「probe terminal」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The probe terminal 42 is provided in a portion corresponding to the inspecting electrode 2 of the semiconductor wafer 1 of the wiring board 40 having the wiring layer 40a, and the probe terminal 42 is connected electrically to the wiring layer 40a.例文帳に追加

配線層４０ａを有する配線基板４０の半導体ウエハ１の検査用電極２と対応する部位にプローブ端子４２が設けられ、プローブ端子４２は、配線層４０ａと電気的に接続されている。 - 特許庁

Each test circuit chip 21 is connected to the probe terminal 12 via a wire provided for the inside of the card main body 11 and transmits and receives a signal to and from the LSI chip to be tested via the probe terminal 12.例文帳に追加

各テスト回路チップ２１は、カード本体１１の内部に設けられた配線を介してプローブ端子１２と接続されており、プローブ端子１２を介してテスト対象ＬＳＩチップと信号の授受を行う。 - 特許庁

After pixels of red are made to illuminate through each of the probe pins 41 to 4n, each of the probe pins is moved by the terminal pitch Tp and pixels of green are made to illuminate.例文帳に追加

各プローブピン４１〜４ｎによって赤色の画素を点灯させた後に、各プローブピンを端子ピッチＴｐ分だけ移動させて、緑色の画素を点灯させる。 - 特許庁

To provide a method of cleaning a high-reliability probe card that keeps a low contact resistance value without damaging a probe terminal of an inspection tool for inspecting a semiconductor element.例文帳に追加

半導体素子を検査する検査治具のプローブ端子を損傷することなく、低接触抵抗値を維持し、信頼性の高いプローブカードの洗浄方法を得る。 - 特許庁

So, there is provided an inspection exclusive use terminal 12 inside the arrangement of the regular terminals 11 on the main surface of a chip 10 for contacting the probe needle in the probe test.例文帳に追加

そこで、チップ１０主表面において、正規端子１１の配列の内側に、プローブ試験時に探針を接触させるための検査専用端子１２を設けている。 - 特許庁

This traffic information providing device 10 uses the projection norm of the link to feature space as an index for determining the propriety of the complement, previously performs the filtering, informs a probe terminal 20 of complement impossible links, and collects them as a priority upload object of measured probe data from the probe terminal 20.例文帳に追加

交通情報提供装置１０は、特徴空間に対するリンクの射影ノルムを補完の可否を判定するための指標とし、事前にフィルタリングして補完不可能なリンクをプローブ端末２０に通知し、プローブ端末２０から実測プローブデータの優先アップロード対象として収集する。 - 特許庁

To provide a probe capable of efficiently inspecting continuity characteristics of a highly integrated electronic component, preventing the damage of wiring or a terminal in inspection, preventing the coming-off of a projection of the probe in manufacturing or inspection, suitably inspecting parallel wiring, and coping with slight displacement of the probe, and to provide the manufacturing method of the probe.例文帳に追加

高集積化電子部品の導通特性を効率的に検査でき、検査時に配線や端子を傷めることなく、プローブの突起が製作時や検査時に脱落せず、平行な配線の検査に適し、若干のプローブの位置ずれにも対応可能なプローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing device comprises the probe needle 20 for obliquely pressing the terminal for external connection of the semiconductor device, a hollow storage section 30 for storing the probe needle 20 appearably, a rotating mechanism for rotating the probe needle 20 pressed to the terminal, and a high friction section 22a disposed in a part of a side surface of the tip 22 of the probe needle 20.例文帳に追加

本発明に係る半導体試験装置は、半導体装置の外部接続用の端子に斜めに押圧するプローブ針２０と、プローブ針２０を出没可能に収容する、中空の収容部３０と、端子に押圧したプローブ針２０を回転させる回転機構と、プローブ針２０の先端部２２の側面の一部に設けられた高摩擦部２２ａとを具備する。 - 特許庁

If a probe response can not be received, it is judged that the data terminal is disabled to connect with the access point, and the data terminal stops supplying power to the wireless LAN card.例文帳に追加

プローブレスポンスが受信できない場合は、アクセスポイントとの接続が不可能と判断し、データ端末は、無線ＬＡＮカードへの電源供給を停止する。 - 特許庁

A probe 72 above the stage 68 is connected to a measurement terminal 81 of a measurement device 80 through a connection terminal 77 on the other end of a signal cable 78.例文帳に追加

ステージ６８の上方のプローブ７２は、信号ケーブル７８の他端の接続端子７７を介し、測定装置８０側の測定端子８１と接続される。 - 特許庁

To provide an inspection jig for a printed-wiring board which eliminates a need of a connecting operation by a lead wire between the terminal of a probe and a terminal for inspection-device connection.例文帳に追加

