| 例文 |
probe terminalの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 434件
To provide a probe card, its manufacturing method, a wafer prober, and a manufacturing method of a semiconductor device, for achieving stable measurement and probe test by reducing the effect of noise while meeting the miniaturization of a terminal electrode to be measured.例文帳に追加
被測定端子電極の微細化に対応しつつ、ノイズの影響を低減し安定した測定、プローブ試験を達成するプローブカード及びその製造方法、ウェハプローバ、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a probe data analysis system for accurately extracting a trip end in performing automatic analysis by using probe data having positioning point data of a mobile terminal collected without using a WEB diary as elements.例文帳に追加
WEBダイアリを用いずに集めた、移動端末の測位点データを要素としたプローブデータを利用して自動的に解析する際に、トリップエンドをより正確に抽出する、プローブデータ解析システムを提供する。 - 特許庁
The grounding pad 21 and the ROM code recognition pad 22 or 23 are probed by the probe terminal 27b and the probe terminal 27a of a measuring apparatus 13, and the ROM code is identified by conduction or non-conduction of a current flowing into an ammeter 24 through the FETs.例文帳に追加
接地用のパッド21とROMコード認識用のパッド22または23とを、計測装置13のプローブ端子27bとプローブ端子27aとでプロービングさせることにより、FETを通じて電流計24に流れる電流の導通または非導通でROMコードを識別する。 - 特許庁
To enable positive isolation of an insulating part formed on an inspecting electrode of a defective semiconductor integrated circuit element from the inspecting electrode and a contactor probe terminal, and also to enable positive conduction between an inspecting electrode of a good semiconductor integrated circuit element and the contact probe terminal.例文帳に追加
不良品の半導体集積回路素子の検査用電極の上に形成された絶縁部が検査用電極とコンタクタのプローブ端子とを確実に絶縁する一方、良品の半導体集積回路素子の検査用電極とコンタクタのプローブ端子とを確実に導通させるようにする。 - 特許庁
The connecting piece 20 is displaced between an evacuation attitude and an inspection attitude to connect a probe and the terminal T so as to allow electrical continuity.例文帳に追加
連結子20は、退避姿勢と検査姿勢との間で変位することにより、プローブと端子Tとを電気的に導通可能に接続する。 - 特許庁
To provide an oscillator that improve certainty of contact of a probe pin with a hot terminal, and limits a solder pulling amount.例文帳に追加
ホット端子に対するプローブピンの当接確実性の向上を図ると共に、半田引き付け量を制限することのできる発振器を提供する。 - 特許庁
The obtained correction amount is used to correct the contact position between the stylus tip of the probe terminal and the electrode of the semiconductor element at every certain inspection time.例文帳に追加
求めた補正量を用いて、一定の検査時間毎にプローブ端子の針先と半導体素子の電極との接触位置を補正する。 - 特許庁
Then, the probe PB is brought into contact with the end of the inspection cable 2 connected to the output terminal OUT2, so as to confirm the presence of the operation of the buzzer BZ.例文帳に追加
次にプローブPBを出力端子OUT2に接続された検査ケーブル2の端に当てブザーBZが動作するか確認する。 - 特許庁
To provide an easily-manufacturable probe for four-terminal measurement having excellent durability, capable of performing easily measuring operation, and realizing excellent electric contact with an inspection object.例文帳に追加
製造及び測定操作が容易で、耐久性に優れ、被検査物との電気的接触が良好な四端子測定用プローブを提供する。 - 特許庁
To provide an inspecting device for a liquid crystal panel by which a probe can be connected to a mounted terminal with satisfactory accuracy without incurring complicated procedures.例文帳に追加
煩雑な手順を伴うことなくプローブを実装端子に精度よく接続することのできる液晶パネルの検査装置を提供する。 - 特許庁
The ground pin 26 is moved to an optional ground terminal provided in the shortest position from a contact point of the signal detecting probe 24 to the brought into contact therewith.例文帳に追加
グランドピン26は、信号検出用プローブ24のコンタクトポイントから最短位置に設けられた任意のグランド端子に移動し、接触する。 - 特許庁
A probe request emitted by the wireless IP telephone terminal 7 is received in a reception part S31 and is demodulated as reception data by a demodulation processing part S32.例文帳に追加
無線IP電話端末7が放射するプローブ要求を受信部S31にて受信し、復調処理部S32により受信データとして復調される。 - 特許庁
Upon loading the probe card 30; a potential of the connection terminals 31w, 31x becomes at H level, and a potential of the connection terminal 31y becomes at L level.例文帳に追加
プローブカード30の装着時には、接続端子31w,31xの電位がHレベルに、接続端子31yの電位がLレベルになる。 - 特許庁
The upper end section of the upper contactor 20 projects upward toward the probe support plate 11 and is made to contact a terminal 12a of the printed wiring board 12.例文帳に追加
