「probe terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The inspection probe is provided with terminal parts (101-1 to 101-n, 102-1 to 102-n) in which at least two contact points to contact with an electrode pad formed on a circuit board are arranged, and a plurality of signal lines (103-1 to 103-n) connected to each of the contact points of the terminal part.例文帳に追加

検査プローブに、回路基板上に形成される電極パッドに接触させる少なくとも２つの接点が配置された端子部（１０１−１〜１０１−ｎ，１０２−１〜１０２−ｎ）と、この端子部の前記接点のそれぞれに接続される複数の信号線（１０３−１〜１０３−ｎ）とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

A map information providing server 3 sets, when requested to provide map information by a portable terminal device 5, the cutout range and scale of the map information to be provided to the portable terminal device 5 on the basis of probe information present at predetermined point of time in a circle of a predetermined radius from the destination.例文帳に追加

地図情報提供サーバ３は、携帯端末装置５から地図情報の提供を要求されたとき、所定の時点に目的地から所定の半径の円内に存在するプローブ情報に基づいて、携帯端末装置５に提供する地図情報の切り出し範囲及び縮尺を設定する。 - 特許庁

A route guidance server 4, upon reception of a route guidance request for walking or bicycle from a portable terminal device 7, gains access to a probe information collection server 2 and a weather information providing server 5, and examines whether a user of the portable terminal device 7 has used a bicycle on a rainy day near a user's home.例文帳に追加

経路案内サーバ４は、徒歩或いは自転車用の経路案内要求を携帯端末装置７から受けたとき、プローブ情報収集サーバ２及び気象情報提供サーバ５にアクセスして、携帯端末装置７のユーザが、過去、自宅近くで雨の日に自転車を利用したか否かを調べる。 - 特許庁

A probe information providing server 200, in response to a search request made by the in-vehicle terminal 101 and the like upon specifying an area, searches for trip information which shows that the vehicle and the like flow in the area or which shows that the vehicle and the like flow out thereof, and transmits the trip information to the in-vehicle terminal 101 and the like.例文帳に追加

プローブ情報提供サーバ２００は、車載端末１０１等からのエリアを指定した検索要求に応答して、車両等がそのエリアに流入したことを示すトリップ情報、またはそのエリアから流出したことを示すトリップ情報を検索して車載端末１０１等に送信する。 - 特許庁

The ultrasonic probe includes a semiconductor substrate, on which a cMUT type vibrator placed on a backing layer is formed, and a wiring board for external wiring, and electrode terminals of the vibrator and lead electrodes of the wiring board are bonded in order from the terminal side having higher height from a placing face of the backing layer to the terminal side having lower height.例文帳に追加

バッキング層上に載置されたｃＭＵＴ型の振動子が形成された半導体基板及び外部配線の配線基板とを備え、振動子の電極端子と配線基板のリード電極のボンディングは、バッキング層の載置面からの高さが低い端子側から高い端子側にボンディングされてなる構成とする。 - 特許庁

A probe coil 5 is formed by winding a belt-like wire rod having each different width according to a position, and a third terminal 503 is provided on a coil center part other than a first and second terminals 501, 502 provided on both ends, and the first and second terminals are grounded through variable capacity capacitors 601, 602, and the third terminal is connected to a receiving circuit.例文帳に追加

位置により幅の異なる帯状線材を巻いてプローブコイル５を作り、その両端に設けた第１，第２端子５０１，５０２の他に、コイル中心部に第３の端子５０３を設け、第１，第２端子は可変容量キャパシタ６０１，６０２を介して接地させ、第３端子は受信回路に接続させる。 - 特許庁

Subsequently, complementary chain annealing and extension between a probe having a sequence complementary to the above primer binding site immobilized on a second carrier and the primer binding site at the terminal of the cDNA are performed to transfer the sequence of the cDNA to the second carrier.例文帳に追加

続いて、第２担体に固定化された上記プライマー結合部位と相補的な配列を有するプローブと、cDNAの末端部のプライマー結合部位の相補鎖結合及び伸長反応を行い、第２担体上にcDNAの配列を移管する。 - 特許庁