プリント配線板の検査治具として、プローブの端子と検査機器接続用端子の間のリード線による接続作業が不要なものを提供する。 - 特許庁

To provide a contactor (a probe card, a socket) capable of easily dealing with a narrow-pitch terminal or an area array terminal by employing laser beam machining.例文帳に追加

本発明はレーザ加工を用いて狭ピッチ端子やエリアアレイ端子にも容易に対応しうるコンタクタ（プローブカード、ソケット）を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a low-cost probe for measuring electric signals that is reliably brought into contact with a target terminal and can prevent contact with an adjacent terminal.例文帳に追加

低コストかつ、目的の端子に確実に接触でき、隣接する端子と接触を防止することができる電気信号測定用プローブを提供する。 - 特許庁

The basal body temperature thermometer as a basal body temperature probe communicates with the portable terminal by radio communication, and transmits data on the measured basal body temperature to the portable terminal.例文帳に追加

基礎体温プローブである基礎体温計は、無線通信にて携帯端末と通信し、計測した基礎体温データを携帯端末へ送信する。 - 特許庁

Then, a terminal of an inspection probe is made to contact the test terminal 111, and the display inspection is carried out en bloc in the state of the large panel structure 150 as it is.例文帳に追加

そして、テスト端子１１１に検査用プローブの端子を接触させ、大型パネル構造体１５０のままの状態で表示検査を一括して行う。 - 特許庁

To provide a wiring board with a wiring conductor of low resistance and a terminal for probe of small variations in height.例文帳に追加

配線導体の抵抗が低く、プローブ用端子の高さのばらつきが小さい配線基板を提供する。 - 特許庁

To inexpensively provide an inspection probe capable of surely achieving contact and excellent in durability even when a terminal width is narrow.例文帳に追加

狭い端子幅であっても、確実にコンタクト可能で耐久性に優れた検査用プローブを安価に構成する。 - 特許庁

An end of this wiring conductor 5 for each system (two systems in the figure) is connected to a terminal 12 of the probe body 7.例文帳に追加

そして、この配線５の系統毎の端末（図では２本）はプローブ本体７の端子１２に接続されている。 - 特許庁

The electrical connection device includes a probe substrate having a plurality of probe lands on the under surface, and a plurality of contactors equipped respectively with a base end fixed to each probe land and a needle tip part to be in contact with the connection terminal of the inspection object.例文帳に追加

電気的接続装置は、複数のプローブランドを下面に有するプローブ基板と、それぞれがプローブランドに固定された基端部及び被検査体の前記接続端子に接触される針先部を備える複数の接触子とを含む。 - 特許庁

At the inspection, so as to supply the inspection signal imparted to the output probe needle of the probe card from the output terminal of the display to the following display, a plurality of displays and the probe group are arranged.例文帳に追加

検査の際には、表示装置の出力端子からプローブカードの出力用プローブ針に与えられた検査信号が後続の表示装置に供給されるように、複数の表示装置と検査装置のプローブ群とを配置する。 - 特許庁

Reference positions of the inspecting object and the probe base 14 are set by the reference positions 15a and 15b so that the plurality of probe needles 121 of each probe block 13 are connected to the corresponding connection terminal 201 of the inspecting object.例文帳に追加

各々のプローブブロック１３の複数のプローブ針１２１が被検査対象の対応する接続端子２０１に接続できるように、被検査対象とプローブベース１４との基準位置が基準位置１５ａ、１５ｂによって設定される。 - 特許庁

After an electrode terminal of a plasma display panel 7 is connected with one terminal of a flexible wiring board 3 with an ACF 23 in-between, a probe 26 is made in contact with the electrode terminal of the plasma display panel 7 and a probe 27 is made in contact with the other terminal of the flexible wiring board 3 and a connection state is directly inspected by an electric conduction inspection unit 5.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネル７の電極端子とフレキシブル配線基板３の一方の端子をＡＣＦ２３を介して接続した後、プラズマディスプレイパネル７の電極端子にプローブ２６を当接し、フレキシブル配線基板３の他の端子にプローブ２７を当接して導通検査装置５によって接続状態を直接検査する。 - 特許庁

To provide a prove sheet which eliminates displacement of a probe terminal with respect to the tip section of an electronic circuit to be inspected and measured, to improve the positional accuracy and stability of the probe terminal and prevent the electronic circuit to be measured from being contaminated by impurities.例文帳に追加