上部接触子20の上端部は、プローブ支持板11の上方に突出してプリント配線基板12の端子12aに接触している。 - 特許庁
The received signals of three vibrators near the center of an opening on the ultrasonic probe are added and inputted to one terminal of the beam former.例文帳に追加
超音波探触子の開口部の中心付近の3つの振動子の受信信号を加算し、ビームフォーマの1つの端子に入力する。 - 特許庁
This method for detecting a defective bonding part of impervious sheet, further, comprises a current detector which is provided with an original electrode, a probe electrode, an original terminal and a probe terminal and detects the current which flows when the voltage is applied between the terminal part of the hollow part into which the electroconductive liquid is filled and the prescribed position near the seal part.例文帳に追加
又、元電極、探針電極、及び、元端子と探針用端子とを備える電流検知器、から構成され、前記導電性液体が注入された前記空洞部の終端部と、前記シール部近傍の所定の位置との間に電圧をかけたときに流れる電流を検知する、遮水シート接合不良検知器である。 - 特許庁
In an information service system, an on-vehicle terminal includes an acquisition section for acquiring probe information on a vehicle and a communication section for transmitting the probe information to an antenna section through the communication section, and a server includes an evaluation value arithmetic section for calculating a safe driving evaluation value according to the amount and/or content of the probe information transmitted from the on-vehicle terminal.例文帳に追加
車載端末は、車両のプローブ情報を取得する取得部と、前記プローブ情報を前記通信部を介してアンテナ部へ送出する通信部と、を備え、サーバは、前記車載端末から送られてきたプローブ情報の情報量およびまたは内容に応じた安全運転評価値を算出する評価値演算部と、を備える情報提供システム。 - 特許庁
In relation to a nucleic acid probe including up to 40 bases in which the ends are mutually complementary and the central section includes a sequence of 15 to 30 bases which is complementary to a target sequence, the nucleic acid probe is labelled at the 5' terminal with a chemiluminescent acridinium ester labelling compound of general formula (I) and the nucleic acid probe is labelled at the 3' terminal with a quencher.例文帳に追加
互いに相補的である末端、及び標的配列に相補的である15から30塩基の配列を含む中央部分を有する40以下の塩基を含む核酸プローブに関し、この核酸プローブは、5’末端において一般式(I):の化学発光アクリジニウムエステル標識化化合物で標識化され、そして、この核酸プローブは、3’末端において、クエンチャで標識化されている。 - 特許庁
To provide a downsized test terminal for installation of a substrate, which prevents a test pattern provided on the substrate from being damaged, and also prevents misregistration of a probe from occurring, and also to provide a substrate with the test terminal.例文帳に追加
基板に設けられたテストパターンを傷つけたり、プローブの位置ずれが生じたりするのを防止でき、かつ、小型化を実現可能な基板設置用テスト端子、及びテスト端子付き基板を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device which acquires conductivity between a connection terminal and a ground probe even when the connection terminal is coated with a coating material having electrical resistivity higher than that of a basis material.例文帳に追加
接続端子が素地よりも高い電気抵抗率を有する被膜材で被膜されている場合であっても、接続端子と接地プローブとの導通性を確保するようにした半導体装置を提供する。 - 特許庁
To apply an accurate voltage to a power terminal of a semiconductor device, even if a contact resistance between a probe for voltage application and the power terminal of the semiconductor device is heightened, in a test of the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置の試験において、電圧印加用プローブと半導体装置の電源端子の間の接触抵抗が増大しても、半導体装置の電源端子に正確な電圧を印加可能とする。 - 特許庁
Inner conductors of the coaxial cables 34A, 34B connect the probe with an input terminal or an output terminal of the resonance circuit, and a predetermined reference voltage is being applied to outer conductors of the coaxial cables 34.例文帳に追加
同軸ケーブル34A,34Bの内導体は、プローブと共振回路の入力端又は出力端とを接続し、同軸ケーブル34の外導体には、所定の基準電圧が印加されている。 - 特許庁
The terminals A and B respectively update shared information of other terminals newly connected to the radio communication terminal and each terminal in an adjacent radio communication network with the beacon or probe request as a turning point.例文帳に追加
端末A,Bは、それぞれビーコン又はプローブ要求の送信を契機に新たに無線通信網に接続した他の端末や隣接する無線通信網内の各端末の共有情報を更新する。 - 特許庁
An optical coupler 14 multiplexes signal light from an input terminal 10 and probe light from an input terminal 12 and inputs the resultant light to an electricity absorbing optical modulator 16A of a modulator integrated element 16.例文帳に追加