In the fifth wiring layer M5, the conductor pattern (the fifth wiring 5F, the terminal wiring and the plug 6C) is formed in a region, other than the same, immediately below the probe contacting region PA of the bonding pad PD for the uppermost wiring layer MH.例文帳に追加

上記第５配線層Ｍ５において、最上の配線層ＭＨのボンディングパッドＰＤのプローブ接触領域ＰＡの直下以外の領域には、導体パターン（第５配線５Ｆ、ダミー配線およびプラグ６Ｃ）を形成する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus of electrical inspection for a pattern wiring board, whereby whether a probe and a terminal of the pattern wiring board are connected with a low contact resistance value is confirmed and contact properties can be improved.例文帳に追加

プローブとパターン配線基板の端子の間が低い接触抵抗値をもって接触しているか否かを確認し、かつ接触性を改善することが可能なパターン配線基板用電気検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of performing highly reliable inspection by: correcting displacement depending upon inspection temperature when electric characteristics are inspected at predetermined inspection temperature; and bringing a stylus tip of a probe terminal into normal contact with an electrode of a semiconductor element.例文帳に追加

電気的特性検査を所定の検査温度で行う場合、検査温度による変位を補正し、プローブ端子の針先と半導体素子の電極とを正常に接触させて、信頼性の高い検査を行う方法の提供。 - 特許庁

To provide a tool for inspection allowing a probe to be simultaneously brought into contact with a plurality of terminal parts by sliding an electronic component without using an actuator, and having excellent workability without requiring much time for electrical characteristic inspection of the electronic component.例文帳に追加

アクチュエータを使用せずに電子部品をスライドさせ、複数の端子部にプローブを同時に当接させる事を可能とし、前記電子部品の電気的特性検査に時間を要しない、作業性の良い検査用治具を得る。 - 特許庁

An on-vehicle terminal 130 transmits the vehicle information based on informations, which are collected by the front and rear vehicle state sensing devices 120, 140 and the on-vehicle sensor 140, to a probe information sensor 400.例文帳に追加

車載端末１３０は、前方車両状況感知装置１１０、後方車両状況感知装置１２０および車載センサ１４０が収集した情報にもとづく車両情報をプローブ情報センター４００に送信する。 - 特許庁

The width of a contact region 12 of a probe terminal 1 for inspection is smaller than the width of the electrode 110 of the liquid crystal panel 100 and the width of an extendedly existing region 11 and a non-contact region 13 is greater than the width of the contact region 12.例文帳に追加

検査用のプローブ端子１において、接触領域１２の幅は液晶パネル１００の電極１１０の幅より小さく、延在領域１１と非接触領域１３の幅は接触領域１２の幅よりも大きい。 - 特許庁

To provide a relay connector configured so that when a substrate 18 to be connected is inserted to an appropriate position, the front sides of a first clip member 10 and a second clip member 12 are closed to allow a probe 28 to abut on a terminal of the substrate 18.例文帳に追加

被接続基板１８を適正な位置まで挿入すると、第１クリップ部材１０と第２クリップ部材１２の前側が閉じられて、プローブ２８が被接続基板１８の端子に当接し得る中継コネクタを提供する。 - 特許庁

Moreover, the card includes a fuse check circuit 104 which gives a voltage different from the first supply voltage supplied from the force terminal 105, to a node 119 on the signal line between the probe needle 101 and one end of the fuse 102.例文帳に追加

さらに、プローブ針１０１とヒューズ１０２の一端との間の信号線上のノード１１９にフォース端子１０５から供給される第１の電源電圧と異なる電圧を与えるヒューズチェック回路１０４と、を備える。 - 特許庁

To provide a pressed probe contact terminal of a lead wire in a printed circuit board inspection jig which does not move with respect to a base board even when the diameter relationship between the lead wire and a lead wire insertion hole of the base board is a clearance fit.例文帳に追加

プリント配線板検査治具におけるリード線のプレス加工式のプローブ接触端子として、リード線と検査治具のベースボードのリード線挿通穴が隙間嵌めの径関係の場合でも、ベースボードに対して移動しないものを提供する。 - 特許庁