検査・測定対象である被測定電子回路の端子部に対するプローブ端子の位置ずれをなくすと共に、該プローブ端子の位置精度や安定性を向上させ、更に被測定電子回路に対する不純汚染を防止する。 - 特許庁

The buzzer BZ is operated to confirm the correctness of the wiring, when the presence of continuity is confirmed by bringing the probe PB into contact with the other end of the cable 2, and the output terminal OUT1 is turned off to turn the output terminal OUT2 on, when the probe PB is separated.例文帳に追加

プローブＰＢを検査ケーブル２の他方の端に当て導通があればブザーＢＺが動作し配線が正しいことを確認し、プローブＰＢを離すと出力端子ＯＵＴ１はオフになり出力端子ＯＵＴ２がオンになる。 - 特許庁

When the tip of a mating probe 30 is brought into contact with a contact face 11a in the earth terminal 11, contact between the fixed terminal 12 and the movable contact 17 is broken while a central contact 32 of the counterpart side probe 30 is electrically connected to the spring terminal 13 via the movable contact 17.例文帳に追加

相手側プローブ３０の先端をアース端子１１の接触面１１ａに当接させると、固定端子１２と可動接点部材１７との接触が断たれるとともに、相手側プローブ３０の中心コンタクト３２が、可動接点部材１７を介してばね端子１３に電気的に接続する。 - 特許庁

The contact force of the first probe 4 with respect to the inspection device 11 and the contact force of the second probe 7 with respect to the external terminal 13 are controlled by the fluid pressure in the cylinder 5.例文帳に追加

第１プローブ４の検査装置１１に対する接触力及び第２プローブ７の外部端子１３に対する接触力は、シリンダ５内の流体圧によって制御される。 - 特許庁

To realize suppressing of a decrease in reliability of a probe card by removing impurities adhered to a tip of a probe terminal of the card used to inspect a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の検査に用いるプローブカードにおいて、そのプローブ端子の先端部に付着した不純物を除去してプローブカードの信頼性の低下を抑制できるようにする。 - 特許庁

To eliminate the risk of determining poor contact of a probe as good insulation by improving a technology for measuring the electric resistance by touching the probe to the pad (terminal) of a small electronic device.例文帳に追加

小形電子デバイスのパッド（端子）にプローブを接触させて電気抵抗を測定する技術を改良し、プローブの接触不良を絶縁良好と誤判定する虞れを無くする。 - 特許庁

To provide a probe terminal which comes in surface contact with a measured object for measurement and prevents formation of a probe mark on the measured object, and a method for measuring the measured object using the same.例文帳に追加

被測定物に面接触して測定を行い、被測定物にプローブ痕を残さないプローブ端子及びこれを用いた被測定物の測定方法を提供することにある。 - 特許庁

To replace a probe before an inspection result gets unsure, in a probing test method for measuring an electric characteristic by bringing the probe into contact with a terminal of an inspection object.例文帳に追加

検査対象の端子にプローブを接触させて電気的特性を測定するプロービングテスト法において、検査結果が不正確なものとなる前にプローブを交換できるようにする。 - 特許庁

When the detecting needle part 10 fits in the connector terminal 3, the projecting part 13b reaches the casing inside end of the probe guide 7, and the force received from the inner wall of the probe guide 7 is removed.例文帳に追加

検針部１０がコネクタ端子３に嵌合すると、突起部１３ｂがプローブガイド７の筐体内部端に到達し、プローブガイド７の内壁から受けていた力が除去される。 - 特許庁

The base unit 12 provides a pressing force acting on the semiconductor chip side from the wafer pressing plate 32 when a bump of a semiconductor chip to be tested is pressed onto the probe terminal of the probe sheet 13.例文帳に追加

ベースユニット１２は、プローブシート１３のプローブ端子に、被試験対象の半導体チップのバンプが押し当てられるとき、ウエハ押圧プレート３２から半導体チップ側に作用する押圧を与える。 - 特許庁

To provide an energization test device that can suppress breakage of a terminal of an inspection object by making a probe body pressed on the terminal, while the terminal is reliably brought into contact with a contact member.例文帳に追加

被検査体の端子と接触部材とを確実に接触させた状態でプローブ本体を該端子に押圧させることにより、該端子の破損を抑えることができる通電検査装置を提供する。 - 特許庁

The plurality of pins 24 form a terminal, which is branched so to speak, at a front end of the probe 20 via the attachment part 22.例文帳に追加

複数のピン２４は、取付部２２を介して、プローブ２０の先端にいわば枝分かれ状の端子を形成している。 - 特許庁

A probe 101 of a grounded electrode plate 12 is brought in touch with one terminal 2011 of the semiconductor device 200.例文帳に追加