光カップラ14は、入力端子10からの信号光と入力端子12からのプローブ光を合波して、変調器集積素子16の電気吸収型光変調器16Aに入力する。 - 特許庁
In the primitive cell 10, probe pads 12 and 14 are provided above an input terminal 6 and an output terminal 8, respectively, and connected to the terminals 6 and 8 through via metals 16 and 18.例文帳に追加
プリミティブセル10において、プローブパッド12,14を入力端子6および出力端子8の上方に設け、それぞれビアメタル16,18により入力端子6および出力端子8に接続する。 - 特許庁
The detecting unit 18 has a signal detecting probe 24 contacting with the terminal 16 of the semi-conductor device 14, and a ground pin 26 contacting with a ground terminal provided in the printed circuit board 12.例文帳に追加
検出ユニット18は、半導体装置14の端子16に接触される信号検出用プローブ24と、プリント基板12に設けられたグランド端子に接触されるグランドピン26とを有する。 - 特許庁
In a wiring board for probe cards, the connection substrate is joined to an upper surface of the wiring board, thus enabling a terminal of a semiconductor element to reliably abut on the probe pin 14, matching to requested impedance characteristics as much as possible, and improving transmission of high-frequency signals.例文帳に追加
半導体素子の端子とプローブピン14との接触を確実にすることが可能となり、また要求されるインピーダンス特性に極力整合させることができ、高周波信号の伝送を良好にすることが可能となる。 - 特許庁
This probe device for connecting the connector of the inspection object 100 having a circuit and the connector 104 to be connected to the circuit, to the terminal of the tester for inspecting the circuit operation of the inspection object is equipped with a spring probe 31 to be in contact with the connector.例文帳に追加
回路及び回路に接続されるコネクタ104を有する被検査物100のコネクタと、被検査物の回路の動作を検査するテスタの端子と、を接続するプローブ装置であって、コネクタに接触するスプリングプローブ31を備える。 - 特許庁
To improve measurement reliability by improving connection accuracy between a probe and a terminal, concerning an adapter for an electronic element for measuring a waveform by using the probe, and a substrate mounting structure using the adapter.例文帳に追加
本発明はプローブを用いて波形測定が行われる電子素子用アダプター及びこれを用いた基板実装構造に関し、プローブと端子との接続精度を高めることにより測定信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁
To detect a contact state between contact terminals of a probe card and an inspected object with the probe card closely positioned to the inspection object, even when the contact terminal is made fine and even when an array thereof is formed with a narrow pitch.例文帳に追加
接触端子の微細化及びその配列の狭ピッチ化がなされていても,プローブカードと被検査物とを近接させて位置決めしている状態で,プローブカードの接触端子と被検査物との接触状況を検出できること。 - 特許庁
The probe terminal 11 of the probe card 10 includes a bump body 11A projected from the surface part of a first membrane 12, and a bump basic part 11B arranged in the first membrane 12 made eccentric from the center of the bump body 11.例文帳に追加
プローブカード10のプローブ端子11は、第1のメンブレン12の表面部分から突出するバンプ本体11Aと、バンプ本体11の中心から偏心して第1のメンブレン12内に配設されるバンプ基部11Bとを有する。 - 特許庁
To provide a probe pin and a contact probe, capable of performing accurately instant coping with the difference in the interval between two points which are measuring points and four-terminal measurement by one axis, by making the interval between each contact end of each contactor continuously variable.例文帳に追加
各接触子の接触端相互の間隔を連続的に可変とすることで、測定ポイントである2点間の間隔の違いへの即応と、1軸で四端子測定を精度よく行えるプローブピンおよびコンタクトプローブの提供。 - 特許庁
The transmitting-side portable terminal is equipped with: a camera section; a probe packet processing section for generating a probe packet including an image acquired by the camera section; a streaming processing section for generating a streaming distribution packet for stream-distributing the image acquired by the camera section; and a transmitting section for transmitting the probe packet and the streaming distribution packet.例文帳に追加
送信側携帯端末は、カメラ部と、カメラ部にて取得された画像を含むプローブパケットを生成するプローブパケット処理部と、カメラ部にて取得された画像をストリーム配信するためのストリーミング配信用パケットを生成するストリーミング処理部と、プローブパケットおよびストリーミング配信用パケットを送信する送信部と、を備える。 - 特許庁
A wireless LAN terminal 200 transmits a request for a wireless parameter during wireless communication through a communication means to a wireless LAN access point 100, receives a probe response to the probe request from the wireless LAN access point 100 through the communication means, and sets the wireless parameters included in the probe response.例文帳に追加
無線LAN端末200は、無線通信時の無線パラメータを要求するプローブ要求を、通信手段を介して無線LANアクセスポイント100へ送信し、プローブ要求に対する無線LANアクセスポイント100からのプローブ応答を通信手段を介して受信し、プローブ応答に含まれる無線パラメータを設定する。 - 特許庁