The mutation is detected by using a nucleic acid probe having a specific base sequence, produced by amplifying a region containing a C3435T mutation by PCR, having a terminal labeled with a fluorescent pigment and decreasing the fluorescence of the fluorescent pigment by hybridization, carrying out the melting curve analysis by measuring the fluorescence of the fluorescent pigment with the probe and detecting the mutation based on the result of the melting curve analysis.例文帳に追加

C3435T変異を含む領域をPCRで増幅し、末端が蛍光色素で標識され、ハイブリダイゼーションしたときに蛍光色素の蛍光が減少する核酸プローブであって、特定の塩基配列を有する前記核酸プローブを用いて、蛍光色素の蛍光を測定することにより融解曲線分析を行い、融解曲線分析の結果に基づいて変異を検出する。 - 特許庁

The mutation is detected by using a nucleic acid probe having a specific base sequence, produced by amplifying a region containing a C2850T mutation by PCR, having a terminal labeled with a fluorescent pigment and decreasing the fluorescence of the fluorescent pigment by hybridization, carrying out the melting curve analysis by measuring the fluorescence of the fluorescent pigment with the probe and detecting the mutation based on the result of the melting curve analysis.例文帳に追加

C2850T変異を含む領域をPCRで増幅し、末端が蛍光色素で標識され、ハイブリダイゼーションしたときに蛍光色素の蛍光が減少する核酸プローブであって、特定の塩基配列を有する前記核酸プローブを用いて、蛍光色素の蛍光を測定することにより融解曲線分析を行い、融解曲線分析の結果に基づいて変異を検出する。 - 特許庁

A probe 1 is abutted to a surface 10a of a terminal 10 used for an inspection, and includes a holding member 2 having conductivity, and a conductive and deformable distal end part 3 held in a distal end of the holding member 2.例文帳に追加

プローブ１は、検査に用いられる端子１０の表面１０ａに当接されるプローブ１であって、導電性を有する保持部材２と、保持部材２の先端に保持された導電性を有し、かつ変形可能な先端部３とを備えている。 - 特許庁

The network quality evaluation device is characterized in that a probe having a packet extract function is inserted to one terminal of measurement object span on the communication network so as to measure a propagation delay time for a test packet reciprocated through the measurement object span.例文帳に追加

通信ネットワーク上の測定対象区間の一端にパケット抽出機能を有する1台のプローブを挿入し、前記測定対象区間を往復するテスト用パケットの伝播遅延時間を測定することを特徴とするネットワーク品質評価装置。 - 特許庁

When the stopper member 20 is moved backward against the elastic force of the coil spring 24 by inserting the substrate 18 to be connected, the abutment of the projection 12b is released, and the probe 28 provided on the second clip member 12 abuts on the terminal of the substrate 18 to be connected.例文帳に追加

被接続基板１８の挿入により、コイルバネ２４の弾力に抗してストッ部材２０を後方向に移動させると、突起１２ｂの当接が外れて、第２クリップ部材１２に設けたプローブ２８が被接続基板１８の端子に当接する。 - 特許庁

By comparing the circuit composition obtained by providing every terminal 2, the detector 32a, and the probe 42 with the circuit composition stored in the inspection device 60 in advance, continuity is inspected and loosening of terminals 2 and short-circuit of the terminals are detected.例文帳に追加

各端子２と検出子３２ａ及びプローブ４２が当設することによって得られる回路構成と、検査装置６０に予め記憶された回路構成との比較によって、導通検査及び、端子２の抜けや端子同士の短絡を検出する。 - 特許庁

In an IC examination, a probe needle is brought into contact with the first and second pads 32 and 34 and according to the input/output load or the like of a tester connected to the first pad terminal 32, the pulse width of the reset signal 12 is set wider than that of ordinary use.例文帳に追加

ＩＣ検査時には、第１，第２パッド３２，３４にプローブ針がコンタクトされ、第１のパッド端子３２に接続されるテスタの入出力負荷等に従って、リセット信号１２のパルス幅が、通常使用時よりも広く設定される。 - 特許庁

An inspection part 14 comprises a probe pin 15 for detecting the continuity state of a terminal T, and a lever 30 for controlling the inspection part 14 from displacing to an inspecting position when a front retainer 4 is incompletely inserted to a housing 1.例文帳に追加

