12, and the set value, the newest program, and a correction value are written therein.例文帳に追加

メモリ書込治具１５の針状のプローブを書き込み用端子１２に接触させ設定値、最新のプログラムや補正値を書き込む。 - 特許庁

This inspection device 60 is connected with an adaptor 44 connected electrically to the back end of a probe 42 placed at every terminal 2.例文帳に追加

この検査装置６０は、各端子２毎に設けられたプローブ４２の後端と電気的に接続されるアダプタ４４とも接続される。 - 特許庁

To acquire sure contact between a terminal and a probe at the probing test time, while arranging the terminals highly densely, in a probing test method.例文帳に追加

プロービングテスト方法において、端子を高密度に配置しながら、プロービングテスト時に端子とプローブの確実な接触が得られるようにする。 - 特許庁

When there is a reply to the probe packet from the receiving-side portable terminal, the transmitting-side portable terminal starts streaming distribution, and the receiving-side portable terminal receives and acquires image data included in the streaming distribution packet.例文帳に追加

受信側携帯端末からプローブパケットに対する返信があった場合に、送信側携帯端末はストリーミング配信を開始し、受信側携帯端末はストリーミング配信用パケットに含まれる画像データを受信して取得する。 - 特許庁

By measuring with a measurement means of four-terminal method, comprising a current probe 40, a voltage probe 42, a constant current source 44, and a measurement part 52, etc., the resistance value of the metal resistor 14 is adjusted at high precision.例文帳に追加

電流用プローブ４０、電圧用プローブ４２、定電流源４４及び測定部５２などの４端子法の測定手段８により測定しつつ金属抵抗体１４の抵抗値を高精度に調整する。 - 特許庁

As a result, the tip of the probe pin 12 of the measuring jig is guided by and held in the location of the recess 10a of the IC package 10, and the electrical continuity is achieved between the probe pin 12 of the measuring jig and the lead terminal 11.例文帳に追加

その結果、測定治具のプローブピン１２の先端部がＩＣパッケージ１０の凹部１０ａにガイドされ位置が保持されると共に、測定治具のプローブピン１２とリード端子１１とが電気的に導通するようにする。 - 特許庁