By having a cleaning dummy head assembly disposed and clamped on a head clamp base, in place of a magnetic head assembly and bring a contact probe unit into contact with a cleaning part, e.g., a cleaning sheet, without having manual work with the contact terminal of the contact probe unit, the contact probe unit is cleaned by contact operation.例文帳に追加
この発明は、清掃用のダミーヘッドアッセンブリを設けて、磁気ヘッドアッセンブリに換えてヘッドクランプ台にクランプしてクリーニング部材、例えば、クリーニングシートにコンタクトプローブユニットを接触させることでコンタクトプローブユニットの接触端子を人手によることなく、コンダクト動作でコンタクトプローブユニットを清掃することができる。 - 特許庁
Then, the aligning tool 24 is separated from the plurality of lead terminals in a state where the tip 36 of each lead terminal 23 is butted on the probe 43.例文帳に追加
次に、各リード端子23の先端部分36をプローブ43に当接した状態において、整列治具24を複数のリード端子から離脱する。 - 特許庁
To provide a crystal oscillator for surface mounting having improved productivity by increasing the width of a characteristic inspection terminal and making contact of a measuring probe sure.例文帳に追加
特性検査端子の幅を大きくして測定用プローブの接触を確実にし、生産性を高めた表面実装用の水晶発振器を提供する。 - 特許庁
To provide a probe card capable of preventing displacement of a contact terminal by thermal expansion of an elastic layer formed with the contact terminals thereon.例文帳に追加
接触端子が形成される弾性層の熱膨張により接触端子の位置ずれが生じることを防止できるプローブカードを提供すること。 - 特許庁
Since the test circuit chip 21 is provided in the vicinity of the needle root of the probe terminal 12 in this way, degradation of a test signal is suppressed, and test reliability is improved.例文帳に追加
このようにテスト回路チップ21をプローブ端子12の針元近傍に設けたことにより、テスト信号の劣化が抑え、テストの信頼性が向上する。 - 特許庁
A contact position between the stylus tip of the probe terminal and the electrode of the semiconductor element, which are displaced due to inspection temperature, is corrected to bring them into contact with each other.例文帳に追加
検査温度により変位したプローブ端子の針先と半導体素子の電極とを接触させるために、これら両者の接触位置を補正する。 - 特許庁
To generate proper congestion information for every part of a road when generating congestion information based on probe information generated by a portable terminal device.例文帳に追加
携帯端末装置で生成されるプローブ情報に基づいて渋滞情報を生成する際、道路の部分毎に適切な渋滞情報を生成する。 - 特許庁
The displaying state of a liquid crystal display is checked by inputting an individual inspecting or usual lighting signal into each terminal 7 via the probe 9.例文帳に追加
プローブ9を介して各端子7に個別の検査用または通常点灯用信号を入力し、液晶表示装置の表示状態を確認する。 - 特許庁
An optical band pass filter 22 extracts only the probe light component from output light of the electricity absorbing optical modulator 16B and supplies it to an output terminal 24.例文帳に追加
光バンドパスフィルタ22は、電気吸収型光変調器16Bの出力光からプローブ光成分のみを抽出して、出力端子24に供給する。 - 特許庁
A radio terminal transmits Beacon or Probe Request while including in an SSID a character string indicative of an equipment information acquisition request or a specific operation execution request.例文帳に追加
無線端末は、SSIDに機器情報取得要求または特定動作実行要求を示す文字列を含め、BeaconまたはProbeRequestを送信する。 - 特許庁
To provide a probe in which a desired contact area with a terminal can be obtained, a tool with the same, and a testing apparatus with the same.例文帳に追加
端子との所望の接触面積を得ることができるプローブおよびそれを備えた治工具ならびにそれらを備えた試験装置を提供する。 - 特許庁
The test circuit chip 21 comprises a very small spherical semiconductor chip and provided in the vicinity of the needle root of each probe terminal 12 as close as possible.例文帳に追加
テスト回路チップ21は、微小な球面半導体チップからなり、各プローブ端子12の針元近傍に極力近接させて設けられている。 - 特許庁
To provide an IC package capable of achieving stable contact between the lead terminal of the IC and the probe pin of a measuring jig upon the operation check of the IC.例文帳に追加
ICの動作確認時にICのリード端子と測定治具のプローブピンとの接触を安定して行うことのできるICパッケージを提供する。 - 特許庁
In this case, if a defective contact is generated the probe 9 is temporarily disconnected from the terminal 7 and moved laterally by a length corresponding to a half of a pitch of the terminals 7.例文帳に追加
このとき、コンタクト不良が発生した場合は、一旦プローブ9を端子7から離し、横方向に端子2のピッチの1/2分移動させる。 - 特許庁
Resultantly, connection of the probe to a conventionally needed clock terminal 113 is dispensed with, to reduce the number of probes.例文帳に追加
その結果、従来必要としていたクロック端子113に対してプロープを接続することが不要となるため、プローブ数を削減することが可能となる。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|