検査部１４には、端子Ｔの導通状態を検出するためのプローブピン１５と、ハウジング１に対してフロントリテーナ４が挿入不完全な場合に、検査部１４が検査位置に変位されるのを規制するためのレバー３０が配設されている。 - 特許庁

To provide a measurement probe which performs four-terminal measurement by securely brought into contact with a measurement object with a simple structure even in a flip chip surface where a high-density wiring pattern is formed, and also to provide its manufacturing method and measurement device.例文帳に追加

高密度の配線パターンが形成されたフリップチップ面においても簡単な構造によって確実に測定対象と接触して四端子測定を行うことのできる測定用プローブ、その製造方法及び測定装置を提供する。 - 特許庁

When a switch circuit 150 outputs the compressed data compressed by the second compressing circuit 140, an output terminal designation part 160 designates any of a plurality of probe pads 170 or micro bump pads 190 to output the compressed data.例文帳に追加

出力端子指定部１６０は、切替回路１５０が第２圧縮回路１４０による圧縮データを出力する際に、複数のプローブパッド１７０またはマイクロバンプパッド１９０のうち何れに切り替えて出力を行うべきかを指定する。 - 特許庁

A bias power supply 6 for giving a bias voltage for discharging secondary electrons from a sample 3 is connected to a non-inverted input terminal of an operational amplifier 5 of a preamplifier 4, and hence the DC potential of a probe 1 becomes the bias potential concerned.例文帳に追加

プリアンプ４の演算増幅器５の非反転入力端子には、試料３から二次電子を放出させるためのバイアス電圧を与えるバイアス電源６が接続され、これにより探針１の直流電位は当該バイアス電位となる。 - 特許庁

The clockwise circular polarized wave signal from the probe 11 is converted by a mixer 19 to a 1st and a 2nd intermediate-frequency band and filtered by a branching filter 22, and the signal of the 1st intermediate- frequency band is outputted from a 1st output terminal 26.例文帳に追加

上記プローブ１１からの右旋円偏波信号をミキサー１９にて第１及び第２の中間周波数帯に変換した後、分波器２２により分波し、第１中間周波数帯の信号を第１の出力端子２６から出力する。 - 特許庁

When the determination by the determination section is negative, the transmission section transmits the probe request by the next frequency channel selected by the frequency selection section and the determination section determines whether to be capable of communicating with the other radio communication terminal by the next frequency channel or not.例文帳に追加

判断部の判断が否定的な場合に、送信部は周波数選択部で選択された次の周波数チャネルでプローブ要求を送信し、判断部は次の周波数チャネルで他の無線通信端末と通信可能か否かを判断する。 - 特許庁

It is possible by means of the opening part 63, to form a connector connection between the instrument-side connector 52 and a vehicle-side connector 70 with both covers being assembled and bring an inspection jig 80 (inspection probe) into contact with the inspection terminal.例文帳に追加

この開口部６３により、両カバーを組み付けた状態で計器側コネクタ５２と車両側コネクタ７０とをコネクタ接続可能とすることができるとともに、検査用端子に検査冶具８０（検査用プローブ）を接触させることが可能となっている。 - 特許庁

To provide a method of polarizing an oscillator for a piezoelectric oscillation gyro capable of generating hardly a positional shift in contact of an electrode formed on a surface of the oscillator for the piezoelectric oscillation gyro with a probe terminal of a polarization tool, in sufficient polarization, and leakage, in polarization processing.例文帳に追加

分極処理の際の圧電振動ジャイロ用振動子表面に形成された電極と分極冶具のプローブ端子との接触の位置ずれ、分極不足やリークが発生しにくい圧電振動ジャイロ用振動子の分極方法を提供すること。 - 特許庁

The protein is obtained by extracting mRNA from mantle piece of Pinctada fucata in an usual manner, by preparing a cDNA library using it, by screening the library with an oligonucleotide as a probe corresponding to amino acid sequence of the protein at the N terminal position, by transducing the gene into a vector and by making it be expressed in host cells.例文帳に追加