接地された電極板１２の接触針１０１を、半導体デバイス２００の１つの端子２０１ｌに接触させる。 - 特許庁

This probe instrument 12 for measuring electric characteristics in contact with an electrode of an electronic component is equipped with two probes 13, 14 having measuring terminals 2a, 2b; and a probe base part 15 for supporting the end part of the probe on the opposite side to the measuring terminal.例文帳に追加

電子部品の電極に接触して電気的特性を測定するプローブ計器（１２）は、それぞれが測定端子（２ａ，２ｂ）を有する２本のプローブ（１３，１４）と、測定端子とは反対側のプローブの端部を支持するプローブ基部（１５）とを備える。 - 特許庁

To provide an inspection and/or regulation method for an electronic device, and a contact structure for a probe pin, capable of accurately inspecting and/or regulating the electronic device, even if a probe pin is abraded or even if a terminal part contacting with the probe pin becomes contaminated.例文帳に追加

プローブピンが磨耗したり、プローブピンと接触する端子部が汚れたりしても、正確に電子デバイスの検査や調整を行なうことができる電子デバイスの検査及び／又は調整方法、並びに、プローブピンの接触構造を提供すること。 - 特許庁

The trip information is a bundle of probe information to be collected when a vehicle and the like that are equipped with an in-vehicle terminal (user terminal) move from one place to another.例文帳に追加

トリップ情報は、車載端末１０１（利用者端末）を搭載した車両等がある場所からある場所まで移動したときに収集するプローブ情報の塊である。 - 特許庁

The tester 100 has input ports 105, 115 having an input terminal for receiving test signals from a probe 300 and a power output terminal for feeding power, respectively.例文帳に追加

試験機器１００の入力ポート１０５、１１５の各々は、プローブ３００からの試験信号を受ける入力端子と、電力を供給する電源出力端子を有する。 - 特許庁

The inspection probe includes a chip-on film composed by forming a gold material on the surface of a terminal part and a nickel layer formed on the gold material formed on the surface of the terminal part.例文帳に追加

端子部表面に金材料が設けられたチップ・オン・フィルムと、前記端子部表面の金材料上に形成されたニッケル層とを具備したことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a conduction inspection device of a side probe-type to perform a conduction inspection by connecting from a side with a terminal metal fittings being inserted and locked at the inside of a terminal housing room.例文帳に追加

端子収容室内に挿入係止されている端子金具にサイドより接触させて導通検査を行うサイドプローブ型の導通検査装置を提供する。 - 特許庁

This coaxial connector houses a movable terminal 20 and a fixed terminal 25 in an insulating case 10, and opens-closes the contact point parts 24 and 29 on the basis of installation and separation of a probe 30.例文帳に追加

絶縁性ケース１０内に可動端子２０と固定端子２５とを収容し、プローブ３０の装着、離脱に基づいて接点部２４，２９が開閉する同軸コネクタ。 - 特許庁

To provide a technique capable of bringing a contact terminal into contact with a test pad that the contact terminal corresponds to by a desired contact pressure in a probe inspection executed using a thin film probe formed using the manufacture technique of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造技術を用いて形成された薄膜プローブを用いて行うプローブ検査において、接触端子とその接触端子が対応するテストパッドとを所望の接触圧力で接触させることのできる技術を提供する。 - 特許庁

In the step for contact judgement, the resistance value is measured between the first probe 2(1) corresponding to the first terminal 13(1) and the N-th probe 2(N) corresponding to the N-th terminal 13(N) and it is determined whether proper probing is performed based on the measurement result or not.例文帳に追加

接触判定では、第１端子１３(1)に対応する第１プローブ２(1)と第Ｎ端子１３(N)に対応する第Ｎプローブ２(N)との間で抵抗値を測定し、その測定結果に基づいて正しくプロービングされているかを判定する。 - 特許庁

The ultrasonic diagnostic apparatus 100 includes terminal equipment 4 and the ultrasonic probe 3 for transmitting and receiving signals to/from the terminal equipment 4, the signals are transmitted and received between the ultrasonic probe 3 and the terminal equipment 4 wirelessly, and the ultrasonic probe 3 includes a piezoelectric element for mutually converting the signals between electric signals and ultrasonic signals, and a class D amplifier.例文帳に追加

超音波診断装置１００は、端末装置４と、端末装置４との間で信号を送受信する超音波探触子３とを備え、超音波探触子３と端末装置４との間での信号の送受信は無線により行われ、超音波探触子３は、電気信号と超音波信号との間で相互に信号を変換する圧電素子と、Ｄ級増幅器とを有する。 - 特許庁