このタンパク質のＮ末端アミノ酸配列に対応するオリゴヌクレオチドをプローブとして用いて、アコヤガイの外套膜組織から調製されるｃＤＮＡライブラリーより、新規な真珠層基質タンパク質の遺伝子がクローニングされる。 - 特許庁

The printed circuit board inspection apparatus 1 has a shaker 24 for giving vibration to a wiring side base plate 23 for retaining a wiring side terminal section 25 in a fine probe 22 in contact with a printed circuit board 10 that is an object to be inspected.例文帳に追加

本発明を適用したプリント基板検査装置１は、被検査物たるプリント基板１０に接触するファインプローブ２２の配線側端子部２５を保持している配線側ベース板２３に対して振動を与える加振装置２４を備えている。 - 特許庁

The probe includes: a tip part electrically connected to the object to be measured and having the frequency characteristics of gain; a cable part for transmitting electric signals from the tip part; and an amplifier part for receiving input of electric signals from the cable part at an input terminal, compensating for the frequency characteristics of gain of the tip part, and outputting them from an output terminal to the waveform measuring apparatus.例文帳に追加

本プローブは、被測定対象に電気的に接続され、ゲインの周波数特性をもつ先端部と、先端部からの電気信号を伝送するケーブル部と、ケーブル部からの電気信号を入力端子から入力し、先端部のゲインの周波数特性を補償して出力端子から波形測定装置に出力するアンプ部とを有する。 - 特許庁

The transparent conductive film TCF is electrically connected to the wiring inspection terminal GL-P through the dent DNT and extended to the upper layer of the gate insulating film GI and the passivation film PAS on the side opposite to the scanning line GL of the wiring inspection terminal GL-P and disconnection inspection is performed using the extended part as a contact part of the inspection probe PB.例文帳に追加

透明導電膜ＴＣＦは凹部ＤＮＴで配線検査用端子ＧＬ−Ｐと電気的に接続し、配線検査用端子ＧＬ−Ｐの前記走査配線ＧＬとは反対側で前記ゲート絶縁膜ＧＩと保護膜ＰＡＳの上層にまで延在して形成され、延在した部分を検査プローブＰＢの接触部として断線検査を行う。 - 特許庁

To provide a carrier tape capable of reducing the electrostatic breakdown of an integrated circuit element caused by the discharge of an electrified charge or the like, and conducting performance test on the integrated circuit element such as conducting input/output inspection of signals by contacting a probe pin with an input terminal or output terminal or the like in the manufacturing process of the tape carrier package.例文帳に追加

テープキャリアパッケージの製造工程の過程において、帯電された電荷の放電等により集積回路素子が静電破壊するのを低減するとともに、入力端子または出力端子にプローブピンを当てて信号の入出力検査を行う等の集積回路素子の性能試験を行うことができるキャリアテープを提供すること。 - 特許庁

The probe card includes a main substrate having an external terminal connected to a tester and internal wiring, two or more probes for signal and probes for ground fixed with resin, and a ring supporting the resin, in which the probes for signal and the probes for ground are connected to the internal wiring of main substrate with a parallel line feeder, and the parallel line feeder is connected to the probe within the resin.例文帳に追加

テスタに接続される外部端子と内部配線を有するメイン基板と、樹脂によって固定された複数の信号用プローブおよびグランド用プローブと、上記樹脂を支えるリングとを備えるプローブカードであって、上記信号用プローブおよびグランド用プローブは、平行線フィーダーによって、上記メイン基板の内部配線と接続され、上記平行線フィーダーは上記樹脂内で上記プローブと接続されている。 - 特許庁

The inspection surface of a portable terminal 4 is arranged so as to be met almost at right angles with the probe 9 and the tip part 15 and the inspection surface are slid each other or adjacently moved to read the electric field intensity measured value or the SAR value corresponding to the measured value from the device body 14.例文帳に追加

携帯形端末４の検査面と電界プローブ９とをほぼ直交させて、電界プローブの先端部１５と検査面とを摺動させまたは近接して移動させ、装置本体１４から電界強度測定値または対応したSAR値を読み取る。 - 特許庁

A pin body part 4 to be electrically connected to a probe substrate side and a contact part 6 extending from the tip of the pin body part 4 in a different direction at a specified angle to electrically make contact with the terminal part of a product are integrally formed by electroforming.例文帳に追加

プローブ基盤側に電気的に接続されるピン本体部４と、ピン本体部４の先端部から特定角度でもって異なる方向に延び、製品の端子部に電気的に接触されるコンタクト部６とが、エレクトロフォーミングによって一体的に形成されている。 - 特許庁

A group 12 of needle-type probes severally contacting with a group DIN of input terminal electrodes in a chip region CHIP to be measured is provided on one side of an opening part 11 in a wiring substrate 10 of a probe card while a group 13 of lithography-type probes severally contacting with a group DOUT of output terminal electrodes is provided on the other side.例文帳に追加

プローブカードの配線基板１０における開口部１１の一方辺側には被測定チップ領域ＣＨＩＰの入力端子電極群ＤＩＮにそれぞれ接触させるニードルタイプを有する探針群１２が設けられ、他方辺側には出力端子電極群ＤＯＵＴにそれぞれ接触させるリソグラフィタイプを有する探針群１３が設けられる。 - 特許庁

In the connection plate corresponding to the measurement terminal of a battery pack which configures a battery pack by using a connection tool in a nut insertion type terminal between batteries each having the nut insertion type terminals, bolt insertion holes matching the nut insertion type terminals are provided at at least two positions, and probe insertion parts are arranged at one or more positions around the bolt insertion holes.例文帳に追加

ナットインサート型端子を備える電池間を前記ナットインサート型端子に接続具を使用して組電池を構成する接続板において、ナットインサート型端子に整合する少なくとも２か所のボルト挿通孔を有し、そのボルト挿通孔の周囲に１か所以上のプローブ挿入部を配したことを特徴とする組電池の計測端子対応接続板である。 - 特許庁

To provide an inspection unit of a device for high frequency and high speed that prevents the invasion of noise from the outside similarly to a metal block, performs high-frequency impedance matching, and can inexpensively manufacture a probe for an PF signal in a coaxial structure also with the electrode terminal of a narrow pitch.例文帳に追加

金属ブロックと同様に外部からのノイズの侵入を阻止し、高周波インピーダンス整合を図ると共に、ＲＦ信号用プローブを狭ピッチの電極端子に対しても同軸構造で、安価に製造し得る高周波・高速用デバイスの検査ユニットを提供する。 - 特許庁

In a state in which the shaft core part 14b is loosely fitted into the vacant hole 3a of the electronic board 1, the contact electrode section 15 is brought into contact with the solder-coated pads 6a, 6b, and continuity state between the probes 12 or between the probe 12 and a ground terminal is tested by a probing test tool 28.例文帳に追加

軸心部１４ｂを電子基板１の空孔３ａに遊嵌させた状態で、半田被覆パッド６ａ，６ｂに接触電極部１５を接触させ、触針検査ツール２８によって、プローブ１２相互間又はプローブ１２とグランド端子間の導通状態が検査される。 - 特許庁

The two spherical contact terminals installed on the upper measuring probe centers the member to be measured, and further the support member supports the posture of the member to be measured horizontally while the groove diameter is being measured by the contact terminal, thus measuring the member to be measured precisely.例文帳に追加

上測定子に設置された２個の球状接触端子が被測定部材の芯だしを行い、更に、接触端子で溝径を計測している間、支持部材が被測定部材の姿勢を水平に支持するため、高い精度で被測定部材の計測を行うことができる。 - 特許庁

In a fifth wiring layer M5, located immediately below the uppermost wiring layer MH among the plurality of wiring layers, a conductor pattern (a fifth wiring 5F, a terminal wiring and a plug 6C) is not formed immediately below the probe contacting region PA of a bonding pad PD for the uppermost wiring layer MH.例文帳に追加

この複数の配線層のうちの最上の配線層ＭＨの直下の第５配線層Ｍ５において、最上の配線層ＭＨのボンディングパッドＰＤのプローブ接触領域ＰＡの直下には、導体パターン（第５配線５Ｆ、ダミー配線およびプラグ６Ｃ）を形成しない。 - 特許庁